【課題】撮像素子においては、製造工程において生じる画素欠陥と、温度変化や宇宙線などの放射線による経時変化で生じる画素欠陥とがあり、画素欠陥には欠陥箇所の輝度が高くなるいわゆる「白欠陥」と欠陥箇所の輝度が低くなるいわゆる「黒欠陥」とがある。製造工程において生じる画素欠陥は固定位置であるため、工場出荷時に欠陥画素の出力を近隣画素の出力を補間した値で補正する欠陥補正を施してから出荷することがおこなわれている。しかしながら、温度変化や経時変化で生じた撮像素子の画素欠陥には補間できないため画質を損なう問題があった。
【解決手段】
上記目的を解決するために、本発明では注目画素に対して周辺画素との差を基に画素欠陥か否かを判定し、さらには注目画素と周辺画素との差分の分布に応じて周辺画素で補間することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】新たな欠陥画素が発生した後で、次の欠陥画素検出までの期間に撮影された画像に対しても欠陥画素補正を行えるようにする。
【解決手段】撮像素子により得られた画像データに基づいて欠陥画素を検出し、新規欠陥画素の情報、欠陥画素検出日時を記憶する。そして、記録媒体に記録された画像データの中から、撮影日時が前回の欠陥画素検出日時より新しい画像データを抽出し、当該画像データに対して、前記新規欠陥画素の情報に基づいて欠陥画素補正を行う。これにより、新たな欠陥画素が発生した後、次の欠陥画素検出までの期間に撮影された画像に対しても欠陥画素補正を行うことが可能である。 （もっと読む）

【課題】 迅速に欠陥画素の画素データを補正するすることのできる画素データ処理装置を提供する。
【解決手段】 撮像素子の欠陥画素の画素データを補正するために、設定数の画素からなる画素群ごとに、欠陥画素の画素データの特定処理を行い、その際に参照される欠陥画素群情報を、画素群単位情報によって構成する。より望ましくは、その画素群単位情報を、欠陥画素が含まれている画素群であることを認定するするための含欠陥画素群特定情報と、画素群内における欠陥画素の位置を特定するための欠陥画素群内位置特定情報によって構成する。そのような構成の欠陥画素情報を参照することにより、欠陥画素の画素データの特定を迅速に行うことができる。 （もっと読む）

【課題】検出器の欠陥素子の影響が周辺の素子にも及ぶ場合にも、高精度に画像補正を行うことが可能な画像撮影装置を提供する。
【解決手段】検出器の読出回路の不具合等によって、電荷が隣接素子（或いは周辺素子）に流出してしまう流出型欠陥素子について、流出の割合を表した信号流出関数ｆ（ｘ）を影響量パラメータ２０５として記憶部２０２に保持しておく。中央処理装置２０は補正処理として、一般的に行われるオフセット補正やエア補正等の他に、欠陥素子補正処理を行って、正常な検出素子から得られた出力信号に基づいて流出型欠陥素子の出力信号を推定するとともに、推定された流出型欠陥素子の出力信号と上述の影響量パラメータ２０５とに基づいて流出型欠陥素子の周辺の欠陥周辺素子の出力信号を補正する。 （もっと読む）

【課題】現状のピクセル型半導体素子をより良く有効に用いること。
【解決手段】複数の半導体素子により各画素を形成する半導体検出器を備えた放射線イメージング装置において、各半導体素子からそれぞれ出力されるガンマ線のエネルギ強度分布を示すエネルギスペクトラムデータとしての各エネルギ信号を解析する解析部と、解析部によるエネルギスペクトラムデータの解析結果に基づいて各半導体素子の性能を３つに分類する分類部と、３つの分類結果のうち各半導体素子の性能が低いと分類される２つの分類の各画素の値をそれぞれ補間処理する補正部とを具備する半導体検出器の補間装置である。 （もっと読む）

