画像処理装置及び画像処理方法
【課題】撮像装置の欠陥画素の欠陥の種類に応じて、適切な補正を行えるようにすること。
【解決手段】撮像素子から出力される画像データを処理する画像処理装置であって、撮影条件または撮影環境と、補正対象となる欠陥画素のグレードを示す第１の情報とを対応させた複数のテーブルを記憶した第１の記憶手段と、各欠陥画素について、アドレス情報と、複数のテーブルの内、参照するテーブルを示す参照テーブル情報と、欠陥画素のグレードを示す第２の情報とからなるキズデータを記憶した第２の記憶手段とを有し、撮影時の撮影条件及び撮影環境を取得して（Ｓ６０２）、取得した撮影条件または撮影環境における、参照テーブル情報に対応したテーブルが示す第１の情報と、キズデータにおける各欠陥画素の第２の情報との比較結果に基づいて欠陥補正の要否を判定し（Ｓ６０３〜Ｓ６０６）、欠陥補正が必要と判断された欠陥画素から出力された画像データに対して欠陥補正を行う。
【解決手段】撮像素子から出力される画像データを処理する画像処理装置であって、撮影条件または撮影環境と、補正対象となる欠陥画素のグレードを示す第１の情報とを対応させた複数のテーブルを記憶した第１の記憶手段と、各欠陥画素について、アドレス情報と、複数のテーブルの内、参照するテーブルを示す参照テーブル情報と、欠陥画素のグレードを示す第２の情報とからなるキズデータを記憶した第２の記憶手段とを有し、撮影時の撮影条件及び撮影環境を取得して（Ｓ６０２）、取得した撮影条件または撮影環境における、参照テーブル情報に対応したテーブルが示す第１の情報と、キズデータにおける各欠陥画素の第２の情報との比較結果に基づいて欠陥補正の要否を判定し（Ｓ６０３〜Ｓ６０６）、欠陥補正が必要と判断された欠陥画素から出力された画像データに対して欠陥補正を行う。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像処理装置及び画像処理方法に関し、更に詳しくは、欠陥画素から出力された信号を補正する機能を有する画像処理装置及び画像処理方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、固体メモリ素子を有するメモリカードを記録媒体として、ＣＣＤやＣＭＯＳ等の固体撮像素子で撮像した静止画像や動画像を記録および再生する電子カメラ等の画像処理装置が市販されている。ＣＣＤやＣＭＯＳ等の固体撮像素子を用いて撮像する場合、撮像素子に発生する暗電流ノイズや撮像素子固有の欠陥画素等の画質劣化が生じることが知られている。
【０００３】
従来、これらの欠陥画素の補正方法としては、センサの工場出荷時に、所定の条件下での標準蓄積時間での出力を評価し、欠陥画素であるか否かを判定する。そして、その画素の欠陥の種類（黒キズ、白キズ等）及びアドレスと欠陥レベルのデータを得、そのデータを用いて欠陥画素を補正するように構成されている。
【０００４】
しかしながら、欠陥画素は撮影時の条件によって大きくその程度が異なることが知られている。従って、例えば通常の短秒時での一般撮影時には問題にならないような画素でも、長秒での撮影時には欠陥画素としてのレベルが大きくなり、画質に悪影響を与えてしまうことになる。このような問題を避けるために、特許文献１では、撮影時の条件として撮像素子の温度やシャッター秒時及び感度を考慮して欠陥画素を補正する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００５−１７５９８７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ここで、いわゆる白キズであれば特許文献１に記載されているように、温度、シャッター秒時及び感度を考慮した判定条件を定めることが可能である。しかしながら欠陥画素の種類によっては、例えば感度にのみ影響され、露光時間には全く影響されないような欠陥画素（いわゆる、瞬きキズと呼ばれる。）がある。この場合、高感度時には欠陥画素の補正処理を行う必要がある。しかし、他の白キズと同様に、感度に加えて温度および露光時間を考慮した判定条件のもとでは適切な条件を定めることができず、結果として撮影条件によっては過補正するか、もしくは全く補正されない可能性がある。このために撮影画像の画質を損なう場合がある。
【０００７】
本発明は上記問題点を鑑みてなされたものであり、撮像装置の欠陥画素の欠陥の種類に応じて、適切な補正を行えるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、複数の画素を含む撮像素子から出力される画像データを処理する本発明の画像処理装置は、撮影条件または撮影環境と、補正対象となる欠陥画素のグレードを示す第１の情報とを対応させた複数のテーブルを記憶した第１の記憶手段と、前記複数の画素の内、各欠陥画素について、アドレス情報と、前記複数のテーブルの内、参照するテーブルを示す参照テーブル情報と、欠陥画素のグレードを示す第２の情報とからなるキズデータを記憶した第２の記憶手段と、撮影時の撮影条件及び撮影環境を取得する取得手段と、前記取得手段が取得した前記撮影条件または撮影環境における、前記参照テーブル情報に対応したテーブルが示す前記第１の情報と、前記キズデータにおける各欠陥画素の前記第２の情報とを比較し、比較結果に基づいて各欠陥画素の欠陥補正の要否を判定する判定手段と、前記判定手段により欠陥補正が必要であると判断された欠陥画素から出力された画像データに対して前記欠陥補正を行う補正手段とを有することを特徴とする。
【０００９】
また、複数の画素を含む撮像素子から出力される画像データを処理し、撮影条件または撮影環境と、補正対象となる欠陥画素のグレードを示す第１の情報とを対応させた複数のテーブルを記憶した第１の記憶手段と、前記複数の画素の内、各欠陥画素について、アドレス情報と、前記複数のテーブルの内、参照するテーブルを示す参照テーブル情報と、欠陥画素のグレードを示す第２の情報とからなるキズデータを記憶した第２の記憶手段とを有する画像処理装置における画像処理方法であって、取得手段が、撮影時の撮影条件及び撮影環境を取得する取得工程と、判定手段が、前記取得工程で取得した前記撮影条件または撮影環境における、前記参照テーブル情報に対応したテーブルが示す前記第１の情報と、前記キズデータにおける各欠陥画素の前記第２の情報とを比較し、比較結果に基づいて各欠陥画素の欠陥補正の要否を判定する判定工程と、補正手段が、前記判定工程で欠陥補正が必要であると判断された欠陥画素から出力された画像データに対して前記欠陥補正を行う補正工程とを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、撮像装置の欠陥画素の欠陥の種類に応じた適切な補正を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の実施形態における撮像装置の構成を示すブロック図。
【図２】実施形態における画像処理装置の主ルーチンのフローチャート。
【図３】実施形態における画像処理装置の主ルーチンのフローチャート。
【図４】実施形態における測距・測光処理を示すフローチャート。
【図５】実施形態における撮影処理を示すフローチャート。
【図６】実施形態における欠陥画素補正判定処理を示すフローチャート。
【図７】実施形態におけるキズ画素判断処理を示すフローチャート。
【図８】実施形態におけるキズデータの一例を示す図。
【図９】実施形態における欠陥補正判定を行うための判定値テーブルを示す図。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、添付図面を参照して本発明を実施するための最良の形態を詳細に説明する。
【００１３】
図１に示すように、本実施の形態の撮像装置は、主に画像処理装置１００と、交換レンズタイプのレンズユニット３００により構成されている。
【００１４】
レンズユニット３００は、複数のレンズから成る撮像レンズ３１０、絞り３１２、レンズユニット３００を画像処理装置１００と機械的に結合するレンズマウント３０６を備えている。レンズマウント３０６内には、レンズユニット３００を画像処理装置１００と電気的に接続する各種機能が含まれている。すなわち、レンズマウント３０６は、レンズユニット３００を画像処理装置１００と接続するためのインタフェース３２０、レンズユニット３００を画像処理装置１００と電気的に接続するコネクタ３２２を備えている。
【００１５】
コネクタ３２２は、画像処理装置１００とレンズユニット３００との間で制御信号、状態信号、データ信号などを伝え合うと共に、各種電圧の電流を供給されるあるいは供給する機能も備えている。また、コネクタ３２２は電気通信のみならず、光通信、音声通信などを伝達する構成としても良い。
【００１６】
絞り制御部３４０は、測光制御部４６からの測光情報に基づいて、後述する画像処理装置１００のシャッター１２を制御するシャッター制御部４０と連携しながら、絞り３１２を制御する。フォーカス制御部３４２は、撮像レンズ３１０のフォーカシングを制御し、ズーム制御部３４４は、撮像レンズ３１０のズーミングを制御する。
【００１７】
レンズ制御回路３５０は、レンズユニット３００全体を制御する。レンズ制御回路３５０は、動作用の定数、変数、プログラムなどを記憶するメモリを備えている。更に、レンズユニット３００固有の番号などの識別情報、管理情報、開放絞り値や最小絞り値、焦点距離などの機能情報、現在や過去の各設定値などを保持する不揮発メモリも備えている。
【００１８】
次に、画像処理装置１００の構成について説明する。
【００１９】
レンズマウント１０６は、画像処理装置１００とレンズユニット３００を機械的に結合する。ミラー１３０、１３２は、撮像レンズ３１０に入射した光線を光学ファインダ１０４に導く。なお、ミラー１３０はクイックリターンミラーの構成としても、ハーフミラーの構成としても、どちらでも構わない。撮像素子１４は、光学像を電気信号に変換する。シャッター１２は、撮像素子１４への露光量を制御する。撮像レンズ３１０に入射した光線は、一眼レフ方式によって絞り３１２、レンズマウント３０６及び１０６、ミラー１３０、シャッター１２を介して導かれ、光学像として撮像素子１４上に結像する。
【００２０】
Ａ／Ｄ変換器１６は、撮像素子１４から出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換する。タイミング発生回路１８は、撮像素子１４、Ａ／Ｄ変換器１６、Ｄ／Ａ変換器２６にそれぞれクロック信号や制御信号を供給する。タイミング発生回路１８は、メモリ制御回路２２及びシステム制御回路５０により制御される。
【００２１】
画像処理回路２０は、Ａ／Ｄ変換器１６からのデータ或いはメモリ制御回路２２からのデータに対して所定の画素補間処理や色変換処理を行う。また、画像処理回路２０は、必要に応じて、Ａ／Ｄ変換器１６から出力される画像データを用いて所定の演算処理を行う。そして、得られた演算結果に基づいて、システム制御回路５０がシャッター制御部４０、焦点調節部４２を制御するための、ＴＴＬ（スルー・ザ・レンズ）方式のオートフォーカス（ＡＦ）処理、自動露出（ＡＥ）処理、フラッシュプリ発光（ＥＦ）処理を行っている。さらに、画像処理回路２０は、Ａ／Ｄ変換器１６から出力される画像データを用いて所定の演算処理を行い、得られた演算結果に基づいてＴＴＬ方式のオートホワイトバランス（ＡＷＢ）処理も行っている。
【００２２】
なお、本実施の形態における図１に示す例では、焦点調節部４２及び測光制御部４６を専用に備えている。従って、焦点調節部４２及び測光制御部４６を用いてＡＦ処理、ＡＥ処理、ＥＦ処理の各処理を行い、画像処理回路２０を用いたＡＦ処理、ＡＥ処理、ＥＦ処理の各処理を行わない構成としても構わない。また、焦点調節部４２及び測光制御部４６を用いてＡＦ処理、ＡＥ処理、ＥＦ処理の各処理を行い、さらに、画像処理回路２０を用いてＡＦ処理、ＡＥ処理、ＥＦ処理の各処理を行う構成としてもよい。
【００２３】
メモリ制御回路２２は、Ａ／Ｄ変換器１６、タイミング発生回路１８、画像処理回路２０、画像表示メモリ２４、Ｄ／Ａ変換器２６、メモリ３０、圧縮・伸長回路３２を制御する。Ａ／Ｄ変換器１６から出力される画像データは、画像処理回路２０、メモリ制御回路２２を介して、或いはメモリ制御回路２２のみを介して、画像表示メモリ２４或いはメモリ３０に書き込まれる。
【００２４】
画像表示部２８は、ＴＦＴ方式のＬＣＤ等から成り、画像表示メモリ２４に書き込まれた表示用の画像データがＤ／Ａ変換器２６を介して表示される。画像表示部２８を用いて、撮像した画像データを逐次表示することで、電子ビューファインダ（ＥＶＦ）機能を実現することができる。また、画像表示部２８は、システム制御回路５０の指示により任意に表示をＯＮ／ＯＦＦすることが可能であり、表示をＯＦＦにした場合には画像処理装置１００の電力消費を大幅に低減することができる。
