【課題】撮像画像に発生する欠陥画素の検出と補正を実行する構成を提供する。
【解決手段】画像のテクスチャ方向を判定し、複数画素の画素集合単位で画素値平均を算出し、画素集合の配列方向に応じた画素値平均の差分情報に基づいて欠陥画素位置を検出する。テクスチャ方向に等しい画素集合配列方向において検出された欠陥画素を補正対象として補正する。テクスチャ方向に沿った位置で、例えば読み出し回路共有画素集合単位での欠陥画素検出を実行することで効率的な欠陥画素位置の検出が可能となる。 （もっと読む）

【課題】 データバスラインの下流側への電流のリークに起因する欠損画素の過剰登録を防止することが可能なＸ線撮影装置および二次元アレイＸ線検出器の欠損検出方法を提供する。
【解決手段】 フラットパネルディテクタの変換膜にＸ線を照射していない状態でスイッチング素子を順次オン状態としたときの電荷信号を測定する暗電流値測定工程と、各画素の画素値に基づいて欠損画素塊を抽出する欠損画素塊抽出工程と、各欠損画素塊におけるゲートバスライン方向の寸法とデータバスライン方向の寸法との比に基づいて各欠損画素塊が正常画素を含む過剰欠損画素塊であるか否かを判定する欠損画素塊判定工程と、過剰欠損画素塊から正常画素を除外する正常画素除外工程と、正常画素を除外した過剰欠損画素塊を他の欠損画素とともに欠損登録する欠損登録工程とを備える。 （もっと読む）

【課題】放射線の線質の違いにより発生する欠陥画素を補正できる欠陥画素マップを作成する。
【解決手段】放射線画像撮影装置１に対して照射する放射線の線質を変更し、放射線画像撮影装置１が、欠陥画素マップの作成のためのマップ作成用画像データを、当該放射線画像撮影装置１に対して照射される放射線の線質毎に生成し、放射線画像撮影装置１に対して照射される放射線の線質に応じた複数種類のマップ作成用画像データに基づいて、欠陥画素の位置情報が登録された欠陥画素マップを作成することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】瞳分割された光束を利用して撮像素子の欠陥画素を高精度に検出する画像処理装置を提供する。
【解決手段】画像処理装置は、瞳分割した第１光束及び第２光束をそれぞれ光電変換する複数の第１画素及び複数の第２画素を含む撮像素子から得られた画像を処理し、第１画素及び第２画素の出力を用いて合焦度を評価する合焦度評価手段と、撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥検出手段と、欠陥画素を補間する補間手段と、第１画素、第２画素、及び、欠陥画素を補間して得られた画素の出力を用いて撮影画像を生成する信号処理手段とを有し、欠陥検出手段は、複数の第１画素の第１特定画素と複数の第２画素の第２特定画素との画素値の第１比率と、第１特定画素の近傍に位置する第１近傍画素と第２特定画素の近傍に位置する第２近傍画素との画素値の第２比率とを比較することにより、第１特定画素又は第２特定画素が欠陥画素であるか否かを判定する。 （もっと読む）

【課題】画像診断時間を短縮することのできる画像診断方法を提供する。
【解決手段】固体撮像素子２は、固体撮像素子２の複数行および／または複数列を一括して選択して読出す読出回路５を備え、画像診断装置１は、読出された画素の値を行および／または列単位で平均した値を格納するメモリ４と、メモリ４内のデータに基づいて、固体撮像素子２の欠陥検出を行なう画像処理部６とを備える。 （もっと読む）

【課題】放射線画像撮影装置内の劣化を検知する。
【解決手段】放射線画像撮影装置（２０、２０Ａ〜２０Ｃ）は、放射線を可視光に変換するシンチレータ（７４）と、可視光を電気信号に変換する光検出基板（７２）と、ピーク波長が互いに異なる少なくとも２つの光を光検出基板（７２）に選択的に照射可能な光源（７８）とを有する。この場合、光源（７８）は、少なくとも２つの光のうち、一方の光をリセット光として光検出基板（７２）に照射し、他方の光を放射線画像撮影装置（２０、２０Ａ〜２０Ｃ）内の劣化を検知するための劣化検知用光として光検出基板（７２）に照射することが可能である。 （もっと読む）

