【課題】撮像素子の高感度化が進んだ場合でも、撮像素子の欠陥検査を高精度で行うことが可能な撮像素子の欠陥検査方法を提供する。
【解決手段】撮像素子により所定の条件下で撮像を行って得られる撮像データに基づいて前記撮像素子の欠陥を検査する撮像素子の欠陥検査方法であって、前記撮像データを複数のブロックに分割する分割ステップ（ステップＳ１１）と、前記複数のブロックの各々に含まれる撮像データに対して離散コサイン変換を行うことによって、当該撮像データを基底周波数成分毎の係数に変換する変換ステップ（ステップＳ１２）と、前記複数のブロック毎に求められた同一の基底周波数成分における前記係数同士を加算する加算ステップ（ステップＳ１３）と、加算して得られた係数に基づいて、欠陥の良否を判定する判定ステップ（ステップＳ１４）とを含む。 （もっと読む）

【課題】信号レベルに応じて種類が異なる欠陥画素に対して高精度な補正を行うことができる欠陥画素の検出装置及び検出方法を提供する。
【解決手段】本発明は、半導体素子Ｄの撮像領域に発生する欠陥画素を検出する検出装置１０及び検出方法であって、欠陥画素を検出する欠陥画素検出部１４と、欠陥画素の検出時に、撮像領域に照射する光の照度が低い第１照度状態の撮像画像から検出された欠陥画素のアドレス情報を格納し、また、第１照度状態より前記照度が高い第２照度状態の撮像画像から検出されたアドレス情報を格納する欠陥画素アドレス格納部１５，１６と、欠陥画素アドレス格納部１５，１６に格納された、前記第１照度状態と前記第２照度状態との欠陥画素のアドレス情報を比較するアドレス比較部１７と、欠陥画素のアドレス情報の比較に基づいて、該欠陥画素に実行する補正アドレスを決定する補正アドレス判断部１８を備えている。 （もっと読む）

【課題】メカニカルシャッターの無いカメラ機構を搭載した撮像装置であっても、簡単な操作により撮像素子を遮光して撮像素子の画素欠陥を容易に検出でき、補正を行うことができる。
【解決手段】被写体からの光を受光し、受光した光量に応じた信号を出力する複数の受光素子を備えた撮像素子を備え、撮像素子が遮光された状態で複数の受光素子の各々から出力された信号に基づいて受光素子の欠陥を検出し、その検出結果を記憶し、この記憶された検出結果に基づいて撮像素子から出力された信号を補正する撮像装置１０を、撮像装置１０を装着可能な装着部材７２と、撮像装置１０が装着部材７２に装着された状態で撮像装置１０の撮像素子を遮光する遮光部７６を備えたクレードル７０に装着して、撮像装置１０に受光素子の欠陥を検出させる。 （もっと読む）

【課題】画像の解像度を低下させることなくノイズを低減させる。
【解決手段】ＣＣＤから出力された映像信号のうち，オプティカル・ブラック領域から得られた映像信号のレベルは黒レベルとしてオフセット補正される。オフセット補正に用いられるオフセット・レベル以下のレベルの映像信号についてはノイズ画素を表していると考える。オフセット補正により，映像信号がオフセット・レベルにクリップされる前に，ノイズ画素が検出される。検出されたノイズ画素が，そのノイズ画素の回りの画素を用いて画素補間される。ノイズ画素が画素補間により生成された画素に置き換えられるので，得られる画像からノイズが低減する。 （もっと読む）

【課題】欠陥画素の検査時間を短縮することができる固体撮像素子の製造・検査方法を提供する。
【解決手段】本発明に係わる固体撮像素子の製造・検査方法は、ウェーハプロセス工程およびプローブ検査工程を含む。ウェーハプロセス工程では、ウェーハ上のチップ領域に固体撮像素子を形成するとともに、チップ領域を区画するスクライブ領域に、固体撮像素子から画素ごとに出力される撮像信号を規格値と比較しながら欠陥画素の数をカウントし、カウント数が所定値に達したときフラグ信号を出力する検査回路を形成する。プローブ検査工程では、固体撮像素子を駆動するとともに、検査回路に規格値を設定し、検査回路から出力されるフラグ信号に基づいて欠陥画素に関する良否判定を行う。このプローブ検査工程では、固体撮像素子を駆動しながらリアルタイムに良否判定を行うことができるため、検査時間を短縮することができる。 （もっと読む）

