【課題】耐圧の向上が図られる半導体装置を提供する。
【解決手段】ｎ-型半導体領域には、ドレイン領域となるｎ-型の拡散領域が形成されている。ｎ-型の拡散領域の周囲を取囲むようにｐ型の拡散領域が形成されている。ｐ型の拡散領域には、ソース領域となるｎ+型の拡散領域が形成されている。ｎ-型の拡散領域の直下には、ｐ-型の埋め込み層１３が形成されている。ｎ-型の半導体領域の領域には、高電位が印加されるｎ+型の拡散領域が形成され、そのｎ+型の拡散領域の表面上には電極が形成されている。電極とドレイン電極とは、配線２０によって電気的に接続されている。配線２０の直下に位置する部分に、ｐ-埋め込み層１３に達するトレンチ３ａが形成されて、ポリシリコン膜８１が形成されている。 （もっと読む）

【課題】異なる不純物濃度の埋め込み層を有する半導体装置を短時間かつ低コストで製造する方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、半導体基板の表面に第１の酸化膜１１を形成する第１の酸化膜形成ステップと、フォトダイオードが形成される第１の領域に形成された前記酸化膜の一部を除去して第１の間隔で第１の開口部を形成すると共に、トランジスタが形成される第２の領域に形成された前記酸化膜を除去して前記半導体基板の表面を露出させる第１の開口部１２を形成ステップと、前記第１の酸化膜をマスクとして利用して前記第１の開口部及び前記第２の領域に対して第１の不純物を注入する第１の不純物注入ステップと、前記第１の不純物を熱拡散させる第１の熱拡散ステップと、を有する。 （もっと読む）

【課題】ＳＯＮ構造の半導体装置において、フォトリソグラフィー工程で高精度の位置合わせができ、プロセスラインの汚染を防止することができて、素子特性の劣化が防止され、信頼性の高い半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】ＳＯＮ構造９上部のシリコン層３２の段差１８をアライメントマーク２０として用いることによって、アライメントマーク２０の形状崩れが防止されて、フォトリソグラフィー工程で高精度の位置合わせができるようになる。また、段差１８が小さいためにフォトリソグラフィー工程で凹部へのレジストの残留やプロセス途中で発生するゴミの残留が防止され、プロセスラインの汚染が防止できる。その結果、素子特性の劣化が防止され、信頼性の高い半導体装置の製造方法を提供することができる。 （もっと読む）

【課題】出力トランジスタの形成領域から他の素子の形成領域への電子の移動を抑制する効果が高く、素子の誤動作を抑制できる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体基板ＳＵＢと、１対の注入元素子ＤＲと、アクティブバリア構造ＡＢと、ｐ型接地領域ＰＧＤとを備える。半導体基板ＳＵＢは主表面を有し、かつ内部にｐ型領域を有する。１対の注入元素子ＤＲは、ｐ型領域上であって主表面に形成される。アクティブバリア構造ＡＢは、主表面において１対の注入元素子ＤＲに挟まれる領域に配置される。ｐ型接地領域ＰＧＤは、主表面において１対の注入元素子ＤＲに挟まれる領域を避けて１対の注入元素子ＤＲおよびアクティブバリア構造ＡＢよりも主表面の端部側に形成され、かつｐ型領域に電気的に接続された、接地電位を印加可能な領域である。ｐ型接地領域ＰＧＤは、１対の注入元素子ＤＲに挟まれる領域と隣り合う領域において分断されている。 （もっと読む）

【課題】半導体基板に向かって流れ込む回生電流又は寄生バイポーラトランジスタのオン電流を、チップサイズを増大させることなく低減できるＬＤＭＯＳトランジスタの実現が課題となる。
【解決手段】Ｎ＋型ドレイン層１３等が形成されたＮ型エピタキシャル層５からなるＮ型層５ａを、Ｎ型エピタキシャル層５の表面からＮ＋型埋め込み層２まで延在するＰ型ドレイン分離層６で取り囲む。Ｐ型ドレイン分離層６とＰ型素子分離層３に囲まれたＮ型エピタキシャル層５からなるＮ型層５ｂにその表面から内部に延在するＰ型コレクタ層７を形成する。これにより第１導電型のドレイン分離層６をエミッタ、前記第２導電型の分離層５ｂをベース、前記コレクタ層７をコレクタとする寄生バイポーラトランジスタを形成しサージ電流を接地ラインに流す。 （もっと読む）

【課題】高い実装密度を得ることが可能な半導体装置の製造プロセスを提供する。
【解決手段】半導体装置を電気的に分離するための構造は、エピタキシャル層を含まない半導体基板２４０内にドーパントを打込むことにより形成される。この打込みに続き、極めて限られた熱収支に上記構造を晒すことでドーパントが顕著に拡散しないようにする。その結果として、上記分離構造の寸法が制限かつ規定され、こうして、エピタキシャル層を成長させる工程とドーパントを拡散させる工程とを含む従来のプロセスを用いて得られるよりも高い実装密度を得ることができる。 （もっと読む）