【００２５】
撮影した静止画像や動画像を格納するメモリ３０は、所定枚数の静止画像や所定時間の動画像を格納するのに十分な記憶容量を備えている。これにより、複数枚の静止画像を連続して撮影する連写撮影やパノラマ撮影の場合にも、高速かつ大量の画像書き込みをメモリ３０に対して行うことが可能となる。また、メモリ３０は、システム制御回路５０の作業領域としても使用することが可能である。
【００２６】
圧縮・伸長回路３２は、適応離散コサイン変換（ＡＤＣＴ）等、公知の圧縮方法を用いて画像データを圧縮・伸長する。圧縮・伸長回路３２は、メモリ３０に格納された画像を読み込んで圧縮処理或いは伸長処理を行い、処理を終えたデータを再びメモリ３０に書き込む。
【００２７】
シャッター制御部４０は、測光制御部４６からの測光情報に基づいて絞り３１２を制御する絞り制御部３４０と連携しながらシャッター１２を制御する。焦点調節部４２は、ＡＦ（オートフォーカス）処理を行う。レンズユニット３００内の撮像レンズ３１０に入射した光線が、絞り３１２、レンズマウント３０６、１０６、ミラー１３０及び焦点調節用サブミラー（図示せず）を介して焦点調節部４２に入射されることにより、光学像として結像された画像の合焦状態を測定する。
【００２８】
温度計４４は、撮影環境の温度を検出する。温度計がセンサ内にある場合はセンサの暗電流をより正確に予想することが可能である。
【００２９】
測光制御部４６は、ＡＥ（自動露出）処理を行う。レンズユニット３００内の撮像レンズ３１０に入射した光線が、絞り３１２、レンズマウント３０６、１０６、ミラー１３０及び測光用サブミラー（不図示）を介して測光制御部４６に入射されることにより、光学像として結像された画像の露出状態を測定する。フラッシュ４８は、ＡＦ補助光の投光機能及びフラッシュ調光機能を有する。測光制御部４６は、フラッシュ４８と連携することにより、ＥＦ（フラッシュ調光）処理機能も有する。
【００３０】
なお、前述したように、Ａ／Ｄ変換器１６からの画像データを用いて画像処理回路２０により演算された演算結果に基づいて露出制御及びＡＦ制御を行っても良い。その場合、システム制御回路５０がシャッター制御部４０、絞り制御部３４０、フォーカス制御部３４２に対し、ビデオＴＴＬ方式を用いた露出制御及びＡＦ制御を行うことが可能である。
【００３１】
また、焦点調節部４２による測定結果と、Ａ／Ｄ変換器１６からの画像データを画像処理回路２０によって演算した演算結果とを用いて、ＡＦ制御を行うようにしてもよい。さらに、測光制御部４６による測定結果と、Ａ／Ｄ変換器１６からの画像データを画像処理回路２０によって演算した演算結果とを用いて露出制御を行うようにしてもよい。
【００３２】
システム制御回路５０は、画像処理装置１００全体を制御し、周知のＣＰＵなどを内蔵する。メモリ５２は、システム制御回路５０の動作用の定数、変数、プログラム等を記憶する。さらにメモリ５２には、撮像素子１４の製造工程内で検出された欠陥画素に関する情報（キズデータ）を記憶している。本実施の形態においては欠陥画素情報として、各欠陥画素のアドレス情報、欠陥の種類を示す情報（以下、「キズＩＤ」と呼ぶ。）、及び欠陥の目立ちやすさを示す程度を出力信号レベルに応じて数段階に分類した欠陥画素のグレードを示す情報（以下、「キズグレード」と呼ぶ。）（第２の情報）を記憶している。この欠陥画素情報は、同じキズＩＤ及びキズグレードを有する複数の画素に対して共通の１つのキズデータを持っていてもよいし、１つの画素に対して複数のキズデータを持っていてもよい。
【００３３】
通知部５４は、システム制御回路５０でのプログラムの実行に応じて、文字、画像、音声などを用いて動作状態やメッセージなどを外部に通知する。通知部５４としては、例えばＬＣＤやＬＥＤなどによる視覚的な表示を行う表示部や音声による通知を行う発音素子などが用いられるが、これらのうち１つ以上の組み合わせにより構成される。特に、表示部の場合には、画像処理装置１００の操作部７０近辺の、視認しやすい、単数あるいは複数箇所に設置されている。また、通知部５４は、その一部の機能が光学ファインダ１０４内に設置されている。
【００３４】
通知部５４の表示内容の内、ＬＣＤなどに表示するものとしては以下のものがある。まず、単写／連写撮影表示、セルフタイマ表示等、撮影モードに関する表示がある。また、圧縮率表示、記録画素数表示、記録枚数表示、残撮影可能枚数表示等の記録に関する表示がある。また、シャッタースピード表示、絞り値表示、露出補正表示、フラッシュ表示、赤目緩和表示等の撮影条件に関する表示がある。その他に、ＩＳＯ感度表示、マクロ撮影表示、ブザー設定表示、時計用電池残量表示、電池残量表示、エラー表示、複数桁の数字による情報表示、記録媒体２００及び２１０の着脱状態表示がある。更に、レンズユニット３００の着脱状態表示、通信Ｉ／Ｆ動作表示、日付・時刻表示、外部コンピュータとの接続状態を示す表示等も行われる。
【００３５】
また、通知部５４の表示内容のうち、光学ファインダ１０４内に表示するものとしては、例えば、以下のものがある。合焦表示、撮影準備完了表示、手振れ警告表示、フラッシュ充電表示、フラッシュ充電完了表示、シャッタースピード表示、絞り値表示、露出補正表示、記録媒体書き込み動作表示等である。
【００３６】
さらに、通知部５４の表示内容のうち、ＬＥＤ等により表示するものとしては、例えば、以下のものがある。合焦表示、撮影準備完了表示、手振れ警告表示、フラッシュ充電表示、フラッシュ充電完了表示、記録媒体書き込み動作表示、マクロ撮影設定通知表示、二次電池充電表示等である。
【００３７】
また、通知部５４の表示内容のうち、ランプ等に表示するものとしては、例えば、セルフタイマ通知ランプ等がある。このセルフタイマ通知ランプはＡＦ補助光と共用してもよい。
【００３８】
不揮発性メモリ５６は、例えば電気的に消去・記録可能なＥＥＰＲＯＭ等が用いられ、後述するプログラムなどが格納される。この不揮発性メモリ５６には、各種パラメータやＩＳＯ感度などの設定値、設定モード等のデータが格納される。
【００３９】
操作手段６０、６２、６４、６６、６８、６９及び７０は、ユーザがシステム制御回路５０の各種の動作指示を入力するためのものである。スイッチやダイアル、タッチパネル、視線検知によるポインティング、音声認識装置等の単数或いは複数の組み合わせで構成される。ここで、これらの操作手段の具体的な説明を行う。
【００４０】
モードダイアルスイッチ６０を操作することで、自動撮影モード、プログラム撮影モード、シャッター速度優先撮影モード、絞り優先撮影モード、マニュアル撮影モード、焦点深度優先（デプス）撮影モード等の各機能撮影モードを切り替え設定することができる。他に、ポートレート撮影モード、風景撮影モード、接写撮影モード、スポーツ撮影モード、夜景撮影モード、パノラマ撮影モードなどの各機能撮影モードを切り替え設定することもできる。
【００４１】
シャッタースイッチＳＷ１は、不図示のシャッターボタンの操作途中（例えば半押し）でＯＮとなり、ＡＦ処理、ＡＥ処理、ＡＷＢ処理、ＥＦ処理等の動作開始を指示する。
【００４２】
シャッタースイッチＳＷ２は、不図示のシャッターボタンの操作完了（例えば全押し）でＯＮとなり、露光処理、現像処理、及び記録処理からなる一連の処理の動作開始を指示する。まず、露光処理では、撮像素子１４から読み出した信号をＡ／Ｄ変換器１６、メモリ制御回路２２を介して画像データをメモリ３０に書き込み、更に、画像処理回路２０やメモリ制御回路２２での演算を用いた現像処理が行われる。更に、記録処理では、メモリ３０から画像データを読み出し、圧縮・伸長回路３２で圧縮を行い、記録媒体２００あるいは２１０に画像データを書き込む。
【００４３】
再生スイッチ６６を操作することで、各撮影モードで撮影した画像をメモリ３０あるいは記録媒体２００、２１０から読み出して画像表示部２８に表示する再生動作の開始を指示する。
【００４４】
単写/連写スイッチ６８により、シャッタースイッチＳＷ２を押した場合に１駒の撮影を行って待機状態とする単写モードと、シャッタースイッチＳＷ２を押している間は連続して撮影を行い続ける連写モードとを設定することができる。
【００４５】
ＩＳＯ感度スイッチ６９は、撮像素子１４或いは画像処理回路２０におけるゲインの設定を変更することにより、ＩＳＯ感度を設定することができる。
【００４６】
操作部７０は、各種ボタンやタッチパネルなどから成る。一例として、メニューボタン、セットボタン、マクロボタン、マルチ画面再生改ページボタン、フラッシュ設定ボタン、単写／連写／セルフタイマ切り換えボタン、メニュー移動＋（プラス）ボタン、メニュー移動−（マイナス）ボタンを含む。更に、再生画像移動＋（プラス）ボタン、再生画像移動−（マイナス）ボタン、撮影画質選択ボタン、露出補正ボタン、日付／時間設定ボタンなども含む。他に、パノラマモード等の撮影及び再生を実行する際に各種機能の選択及び切り替えを設定する選択／切り替えボタン、パノラマモード等の撮影及び再生を実行する際に各種機能の決定及び実行を設定する決定／実行ボタンがある。また、画像表示部２８のＯＮ／ＯＦＦを設定する画像表示ＯＮ／ＯＦＦスイッチ、撮影直後に撮影した画像データを自動再生するクイックレビュー機能を設定するクイックレビューＯＮ／ＯＦＦスイッチがある。また、ＪＰＥＧ圧縮の圧縮率を選択するため、あるいは撮像素子の信号をそのままデジタル化して記録媒体に記録するＣＣＤＲＡＷモードを選択するためのスイッチである圧縮モードスイッチがある。他には、再生モード、マルチ画面再生・消去モード、ＰＣ接続モード等の各機能モードを設定することができる再生スイッチがある。また、上記プラスボタン及びマイナスボタンの各機能は、回転ダイアルスイッチを備えることによって、より軽快に数値や機能を選択することが可能となる。
【００４７】
電源スイッチ７２の操作により、画像処理装置１００の電源オン、電源オフの各モードを切り替え設定することができる。また、画像処理装置１００に接続されたレンズユニット３００、外部フラッシュ、記録媒体２００、２１０等の各種付属装置の電源オン、電源オフの設定も合わせて切り替え設定可能である。
【００４８】
電源制御部８０は、電池検出回路、ＤＣ−ＤＣコンバータ、通電するブロックを切り替えるスイッチ回路等により構成されている。電源制御部８０は、電池の装着の有無、電池の種類、電池残量の検出を行い、検出結果及びシステム制御回路５０の指示に基づいてＤＣ−ＤＣコンバータを制御し、必要な電圧を必要な期間、記録媒体を含む各部へ供給する。
【００４９】
電源部８６は、アルカリ電池やリチウム電池等の一次電池やＮｉＣｄ電池やＮｉＭＨ電池、Ｌｉ‐ｉｏｎ電池、Ｌｉポリマー電池等の二次電池、ＡＣアダプター等からなる。電源部８６は、コネクタ８２、８４を介して電源制御部８０と着脱自在に接続される。
【００５０】
インタフェース９０及び９４は、コネクタ９２及び９６を介してメモリカードやハードディスク等の記録媒体と接続を行う。記録媒体着脱検知回路９８は、コネクタ９２及び／或いは９６に記録媒体２００或いは２１０が装着されているか否かを検知する。
【００５１】
なお、本実施の形態では記録媒体を取り付けるインタフェース及びコネクタを２系統持つものとして説明しているが、記録媒体を取り付けるインタフェース及びコネクタは、単数或いは複数、いずれの系統数を備える構成としても構わない。また、異なる規格のインタフェース及びコネクタを組み合わせて備える構成としても構わない。
【００５２】
インタフェース及びコネクタとしては、種々の記録媒体の規格に準拠したものを用いて構成することが可能である。例えば、ＰＣＭＣＩＡ（Personal Computer Memory Card International Association）カードやＣＦ（コンパクトフラッシュ（登録商標））カード、ＳＤカード等である。インタフェース９０及び９４、そしてコネクタ９２及び９６をＰＣＭＣＩＡカードやＣＦ（登録商標）カード等の規格に準拠したものを用いて構成した場合、各種通信カードを接続することができる。通信カードとしては、ＬＡＮカードやモデムカード、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）カード、ＩＥＥＥ（Institute of Electrical and Electronic Engineers）１３９４カードがある。他にも、Ｐ１２８４カード、ＳＣＳＩ（Small Computer System Interface）カード、ＰＨＳ等がある。これら各種通信カードを接続することにより、他のコンピュータやプリンタ等の周辺機器との間で画像データや画像データに付属した管理情報を転送し合うことができる。
【００５３】