【課題】スルー時あるいは動画撮影時に、画素のキズによる大きな画質低下がない高品質の画像を得ることを可能とする。
【解決手段】全画素についてキズを検出し、各画素にキズレベルを設定し、キズレベルが大きい順にソートする（Ｓ１，Ｓ２）。キズレベルがＬｅｖｅｌ１以上の画素のアドレスをキズ情報として無条件に記憶する（Ｓ３〜Ｓ７）。キズレベルがＬｅｖｅｌ１未満で、かつＬｅｖｅｌ２（Ｌｅｖｅｌ２も低いレベル）以上の画素のアドレスについては、スルー時や動画撮影時に間引き対象とならない画像のアドレスを優先して記憶する（Ｓ８〜Ｓ１２）。キズレベルがＬｅｖｅｌ２未満の画素のアドレスについては、スルー時や動画撮影時に間引き対象となると否とに関係なく、キズレベルが大きいものから順に記憶する（Ｓ１３，Ｓ１４）。スルー時あるいは動画撮影時には、記憶されたキズ情報に基づきキズのある画素がデータが確実に補正できる。 （もっと読む）

【課題】この発明は、補色フィルタを用いた固体撮像素子にあって、簡易な構成で白傷を正確に検出することができるようにした白傷検出装置及び白傷検出方法を提供することを目的としている。
【解決手段】白傷検出対象となる被検出画素とそれに隣接する画素との２つの画素の合計の出力信号レベルと、これら２つの画素に隣接し被検出画素を含まない他の隣接する２画素の合計の出力信号レベルとを比較し、その比較結果に基づいて、被検出画素の出力に白傷が含まれているか否かを判断する。 （もっと読む）

【構成】電子カメラ１０は、ＣＰＵ２６を含み、ＣＣＤイメージャ１４は、複数の画素が２次元に配列された撮像面１４ｆを有する。撮像面１４ｆで捉えられた被写界を表す生画像データは、ＣＤＳ／ＡＧＣ／ＡＤ回路１６によって作成される。複数の画素のうち欠陥画素の周辺に存在する周辺８画素の輝度値は、ＣＤＳ／ＡＧＣ／ＡＤ回路１６によって作成された生画像データからＣＰＵ２６によって検出される。ＣＰＵ２６は、欠陥画素および周辺８画素によって表現される部分画像領域の上に欠陥画素を跨ぐ線が描かれているか否かを、検出された複数の輝度値に基づいて判別し、欠陥画素の輝度値を判別結果に応じて異なる態様で補正する。
【効果】的確な欠陥画素補正が実現される。 （もっと読む）

【構成】電子カメラ１０は、ＣＰＵ２６を含み、ＣＰＵ２６は、ＣＤＳ／ＡＧＣ／ＡＤ回路１６によって作成された生画像データを形成する欠陥画素の輝度値をフラッシュメモリ５２によって保持された欠陥画素情報に基づいて補正する。ＣＰＵ２６は、欠陥画素の周辺に存在する周辺８画素の輝度値を検出し、補正された推測輝度値と検出された近似輝度値との相違が既定範囲内であるか否かを判別する。判別結果が肯定的であるとき、ＣＤＳ／ＡＧＣ／ＡＤ回路１６によって作成された生画像データを形成する欠陥画素の輝度値は、検出された近似輝度値に置換される。判別結果が否定的であるとき、ＣＤＳ／ＡＧＣ／ＡＤ回路１６によって作成された生画像データを形成する欠陥画素の輝度値は、補正された推測輝度値に置換される。
【効果】撮影された画像データの品質が改善される。 （もっと読む）

【課題】固体撮像素子の画素欠陥の補正をより効果的に且つローコストに行なえるようにする。
【解決手段】欠陥画素列の水平方向アドレスと、欠陥レベルとを検出する欠陥検出部１３，１８と、撮像素子の温度を検出する温度検出センサ１９と、欠陥検出処理時における、撮像素子の感度と、欠陥画素列の水平方向アドレスと、欠陥レベルと、撮像素子の温度とを記憶する記憶部１６と、撮影時における撮像素子の感度と、撮像素子の温度と、記憶部に記憶されている欠陥レベルとに基づいて、撮影時に欠陥画素列において発生すると予想される予想欠陥レベルを算出する演算部１８と、撮像素子を用いた撮影時に、欠陥画素列の信号から予想欠陥レベルの信号を減算する欠陥補正処理を行なう欠陥補正部とを具備する。 （もっと読む）