【課題】素子を分離するための素子分離部による不具合の発生確率を低減する。
【解決手段】フォトダイオード３１０が内部に形成された半導体基板５００と、素子分離部４２０とを備える。素子分離部４２０は、該素子分離部４２０の少なくとも一部が、半導体基板５００に形成された溝４１０の内部に充填されるように形成される。素子分離部４２０は、溝４１０の内部の下方に形成されたシリコン酸化膜４２１と、溝４１０の内部の上方に形成されたシリコン酸化膜４２２とから構成される。シリコン酸化膜４２１の密度は、シリコン酸化膜４２２の密度より小さい。 （もっと読む）

【課題】ＩＧＢＴ形成領域とその制御回路等形成領域とをＰＮ接合分離法で分離し、且つＩＧＢＴからの漏れ電流が発生せず、制御回路等のＣＭＯＳトランジスタがラッチアップ等することのない高品質の半導体装置を実現する。
【解決手段】Ｐ型半導体基板１上に多層からなるＮ型エピタキシャル層３等を形成する。該Ｎ型エピタキシャル層３等をＰ＋型分離層１３等によりＩＧＢＴ形成領域５０と制御回路等形成領域４０に分離する。該ＩＧＢＴ形成領域５０の最下層の前記Ｎ型エピタキシャル層３と前記Ｐ型半導体基板１の双方に延在するＮ＋型埋め込みガード層２を形成する。また該Ｎ＋型埋め込みガード層２の端部と接続し前記エピタキシャル層３等の表面まで延在するＮ＋型ガードリング９等を形成する。前記Ｎ＋型埋め込みガード層２と該Ｎ＋型ガードリング９等に囲まれた前記エピタキシャル層３等にＩＧＢＴを形成する。 （もっと読む）

【課題】 素子分離領域の広がりによる素子形成領域間の拡大等の改善を図る。
【解決手段】 半導体基体１１には、素子分離領域１６が、所定の濃度をもって第１導電型不純物が導入された第１の選択的不純物導入領域１７と、第１の選択的不純物導入領域１７に比し低い所定の不純物濃度の第２導電型不純物が選択的に導入された第２の選択的不純物導入領域１８とによって構成される。第２の選択的不純物導入領域１８の不純物濃度の選定によって第１の選択的不純物導入領域１７からの不純物の横方向拡散による広がり領域における第１導電型の打消しを行って、素子分離領域１６の横方向の実質的広がりを抑制する。 （もっと読む）

【課題】出力用素子から半導体基板の内部に進入する電子により、被保護素子が誤動作を起こすことを抑制する半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体基板と、出力用素子と、被保護素子ＴＲＳと、タップ部ＡＴＤと、第１のアクティブバリア構造ＡＢＲとを備える。第１のアクティブバリア構造ＡＢＲは、被保護素子ＴＲＳとタップ部ＡＴＤとの間に配置される。第１のアクティブバリア構造ＡＢＲは、ｐ型不純物領域ＰＳＲに接続されたｎ型領域と、ｎ型領域とオーミック接続されたｐ型領域とを含む。 （もっと読む）

【課題】第１、第２素子形成領域間でノイズが伝播することを抑制することができる半導体装置を提供することを目的とする。
【解決手段】第１、第２素子形成領域２０、３０に形成された半導体素子のうち、第１素子形成領域２０に形成された半導体素子を外部機器と接続し、第１素子形成領域２０と第２素子形成領域３０との間に、第１導電型層６０と、当該第１導電型層６０に挟まれる第２導電型層６１とを配置し、第１、第２導電型層６０、６１の間に、オフ時に半導体層１２の表面から埋込絶縁膜１１に達し、第１、第２素子形成領域２０、３０との間を仕切る空乏層６３、６４を構成する。 （もっと読む）

【課題】光照射面側の素子分離を強化して、混色を低減させ、感度向上、素子分離部の暗電流低減できる固体撮像装置、及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】ｎ型の半導体基板３０表面内に形成された前記ｎ型の拡散層３２を含み、前記半導体基板の裏面側から表面側に向かって照射された光により前記半導体基板内で生成された電子を蓄積する電荷蓄積部ＰＤと、前記電荷蓄積部を挟み、前記半導体基板表面からこの半導体基板内に達するように形成されたｐ型の第１、第２拡散層（３６）と、前記電荷蓄積部を電気的に分離し、前記半導体基板の前記裏面側が開口されるよう形成された第１、第２トレンチ５５に埋め込まれたｐ型のａ−アモルファスシリコン化合物（ｐ型ａ−ＳｉＣ）と、を具備する。 （もっと読む）

【課題】ガードリング構造を有する半導体デバイス、ディスプレイドライバ回路、及びディスプレイ装置を提供する。
【解決手段】本発明による半導体デバイスは、第１導電型の半導体基板と、半導体基板に既定の深さを有して形成された２以上の第２導電型の第１ウェル領域と、第２導電型の第１ウェル領域の内に既定の深さを有して形成された少なくとも一つの第１導電型の第２ウェル領域と、第１ウェル領域の間に位置し、第１ウェル領域と既定の間隔だけ離隔して既定の深さを有して形成された第２導電型のガードリング領域と、を含み、ガードリング領域は、システムグラウンド電圧に連結される。 （もっと読む）