【課題】 適応補間処理による同時化を実施する際に、適応補間に用いる画素が欠陥画素補正されている場合、適応補間処理が誤動作する可能性があることを防止する。
【解決手段】 欠陥画素補正画像と共に欠陥画素補正情報を生成し、前記欠陥画素補正画像に対して適応補間処理を実行する際に、前記欠陥画素補正情報を参照することにより、適応補間処理において欠陥画素補正された画素が使用されないように制御する。 （もっと読む）

【課題】 欠陥画素の補正処理と高画質化の処理とを、高精度かつ高速に行うことができる技術を提供することを目的とする。
【解決手段】 各画素が複数の色成分のいずれか１つの色成分の色情報を有する第１画像の色情報を注目画素の画素位置で加重加算して注目画素の色成分と異なる色成分の値を算出し、各画素が複数の色成分を有する第２画像を生成する画像処理部と、第１画像における欠陥画素の画素位置の情報を記憶する記憶部と、を備え、画像処理部は、第１画像の色情報を注目画素の画素位置で加重加算する複数の係数パターンを用意し、注目画素の色成分および欠陥画素の画素位置に基づいて、係数パターンを選択し加重加算する。 （もっと読む）

【課題】常時撮像を行いながら、被写体にかかわらず撮像素子の異常を検出する。
【解決手段】撮像装置内の素子異常判定部は、撮像領域が有効撮像領域及びＯＢ領域からなる撮像素子により常時撮影を行って得られる映像信号中の対象画素が、撮像素子のＯＢ領域の画素であり、かつ、欠陥画素であるか否かを、撮像領域の全画素について検出する（ステップＳ１０３〜Ｓ１０８）。続いて、素子異常判定部は、欠陥画素であると検出された画素数が所定のしきい値以下であるか否かを比較する(ステップＳ１０９)。そして、素子異常判定部は、欠陥画素であると検出された画素数が所定のしきい値を超えた場合、撮像素子が異常となったことを示すアラート信号を生成する（ステップＳ１１０）。 （もっと読む）

【課題】いずれの撮像素子を使用した場合においても撮像素子の欠陥画素（傷）に起因する画質劣化を補正し、かつ、最適なホワイトバランス調整を可能とする。
【解決手段】傷位置情報記憶部４２は切替対象の複数の撮像部がそれぞれ有する撮像素子について、各撮像素子の有効撮像領域及び光学的黒領域のそれぞれに存在する欠陥画素の位置を予め計測して作成した、各撮像素子毎の欠陥画素の位置を示す複数の傷位置テーブルを記憶している。ホワイトバランス調整値記憶部４４は、各撮像素子毎のホワイトバランス調整値を示す複数のホワイトバランス調整値テーブルを、傷位置テーブルに１対１に対応して記憶している。素子判定部３１は、傷位置テーブルを用いて任意に切り替えられた一の撮像部から入力される映像信号に対して使用する傷位置テーブルを決定し、それに対応するホワイトバランス調整値テーブルを決定する。 （もっと読む）

【課題】補正対象画素の周辺にある有効な参照画素のデータを利用し、フィルタによる欠陥画素の補正処理を迅速かつ簡易に実行できる画像処理装置及び画像処理方法を提供する。
【解決手段】撮像データ入力Ｉ／Ｆ１１１は、撮像素子１０２の有効領域データ及び無効領域データを含む画像データを取り込む。欠陥画素補正処理回路１１２は、撮像素子１０２に含まれる欠陥画素の位置を示す第１の信号と、撮像素子１０２に含まれる前記設定された範囲外の画素の位置を示す第２の信号とを重ね合わせ、欠陥判定画素の位置を示す欠陥画素判定信号を生成し、取り込んだ画像データの着目する画素が、欠陥画素判定信号により欠陥判定画素であると示された画素である場合に、周辺に位置する欠陥判定画素であると示されていない画素における画像データの値を用いて、着目する画素の値を補正する。 （もっと読む）