【課題】新たに発生した欠陥画素による異物検出の誤検出を低減させる。
【解決手段】ＣＰＵ２０より異物付着位置検出を行うための実行指令があると、異物付着位置検出の前に、前回の欠陥画素位置検出が行われた日時情報を欠陥画素位置記憶部６から読み出し、該日時情報から現在までの経過時間を求めて、欠陥画素位置検出動作の実行／禁止の判別を行う。その結果、経過時間が設定時間を超えている場合には、欠陥画素位置検出を実行してから、異物付着位置検出を開始する。 （もっと読む）

【課題】欠陥画素の位置情報を予め保持する必要がなく、より正確に欠陥画素の判別が可能な画素欠陥補正装置を提供する。
【解決手段】画像データはメモリ部１４１に入力され、注目画素を中心とする縦横３×３画素分の画素値が保持される。この９画素の画素値が比較部１４２に出力され、注目画素と周囲８画素の間の画素値の差が所定値よりも大きいか否かが判定される。比較部１４２の結果に基づいて、パターン判定部１４３において、注目画素を中心とする９画素が欠陥画素、正常画素の基本パターンに対応するかが判定される。注目画素が欠陥画素でないと、欠陥補正部１４４はメモリ部１４１から入力された注目画素の画素値をそのまま出力する。注目画素が欠陥画素のとき、中間値（２値）算出部１４５において周囲８画素の画素値から求められた２個の中間値から中央値を算出し、欠陥補正部１４４は、注目画素の画素値をこの中央値を用いて補正する。 （もっと読む）

【課題】欠陥画素補正部は、欠陥画素補正のアルゴリズムに応じて前処理部の前後一方に固定配置されていた。
【解決手段】選択信号Ｓが第１レベルのとき、第１セレクタ１は受信した画像センサーデータをセンサー前処理部４に入力し、第２セレクタ２は前処理済みの画像センサーデータを欠陥画素補正部５に出力し、第３セレクタ３は欠陥画素補正処理済みのデータを出力する。他方、選択信号Ｓが第２レベルのとき、第２セレクタ２は受信した画像センサーデータを欠陥画素補正部５に入力し、第１セレクタ１は欠陥画素補正処理済みの画像センサーデータをセンサー前処理部４に入力し、第３セレクタ３はセンサー前処理部４の出力を補正後データとして出力する。 （もっと読む）

【課題】ＣＣＤ型固体撮像素子の縦スジ欠陥の検出を容易にすると共に縦スジ欠陥の開始位置座標を高精度に求める。
【解決手段】半導体基板上にアレイ状に形成された複数のフォドダイオードの各蓄積電荷を読み出し垂直方向に１段づつ転送する複数の垂直転送路と、各垂直転送路上を転送されてきた前記蓄積電荷を各垂直転送路から受け取り１水平転送期間で水平方向に転送し出力する水平転送路とを備えるＣＣＤ型固体撮像素子の欠陥検査方法において、縦線欠陥検査時には、水平転送期間を複数回（３５，３６）連続して繰り返す毎に垂直転送路の前記１段の転送を行い、複数回の連続する水平転送期間３５，３６（３８，３９）の間は垂直転送路の転送駆動を停止させる。 （もっと読む）

画像中の不良画素を検出するために、迅速なテストと完全なテストを提供する不良画素検出方法およびモジュール。迅速テストは、現行画素を既にテスト済みのただ１つの良好な近隣画素と対比してテストする。迅速テストは、人間の視覚システムが特に赤色と青色に対して弱いことを利用して最適化される。青色に対しては、赤色と緑色に対する閾値に比べてより甘い閾値を使用することができる。さらに、カーネル中の不良画素群の検出のために、完全テストが構成・アレンジされる。 （もっと読む）