光学ファインダ１０４は、撮像レンズ３１０により結像された被写体の光学像を、絞り３１２、レンズマウント３０６、１０６、ミラー１３０、１３２を介してユーザが観察するためのものである。これにより、画像表示部２８による電子ファインダ機能を使用すること無しに、光学ファインダ１０４のみを用いて撮影を行うことが可能である。また、光学ファインダ１０４内には、通知部５４の一部の機能、例えば、合焦状態、手振れ警告、フラッシュ充電、シャッタースピード、絞り値、露出補正などが表示される。
【００５４】
通信部１１０は、ＲＳ２３２ＣやＵＳＢ、ＩＥＥＥ１３９４、Ｐ１２８４、ＳＣＳＩ、モデム、ＬＡＮ、無線通信、等の各種通信機能を有する。コネクタ１１２は、通信部１１０により画像処理装置１００を他の機器と接続する。なお、無線通信の場合は、コネクタ１１２の代わりにアンテナが設けられる。
【００５５】
インタフェース１２０は、レンズマウント１０６内で画像処理装置１００をレンズユニット３００と接続する。
【００５６】
コネクタ１２２は、画像処理装置１００をレンズユニット３００と電気的に接続する。また、レンズマウント１０６及び／またはコネクタ１２２にレンズユニット３００が装着されているか否かは、不図示のレンズ着脱検知部により検知される。コネクタ１２２は、画像処理装置１００とレンズユニット３００との間で制御信号、状態信号、データ信号などを伝え合うと共に、各種電圧の電流を供給する機能も備えている。また、コネクタ１２２は、電気通信だけでなく、光通信、音声通信などを伝達する構成としてもよい。
【００５７】
記録媒体２００及び２１０は、メモリカードやハードディスク等である。この記録媒体２００及び２１０は、それぞれ、半導体メモリや磁気ディスク等から構成される記録部２０２及び２１２、画像処理装置１００とのインタフェース２０４及び２１４、画像処理装置１００と接続を行うコネクタ２０６及び２１６を備えている。
【００５８】
記録媒体２００及び２１０としては、ＰＣＭＣＩＡカードやコンパクトフラッシュ（登録商標）等のメモリカード、ハードディスク等を用いることができる。また、マイクロＤＡＴ、光磁気ディスク、ＣＤ‐ＲやＣＤ‐ＷＲ等の光ディスク、ＤＶＤ等の相変化型光ディスク等で構成されていても勿論構わない。
【００５９】
次に、図２〜図７を参照して、本発明の実施の形態における上記構成を有する画像処理装置１００の動作を説明する。図２及び図３は、本実施の形態における画像処理装置１００の主ルーチンのフローチャートである。
【００６０】
電池交換等の電源投入により、システム制御回路５０はフラグや制御変数等を初期化し、画像処理装置１００の各部において必要な所定の初期設定を行う（Ｓ１０１）。次に、システム制御回路５０は、電源スイッチ７２の設定位置を判断する（Ｓ１０２）。電源スイッチ７２が電源ＯＦＦに設定されていたならば、システム制御回路５０は、各表示部の表示を終了状態に変更し、フラグや制御変数等を含む必要なパラメータや設定値、設定モードを不揮発性メモリ５６に記録する。更に、システム制御回路５０は、電源制御部８０により画像表示部２８を含む画像処理装置１００各部の不要な電源を遮断する等の所定の終了処理を行った後（Ｓ１０３）、Ｓ１０２に戻る。
【００６１】
電源スイッチ７２が電源ＯＮに設定されていたならば（Ｓ１０２）、システム制御回路５０は、電源制御部８０により電池等により構成される電源部８６の残容量や動作情況が画像処理装置１００の動作に問題があるか否かを判断する（Ｓ１０４）。問題があるならば（Ｓ１０４でＮＯ）、通知部５４を用いて画像や音声により所定の警告を行った後に（Ｓ１０５）、Ｓ１０２に戻る。
【００６２】
一方、電源部８６に問題が無いならば（Ｓ１０４でＹＥＳ）、システム制御回路５０はモードダイアル６０の設定位置を判断し（Ｓ１０６）、モードダイアル６０が撮影モードに設定されていたならば、Ｓ１０８に進む。モードダイアル６０がその他のモードに設定されていたならば、システム制御回路５０は選択されたモードに応じた処理を実行し（Ｓ１０７）、処理を終えたならばＳ１０２に戻る。
【００６３】
システム制御回路５０は、記録媒体２００或いは２１０が装着されているかどうかの判断、及び、記録媒体２００或いは２１０に記録された画像データの管理情報の取得を行う。そして、記録媒体２００或いは２１０の動作状態が画像処理装置１００の動作、特に記録媒体に対する画像データの記録再生動作に問題があるか否かの判断を行う（Ｓ１０８）。その結果、問題が無いならばＳ１０９に進み、問題があるならば通知部５４を用いて画像や音声により所定の警告を行った後に（Ｓ１０５）、Ｓ１０２に戻る。
【００６４】
Ｓ１０９では、システム制御回路５０は通知部５４を用いて、画像や音声により画像処理装置１００の各種設定状態の通知を行う。なお、画像表示部２８の画像表示がＯＮであったならば、画像表示部２８も用いて画像や音声により画像処理装置１００の各種設定状態の通知を行う。
【００６５】
次に、図３のＳ１２１において、システム制御回路５０はシャッタースイッチＳＷ１の状態を判断し、押されていないと判断するとＳ１０２に戻る。一方、シャッタースイッチＳＷ１が押されたと判断すると、システム制御回路５０はＳ１２２において焦点調節処理を行って撮像レンズ３１０の焦点を被写体に合わせ、測光処理を行って絞り値及びシャッター時間を決定する、焦点調節・測光処理を行う。測光の結果、必要であればフラッシュの設定も行う。このＳ１２２で行う焦点調節・測光処理の詳細は図４を用いて後述する。
【００６６】
焦点調節・測光処理が終了すると、Ｓ１３２においてシステム制御回路５０はシャッタースイッチＳＷ２の状態を判断し、押されていないと判断すると、システム制御回路５０はＳ１３３でシャッタースイッチＳＷ１の状態を確認する。シャッタースイッチＳＷ１がオンであるならば、Ｓ１３２に戻る一方、シャッタースイッチＳＷ１がオフであると判断すると、Ｓ１０２に戻る。
【００６７】
一方、シャッタースイッチＳＷ２が押されたと判断すると、システム制御回路５０は、撮影した画像データを記憶可能なバッファ領域がメモリ３０にあるかどうかを判断する（Ｓ１３４）。メモリ３０のバッファ領域に新たな画像データを記憶可能な空き領域が無いならば、通知部５４を用いて画像や音声により所定の警告を行った後に（Ｓ１３５）、Ｓ１０２に戻る。
【００６８】
ここで、メモリ３０のバッファ領域に空き領域が無い場合の例として、バッファ領域内に記憶可能な最大枚数の連写撮影を行った直後がある。このような場合、メモリ３０から読み出して記録媒体２００或いは２１０に書き込むべき最初の画像がまだ記録媒体２００或いは２１０に記録されていないので、まだ１枚分の空き領域もメモリ３０の画像記憶バッファ領域上に確保できない。
【００６９】
なお、撮影した画像データを圧縮処理してからメモリ３０のバッファ領域に記憶する場合は、圧縮した後の画像データ量が圧縮モードの設定に応じて異なることを考慮する。こうして、記憶可能な領域がメモリ３０のバッファ領域にあるかどうかをＳ１３４において判断する。
【００７０】
メモリ３０に撮影した画像データを記憶可能な画像記憶バッファ領域があるならば（Ｓ１３４でＹＥＳ）、システム制御回路５０は、Ｓ１３６において撮影処理を実行する。ここでは、まず、所定時間蓄積された電荷を撮像素子１４から読み出し、Ａ／Ｄ変換器１６、画像処理回路２０、メモリ制御回路２２を介して、或いはＡ／Ｄ変換器から直接メモリ制御回路２２を介して、メモリ３０の所定領域に撮影した画像データを書き込む。なお、このＳ１３６における撮影処理の詳細は図５を用いて後述する。
【００７１】
Ｓ１３６の撮影処理を終えたならば、Ｓ１３９に進んで欠陥画素補正処理を行う。なお、このＳ１３９における欠陥画素補正処理の詳細は図６〜図９を用いて後述する。
【００７２】
システム制御回路５０は、メモリ３０の所定領域へ書き込まれた欠陥補正処理後の画像データの一部を、メモリ制御回路２２を介して読み出して現像処理を行うために必要なＷＢ積分演算処理、ＯＢ積分演算処理を行う。さらに、演算結果をシステム制御回路５０の内部メモリ或いはメモリ５２に記憶する。
【００７３】
そして、システム制御回路５０は、メモリ制御回路２２そして必要に応じて画像処理回路２０を用いて、メモリ３０の所定領域に書き込まれた欠陥補正処理後の画像データを読み出す。そして、システム制御回路５０の内部メモリ或いはメモリ５２に記憶した演算結果を用いて、ＡＷＢ処理、ガンマ変換処理、色変換処理を含む各種現像処理を行う（Ｓ１４０）。
【００７４】
システム制御回路５０は、メモリ３０の所定領域に書き込まれた画像データを読み出して、設定したモードに応じた画像圧縮処理を圧縮・伸長回路３２により行う（Ｓ１４１）。その後、メモリ３０の画像記憶バッファ領域の空き領域に、撮影して一連の処理を終えた画像データの書き込みを行う。
【００７５】
一連の撮影の実行に伴い、システム制御回路５０は、メモリ３０の画像記憶バッファ領域に記憶した画像データを読み出す。そして、インタフェース９０或いは９４、コネクタ９２或いは９６を介して、メモリカードやコンパクトフラッシュカード等の記録媒体２００或いは２１０へ書き込みを行う記録処理を開始する（Ｓ１４２）。この記録開始処理は、メモリ３０の画像記憶バッファ領域の空き領域に、撮影して一連の処理を終えた画像データの書き込みが新たに行われる度に、その画像データに対して実行される。なお、記録媒体２００或いは２１０へ画像データの書き込みを行っている間、書き込み動作中であることを明示するために、通知部５４において例えばＬＥＤを点滅させる等の記録媒体書き込み動作表示を行う。
【００７６】
そして、システム制御回路５０はＳ１４３に進み、シャッタースイッチＳＷ１が押されているかどうかを判断し、ＳＷ１が押されている間は、これが離されるのを待ち、押されていなければＳ１０２へ戻る。
【００７７】
図４は、図３のＳ１２２における焦点調節・測光処理の詳細なフローチャートを示す。焦点調節・測光処理において、システム制御回路５０と絞り制御部３４０またはフォーカス制御部３４２との間の各種信号のやり取りは、インタフェース１２０、コネクタ１２２、コネクタ３２２、インタフェース３２０、レンズ制御回路３５０を介して行われる。
【００７８】
システム制御回路５０は、撮像素子１４、焦点調節部４２及びフォーカス制御部３４２を用いて、ＡＦ処理を開始する（Ｓ２０１）。システム制御回路５０は、撮像レンズ３１０に入射した光線を、絞り３１２、レンズマウント３０６及び１０６、ミラー１３０、不図示のＡＦ用サブミラーを介して、焦点調節部４２に入射させる。これにより、光学像として結像された画像の合焦状態を判断し、合焦と判断されるまで（Ｓ２０３）、フォーカス制御部３４２を用いて撮像レンズ３１０を駆動しながら、焦点調節部４２を用いて合焦状態を検出するＡＦ制御を実行する（Ｓ２０２）。
【００７９】
そして、合焦と判断されると（Ｓ２０３でＹＥＳ）、システム制御回路５０は、撮影画面内の複数の測距点の中から合焦した測距点を決定する。そして、決定した測距点のデータと共に合焦状態のデータ及び或いは設定パラメータをシステム制御回路５０の内部メモリ或いはメモリ５２に記憶する。
【００８０】
続いて、システム制御回路５０は、測光制御部４６を用いて、ＡＥ処理を開始する（Ｓ２０５）。システム制御回路５０は、撮像レンズ３１０に入射した光線を、絞り３１２、レンズマウント３０６及び１０６、ミラー１３０及び１３２、不図示の測光用レンズを介して測光制御部４６に入射させることにより、光学像として結像された画像の露出状態を測定する。そしてＩＳＯ感度スイッチ６９にて事前に設定されたＩＳＯ感度において、露出（ＡＥ）が適正と判断されるまで（Ｓ２０７）、測光制御部４６を用いて測光処理を行う（Ｓ２０６）。
【００８１】
露出が適正と判断されると（Ｓ２０７でＹＥＳ）、システム制御回路５０は、測光データ及び／または設定パラメータをシステム制御回路５０の内部メモリ或いはメモリ５２に記憶し、Ｓ２０８に進む。なお、測光処理Ｓ２０６で検出した露出結果と、モードダイアル６０によって設定された撮影モードに応じて、システム制御回路５０は、絞り値（Ａｖ値）、シャッター速度（Ｔｖ値）を決定する。ここで決定したシャッター速度に応じて、システム制御回路５０は、撮像素子１４の電荷蓄積時間を決定し、決定した電荷蓄積時間、電荷を蓄積する撮影処理を行う。
【００８２】
Ｓ２０６の測光処理で得られた測光データにより、システム制御回路５０はフラッシュが必要か否かを判断し（Ｓ２０８）、フラッシュが必要ならばフラッシュ・フラグをセットし、フラッシュ４８を充電する（Ｓ２０９）。そしてフラッシュ４８の充電が完了すると（Ｓ２１０でＹＥＳ）、焦点調節・測光処理を終了する。
【００８３】
図５は、図３のＳ１３６における撮影処理の詳細なフローチャートを示す。撮影処理において、システム制御回路５０と絞り制御部３４０或いはフォーカス制御部３４２との間の各種信号のやり取りは、インタフェース１２０、コネクタ１２２、コネクタ３２２、インタフェース３２０、レンズ制御回路３５０を介して行われる。
【００８４】