【課題】コストを増加させずに処理の高速化と解像度の変更が可能な光電変換素子と、それを用いた欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。
【解決手段】複数のセンサ画素を有する光電変換素子１において、マルチプレクサ５と、複数の水平転送レジスタ３ａ〜３ｄとを有する。センサ画素は、水平転送レジスタ３ａ〜３ｄのそれぞれに対応するように、複数のブロック２ａ〜２ｄに分割される。複数のブロック２ａ〜２ｄの電荷が、対応するそれぞれの水平転送レジスタ３ａ〜３ｄを介してマルチプレクサ５に読み出され、マルチプレクサ５を介して出力されるように構成する。 （もっと読む）

【課題】静的補正用の欠陥画素アドレスメモリを増大させることなく、かつ、欠陥画素の補正漏れや欠陥画素補正に起因する解像度低下を生じることのない画像処理方法を得る。
【解決手段】欠陥画素検出対象画素を含む所定サイズのブロックの平均信号値と、欠陥画素検出対象画素の信号値との差分絶対値に対して、第一のしきい値と第一のしきい値より大きい第二のしきい値とによって欠陥画素検出対象画素が欠陥画素であるか否かを判定する（ステップＳＴ１〜ＳＴ６）。次に、差分絶対値が、第一のしきい値より大きく第二のしきい値より小さい場合は静的補正の対象として欠陥画素アドレスメモリに欠陥画素アドレスを登録し、差分絶対値が第二のしきい値より大きい場合は動的補正を行う画素として判定する（ステップＳＴ８〜ＳＴ１２）。 （もっと読む）

【課題】電気的に機能を共有する画素構造である場合、他の機能を共有する画素も欠陥画素となる可能性が高いことを考慮して欠陥画素を検出する撮像装置を提供する。
【解決手段】欠陥画素検出対象画素Ｇ３２が事前に記憶されている欠陥画素でない場合、システム制御部１５は、他のＦＤ共有画素Ｂ２２、Ｂ４２、Ｇ５２の中に、事前に記憶されている欠陥画素が１つもない場合、あるいは欠陥画素の数が値１である場合、第１の欠陥画素検出処理として、画素Ｇ３２を中心とし、４方向にメディアンフィルタ処理を施す（Ｓ５）。ＦＤ共有画素Ｂ２２、Ｂ４２、Ｇ５２のうち２つの画素が事前に記憶されている欠陥画素である場合、システム制御部１５は、第２の欠陥画素検出処理として、ＦＤ共有画素方向を除く、他の３方向にメディアンフィルタ処理を施す（Ｓ６）。欠陥画素であると判断された場合、システム制御部１５は、欠陥画素補正処理を行う（Ｓ９）。 （もっと読む）

【課題】リニアリティ不良の検出によって、従来よりも精度良く欠陥画素の検出を行う
技術を提供することを目的とする。
【解決手段】画像読取装置５０は、複数の光電変換素子が配列された撮像部を備え、光
電変換素子によって基準面を読み取ったデータに基づいてシェーディング補正を行うシェ
ーディング補正部と、シェーディング補正部によってシェーディング補正されたデータを
用いて、隣接する光電変換素子間の出力差を判定し、当該判定結果に基づいて欠陥画素を
検出する欠陥画素検出部と、を備える。 （もっと読む）

