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Fターム[5C024CX22]の内容

光信号から電気信号への変換 (72,976) | 目的及び機能 (10,510) | ノイズ除去 (6,142) | 画素欠陥補正 (956) | 画素欠陥検出 (255)

Fターム[5C024CX22]に分類される特許

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【課題】撮像素子を有する撮像装置に備えられる欠陥画素検出装置において、撮像時に、欠陥画素を、逐次、詳細に検出する。
【解決手段】撮像装置100が備える欠陥画素検出部20において、画素データ取得部20aは、欠陥画素の検出対象となる注目画素、および、注目画素の周辺に配置された複数の周辺画素の画素データを順次取得する。第1演算部20bは、所定の複数の周辺画素間の画素データの差の絶対値(第1の絶対値)をそれぞれ算出する。欠陥画素判定用閾値設定部20cは、複数の第1の絶対値と所定の閾値とのそれぞれの差に基づいて、欠陥画素判定用閾値を切り換える。第2演算部20dは、注目画素の画素データと所定の複数の周辺画素の画素データとの差の絶対値(第2の絶対値)をそれぞれ算出する。欠陥画素判定部20eは、複数の第2の絶対値、および、欠陥画素判定用閾値に基づいて、注目画素が欠陥画素であるか否かを判定する。 (もっと読む)


【課題】欠陥画素と異物付着画素の補正精度の低下を抑制できるようにする。
【解決手段】撮像素子で撮像された画像から、撮像素子の前方に配置された光学素子の表面に付着した異物の影の影響を除去するための画像処理装置であって、撮像素子における欠陥画素の位置に関する情報を記憶する欠陥画素情報記憶部と、撮像素子から出力される画像信号に基づいて、異物の位置に関する情報を検出する異物付着検出部と、異物付着検出部により検出された異物に関する情報を記憶する異物情報記憶部と、異物情報記憶部に記憶されている情報に基づいて、異物の影になっている画素である異物画素からの画像信号を、異物画素の周囲の画素からの画像信号を用いて補正する異物補正部と、欠陥画素情報記憶部に記憶されている欠陥画素を異物画素と見なして、欠陥画素に関する情報を異物情報記憶部に記憶させる制御部とを備える。 (もっと読む)


【課題】赤外線検知器により画像を取得する多画素赤外線検知器撮像装置に関し,その運用中に各画素の状態を監視し,必要に応じて欠陥画素の登録を変更し,常時,高品質な画像を取得できるようにする。
【解決手段】多画素赤外線検知器撮像装置100において,その運用中に,赤外線検知器欠陥画素判定部120は,画像を構成する画素ごとに,着目画素の出力レベルとその周辺画素の平均出力レベルとの差分が,周辺画素の出力レベルの標準偏差に設定された係数を掛けた値より,大きい状態が規定のフレーム数連続した場合にはその画素を欠陥画素であると判定し,小さい状態が規定のフレーム数連続した場合にはその画素を正常画素であると判定し,その判定結果を欠陥画素登録マップ116に反映する。 (もっと読む)


【課題】画像の特性を考慮して欠損画素を正確に検出することができる放射線撮像装置を提供することを目的とする。
【解決手段】フラットパネル型X線検出器(FPD)を備えた場合、画素値収集部21は、非照射状態で検出されたX線検出信号に基づく画素値を収集し、その画素値収集部21で収集されてアベレージング部22でフレーム間アベレージングされた画素値のうち、データバスラインに沿った方向に対して複数個分取り出して、その複数個分の画素値に対してメディアンフィルタ23はメディアンフィルタ処理を行って、それで得られたデータバスライン39に沿った方向に対する中央値および上述のフレーム間アベレージングされた画素値を比較して、中央値および画素値の比較結果に基づいて欠損画素検出部24が欠損画素を検出することで、画像の特性を考慮して欠損画素を正確に検出することができる。 (もっと読む)