システム制御回路５０はミラー１３０をミラーアップ位置に移動し（Ｓ３０１）、システム制御回路５０の内部メモリ或いはメモリ５２に記憶された測光データに従い、絞り制御部３４０によって絞り３１２を所定の絞り値まで駆動する（Ｓ３０２）。
【００８５】
システム制御回路５０は、撮像素子１４の電荷クリア動作を行った後に（Ｓ３０３）、撮像素子１４の電荷蓄積を開始し（Ｓ３０４）、その後、シャッター制御部４０によってシャッター１２を開き（Ｓ３０５）、撮像素子１４の露光を開始する（Ｓ３０６）。ここで、フラッシュ・フラグによりフラッシュ４８が必要か否かを判断し（Ｓ３０７）、必要な場合はフラッシュを発光させる（Ｓ３０８）。
【００８６】
システム制御回路５０は、測光データに従って撮像素子１４の露光終了を待ってから（Ｓ３０９）、シャッター制御部４０によってシャッター１２を閉じ（Ｓ３１０）、撮像素子１４の露光を終了する。システム制御回路５０は、絞り制御部３４０によって絞り３１２を開放の絞り値まで駆動すると共に（Ｓ３１１）、ミラー１３０をミラーダウン位置に移動する（Ｓ３１２）。
【００８７】
そして、設定した電荷蓄積時間が経過すると（Ｓ３１３でＹＥＳ）、システム制御回路５０は、撮像素子１４の電荷蓄積を終了した後（Ｓ３１４）、撮像素子１４から電荷信号の読み出しを行う。そしてＡ／Ｄ変換器１６、画像処理回路２０、メモリ制御回路２２を介して、或いはＡ／Ｄ変換器１６から直接メモリ制御回路２２を介して、メモリ３０の所定領域への画像データを書き込む（Ｓ３１５）。一連の処理を終えたならば、撮影処理を終了する。
【００８８】
図６は、図３のＳ１３９における欠陥画素補正処理のフローチャートを示す。システム制御回路５０はＳ４０１において、欠陥画素を補正するか否かを判定する。この詳細は図７を用いて後述する。
【００８９】
次にＳ４０２において、システム制御回路５０はＳ４０１で得られた欠陥画素の補正判定結果から、補正すべきと判断された場合には、該当画素の補正量を算出する。続いて、Ｓ４０３では、Ｓ４０２で求められた補正量を、メモリ３０における該当画素のアドレスに書き込む。これにより、該当画素の欠陥補正処理は完了する。なお、補正の方法については様々な方法が考えられるが、いずれの補正アルゴリズムで補正しても本件においては差し支えない。
【００９０】
Ｓ４０４においてシステム制御回路５０はキズデータに記載された欠陥画素の欠陥補正処理がすべて完了したか否かを判定し、完了していない場合には、Ｓ４０１に戻り、欠陥補正画素の判断を行い、同様に繰り返す。Ｓ４０１にて選択された欠陥補正画素すべてに対する補正処理がすべて終了すると、欠陥画素補正処理シーケンスを完了する。
【００９１】
次に、図７のフローチャートを参照して、図６のＳ４０１における欠陥画素の補正の判定処理について説明する。まず、システム制御回路５０は、メモリ５２に記憶されたキズデータの先頭から、欠陥画素１画素分のキズ情報を読み込む（Ｓ６０１）。この中に格納されている欠陥画素のアドレス情報から、メモリ３０に書き込まれた撮影画像における該当画素のアドレスを特定することが可能である。次に、システム制御回路５０は撮影が行われた際の撮影条件及び撮影環境を取得する（Ｓ６０２）。ここで、撮影条件とは、ＩＳＯ感度、電荷蓄積時間、及び、絞り値の少なくとも一つである。また、撮影環境とは、例えば、撮影時の温度である。もちろん、本願発明の撮影条件及び撮影環境は、これらに限定されるものではない。
【００９２】
次に、システム制御回路５０は、キズデータから、１つの欠陥画素について、欠陥の種類を示すキズＩＤを読み込む（Ｓ６０３）ここで、キズＩＤは、各欠陥画素について、参照する判定値テーブルを示す参照テーブル情報でもある。図８は、キズデータの一例を示す図であり、上述したように、例えば、メモリ５２（第２の記憶手段）に予め記憶されている。図８に示すように、キズデータは、各欠陥画素のアドレス、キズＩＤ、およびキズグレードからなる。そして、キズデータに示されるキズＩＤに応じて参照する判定値テーブルを選択する（Ｓ６０４）。更に、取得した撮影条件及び撮影環境において欠陥が目立つために補正対象となる欠陥画素のグレードを示す情報である判定値（第１の情報）を判定値テーブルから選択する（Ｓ６０５）。図９は、判定値テーブルの一例を示す図であり、例えば、メモリ５２（第１の記憶手段）に予め記憶されている。ここで、図９を参照して、システム制御回路５０がＳ６０４において判定値テーブルを選択する動作、及び、Ｓ６０５において判定値を選択する動作について説明する。
【００９３】
判定値テーブルとは、撮影条件や撮影環境をパラメータとし、欠陥画素を補正するか否かをシステム制御回路５０が判定するために用いられるテーブルである。図９に示す例では、（ａ）に示すＩＤ１の白キズ、（ｂ）に示すＩＤ２のＩＳＯで補正対象となる欠陥画素のグレードを変えるキズ、（ｃ）に示すＩＤ３のＦ値で補正対象となる欠陥画素のグレードを変えるキズの３種類のキズＩＤに対応した判定値テーブルを有している。より具体的には、ＩＤ２はいわゆる瞬きキズで、撮影時のＩＳＯ感度条件にのみ影響を受けるものであり、温度や、秒時の影響は受けない。また、ＩＤ３は撮像素子１４そのものの欠陥画素ではないが、撮像素子１４を封入するパッケージのカバーガラスに欠陥がある場合を想定しており、撮影時の絞り条件によって撮影された画像に影響が現れることが知られている。つまり、撮影時のレンズの絞りが開放側に近い場合にはカバーガラスの欠陥は撮像素子１４上ではボケた状態になるため、明確に写りこまず、画質への影響は少ない。しかし、撮影時にレンズを絞りこむことで撮像素子１４上にカバーガラスの欠陥が明確に写り込んでしまい、撮像素子１４の欠陥画素同様、補正処理が必要となる。この場合の判定値テーブルは、感度や秒時、温度等には一切無関係で、撮影時の絞り情報のみによって決定されることになる。なお、キズの種類は上述したものに限るものではなく、他の種類のキズに対応した判定値テーブルを有していても構わない。
【００９４】
また、これらのキズデータの判別レベル、判別個数の設定は、出荷時データの検出可能レベル、その検出精度に依存し、それらと実際に得られた画像の画質を考慮して決定される。また、これらの判別処理は画像処理装置１００の外部にて行われる。そのため、画像処理装置１００にはそのようにして決定された判別レベル、判別個数によって抽出された画素のアドレスのみが与えられるので、画像処理装置１００の処理能力に大きな負荷を与えるものでは無い。
【００９５】
システム制御回路５０がＳ６０３において欠陥画素のキズＩＤを読み込むと、読み込んだキズＩＤに応じて、図９（ａ）〜（ｃ）に示される判定値テーブルのうちの１つを選択する（Ｓ６０４）。例えば、キズＩＤがＩＤ１（白キズ）であるとき、図９（ａ）の判定値テーブルを選択する（Ｓ６０４）。ここで、Ｓ６０２で取得した撮影条件及び撮影環境が、例えば、ＩＳＯ感度４００、電荷蓄積時間が１秒、温度が２５℃、Ｆ値が２．８であるものとする。ＩＤ１の判定値テーブルは、温度、ＩＳＯ感度、電荷蓄積時間の条件によって判定値が異なり、この例では温度が２５℃であることから、図９（ａ）の左側の判定値テーブルのＩＳＯ感度４００、電荷蓄積時間１秒に対応する、判定値５が選択される（Ｓ６０５）。
【００９６】
上記の例において、撮影条件が変化し、例えば温度が６５℃以上になった場合には図９（ａ）の右側の判定値テーブルが選択される。また、上記の例において、Ｓ６０３において読み込んだキズＩＤがＩＤ２であれば、図９（ｂ）の判定値テーブルから、判定値５が選択され、ＩＤ３であれば、図９（ｃ）の判定値テーブルから、同じく判定値５が選択されることになる。
【００９７】
上述したようにして、Ｓ６０５で判定値を選択すると、Ｓ６０６において欠陥画素の欠陥の目立ちやすさを示す程度を出力信号レベルに応じて数段階に分類した欠陥画素のグレードを示す情報であるキズグレード（第２の情報）をキズデータから読み出す。そして、Ｓ６０５で選択した判定値（第１の情報）と比較し、比較結果に基づいてキズ補正（欠陥補正）の要否を判定する。キズデータから読み出されたキズグレード（第２の情報）が判定値（第１の情報）以下である場合にはＳ６０７に進み、システム制御回路５０は、該当する欠陥画素を補正する、と決定した後、Ｓ６０８に進む。一方、キズグレードが判定値より大きい場合には直接Ｓ６０８に進む。
【００９８】
Ｓ６０８において、システム制御回路５０は該当する欠陥画素に他のキズＩＤ情報がさらに格納されているか否かを判断し、有ればＳ６０３へ進み、上述したＳ６０３〜Ｓ６０８の処理を繰り返す。このように、１つの欠陥画素に対してキズＩＤおよびキズグレードは複数持ってもよく、その場合、キズＩＤ毎にキズ補正するか否かの判定を行い、いずれかのキズＩＤでの判定結果によって補正すると判断された場合には、該当画素は補正するものとする。
【００９９】
Ｓ６０８において、該当する欠陥画素に他のキズＩＤがなければＳ６０９に進み、システム制御回路５０はキズデータに、次の欠陥画素の情報がある場合に、当該画素についてＳ６０１〜Ｓ６０８の動作を行う。このようにして、システム制御回路５０は欠陥画素をキズＩＤによって判別し、この情報に基づいて撮影条件および撮影環境に応じて補正するか否かを判断する。
【０１００】
なお、補正するか否かを判定する判定手段は、各キズＩＤ毎に複数設けても良い。
【０１０１】
＜他の実施形態＞
本発明は、複数の機器（例えばホストコンピュータ、インタフェース機器、カメラヘッドなど）から構成されるシステムに適用しても、一つの機器からなる装置（例えば、デジタルスチルカメラ、デジタルビデオカメラなど）に適用してもよい。
【０１０２】
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像処理装置及び画像処理方法に関し、更に詳しくは、欠陥画素から出力された信号を補正する機能を有する画像処理装置及び画像処理方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、固体メモリ素子を有するメモリカードを記録媒体として、ＣＣＤやＣＭＯＳ等の固体撮像素子で撮像した静止画像や動画像を記録および再生する電子カメラ等の画像処理装置が市販されている。ＣＣＤやＣＭＯＳ等の固体撮像素子を用いて撮像する場合、撮像素子に発生する暗電流ノイズや撮像素子固有の欠陥画素等の画質劣化が生じることが知られている。
【０００３】
従来、これらの欠陥画素の補正方法としては、センサの工場出荷時に、所定の条件下での標準蓄積時間での出力を評価し、欠陥画素であるか否かを判定する。そして、その画素の欠陥の種類（黒キズ、白キズ等）及びアドレスと欠陥レベルのデータを得、そのデータを用いて欠陥画素を補正するように構成されている。
【０００４】
しかしながら、欠陥画素は撮影時の条件によって大きくその程度が異なることが知られている。従って、例えば通常の短秒時での一般撮影時には問題にならないような画素でも、長秒での撮影時には欠陥画素としてのレベルが大きくなり、画質に悪影響を与えてしまうことになる。このような問題を避けるために、特許文献１では、撮影時の条件として撮像素子の温度やシャッター秒時及び感度を考慮して欠陥画素を補正する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００５−１７５９８７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ここで、いわゆる白キズであれば特許文献１に記載されているように、温度、シャッター秒時及び感度を考慮した判定条件を定めることが可能である。しかしながら欠陥画素の種類によっては、例えば感度にのみ影響され、露光時間には全く影響されないような欠陥画素（いわゆる、瞬きキズと呼ばれる。）がある。この場合、高感度時には欠陥画素の補正処理を行う必要がある。しかし、他の白キズと同様に、感度に加えて温度および露光時間を考慮した判定条件のもとでは適切な条件を定めることができず、結果として撮影条件によっては過補正するか、もしくは全く補正されない可能性がある。このために撮影画像の画質を損なう場合がある。
【０００７】
本発明は上記問題点を鑑みてなされたものであり、撮像装置の欠陥画素の欠陥の種類に応じて、適切な補正を行えるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、複数の画素を含む撮像素子から出力される画像データを処理する本発明の画像処理装置は、撮影条件または撮影環境と、補正対象となる欠陥画素のグレードを示す第１の情報とを対応させた複数のテーブルを記憶した第１の記憶手段と、前記複数の画素の内、各欠陥画素について、アドレス情報と、前記複数のテーブルの内、参照するテーブルを示す参照テーブル情報と、欠陥画素のグレードを示す第２の情報とからなるキズデータを記憶した第２の記憶手段と、撮影時の撮影条件及び撮影環境を取得する取得手段と、前記取得手段が取得した前記撮影条件または撮影環境における、前記参照テーブル情報に対応したテーブルが示す前記第１の情報と、前記キズデータにおける各欠陥画素の前記第２の情報とを比較し、比較結果に基づいて各欠陥画素の欠陥補正の要否を判定する判定手段と、前記判定手段により欠陥補正が必要であると判断された欠陥画素から出力された画像データに対して前記欠陥補正を行う補正手段とを有することを特徴とする。