【課題】複数台の撮像装置に含まれる欠陥画素に対する補正処理に割り当てるリソースを適正化する。
【解決手段】複数台の撮像装置からの映像信号を入力する入力部と、それぞれの撮像装置に係る欠陥画素の情報を収集して、欠陥画素情報として記録する欠陥画素情報収集部と、あらかじめ定められた補正対象設定条件にしたがって、欠陥画素情報に記録された欠陥画素のうち、補正対象とする欠陥画素を撮像装置毎に設定する補正対象画素設定部と、映像信号の補正対象と設定された欠陥画素に対して画像補正を行なう欠陥画素補正処理部とを備えた画像処理装置。 （もっと読む）

【課題】各種雑音の効果的な補正を可能とする固体撮像装置を提供すること。
【解決手段】第３のオプティカルブラック部１３は、第１のオプティカルブラック部１１と行方向に並列させ、かつ第２のオプティカルブラック部１２と列方向に並列させて配置されている。縦筋補正回路２２は、第１のオプティカルブラック部１１からの黒レベル信号を列ごとに加算平均して有効画素部１４の出力信号に加減算する。横筋補正回路２１は、第２のオプティカルブラック部１２からの黒レベル信号を行ごとに加算平均して有効画素部１４の出力信号に加減算する。縦筋補正回路２２及び横筋補正回路２１の少なくとも一方は、第３のオプティカルブラック部１３から読み出された信号の加算平均を、黒レベル信号に加減算する。 （もっと読む）

【課題】放射線画像検出器の放射線検出素子が欠陥画素か否かを的確に判定することが可能な欠陥画素判定方法、欠陥画素判定プログラム、放射線画像検出器及び欠陥画素判定システムを提供する。
【解決手段】２次元状に配置された複数の放射線検出素子（ｘ，ｙ）を備える放射線画像検出器１における欠陥画素判定方法であって、キャリブレーション時に複数回行われたダーク読取及び／又は放射線画像撮影に際して１回以上行われたダーク読取において得られた一の放射線検出素子（ｘ，ｙ）から出力されたダーク読取値ｄ_ｍ（ｘ，ｙ）と、予め定められた閾値ｄ_ｍthとを比較し、当該放射線検出素子（ｘ，ｙ）から出力された少なくとも１つのダーク読取値ｄ_ｍ（ｘ，ｙ）が閾値ｄ_ｍthよりも大きい場合に、当該放射線検出素子（ｘ，ｙ）を欠陥画素と判定する。 （もっと読む）

【課題】電子シャッタ傷の位置を簡単に特定して補正を行うことが可能な撮像装置を提供する。
【解決手段】電荷転送部を有する撮像素子５と、撮像素子５に電子シャッタ信号を供給する駆動部１２とを有する撮像装置であって、撮像素子５から動画の１フレームを読み出す期間であるフレーム期間における、電子シャッタ信号の供給を停止するシャッタ停止タイミング、電荷転送部による電荷の転送を開始する転送開始タイミング、及び電荷転送部による転送パターンの情報を取得し、この情報に基づいて、１フレームに含まれる電子シャッタ信号によって発生する電子シャッタ傷の座標を算出する電子シャッタ傷座標算出部１６と、算出された電子シャッタ傷の座標の情報にしたがって、当該電子シャッタ傷を補正する電子シャッタ傷補正部２２とを備える。 （もっと読む）

【課題】本発明は、電気的画素欠陥検査と、画像分析による画素欠陥検査を行うことができ、歩留まりを向上させる固体撮像素子の検査装置及び検査方法を提供する。
【解決手段】本発明の固体撮像素子検査装置は、複数の画素が形成された固体撮像素子２に対して電気的欠陥検査を行う接触型のプローブ１２１ｂを備えるテスタ１１と、テスタ１１による欠陥画素の検出結果に基づき、欠陥画素が検出された固体撮像素子を撮像する撮像部１２３、及び、撮像部１２３からの出力画像を基に異物の有無を検出する画像分析部（例えば、画像分析部１１２）を備えるプローバ１２とを含む。 （もっと読む）