【課題】周囲温度に依存せずに精度良く画素欠陥(後発画素欠陥を含む)を検出できるようにする。
【解決手段】顕微鏡用撮像装置は、標本像を撮像するCCD32aを含むカメラ32と、CCD32aに入射される光を遮光する部材43aを含む顕微鏡本体31と、部材43aによって遮光されたCCD32aの暗時信号を読み出し第1の記憶手段に記憶させる制御機能と、暗時信号に基づいて画素欠陥を検出する画素欠陥検出機能と、画素欠陥の位置情報が記憶される第2の記憶手段と、暗時信号に基づいて遮光漏れを検出するコントローラ33と、コントローラ33により遮光漏れが検出されたときに該遮光漏れに関する情報を表示するCRTモニタ35を有する。 (もっと読む)


【課題】欠陥画素を精度良く検出することが可能な技術を提供することを目的とする。
【解決手段】撮像装置は、複数種類の色画素を有する主撮像素子を用いて、被写体像に関する本撮影画像を取得し、複数種類の色画素を有する副撮像素子を用いて、被写体像に関する補助画像を取得し、補助画像における画素のうち、本撮影画像の所定画素に表れる被写体部位に関する画素信号を有する対応画素を特定する(ステップSP2)。そして、本撮影画像における所定画素と補助画像における対応画素との画素信号レベルを比較して(ステップSP5)、欠陥画素を検出する。 (もっと読む)


【課題】回路構成を複雑にすることなくリアルタイム欠陥画素を検出する撮像装置を提供する。
【解決手段】撮像装置は、撮像素子を備える。撮像素子を構成する画素における注目画素について、注目画素から撮像に基づいて出力された注目画素値と、注目画素の周囲で且つ注目画素と同色の周辺画素から撮像に基づいて出力された周辺画素値との関係を示す第1欠陥候補パターンと、注目画素と隣接する異色隣接画素から撮像に基づいて出力された異色隣接画素値と、異色隣接画素の周囲で且つ異色隣接画素と同色の周辺隣接画素から撮像に基づいて出力された周辺隣接画素値との関係を示す1以上の第2欠陥候補パターンとに基づいて、注目画素が欠陥画素であるか否かを判断し、欠陥画素を補正する欠陥補正部を備える。 (もっと読む)


【課題】観察用光束を受光する撮像素子の欠陥画素を適切に検出することが可能な撮像装置を提供する。
【解決手段】撮像装置は、撮影光学系からの光束であって主反射面で反射された光束である観察用光束をファインダ窓へと導くファインダ光学系と、観察用光束を受光して画像信号を生成する撮像素子と、制御手段とを備える。制御手段は、主反射面がミラーアップ位置に移動され且つファインダ光学系のアイピースシャッタが開放された状態において撮像素子による露光画像を取得し、当該露光画像に基づき撮像素子の欠陥画素を検出する検出処理を実行する。 (もっと読む)


【課題】 観察用光束を受光する撮像素子の欠陥画素を適切に検出することが可能な撮像装置を提供する。
【解決手段】 撮像装置1は、撮影光学系からの光束であって主反射面61で反射された光束である観察用光束をファインダ窓10へと導くファインダ光学系と、観察用光束を受光して画像信号を生成する撮像素子7と、主反射面61をミラーアップ位置PS1に移動して撮像素子7を含む所定の空間SUを遮光状態にし、当該遮光状態における撮像素子7の露光画像を取得して撮像素子7の欠陥画素を検出する制御手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】比較的広範囲にわたる感度ムラを検出し、感度異常画素の検出および感度補正精度を高めることができる固体撮像装置を得る。
【解決手段】赤外線固体撮像素子1のほぼ均一な温度を有する被写体を撮像したときの画素データに対しオフセット及び感度補正を経て補正後画素データを得る固体撮像装置において、画素の各々について複数フレームに亘り積分して積分画素出力を算出するフレームメモリ積分器8、数画素単位の狭い検出領域を制御してオフセット異常画素のアドレスを特定するオフセット異常検出手段(10−14)、数十画素単位の比較的広い検出領域を制御して感度異常画素のアドレスを特定する感度異常検出手段(15−19)、前記補正後画素データに対し、特定されたオフセット異常アドレス・感度異常画素アドレスを他の画素の出力から導出した代替値により代替させて補正後の画素データを出力する欠陥補正手段6を備えた。 (もっと読む)