【０００９】
また、複数の画素を含む撮像素子から出力される画像データを処理し、撮影条件または撮影環境と、補正対象となる欠陥画素のグレードを示す第１の情報とを対応させた複数のテーブルを記憶した第１の記憶手段と、前記複数の画素の内、各欠陥画素について、アドレス情報と、前記複数のテーブルの内、参照するテーブルを示す参照テーブル情報と、欠陥画素のグレードを示す第２の情報とからなるキズデータを記憶した第２の記憶手段とを有する画像処理装置における画像処理方法であって、取得手段が、撮影時の撮影条件及び撮影環境を取得する取得工程と、判定手段が、前記取得工程で取得した前記撮影条件または撮影環境における、前記参照テーブル情報に対応したテーブルが示す前記第１の情報と、前記キズデータにおける各欠陥画素の前記第２の情報とを比較し、比較結果に基づいて各欠陥画素の欠陥補正の要否を判定する判定工程と、補正手段が、前記判定工程で欠陥補正が必要であると判断された欠陥画素から出力された画像データに対して前記欠陥補正を行う補正工程とを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、撮像装置の欠陥画素の欠陥の種類に応じた適切な補正を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の実施形態における撮像装置の構成を示すブロック図。
【図２】実施形態における画像処理装置の主ルーチンのフローチャート。
【図３】実施形態における画像処理装置の主ルーチンのフローチャート。
【図４】実施形態における測距・測光処理を示すフローチャート。
【図５】実施形態における撮影処理を示すフローチャート。
【図６】実施形態における欠陥画素補正判定処理を示すフローチャート。
【図７】実施形態におけるキズ画素判断処理を示すフローチャート。
【図８】実施形態におけるキズデータの一例を示す図。
【図９】実施形態における欠陥補正判定を行うための判定値テーブルを示す図。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、添付図面を参照して本発明を実施するための最良の形態を詳細に説明する。
【００１３】
図１に示すように、本実施の形態の撮像装置は、主に画像処理装置１００と、交換レンズタイプのレンズユニット３００により構成されている。
【００１４】
レンズユニット３００は、複数のレンズから成る撮像レンズ３１０、絞り３１２、レンズユニット３００を画像処理装置１００と機械的に結合するレンズマウント３０６を備えている。レンズマウント３０６内には、レンズユニット３００を画像処理装置１００と電気的に接続する各種機能が含まれている。すなわち、レンズマウント３０６は、レンズユニット３００を画像処理装置１００と接続するためのインタフェース３２０、レンズユニット３００を画像処理装置１００と電気的に接続するコネクタ３２２を備えている。
【００１５】
コネクタ３２２は、画像処理装置１００とレンズユニット３００との間で制御信号、状態信号、データ信号などを伝え合うと共に、各種電圧の電流を供給されるあるいは供給する機能も備えている。また、コネクタ３２２は電気通信のみならず、光通信、音声通信などを伝達する構成としても良い。
【００１６】
絞り制御部３４０は、測光制御部４６からの測光情報に基づいて、後述する画像処理装置１００のシャッター１２を制御するシャッター制御部４０と連携しながら、絞り３１２を制御する。フォーカス制御部３４２は、撮像レンズ３１０のフォーカシングを制御し、ズーム制御部３４４は、撮像レンズ３１０のズーミングを制御する。
【００１７】
レンズ制御回路３５０は、レンズユニット３００全体を制御する。レンズ制御回路３５０は、動作用の定数、変数、プログラムなどを記憶するメモリを備えている。更に、レンズユニット３００固有の番号などの識別情報、管理情報、開放絞り値や最小絞り値、焦点距離などの機能情報、現在や過去の各設定値などを保持する不揮発メモリも備えている。
【００１８】
次に、画像処理装置１００の構成について説明する。
【００１９】
レンズマウント１０６は、画像処理装置１００とレンズユニット３００を機械的に結合する。ミラー１３０、１３２は、撮像レンズ３１０に入射した光線を光学ファインダ１０４に導く。なお、ミラー１３０はクイックリターンミラーの構成としても、ハーフミラーの構成としても、どちらでも構わない。撮像素子１４は、光学像を電気信号に変換する。シャッター１２は、撮像素子１４への露光量を制御する。撮像レンズ３１０に入射した光線は、一眼レフ方式によって絞り３１２、レンズマウント３０６及び１０６、ミラー１３０、シャッター１２を介して導かれ、光学像として撮像素子１４上に結像する。
【００２０】
Ａ／Ｄ変換器１６は、撮像素子１４から出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換する。タイミング発生回路１８は、撮像素子１４、Ａ／Ｄ変換器１６、Ｄ／Ａ変換器２６にそれぞれクロック信号や制御信号を供給する。タイミング発生回路１８は、メモリ制御回路２２及びシステム制御回路５０により制御される。
【００２１】
画像処理回路２０は、Ａ／Ｄ変換器１６からのデータ或いはメモリ制御回路２２からのデータに対して所定の画素補間処理や色変換処理を行う。また、画像処理回路２０は、必要に応じて、Ａ／Ｄ変換器１６から出力される画像データを用いて所定の演算処理を行う。そして、得られた演算結果に基づいて、システム制御回路５０がシャッター制御部４０、焦点調節部４２を制御するための、ＴＴＬ（スルー・ザ・レンズ）方式のオートフォーカス（ＡＦ）処理、自動露出（ＡＥ）処理、フラッシュプリ発光（ＥＦ）処理を行っている。さらに、画像処理回路２０は、Ａ／Ｄ変換器１６から出力される画像データを用いて所定の演算処理を行い、得られた演算結果に基づいてＴＴＬ方式のオートホワイトバランス（ＡＷＢ）処理も行っている。
【００２２】
なお、本実施の形態における図１に示す例では、焦点調節部４２及び測光制御部４６を専用に備えている。従って、焦点調節部４２及び測光制御部４６を用いてＡＦ処理、ＡＥ処理、ＥＦ処理の各処理を行い、画像処理回路２０を用いたＡＦ処理、ＡＥ処理、ＥＦ処理の各処理を行わない構成としても構わない。また、焦点調節部４２及び測光制御部４６を用いてＡＦ処理、ＡＥ処理、ＥＦ処理の各処理を行い、さらに、画像処理回路２０を用いてＡＦ処理、ＡＥ処理、ＥＦ処理の各処理を行う構成としてもよい。
【００２３】
メモリ制御回路２２は、Ａ／Ｄ変換器１６、タイミング発生回路１８、画像処理回路２０、画像表示メモリ２４、Ｄ／Ａ変換器２６、メモリ３０、圧縮・伸長回路３２を制御する。Ａ／Ｄ変換器１６から出力される画像データは、画像処理回路２０、メモリ制御回路２２を介して、或いはメモリ制御回路２２のみを介して、画像表示メモリ２４或いはメモリ３０に書き込まれる。
【００２４】
画像表示部２８は、ＴＦＴ方式のＬＣＤ等から成り、画像表示メモリ２４に書き込まれた表示用の画像データがＤ／Ａ変換器２６を介して表示される。画像表示部２８を用いて、撮像した画像データを逐次表示することで、電子ビューファインダ（ＥＶＦ）機能を実現することができる。また、画像表示部２８は、システム制御回路５０の指示により任意に表示をＯＮ／ＯＦＦすることが可能であり、表示をＯＦＦにした場合には画像処理装置１００の電力消費を大幅に低減することができる。
【００２５】
撮影した静止画像や動画像を格納するメモリ３０は、所定枚数の静止画像や所定時間の動画像を格納するのに十分な記憶容量を備えている。これにより、複数枚の静止画像を連続して撮影する連写撮影やパノラマ撮影の場合にも、高速かつ大量の画像書き込みをメモリ３０に対して行うことが可能となる。また、メモリ３０は、システム制御回路５０の作業領域としても使用することが可能である。
【００２６】
圧縮・伸長回路３２は、適応離散コサイン変換（ＡＤＣＴ）等、公知の圧縮方法を用いて画像データを圧縮・伸長する。圧縮・伸長回路３２は、メモリ３０に格納された画像を読み込んで圧縮処理或いは伸長処理を行い、処理を終えたデータを再びメモリ３０に書き込む。
【００２７】
シャッター制御部４０は、測光制御部４６からの測光情報に基づいて絞り３１２を制御する絞り制御部３４０と連携しながらシャッター１２を制御する。焦点調節部４２は、ＡＦ（オートフォーカス）処理を行う。レンズユニット３００内の撮像レンズ３１０に入射した光線が、絞り３１２、レンズマウント３０６、１０６、ミラー１３０及び焦点調節用サブミラー（図示せず）を介して焦点調節部４２に入射されることにより、光学像として結像された画像の合焦状態を測定する。
【００２８】
温度計４４は、撮影環境の温度を検出する。温度計がセンサ内にある場合はセンサの暗電流をより正確に予想することが可能である。
【００２９】
測光制御部４６は、ＡＥ（自動露出）処理を行う。レンズユニット３００内の撮像レンズ３１０に入射した光線が、絞り３１２、レンズマウント３０６、１０６、ミラー１３０及び測光用サブミラー（不図示）を介して測光制御部４６に入射されることにより、光学像として結像された画像の露出状態を測定する。フラッシュ４８は、ＡＦ補助光の投光機能及びフラッシュ調光機能を有する。測光制御部４６は、フラッシュ４８と連携することにより、ＥＦ（フラッシュ調光）処理機能も有する。
【００３０】
なお、前述したように、Ａ／Ｄ変換器１６からの画像データを用いて画像処理回路２０により演算された演算結果に基づいて露出制御及びＡＦ制御を行っても良い。その場合、システム制御回路５０がシャッター制御部４０、絞り制御部３４０、フォーカス制御部３４２に対し、ビデオＴＴＬ方式を用いた露出制御及びＡＦ制御を行うことが可能である。
【００３１】
また、焦点調節部４２による測定結果と、Ａ／Ｄ変換器１６からの画像データを画像処理回路２０によって演算した演算結果とを用いて、ＡＦ制御を行うようにしてもよい。さらに、測光制御部４６による測定結果と、Ａ／Ｄ変換器１６からの画像データを画像処理回路２０によって演算した演算結果とを用いて露出制御を行うようにしてもよい。
【００３２】
システム制御回路５０は、画像処理装置１００全体を制御し、周知のＣＰＵなどを内蔵する。メモリ５２は、システム制御回路５０の動作用の定数、変数、プログラム等を記憶する。さらにメモリ５２には、撮像素子１４の製造工程内で検出された欠陥画素に関する情報（キズデータ）を記憶している。本実施の形態においては欠陥画素情報として、各欠陥画素のアドレス情報、欠陥の種類を示す情報（以下、「キズＩＤ」と呼ぶ。）、及び欠陥の目立ちやすさを示す程度を出力信号レベルに応じて数段階に分類した欠陥画素のグレードを示す情報（以下、「キズグレード」と呼ぶ。）（第２の情報）を記憶している。この欠陥画素情報は、同じキズＩＤ及びキズグレードを有する複数の画素に対して共通の１つのキズデータを持っていてもよいし、１つの画素に対して複数のキズデータを持っていてもよい。
【００３３】
通知部５４は、システム制御回路５０でのプログラムの実行に応じて、文字、画像、音声などを用いて動作状態やメッセージなどを外部に通知する。通知部５４としては、例えばＬＣＤやＬＥＤなどによる視覚的な表示を行う表示部や音声による通知を行う発音素子などが用いられるが、これらのうち１つ以上の組み合わせにより構成される。特に、表示部の場合には、画像処理装置１００の操作部７０近辺の、視認しやすい、単数あるいは複数箇所に設置されている。また、通知部５４は、その一部の機能が光学ファインダ１０４内に設置されている。
【００３４】
通知部５４の表示内容の内、ＬＣＤなどに表示するものとしては以下のものがある。まず、単写／連写撮影表示、セルフタイマ表示等、撮影モードに関する表示がある。また、圧縮率表示、記録画素数表示、記録枚数表示、残撮影可能枚数表示等の記録に関する表示がある。また、シャッタースピード表示、絞り値表示、露出補正表示、フラッシュ表示、赤目緩和表示等の撮影条件に関する表示がある。その他に、ＩＳＯ感度表示、マクロ撮影表示、ブザー設定表示、時計用電池残量表示、電池残量表示、エラー表示、複数桁の数字による情報表示、記録媒体２００及び２１０の着脱状態表示がある。更に、レンズユニット３００の着脱状態表示、通信Ｉ／Ｆ動作表示、日付・時刻表示、外部コンピュータとの接続状態を示す表示等も行われる。
【００３５】