【課題】 撮像装置において、撮像素子における欠陥画素や暗電流成分のバラツキ等による画像への影響を、新たなノイズ分を増加させることなく低減すること。
【解決手段】 複数の画素を備える撮像素子（１４）と、撮像素子を遮光した状態で取得したダーク画像信号を平滑化するメディアンフィルタ処理回路（５０１）と、撮像素子から被写体を撮像して得た被写体画像信号から、平滑化後のダーク画像信号を減ずる減算処理回路（５０２）と、減算処理回路に、平滑化前の黒画素信号から平滑化後のダーク画像信号を各画素毎に減算させ、得られた差が予め設定された範囲外にある画素を、撮像素子の欠陥画素として抽出するシステム制御回路（５０）と、ダーク画像信号を減算した後の被写体画像信号の内、システム制御回路により抽出された欠陥画素の画像信号を、当該欠陥画素の周辺画素の画像信号を用いて補正する画像処理回路（２０）とを有する。 （もっと読む）

【課題】イメージセンサ及びそのためのテストシステム並びにテスト方法を提供する。
【解決手段】本発明のＣＭＯＳイメージセンサは、複数の画素を含み、複数の画素は、活性画素及び光の流入が遮断された画素を含む。少なくとも１つのバイアスの入力構造がバイアス電圧を受け取り、バイアス電圧を１つ又はそれ以上の光の流入が遮断された画素に供給する。出力回路は、複数の画素からの出力に基づいて出力信号を発生させる。 （もっと読む）

【課題】複数層の受光素子からなる画素がマトリックス状に配列された固体撮像装置により生成された色データを補正して色ずれを低減することができる画像処理回路を提供すること。
【解決手段】各色の欠陥判定回路１１Ｒ，１１Ｇ，１１Ｂは、各色の処理対象画素Ｒ１１，Ｇ１１，Ｂ１１の画素値及び周辺画素の画素値に基づいて処理対象画素Ｒ１１，Ｇ１１，Ｂ１１に欠陥があるか否かを判定し、判定信号ＳＲ，ＳＧ，ＳＢを生成する。各色の補正回路１２Ｒ，１２Ｇ，１２Ｂは、対応する色の欠陥判定回路と対応しない色の欠陥判定回路の判定結果に基づき、複数の色の処理対象画素のうちの少なくとも１つに欠陥があると判定した場合に、各色の処理対象画素Ｒ１１，Ｇ１１，Ｂ１１の画素値及び周辺画素の画素値に基づいて、処理対象画素Ｒ１１，Ｇ１１，Ｂ１１の補正値を生成する。 （もっと読む）

【課題】異常値を出力している撮像素子の出力値を除外してオフセット補正値及びゲイン補正値を算出することにより、同一対象物に対する撮像素子の出力値を精度良く調整することができる遠赤外撮像装置及び出力値補正方法を提供する。
【解決手段】マトリックス状に配列された複数の撮像素子と、該撮像素子ごとに所定の温度に対する出力値を補正するオフセット補正値を算出するオフセット補正値算出手段と、撮像素子ごとに所定の温度変化率に対する出力値の差異を補正するゲイン補正値を算出するゲイン補正値算出手段とを備え、オフセット補正値及びゲイン補正値により撮像素子ごとに出力値を補正して撮像データを取得する遠赤外撮像装置において、出力値が異常値である撮像素子を特定し、出力値が異常値である撮像素子の出力値を除外してオフセット補正値及びゲイン補正値を算出する。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線診断中に欠損画素を発生させるような経時的に不安定な欠損画素に対しても、欠損登録に基づいた校正を行うことにより欠損画素なくし、かつ、画像がボケることを低減させることができるＸ線診断装置を提供することを目的とする。
【解決手段】Ｘ線診断中において検出された各対象画素における欠損の頻度を計数する欠損画素計数部８と、欠損の頻度と欠損設定値とをそれぞれ比較し、欠損画素の頻度が欠損設定値よりも大きいときには欠損登録信号を出力する欠損登録判定部１０と、欠損登録信号に基づいて、対象画素を欠損登録する欠損登録メモリ１６と、欠損登録メモリ１６で登録された対象画素に対応するＸ線検出器３から出力されるＸ線検出信号の校正を行うキャリブレーション部６とを備えているので、Ｘ線診断中において対象画素が欠損となる欠損画素に対しても欠損登録が行われ、この欠損登録に基づく校正が行われる。 （もっと読む）