【課題】固体撮像素子からの出力信号に対して動的な欠陥画素補正を行う場合に、RGBのそれぞれの画素について欠陥画素を補正し、エッジの誤補正を抑制する。
【解決手段】情報記憶部11にて撮像素子の画素信号レベルを記憶し、斜めエッジ判定制御部12にて、情報記憶部11に記憶された撮像素子の画素信号レベルから、画素信号レベルの差分と閾値を比較して斜めエッジの有無を判定し、欠陥画素判定制御部13にて、情報記憶部11に記憶された撮像素子の出力信号レベルから、同色の画素信号レベルをソートし、ソートされた隣接画素信号レベルの差分と閾値を比較して欠陥画素の有無を判定し、欠陥画素補正制御部14にて、斜めエッジ判定制御部の判定結果と欠陥画素判定制御部の判定結果とに応じて欠陥画素補正を行う。 (もっと読む)


【課題】欠陥画素群に含まれる各欠陥画素を適切に補正する。
【解決手段】欠陥画素アドレス記憶部320には欠陥画素の位置情報とこの欠陥画素が欠陥画素群に含まれるか否かの画素欠陥情報とを関連付けて記憶する。欠陥画素判定部330は、撮像された画像における各画素について欠陥画素アドレス記憶部320の位置情報に基づいて欠陥画素であるか否かを判定し、その画素が欠陥画素群に含まれるか否かを欠陥画素アドレス記憶部320の画素欠陥情報に基づいて判定する。補間候補画素選択部340は、撮像された画像における各画素の種別を判定し、欠陥画素の種別と欠陥画素群に含まれるか否かの判定結果とに基づいて画素の周辺画素を選択する。この選択された画素の周辺画素の値に基づいて欠陥画素の補間値を補間値算出部350が算出し、この算出された補間値と欠陥画素の値とを補間値置換部360が置換する。 (もっと読む)


【課題】欠陥画素の画素値を算出する際に周辺の画素値を反映するとともに、ノイズが周辺画素より小さくならないようにすること。
【解決手段】X線検出部2が被検体を透過した生画像データを生成し、画像処理部7が生画像データを処理して画像を表示部8に表示する。このとき、画像処理部7のノイズ保持補正画素値算出部71が、加重平均の係数の2乗和が加重平均に使用するデータの数の2乗に等しくなるような係数を用いて周辺画素値を加重平均することによって、欠陥画素の補正値を算出する。 (もっと読む)


【課題】映像信号の解像度の低下を抑制し、且つ、信号処理回路の回路規模を縮小できる。
【解決手段】本発明の例に関わる信号処理回路は、補正対象画素とその周辺の複数の画素の中から、複数の同色の画素を抜き出して信号レベル順に並び替え、エッジEVを算出する並び替え回路35と、白キズと黒キズを検出し、キズ補正信号ABPCを出力するキズ補正処理回路36と、ランダムノイズを補正し、ノイズリダクション出力を出力するノイズリダクション回路37と、エッジEVに基づいて、キズ補正信号ABPCとノイズリダクション出力NRに重み付け加算を行う重み付け加算回路38とを具備し、並び替え回路35は、並び替えた複数の同色の画素の信号レベル差に基づいてキズのない複数の画素を仮定し、キズがないと仮定された複数の画素の信号レベル差からエッジEVを算出することを備える。 (もっと読む)


【課題】撮像素子の点欠陥及び線欠陥を短時間で精度良く検出して補正することを可能とする。
【解決手段】放射線画像検出器から読み出した欠陥検出用の読出画像に対し、画像の読出方向についてのみメディアン減算(102)を行った画像を点欠陥抽出用として用い、閾値th_aで二値化することで点欠陥候補画素を抽出し(104)、点欠陥候補画素が一定割合以上のラインを線欠陥と判定し、残りの点欠陥候補画素を点欠陥と判定する(106)。また、読出画像に対してオフセット補正、シェーディング補正、放射線画像検出器からの画像の読出方向及びそれに直交する方向についてのメディアン減算(100)を行った画像を線欠陥抽出用として用い、閾値th_b(<th_a)で二値化することで線欠陥候補画素を抽出し(108)、線欠陥候補画素が一定割合以上のラインを線欠陥と判定し、残りの点欠陥候補画素を欠陥画素から除外する(110)。 (もっと読む)