また、通知部５４の表示内容のうち、光学ファインダ１０４内に表示するものとしては、例えば、以下のものがある。合焦表示、撮影準備完了表示、手振れ警告表示、フラッシュ充電表示、フラッシュ充電完了表示、シャッタースピード表示、絞り値表示、露出補正表示、記録媒体書き込み動作表示等である。
【００３６】
さらに、通知部５４の表示内容のうち、ＬＥＤ等により表示するものとしては、例えば、以下のものがある。合焦表示、撮影準備完了表示、手振れ警告表示、フラッシュ充電表示、フラッシュ充電完了表示、記録媒体書き込み動作表示、マクロ撮影設定通知表示、二次電池充電表示等である。
【００３７】
また、通知部５４の表示内容のうち、ランプ等に表示するものとしては、例えば、セルフタイマ通知ランプ等がある。このセルフタイマ通知ランプはＡＦ補助光と共用してもよい。
【００３８】
不揮発性メモリ５６は、例えば電気的に消去・記録可能なＥＥＰＲＯＭ等が用いられ、後述するプログラムなどが格納される。この不揮発性メモリ５６には、各種パラメータやＩＳＯ感度などの設定値、設定モード等のデータが格納される。
【００３９】
操作手段６０、６２、６４、６６、６８、６９及び７０は、ユーザがシステム制御回路５０の各種の動作指示を入力するためのものである。スイッチやダイアル、タッチパネル、視線検知によるポインティング、音声認識装置等の単数或いは複数の組み合わせで構成される。ここで、これらの操作手段の具体的な説明を行う。
【００４０】
モードダイアルスイッチ６０を操作することで、自動撮影モード、プログラム撮影モード、シャッター速度優先撮影モード、絞り優先撮影モード、マニュアル撮影モード、焦点深度優先（デプス）撮影モード等の各機能撮影モードを切り替え設定することができる。他に、ポートレート撮影モード、風景撮影モード、接写撮影モード、スポーツ撮影モード、夜景撮影モード、パノラマ撮影モードなどの各機能撮影モードを切り替え設定することもできる。
【００４１】
シャッタースイッチＳＷ１は、不図示のシャッターボタンの操作途中（例えば半押し）でＯＮとなり、ＡＦ処理、ＡＥ処理、ＡＷＢ処理、ＥＦ処理等の動作開始を指示する。
【００４２】
シャッタースイッチＳＷ２は、不図示のシャッターボタンの操作完了（例えば全押し）でＯＮとなり、露光処理、現像処理、及び記録処理からなる一連の処理の動作開始を指示する。まず、露光処理では、撮像素子１４から読み出した信号をＡ／Ｄ変換器１６、メモリ制御回路２２を介して画像データをメモリ３０に書き込み、更に、画像処理回路２０やメモリ制御回路２２での演算を用いた現像処理が行われる。更に、記録処理では、メモリ３０から画像データを読み出し、圧縮・伸長回路３２で圧縮を行い、記録媒体２００あるいは２１０に画像データを書き込む。
【００４３】
再生スイッチ６６を操作することで、各撮影モードで撮影した画像をメモリ３０あるいは記録媒体２００、２１０から読み出して画像表示部２８に表示する再生動作の開始を指示する。
【００４４】
単写/連写スイッチ６８により、シャッタースイッチＳＷ２を押した場合に１駒の撮影を行って待機状態とする単写モードと、シャッタースイッチＳＷ２を押している間は連続して撮影を行い続ける連写モードとを設定することができる。
【００４５】
ＩＳＯ感度スイッチ６９は、撮像素子１４或いは画像処理回路２０におけるゲインの設定を変更することにより、ＩＳＯ感度を設定することができる。
【００４６】
操作部７０は、各種ボタンやタッチパネルなどから成る。一例として、メニューボタン、セットボタン、マクロボタン、マルチ画面再生改ページボタン、フラッシュ設定ボタン、単写／連写／セルフタイマ切り換えボタン、メニュー移動＋（プラス）ボタン、メニュー移動−（マイナス）ボタンを含む。更に、再生画像移動＋（プラス）ボタン、再生画像移動−（マイナス）ボタン、撮影画質選択ボタン、露出補正ボタン、日付／時間設定ボタンなども含む。他に、パノラマモード等の撮影及び再生を実行する際に各種機能の選択及び切り替えを設定する選択／切り替えボタン、パノラマモード等の撮影及び再生を実行する際に各種機能の決定及び実行を設定する決定／実行ボタンがある。また、画像表示部２８のＯＮ／ＯＦＦを設定する画像表示ＯＮ／ＯＦＦスイッチ、撮影直後に撮影した画像データを自動再生するクイックレビュー機能を設定するクイックレビューＯＮ／ＯＦＦスイッチがある。また、ＪＰＥＧ圧縮の圧縮率を選択するため、あるいは撮像素子の信号をそのままデジタル化して記録媒体に記録するＣＣＤＲＡＷモードを選択するためのスイッチである圧縮モードスイッチがある。他には、再生モード、マルチ画面再生・消去モード、ＰＣ接続モード等の各機能モードを設定することができる再生スイッチがある。また、上記プラスボタン及びマイナスボタンの各機能は、回転ダイアルスイッチを備えることによって、より軽快に数値や機能を選択することが可能となる。
【００４７】
電源スイッチ７２の操作により、画像処理装置１００の電源オン、電源オフの各モードを切り替え設定することができる。また、画像処理装置１００に接続されたレンズユニット３００、外部フラッシュ、記録媒体２００、２１０等の各種付属装置の電源オン、電源オフの設定も合わせて切り替え設定可能である。
【００４８】
電源制御部８０は、電池検出回路、ＤＣ−ＤＣコンバータ、通電するブロックを切り替えるスイッチ回路等により構成されている。電源制御部８０は、電池の装着の有無、電池の種類、電池残量の検出を行い、検出結果及びシステム制御回路５０の指示に基づいてＤＣ−ＤＣコンバータを制御し、必要な電圧を必要な期間、記録媒体を含む各部へ供給する。
【００４９】
電源部８６は、アルカリ電池やリチウム電池等の一次電池やＮｉＣｄ電池やＮｉＭＨ電池、Ｌｉ‐ｉｏｎ電池、Ｌｉポリマー電池等の二次電池、ＡＣアダプター等からなる。電源部８６は、コネクタ８２、８４を介して電源制御部８０と着脱自在に接続される。
【００５０】
インタフェース９０及び９４は、コネクタ９２及び９６を介してメモリカードやハードディスク等の記録媒体と接続を行う。記録媒体着脱検知回路９８は、コネクタ９２及び／或いは９６に記録媒体２００或いは２１０が装着されているか否かを検知する。
【００５１】
なお、本実施の形態では記録媒体を取り付けるインタフェース及びコネクタを２系統持つものとして説明しているが、記録媒体を取り付けるインタフェース及びコネクタは、単数或いは複数、いずれの系統数を備える構成としても構わない。また、異なる規格のインタフェース及びコネクタを組み合わせて備える構成としても構わない。
【００５２】
インタフェース及びコネクタとしては、種々の記録媒体の規格に準拠したものを用いて構成することが可能である。例えば、ＰＣＭＣＩＡ（Personal Computer Memory Card International Association）カードやＣＦ（コンパクトフラッシュ（登録商標））カード、ＳＤカード等である。インタフェース９０及び９４、そしてコネクタ９２及び９６をＰＣＭＣＩＡカードやＣＦ（登録商標）カード等の規格に準拠したものを用いて構成した場合、各種通信カードを接続することができる。通信カードとしては、ＬＡＮカードやモデムカード、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）カード、ＩＥＥＥ（Institute of Electrical and Electronic Engineers）１３９４カードがある。他にも、Ｐ１２８４カード、ＳＣＳＩ（Small Computer System Interface）カード、ＰＨＳ等がある。これら各種通信カードを接続することにより、他のコンピュータやプリンタ等の周辺機器との間で画像データや画像データに付属した管理情報を転送し合うことができる。
【００５３】
光学ファインダ１０４は、撮像レンズ３１０により結像された被写体の光学像を、絞り３１２、レンズマウント３０６、１０６、ミラー１３０、１３２を介してユーザが観察するためのものである。これにより、画像表示部２８による電子ファインダ機能を使用すること無しに、光学ファインダ１０４のみを用いて撮影を行うことが可能である。また、光学ファインダ１０４内には、通知部５４の一部の機能、例えば、合焦状態、手振れ警告、フラッシュ充電、シャッタースピード、絞り値、露出補正などが表示される。
【００５４】
通信部１１０は、ＲＳ２３２ＣやＵＳＢ、ＩＥＥＥ１３９４、Ｐ１２８４、ＳＣＳＩ、モデム、ＬＡＮ、無線通信、等の各種通信機能を有する。コネクタ１１２は、通信部１１０により画像処理装置１００を他の機器と接続する。なお、無線通信の場合は、コネクタ１１２の代わりにアンテナが設けられる。
【００５５】
インタフェース１２０は、レンズマウント１０６内で画像処理装置１００をレンズユニット３００と接続する。
【００５６】
コネクタ１２２は、画像処理装置１００をレンズユニット３００と電気的に接続する。また、レンズマウント１０６及び／またはコネクタ１２２にレンズユニット３００が装着されているか否かは、不図示のレンズ着脱検知部により検知される。コネクタ１２２は、画像処理装置１００とレンズユニット３００との間で制御信号、状態信号、データ信号などを伝え合うと共に、各種電圧の電流を供給する機能も備えている。また、コネクタ１２２は、電気通信だけでなく、光通信、音声通信などを伝達する構成としてもよい。
【００５７】
記録媒体２００及び２１０は、メモリカードやハードディスク等である。この記録媒体２００及び２１０は、それぞれ、半導体メモリや磁気ディスク等から構成される記録部２０２及び２１２、画像処理装置１００とのインタフェース２０４及び２１４、画像処理装置１００と接続を行うコネクタ２０６及び２１６を備えている。
【００５８】
記録媒体２００及び２１０としては、ＰＣＭＣＩＡカードやコンパクトフラッシュ（登録商標）等のメモリカード、ハードディスク等を用いることができる。また、マイクロＤＡＴ、光磁気ディスク、ＣＤ‐ＲやＣＤ‐ＷＲ等の光ディスク、ＤＶＤ等の相変化型光ディスク等で構成されていても勿論構わない。
【００５９】
次に、図２〜図７を参照して、本発明の実施の形態における上記構成を有する画像処理装置１００の動作を説明する。図２及び図３は、本実施の形態における画像処理装置１００の主ルーチンのフローチャートである。
【００６０】
電池交換等の電源投入により、システム制御回路５０はフラグや制御変数等を初期化し、画像処理装置１００の各部において必要な所定の初期設定を行う（Ｓ１０１）。次に、システム制御回路５０は、電源スイッチ７２の設定位置を判断する（Ｓ１０２）。電源スイッチ７２が電源ＯＦＦに設定されていたならば、システム制御回路５０は、各表示部の表示を終了状態に変更し、フラグや制御変数等を含む必要なパラメータや設定値、設定モードを不揮発性メモリ５６に記録する。更に、システム制御回路５０は、電源制御部８０により画像表示部２８を含む画像処理装置１００各部の不要な電源を遮断する等の所定の終了処理を行った後（Ｓ１０３）、Ｓ１０２に戻る。
【００６１】
電源スイッチ７２が電源ＯＮに設定されていたならば（Ｓ１０２）、システム制御回路５０は、電源制御部８０により電池等により構成される電源部８６の残容量や動作情況が画像処理装置１００の動作に問題があるか否かを判断する（Ｓ１０４）。問題があるならば（Ｓ１０４でＮＯ）、通知部５４を用いて画像や音声により所定の警告を行った後に（Ｓ１０５）、Ｓ１０２に戻る。
【００６２】
一方、電源部８６に問題が無いならば（Ｓ１０４でＹＥＳ）、システム制御回路５０はモードダイアル６０の設定位置を判断し（Ｓ１０６）、モードダイアル６０が撮影モードに設定されていたならば、Ｓ１０８に進む。モードダイアル６０がその他のモードに設定されていたならば、システム制御回路５０は選択されたモードに応じた処理を実行し（Ｓ１０７）、処理を終えたならばＳ１０２に戻る。
【００６３】
システム制御回路５０は、記録媒体２００或いは２１０が装着されているかどうかの判断、及び、記録媒体２００或いは２１０に記録された画像データの管理情報の取得を行う。そして、記録媒体２００或いは２１０の動作状態が画像処理装置１００の動作、特に記録媒体に対する画像データの記録再生動作に問題があるか否かの判断を行う（Ｓ１０８）。その結果、問題が無いならばＳ１０９に進み、問題があるならば通知部５４を用いて画像や音声により所定の警告を行った後に（Ｓ１０５）、Ｓ１０２に戻る。
【００６４】
Ｓ１０９では、システム制御回路５０は通知部５４を用いて、画像や音声により画像処理装置１００の各種設定状態の通知を行う。なお、画像表示部２８の画像表示がＯＮであったならば、画像表示部２８も用いて画像や音声により画像処理装置１００の各種設定状態の通知を行う。
【００６５】