【課題】レンズと撮像素子間の塵埃の映像信号減衰（影）を補正する。
【解決手段】ガルバノメータ方式の絞りを備えたレンズを用いる固体撮像装置において、前記レンズはパターンプロジェクタとエクステンダとを内蔵した望遠ズームレンズであり、前記固体撮像装置はガルバノメータ方式の絞りの開放から閉塞までの応答時間と開放から定格レベルに安定するまでの応答時間とを検出する手段と、該ガルバノメータ方式の絞りの開放から閉塞までの応答時間と開放から定格レベルに安定するまでの応答時間とから定格レベルの絞り値を算出する手段とを有し、パターンプロジェクタを内蔵する手段を持つ望遠ズームレンズと組み合わせ、ポテンションメータによるズーム値と上記レンズ絞り値、カメラに実装される光学フィルタ種類との条件マトリクスによってレンズ及びカメラレンズマウント内部の塵埃映像を補正する。
撮像装置。 （もっと読む）

【課題】隣接する光電変換素子アレイの間の位置に対応する補間画素の画素値を光電変換素子アレイの端部に対応する画素の画素値の平均により求めた場合に比較して、擬似階調画像の画素の補間を適切に行うことが可能な画素補間装置、画像読取装置、及び画素補間プログラムを提供する。
【解決手段】画素補間装置４３は、複数の光電変換素子を有する第１の光電変換素子アレイ１５１及び第２の光電変換素子アレイ１５２によって原稿９を読み取って得られた原稿画像における複数の画素の画素値の増減の周期を求める周期算出手段４３１ｂと、これら複数の画素のうち、第１の光電変換素子アレイ１５１及び第２の光電変換素子アレイ１５２の間の位置に対応する補間画素との間隔が周期算出手段４３１ｂで求めた周期に対応する画素を抽出し、抽出した画素の画素値に基づいて補間画素の画素値を補間する補間手段４３１ｃとを備える。 （もっと読む）

【課題】撮像素子の欠陥画素位置情報と欠陥画素補間方法とを電子透かし情報とする撮像画像信号を検証対象画像信号とすることで、撮像された画像の出自を付加情報や特別な回路や処理を有することなく検証する。
【解決手段】補間値生成部１３は、検証対象画像１１を生成する際に用いた欠陥画素補間方法と同一の欠陥画素補間方法により、欠陥画素補間値を生成する。欠陥画素位置検出部１６は、読み出し制御部１４からの注目画素Ｐaの画素位置情報が欠陥画素位置であるか否かの判定フラグを出力する。画素比較部１７は、欠陥画素位置検出部１６から欠陥画素位置を示す判定フラグが入力された場合、シフトレジスタ１２ｂからのその注目画素Ｐaの画素値を、補間値生成部１３からの注目画素Ｐaの画素補間値Ｖp_aveと比較し、その比較結果が全ての欠陥画素について一致した場合は、“一致”の判定結果を出力する。 （もっと読む）

【課題】撮像素子の欠陥による欠陥画素を高精度に補正できる撮像装置及び撮像方法を提供すること。
【解決手段】画素列を有する撮像素子と、前記画素列が有する欠陥画素の位置を予め記憶する欠陥画素記憶手段と、前記欠陥画素を補正する欠陥画素補正手段とを備え、前記画素列は、０，１，…，Ｎ＋１番目の順で所定の方向に配列されてなる画素を有し、前記欠陥画素記憶手段は、前記画素列のうち１〜Ｎ番目の画素を欠陥画素とし、前記画素列のうち０番目の画素及びＮ＋１番目の画素を非欠陥画素として、これらを特定欠陥画素パターンとして記憶し、前記欠陥画素補正手段は、１〜Ｍ番目の欠陥画素の画像信号を０番目の非欠陥画素の画像信号で補正し、Ｍ＋１〜Ｎ番目の欠陥画素の画像信号をＮ＋１番目の非欠陥画素の画像信号で補正することを特徴とする。但し、Ｎは３以上の整数、Ｍは１以上Ｎ−１以下の整数である。 （もっと読む）