【課題】FPDの画素欠陥を補正して適正な放射線画像を得ることができ、経時等によってFPDの画素欠陥が増加してしまった場合でも、画素欠陥の発生状態を適正に把握して、適正な診断等が可能な放射線画像を得ることができる放射線画像撮影装置を提供することにある。
【解決手段】欠陥検出手段が画素欠陥位置情報を検出するタイミングを制御する制御手段と、放射線固定検出器に照射された曝射線量を測定する曝射線量測定手段及び前記放射線固定検出器の温度を測定する温度測定手段の少なくとも一方とを有し、制御手段が、曝射線量測定手段の測定結果及び温度測定手段の測定結果の少なくとも一方と、欠陥検出手段により画素欠陥が検出されてからの経過時間とに基づいて欠陥検出手段により画素欠陥位置情報を検出させるタイミングを算出することにより、上記課題を解決する。 (もっと読む)


【課題】X線画像における欠陥点を認識し、この欠陥点の位置情報を自動的に求めること。
【解決手段】X線平面検出器から読み出される各電荷を増幅する各積分アンプの各容量値と、各積分アンプの出力を増幅する各アンプのゲインとを有する動作パラメータを調整する場合、X線を曝射したときにX線平面検出器から出力される画素値と期待値の基準レベル範囲とを比較し、この比較結果に基づいて動作パラメータを期待値の基準レベル範囲内に自動的に決定し、この動作パラメータの決定後、X線平面検出器のオフセット成分を補正するためのオフセット補正係数を自動設定し、このオフセット補正係数の設定終了後、X線平面検出器から出力されるべき画素値になるようにゲイン補正係数を自動設定し、このゲイン補正係数の設定終了後、X線を曝射したときにX線平面検出器から出力されるX線画像を収集してオフセット補正処理及びゲイン補正処理を施し、これら補正処理されたX線画像における欠陥点を認識し、この欠陥点の位置情報を自動的に求める。 (もっと読む)


【課題】従来の検査装置では検出が不可能であった、画像周辺部のコントラストの低いシミ欠陥をも検出して固体撮像素子の良否を検査する検査装置を実現する。
【解決手段】本発明に係る検査回路30は、検査対象のイメージセンサ50の水平方向画素の輝度信号から、各輝度信号において、サンプル数の異なる移動平均値をそれぞれ算出し、上記サンプル数の異なる移動平均値間に所定値以上の差があって、かつ、その差がある状態が連続して所定数以上存在するか否かによって、シミ欠陥を検出、イメージセンサ50の良否を判定する。 (もっと読む)


【課題】放射線固体検出器(FPD)を用いる放射線画像の撮影において、画質劣化が生じる画素欠陥が生じても、しばらくは放射線画像の撮影を可能にし、かつ、画素欠陥の悪影響を最低限にできる放射線画像撮影方法および装置を提供する。
【解決手段】FPDの局所領域毎に画素欠陥を解析して、画素欠陥が許容値を超えた局所領域に関しては、画素欠陥補正を行なわず、かつ、放射線画像上でこの領域を認識かのにすることにより、前記課題を解決する。 (もっと読む)


【課題】欠損画素を検出して補間する場合であっても、高周波成分を除去し、かつ正確に補間することができる放射線撮像装置を提供することを目的とする。
【解決手段】欠損画素検出部21が、X線グリッドのグリッドパターンに沿ったライン欠損を検出する場合に、その欠損画素検出部21で検出されたライン欠損の補間を、グリッドパターンに基づく距離にある画素に基づいて第1欠損画素補間部22は行うので、補間後においてもグリッドパターンの周期が乱れることなく、次の低域通過型フィルタ(LPF)23で高周波成分を除去することができる。さらに、低域通過型フィルタ23で処理されたX線画像に対して、上述した距離にある画素よりも近い画素に基づいて、欠損画素検出部21で検出されたライン欠損の補間を第2欠損画素補間部24が再度行うので、正確に補間することができる。 (もっと読む)


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