次に、図３のＳ１２１において、システム制御回路５０はシャッタースイッチＳＷ１の状態を判断し、押されていないと判断するとＳ１０２に戻る。一方、シャッタースイッチＳＷ１が押されたと判断すると、システム制御回路５０はＳ１２２において焦点調節処理を行って撮像レンズ３１０の焦点を被写体に合わせ、測光処理を行って絞り値及びシャッター時間を決定する、焦点調節・測光処理を行う。測光の結果、必要であればフラッシュの設定も行う。このＳ１２２で行う焦点調節・測光処理の詳細は図４を用いて後述する。
【００６６】
焦点調節・測光処理が終了すると、Ｓ１３２においてシステム制御回路５０はシャッタースイッチＳＷ２の状態を判断し、押されていないと判断すると、システム制御回路５０はＳ１３３でシャッタースイッチＳＷ１の状態を確認する。シャッタースイッチＳＷ１がオンであるならば、Ｓ１３２に戻る一方、シャッタースイッチＳＷ１がオフであると判断すると、Ｓ１０２に戻る。
【００６７】
一方、シャッタースイッチＳＷ２が押されたと判断すると、システム制御回路５０は、撮影した画像データを記憶可能なバッファ領域がメモリ３０にあるかどうかを判断する（Ｓ１３４）。メモリ３０のバッファ領域に新たな画像データを記憶可能な空き領域が無いならば、通知部５４を用いて画像や音声により所定の警告を行った後に（Ｓ１３５）、Ｓ１０２に戻る。
【００６８】
ここで、メモリ３０のバッファ領域に空き領域が無い場合の例として、バッファ領域内に記憶可能な最大枚数の連写撮影を行った直後がある。このような場合、メモリ３０から読み出して記録媒体２００或いは２１０に書き込むべき最初の画像がまだ記録媒体２００或いは２１０に記録されていないので、まだ１枚分の空き領域もメモリ３０の画像記憶バッファ領域上に確保できない。
【００６９】
なお、撮影した画像データを圧縮処理してからメモリ３０のバッファ領域に記憶する場合は、圧縮した後の画像データ量が圧縮モードの設定に応じて異なることを考慮する。こうして、記憶可能な領域がメモリ３０のバッファ領域にあるかどうかをＳ１３４において判断する。
【００７０】
メモリ３０に撮影した画像データを記憶可能な画像記憶バッファ領域があるならば（Ｓ１３４でＹＥＳ）、システム制御回路５０は、Ｓ１３６において撮影処理を実行する。ここでは、まず、所定時間蓄積された電荷を撮像素子１４から読み出し、Ａ／Ｄ変換器１６、画像処理回路２０、メモリ制御回路２２を介して、或いはＡ／Ｄ変換器から直接メモリ制御回路２２を介して、メモリ３０の所定領域に撮影した画像データを書き込む。なお、このＳ１３６における撮影処理の詳細は図５を用いて後述する。
【００７１】
Ｓ１３６の撮影処理を終えたならば、Ｓ１３９に進んで欠陥画素補正処理を行う。なお、このＳ１３９における欠陥画素補正処理の詳細は図６〜図９を用いて後述する。
【００７２】
システム制御回路５０は、メモリ３０の所定領域へ書き込まれた欠陥補正処理後の画像データの一部を、メモリ制御回路２２を介して読み出して現像処理を行うために必要なＷＢ積分演算処理、ＯＢ積分演算処理を行う。さらに、演算結果をシステム制御回路５０の内部メモリ或いはメモリ５２に記憶する。
【００７３】
そして、システム制御回路５０は、メモリ制御回路２２そして必要に応じて画像処理回路２０を用いて、メモリ３０の所定領域に書き込まれた欠陥補正処理後の画像データを読み出す。そして、システム制御回路５０の内部メモリ或いはメモリ５２に記憶した演算結果を用いて、ＡＷＢ処理、ガンマ変換処理、色変換処理を含む各種現像処理を行う（Ｓ１４０）。
【００７４】
システム制御回路５０は、メモリ３０の所定領域に書き込まれた画像データを読み出して、設定したモードに応じた画像圧縮処理を圧縮・伸長回路３２により行う（Ｓ１４１）。その後、メモリ３０の画像記憶バッファ領域の空き領域に、撮影して一連の処理を終えた画像データの書き込みを行う。
【００７５】
一連の撮影の実行に伴い、システム制御回路５０は、メモリ３０の画像記憶バッファ領域に記憶した画像データを読み出す。そして、インタフェース９０或いは９４、コネクタ９２或いは９６を介して、メモリカードやコンパクトフラッシュカード等の記録媒体２００或いは２１０へ書き込みを行う記録処理を開始する（Ｓ１４２）。この記録開始処理は、メモリ３０の画像記憶バッファ領域の空き領域に、撮影して一連の処理を終えた画像データの書き込みが新たに行われる度に、その画像データに対して実行される。なお、記録媒体２００或いは２１０へ画像データの書き込みを行っている間、書き込み動作中であることを明示するために、通知部５４において例えばＬＥＤを点滅させる等の記録媒体書き込み動作表示を行う。
【００７６】
そして、システム制御回路５０はＳ１４３に進み、シャッタースイッチＳＷ１が押されているかどうかを判断し、ＳＷ１が押されている間は、これが離されるのを待ち、押されていなければＳ１０２へ戻る。
【００７７】
図４は、図３のＳ１２２における焦点調節・測光処理の詳細なフローチャートを示す。焦点調節・測光処理において、システム制御回路５０と絞り制御部３４０またはフォーカス制御部３４２との間の各種信号のやり取りは、インタフェース１２０、コネクタ１２２、コネクタ３２２、インタフェース３２０、レンズ制御回路３５０を介して行われる。
【００７８】
システム制御回路５０は、撮像素子１４、焦点調節部４２及びフォーカス制御部３４２を用いて、ＡＦ処理を開始する（Ｓ２０１）。システム制御回路５０は、撮像レンズ３１０に入射した光線を、絞り３１２、レンズマウント３０６及び１０６、ミラー１３０、不図示のＡＦ用サブミラーを介して、焦点調節部４２に入射させる。これにより、光学像として結像された画像の合焦状態を判断し、合焦と判断されるまで（Ｓ２０３）、フォーカス制御部３４２を用いて撮像レンズ３１０を駆動しながら、焦点調節部４２を用いて合焦状態を検出するＡＦ制御を実行する（Ｓ２０２）。
【００７９】
そして、合焦と判断されると（Ｓ２０３でＹＥＳ）、システム制御回路５０は、撮影画面内の複数の測距点の中から合焦した測距点を決定する。そして、決定した測距点のデータと共に合焦状態のデータ及び或いは設定パラメータをシステム制御回路５０の内部メモリ或いはメモリ５２に記憶する。
【００８０】
続いて、システム制御回路５０は、測光制御部４６を用いて、ＡＥ処理を開始する（Ｓ２０５）。システム制御回路５０は、撮像レンズ３１０に入射した光線を、絞り３１２、レンズマウント３０６及び１０６、ミラー１３０及び１３２、不図示の測光用レンズを介して測光制御部４６に入射させることにより、光学像として結像された画像の露出状態を測定する。そしてＩＳＯ感度スイッチ６９にて事前に設定されたＩＳＯ感度において、露出（ＡＥ）が適正と判断されるまで（Ｓ２０７）、測光制御部４６を用いて測光処理を行う（Ｓ２０６）。
【００８１】
露出が適正と判断されると（Ｓ２０７でＹＥＳ）、システム制御回路５０は、測光データ及び／または設定パラメータをシステム制御回路５０の内部メモリ或いはメモリ５２に記憶し、Ｓ２０８に進む。なお、測光処理Ｓ２０６で検出した露出結果と、モードダイアル６０によって設定された撮影モードに応じて、システム制御回路５０は、絞り値（Ａｖ値）、シャッター速度（Ｔｖ値）を決定する。ここで決定したシャッター速度に応じて、システム制御回路５０は、撮像素子１４の電荷蓄積時間を決定し、決定した電荷蓄積時間、電荷を蓄積する撮影処理を行う。
【００８２】
Ｓ２０６の測光処理で得られた測光データにより、システム制御回路５０はフラッシュが必要か否かを判断し（Ｓ２０８）、フラッシュが必要ならばフラッシュ・フラグをセットし、フラッシュ４８を充電する（Ｓ２０９）。そしてフラッシュ４８の充電が完了すると（Ｓ２１０でＹＥＳ）、焦点調節・測光処理を終了する。
【００８３】
図５は、図３のＳ１３６における撮影処理の詳細なフローチャートを示す。撮影処理において、システム制御回路５０と絞り制御部３４０或いはフォーカス制御部３４２との間の各種信号のやり取りは、インタフェース１２０、コネクタ１２２、コネクタ３２２、インタフェース３２０、レンズ制御回路３５０を介して行われる。
【００８４】
システム制御回路５０はミラー１３０をミラーアップ位置に移動し（Ｓ３０１）、システム制御回路５０の内部メモリ或いはメモリ５２に記憶された測光データに従い、絞り制御部３４０によって絞り３１２を所定の絞り値まで駆動する（Ｓ３０２）。
【００８５】
システム制御回路５０は、撮像素子１４の電荷クリア動作を行った後に（Ｓ３０３）、撮像素子１４の電荷蓄積を開始し（Ｓ３０４）、その後、シャッター制御部４０によってシャッター１２を開き（Ｓ３０５）、撮像素子１４の露光を開始する（Ｓ３０６）。ここで、フラッシュ・フラグによりフラッシュ４８が必要か否かを判断し（Ｓ３０７）、必要な場合はフラッシュを発光させる（Ｓ３０８）。
【００８６】
システム制御回路５０は、測光データに従って撮像素子１４の露光終了を待ってから（Ｓ３０９）、シャッター制御部４０によってシャッター１２を閉じ（Ｓ３１０）、撮像素子１４の露光を終了する。システム制御回路５０は、絞り制御部３４０によって絞り３１２を開放の絞り値まで駆動すると共に（Ｓ３１１）、ミラー１３０をミラーダウン位置に移動する（Ｓ３１２）。
【００８７】
そして、設定した電荷蓄積時間が経過すると（Ｓ３１３でＹＥＳ）、システム制御回路５０は、撮像素子１４の電荷蓄積を終了した後（Ｓ３１４）、撮像素子１４から電荷信号の読み出しを行う。そしてＡ／Ｄ変換器１６、画像処理回路２０、メモリ制御回路２２を介して、或いはＡ／Ｄ変換器１６から直接メモリ制御回路２２を介して、メモリ３０の所定領域への画像データを書き込む（Ｓ３１５）。一連の処理を終えたならば、撮影処理を終了する。
【００８８】
図６は、図３のＳ１３９における欠陥画素補正処理のフローチャートを示す。システム制御回路５０はＳ４０１において、欠陥画素を補正するか否かを判定する。この詳細は図７を用いて後述する。
【００８９】
次にＳ４０２において、システム制御回路５０はＳ４０１で得られた欠陥画素の補正判定結果から、補正すべきと判断された場合には、該当画素の補正量を算出する。続いて、Ｓ４０３では、Ｓ４０２で求められた補正量を、メモリ３０における該当画素のアドレスに書き込む。これにより、該当画素の欠陥補正処理は完了する。なお、補正の方法については様々な方法が考えられるが、いずれの補正アルゴリズムで補正しても本件においては差し支えない。
【００９０】
Ｓ４０４においてシステム制御回路５０はキズデータに記載された欠陥画素の欠陥補正処理がすべて完了したか否かを判定し、完了していない場合には、Ｓ４０１に戻り、欠陥補正画素の判断を行い、同様に繰り返す。Ｓ４０１にて選択された欠陥補正画素すべてに対する補正処理がすべて終了すると、欠陥画素補正処理シーケンスを完了する。
【００９１】
次に、図７のフローチャートを参照して、図６のＳ４０１における欠陥画素の補正の判定処理について説明する。まず、システム制御回路５０は、メモリ５２に記憶されたキズデータの先頭から、欠陥画素１画素分のキズ情報を読み込む（Ｓ６０１）。この中に格納されている欠陥画素のアドレス情報から、メモリ３０に書き込まれた撮影画像における該当画素のアドレスを特定することが可能である。次に、システム制御回路５０は撮影が行われた際の撮影条件及び撮影環境を取得する（Ｓ６０２）。ここで、撮影条件とは、ＩＳＯ感度、電荷蓄積時間、及び、絞り値の少なくとも一つである。また、撮影環境とは、例えば、撮影時の温度である。もちろん、本願発明の撮影条件及び撮影環境は、これらに限定されるものではない。
【００９２】
次に、システム制御回路５０は、キズデータから、１つの欠陥画素について、欠陥の種類を示すキズＩＤを読み込む（Ｓ６０３）ここで、キズＩＤは、各欠陥画素について、参照する判定値テーブルを示す参照テーブル情報でもある。図８は、キズデータの一例を示す図であり、上述したように、例えば、メモリ５２（第２の記憶手段）に予め記憶されている。図８に示すように、キズデータは、各欠陥画素のアドレス、キズＩＤ、およびキズグレードからなる。そして、キズデータに示されるキズＩＤに応じて参照する判定値テーブルを選択する（Ｓ６０４）。更に、取得した撮影条件及び撮影環境において欠陥が目立つために補正対象となる欠陥画素のグレードを示す情報である判定値（第１の情報）を判定値テーブルから選択する（Ｓ６０５）。図９は、判定値テーブルの一例を示す図であり、例えば、メモリ５２（第１の記憶手段）に予め記憶されている。ここで、図９を参照して、システム制御回路５０がＳ６０４において判定値テーブルを選択する動作、及び、Ｓ６０５において判定値を選択する動作について説明する。
【００９３】