【課題】画像内の固定パターンノイズを補正すること。
【解決手段】制御装置１０４は、撮像素子１０３から読み出した画像データ内における線状の固定パターンノイズの発生位置を特定し、特定した線状の固定パターンノイズの発生位置と撮影画面内の特定領域の位置とが重複する場合には、少なくとも特定領域に対応する画像データに対し、固定パターンノイズによる影響を抑制するための補正処理を実行する。 （もっと読む）

【課題】画像パターンのエッジではキズ補正を抑制することで誤補正による解像度低下を抑制することを最も主要な特徴とする。
【解決手段】補正対象となる画素の周辺に存在する複数の画素の信号から最大信号レベル及び最小信号レベルを抽出する信号レベル比較回路４１と、補正対象となる画素の信号を信号レベル比較回路で抽出された最大信号レベル及び最小信号レベルと比較して補正対象となる画素が白キズまたは黒キズであるか否かを判定し、この判定結果に従って補正対象となる画素のキズ補正を行うキズ補正回路４２とを具備する。 （もっと読む）

【課題】不良画素に対する補償機能を有するイメージセンサを提供すること。
【解決手段】画素ラインメモリ部200と、の制御下で、ラインメモリ部200から現在の
アドレスに対応する画素データPixel(i,j)を切り換えて出力する切換部700と、不良画素
のローアドレス選択信号RASS、不良画素のカラムアドレス信号DPCA、最後のカラムの情報
信号Line End等を制御信号として、メモリ200からPixel(i,j)を含むその周辺画素のデー
タPIXEL[I、J]を受信し、切換部700からPixel(i,j)を受信して、補正された画素データPI
XEL^*[I、J]を出力する不良画素補正部600と、イメージセンサの性能向上を図るための信
号処理を行う画像信号処理部300とを含む。本イメージセンサは、EEPROMを用いないので
、製造歩留まりが高く、コストが安い。 （もっと読む）

【課題】画像の領域のセンター行に沿って配置された欠陥画素の値を置換する画像処理システムを提供する。
【解決手段】領域は、センター行と、センター行の上に配置された前の行と、センター行の下の行に配置された次の行と、を有する。画像処理システムは、前の行及びセンター行に配置された画素の値を格納するバッファを有する。画像処理システムは、次の行の画素の値を選択することなく前の行及び欠陥画素の位置に隣接するセンター行に配置された複数の画素の値を選択するセレクタも有する。画像処理システムは、欠陥画素に対する置換値を、前の行及びセンター行に配置された選択した画素の値から決定する計算器を更に有する。 （もっと読む）

【課題】 撮像素子又はその光学系にゴミが付着しても、ゴミによる撮像画像への影響を抑制可能な撮像装置を提供すること。
【解決手段】 ゴミ検出用撮像画像から、撮像素子及びその光学系に存在するゴミに対応する画素位置を検出しておく。通常の撮像によって得られた通常撮像画像について、個々の画素データがゴミに対応する画素位置のデータであるかどうか調べ（Ｓ４４）、ゴミに対応する画素位置のデータに対しては補正処理を行う（Ｓ４５）。 （もっと読む）

【課題】点滅性欠陥を有する画素の検出精度を向上するとともに、点滅性欠陥を有する画素を検出するための時間を短縮する。
【解決手段】撮像装置は、複数の画素が配列された画素配列と、前記画素配列から信号を読み出す読み出し部と、前記画素配列が遮光された状態で前記画素配列から前記読み出し部により読み出された信号を用いて、前記画素配列における欠陥画素を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された欠陥画素の信号を、前記検出された欠陥画素に隣接する画素の信号を用いて補間する補間手段とを備え、前記読み出し部は、前記検出手段による欠陥画素の検出を行うための検出モードにおいて、１フレーム期間中に前記画素配列から欠陥が発生しやすい条件で信号を読み出す。 （もっと読む）

【課題】記憶部に格納する画像データの欠陥画素に対応する画素値を特定値に置き換えることで、画像データを小領域の処理単位で処理する際のオーバーヘッドを減少させる。
【解決手段】本発明の画素欠陥補正装置は、記憶部２に格納する前に画像データのうち特定の画素の画素値を第１の特定値に変更するデータ変更部５とを備え、記憶部２に格納する画像データのうち、欠陥位置記憶部３に記憶した欠陥画素の位置情報に基づいて欠陥位置検出部４が検出した欠陥画素に対応する画素の画素値をデータ変更部５により前記第１の特定値に変更し、画像処理部６の画像処理のため記憶部２から部分領域を分割読み出しした画像データにおいて、欠陥補正部７に入力した画像データの画素値が前記第１の特定値である場合、欠陥画素に対応する画像データであると判定して欠陥補正部７により前記欠陥画素に対応する画像データの補正を行う。 （もっと読む）

【課題】撮像素子の全画素に関する後発的欠陥画素の検出を的確に行える撮像装置の技術を提供する。
【解決手段】撮像装置では、撮像素子の撮像面を領域分割して得られた複数の分割領域それぞれに属する画素群ごとに欠陥画素の検出が可能である。この撮像装置が起動される際には、まず各分割領域毎に欠陥画素検出に関する直近の検査完了日時から現時点までの経過期間を算出する（ステップＳ１）。次に、一定期間(例えば１週間)が経過した分割領域がある場合には、この分割領域を検査対象領域に設定する一方、一定期間が経過した分割領域がない場合には、検査完了日時が最も古い分割領域を検査対象領域に設定する（ステップＳ２〜４）。そして、検査対象領域に対しての欠陥画素検出を行う（ステップＳ７）。以上のような撮像装置の動作により、撮像素子の全画素に関する後発的欠陥画素の検出を的確に行える。 （もっと読む）

【課題】何れかの行選択用配線が断線している場合に画素データを補正して解像度が高い画像を得ることができる固体撮像装置を提供する。
【解決手段】固体撮像装置１は、受光部１０、信号読出部２０、制御部３０および補正処理部４０を備える。受光部１０では、入射光強度に応じた量の電荷を発生するフォトダイオードと、このフォトダイオードと接続された読出用スイッチと、を各々含むＭ×Ｎ個の画素部Ｐ_１,１〜Ｐ_Ｍ,Ｎが、Ｍ行Ｎ列に２次元配列されている。各画素部Ｐ_ｍ,ｎで発生した電荷は読出用配線Ｌ_Ｏ,ｎを通って積分回路Ｓ_ｎに入力され、その電荷量に応じて積分回路Ｓ_ｎから出力された電圧値は保持回路Ｈ_ｎを経て出力用配線Ｌ_outへ出力される。補正処理部４０では、信号読出部２０から繰り返し出力される各フレームデータについて補正処理が行われ、その補正処理後のフレームデータが出力される。 （もっと読む）

【課題】欠損画素を検出して補間する場合であっても、高周波成分を除去し、かつ正確に補間することができる放射線撮像装置を提供することを目的とする。
【解決手段】欠損画素検出部２１が、Ｘ線グリッドのグリッドパターンに沿ったライン欠損を検出する場合に、その欠損画素検出部２１で検出されたライン欠損の補間を、グリッドパターンに基づく距離にある画素に基づいて第１欠損画素補間部２２は行うので、補間後においてもグリッドパターンの周期が乱れることなく、次の低域通過型フィルタ（ＬＰＦ）２３で高周波成分を除去することができる。さらに、低域通過型フィルタ２３で処理されたＸ線画像に対して、上述した距離にある画素よりも近い画素に基づいて、欠損画素検出部２１で検出されたライン欠損の補間を第２欠損画素補間部２４が再度行うので、正確に補間することができる。 （もっと読む）