判定値テーブルとは、撮影条件や撮影環境をパラメータとし、欠陥画素を補正するか否かをシステム制御回路５０が判定するために用いられるテーブルである。図９に示す例では、（ａ）に示すＩＤ１の白キズ、（ｂ）に示すＩＤ２のＩＳＯで補正対象となる欠陥画素のグレードを変えるキズ、（ｃ）に示すＩＤ３のＦ値で補正対象となる欠陥画素のグレードを変えるキズの３種類のキズＩＤに対応した判定値テーブルを有している。より具体的には、ＩＤ２はいわゆる瞬きキズで、撮影時のＩＳＯ感度条件にのみ影響を受けるものであり、温度や、秒時の影響は受けない。また、ＩＤ３は撮像素子１４そのものの欠陥画素ではないが、撮像素子１４を封入するパッケージのカバーガラスに欠陥がある場合を想定しており、撮影時の絞り条件によって撮影された画像に影響が現れることが知られている。つまり、撮影時のレンズの絞りが開放側に近い場合にはカバーガラスの欠陥は撮像素子１４上ではボケた状態になるため、明確に写りこまず、画質への影響は少ない。しかし、撮影時にレンズを絞りこむことで撮像素子１４上にカバーガラスの欠陥が明確に写り込んでしまい、撮像素子１４の欠陥画素同様、補正処理が必要となる。この場合の判定値テーブルは、感度や秒時、温度等には一切無関係で、撮影時の絞り情報のみによって決定されることになる。なお、キズの種類は上述したものに限るものではなく、他の種類のキズに対応した判定値テーブルを有していても構わない。
【００９４】
また、これらのキズデータの判別レベル、判別個数の設定は、出荷時データの検出可能レベル、その検出精度に依存し、それらと実際に得られた画像の画質を考慮して決定される。また、これらの判別処理は画像処理装置１００の外部にて行われる。そのため、画像処理装置１００にはそのようにして決定された判別レベル、判別個数によって抽出された画素のアドレスのみが与えられるので、画像処理装置１００の処理能力に大きな負荷を与えるものでは無い。
【００９５】
システム制御回路５０がＳ６０３において欠陥画素のキズＩＤを読み込むと、読み込んだキズＩＤに応じて、図９（ａ）〜（ｃ）に示される判定値テーブルのうちの１つを選択する（Ｓ６０４）。例えば、キズＩＤがＩＤ１（白キズ）であるとき、図９（ａ）の判定値テーブルを選択する（Ｓ６０４）。ここで、Ｓ６０２で取得した撮影条件及び撮影環境が、例えば、ＩＳＯ感度４００、電荷蓄積時間が１秒、温度が２５℃、Ｆ値が２．８であるものとする。ＩＤ１の判定値テーブルは、温度、ＩＳＯ感度、電荷蓄積時間の条件によって判定値が異なり、この例では温度が２５℃であることから、図９（ａ）の左側の判定値テーブルのＩＳＯ感度４００、電荷蓄積時間１秒に対応する、判定値５が選択される（Ｓ６０５）。
【００９６】
上記の例において、撮影条件が変化し、例えば温度が６５℃以上になった場合には図９（ａ）の右側の判定値テーブルが選択される。また、上記の例において、Ｓ６０３において読み込んだキズＩＤがＩＤ２であれば、図９（ｂ）の判定値テーブルから、判定値５が選択され、ＩＤ３であれば、図９（ｃ）の判定値テーブルから、同じく判定値５が選択されることになる。
【００９７】
上述したようにして、Ｓ６０５で判定値を選択すると、Ｓ６０６において欠陥画素の欠陥の目立ちやすさを示す程度を出力信号レベルに応じて数段階に分類した欠陥画素のグレードを示す情報であるキズグレード（第２の情報）をキズデータから読み出す。そして、Ｓ６０５で選択した判定値（第１の情報）と比較し、比較結果に基づいてキズ補正（欠陥補正）の要否を判定する。キズデータから読み出されたキズグレード（第２の情報）が判定値（第１の情報）以下である場合にはＳ６０７に進み、システム制御回路５０は、該当する欠陥画素を補正する、と決定した後、Ｓ６０８に進む。一方、キズグレードが判定値より大きい場合には直接Ｓ６０８に進む。
【００９８】
Ｓ６０８において、システム制御回路５０は該当する欠陥画素に他のキズＩＤ情報がさらに格納されているか否かを判断し、有ればＳ６０３へ進み、上述したＳ６０３〜Ｓ６０８の処理を繰り返す。このように、１つの欠陥画素に対してキズＩＤおよびキズグレードは複数持ってもよく、その場合、キズＩＤ毎にキズ補正するか否かの判定を行い、いずれかのキズＩＤでの判定結果によって補正すると判断された場合には、該当画素は補正するものとする。
【００９９】
Ｓ６０８において、該当する欠陥画素に他のキズＩＤがなければＳ６０９に進み、システム制御回路５０はキズデータに、次の欠陥画素の情報がある場合に、当該画素についてＳ６０１〜Ｓ６０８の動作を行う。このようにして、システム制御回路５０は欠陥画素をキズＩＤによって判別し、この情報に基づいて撮影条件および撮影環境に応じて補正するか否かを判断する。
【０１００】
なお、補正するか否かを判定する判定手段は、各キズＩＤ毎に複数設けても良い。
【０１０１】
＜他の実施形態＞
本発明は、複数の機器（例えばホストコンピュータ、インタフェース機器、カメラヘッドなど）から構成されるシステムに適用しても、一つの機器からなる装置（例えば、デジタルスチルカメラ、デジタルビデオカメラなど）に適用してもよい。
【０１０２】
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の画素を含む撮像素子から出力される画像データを処理する画像処理装置であって、
撮影条件または撮影環境と、補正対象となる欠陥画素のグレードを示す第１の情報とを対応させた複数のテーブルを記憶した第１の記憶手段と、
前記複数の画素の内、各欠陥画素について、アドレス情報と、前記複数のテーブルの内、参照するテーブルを示す参照テーブル情報と、欠陥画素のグレードを示す第２の情報とからなるキズデータを記憶した第２の記憶手段と、
撮影時の撮影条件及び撮影環境を取得する取得手段と、
前記取得手段が取得した前記撮影条件または撮影環境における、前記参照テーブル情報に対応したテーブルが示す前記第１の情報と、前記キズデータにおける各欠陥画素の前記第２の情報とを比較し、比較結果に基づいて各欠陥画素の欠陥補正の要否を判定する判定手段と、
前記判定手段により欠陥補正が必要であると判断された欠陥画素から出力された画像データに対して前記欠陥補正を行う補正手段と
を有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
前記第２の記憶手段は、１つの欠陥画素に対して複数のキズデータを保持できることを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記判定手段は、前記複数のキズデータについて、それぞれ欠陥補正の要否を判定し、前記判定手段が前記複数のキズデータの何れかに基づいて欠陥補正が必要であると判定すると、前記補正手段は該欠陥画素から出力された画像データに対して前記欠陥補正を行うことを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記撮影環境は、撮影時の前記撮像素子の温度を含むことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記撮影条件は、撮影時の蓄積時間、感度、絞り値の少なくともいずれか１つを含むことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項６】
複数の画素を含む撮像素子から出力される画像データを処理し、撮影条件または撮影環境と、補正対象となる欠陥画素のグレードを示す第１の情報とを対応させた複数のテーブルを記憶した第１の記憶手段と、前記複数の画素の内、各欠陥画素について、アドレス情報と、前記複数のテーブルの内、参照するテーブルを示す参照テーブル情報と、欠陥画素のグレードを示す第２の情報とからなるキズデータを記憶した第２の記憶手段とを有する画像処理装置における画像処理方法であって、
取得手段が、撮影時の撮影条件及び撮影環境を取得する取得工程と、
判定手段が、前記取得工程で取得した前記撮影条件または撮影環境における、前記参照テーブル情報に対応したテーブルが示す前記第１の情報と、前記キズデータにおける各欠陥画素の前記第２の情報とを比較し、比較結果に基づいて各欠陥画素の欠陥補正の要否を判定する判定工程と、
補正手段が、前記判定工程で欠陥補正が必要であると判断された欠陥画素から出力された画像データに対して前記欠陥補正を行う補正工程と
を有することを特徴とする画像処理方法。
【請求項７】
コンピュータを、請求項１乃至５のいずれか１項に記載の画像処理装置の各手段として機能させるためのプログラム。
【請求項８】
コンピュータに、請求項６に記載の画像処理方法の各工程を実行させるためのプログラム。
【請求項９】
請求項７または８に記載のプログラムを格納したコンピュータが読み取り可能な記憶媒体。
【請求項１】
複数の画素を含む撮像素子から出力される画像データを処理する画像処理装置であって、
撮影条件または撮影環境と、補正対象となる欠陥画素のグレードを示す第１の情報とを対応させた複数のテーブルを記憶した第１の記憶手段と、
前記複数の画素の内、各欠陥画素について、アドレス情報と、前記複数のテーブルの内、参照するテーブルを示す参照テーブル情報と、欠陥画素のグレードを示す第２の情報とからなるキズデータを記憶した第２の記憶手段と、
撮影時の撮影条件及び撮影環境を取得する取得手段と、
前記取得手段が取得した前記撮影条件または撮影環境における、前記参照テーブル情報に対応したテーブルが示す前記第１の情報と、前記キズデータにおける各欠陥画素の前記第２の情報とを比較し、比較結果に基づいて各欠陥画素の欠陥補正の要否を判定する判定手段と、
前記判定手段により欠陥補正が必要であると判断された欠陥画素から出力された画像データに対して前記欠陥補正を行う補正手段と
を有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
前記第２の記憶手段は、１つの欠陥画素に対して複数のキズデータを保持できることを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記判定手段は、前記複数のキズデータについて、それぞれ欠陥補正の要否を判定し、前記判定手段が前記複数のキズデータの何れかに基づいて欠陥補正が必要であると判定すると、前記補正手段は該欠陥画素から出力された画像データに対して前記欠陥補正を行うことを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記撮影環境は、撮影時の前記撮像素子の温度を含むことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記撮影条件は、撮影時の蓄積時間、感度、絞り値の少なくともいずれか１つを含むことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項６】
複数の画素を含む撮像素子から出力される画像データを処理し、撮影条件または撮影環境と、補正対象となる欠陥画素のグレードを示す第１の情報とを対応させた複数のテーブルを記憶した第１の記憶手段と、前記複数の画素の内、各欠陥画素について、アドレス情報と、前記複数のテーブルの内、参照するテーブルを示す参照テーブル情報と、欠陥画素のグレードを示す第２の情報とからなるキズデータを記憶した第２の記憶手段とを有する画像処理装置における画像処理方法であって、
取得手段が、撮影時の撮影条件及び撮影環境を取得する取得工程と、
判定手段が、前記取得工程で取得した前記撮影条件または撮影環境における、前記参照テーブル情報に対応したテーブルが示す前記第１の情報と、前記キズデータにおける各欠陥画素の前記第２の情報とを比較し、比較結果に基づいて各欠陥画素の欠陥補正の要否を判定する判定工程と、
補正手段が、前記判定工程で欠陥補正が必要であると判断された欠陥画素から出力された画像データに対して前記欠陥補正を行う補正工程と
を有することを特徴とする画像処理方法。
【請求項７】
コンピュータを、請求項１乃至５のいずれか１項に記載の画像処理装置の各手段として機能させるためのプログラム。
【請求項８】
コンピュータに、請求項６に記載の画像処理方法の各工程を実行させるためのプログラム。
【請求項９】
請求項７または８に記載のプログラムを格納したコンピュータが読み取り可能な記憶媒体。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【公開番号】特開２０１３−３８６５７（Ｐ２０１３−３８６５７Ａ）
【公開日】平成２５年２月２１日（２０１３．２．２１）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−１７４２５６（Ｐ２０１１−１７４２５６）
【出願日】平成２３年８月９日（２０１１．８．９）
【出願人】（０００００１００７）キヤノン株式会社 (59,756)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２５年２月２１日（２０１３．２．２１）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年８月９日（２０１１．８．９）
【出願人】（０００００１００７）キヤノン株式会社 (59,756)
【Ｆターム（参考）】
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