【課題】表面上に素子をより高密度に実装する。
【解決手段】第１のトレンチと第２のトレンチとの間の位置において、エピタキシャル層の表面から基板へと下方に延在するドーパントのウェルは、エピタキシャル層の背景ドーピング濃度とは異なるドーピング濃度を有し、エピタキシャル層の残りの部分と第１および第２の接合を形成する。第１の接合は、第１のトレンチの底部から基板に延在し、第２の接合は、第２のトレンチの底部から前記基板に延在する。ウェルおよび第１および第２のトレンチは分離構造を構成し、分離構造は、分離構造の一方側のエピタキシャル層に形成された第１の素子と分離構造の他方側のエピタキシャル層に形成された第２の素子とを電気的に分離する。分離構造による電気的分離は第１および第２のトレンチとＰＮ接合とによってもたらされ、ウェルは第１の導電型の材料でドープされ、基板およびエピタキシャル層は、第１の導電型とは反対の第２の導電型の材料でドープされ、第１および第２の接合はＰＮ接合である。 （もっと読む）

【課題】バイポーラの高耐圧縦型ＰＮＰプロセスをベースにして、寄生ＰＮＰトランジスタに起因する漏洩電流の発生しない高耐圧ＩＧＢＴを形成する。
【手段】Ｐ型半導体基板１に、ＩＧＢＴのコレクタ電極１５と電気的に接続するＰ＋型コレクタ層８と、当該Ｐ＋型コレクタ層８と連続するＰ＋型埋め込み層４と、該Ｐ＋型埋め込み層４の下層のＮ型埋め込み層２と、該Ｐ＋型埋め込み層４と該Ｎ型埋め込み層２の間のＮ＋型埋め込み層３とを形成する。また、Ｎ＋型埋め込み層３の端部と一体となり、前記Ｐ型半導体基板１上に形成されたＮ型エピタキシャル層５の表面まで延在し、コレクタ電極１５と電気的に接続されたＮ＋型導電層７を形成する。 （もっと読む）

【課題】ＣＭＰ工程でその表面が研削され、平坦化された層間絶縁膜ＩＬ中にドライエッチングによりコンタクトホール２０ａ等を形成する時、素子分離絶縁膜８ａ上に形成された最上層がシリサイド層１２ｂ、下層がポリシリコン層１２ａからなる配線層１２の、該シリサイド層１２ｂがオーバーエッチングにより消失することを防止する。
【解決手段】Ｎ＋型埋め込み層２形成時に生じたシリコン段差に起因してＮ型エピタキシャル層４の表面にも段差が生じる。係る段差の高い部分に形成されたＰ型分離層５の上に素子分離絶縁膜８ａを形成する。該素子分離絶縁膜８ａ上に上層がシリサイド層１２ｂ、下層がポリシリコン層１２ａからなる配線層１２を形成するが、配線層１２を形成する前に該素子分離絶縁膜８ａの薄膜化を行い、配線層１２最上層のシリサイド層１２ｂ表面とＮ＋型ソース層１５等の表面間の段差を、該素子分離絶縁膜８ａの薄膜化する前に比べ小さくする。 （もっと読む）

【課題】本発明は、感度ムラや、シェーディングが抑制された固体撮像装置を提供する。また、その固体撮像装置を用いた電子機器を提供する。
【解決手段】基板１９と、基板１９に形成された画素２と、隣接する画素間を分離する多段素子分離層３１とを有して構成されている。画素２は、入射光に応じた信号電荷を生成、蓄積する受光部１２と、基板１９上に形成された画素電極１４とを有して構成されている。多段素子分離層３１は、複数段の不純物拡散層を有して構成されている。そして、受光部１２を挟んで画素電極１４に対向する領域の基板表面から深さ方向に形成された多段素子分離領域３１は、基板１９の光入射面から０．５μｍ〜１μｍよりも深い領域において、受光部１２から所定の距離Ｗ１だけ離して形成された下段素子分離層２４，２５を有している。 （もっと読む）

【課題】半導体装置の製造方法において、半導体基板に欠陥が入るのを防止すること。
【解決手段】シリコン基板２０に素子分離溝２０ａを形成する工程と、素子分離溝２０ａ内に素子分離絶縁膜２３を形成する工程と、素子分離絶縁膜２３を形成した後、シリコン基板２０に不純物を注入する工程と、不純物を注入した後、素子分離絶縁膜２３とシリコン基板２０のそれぞれの上面に、シリコン基板２０の反りを抑制するカバー膜２６を形成する工程と、カバー膜２６が形成された状態で、シリコン基板２０をアニールする工程とを有する半導体装置の製造方法による。 （もっと読む）

【課題】 抵抗部と分離部の間のリーク電流を抑える技術を提供する。
【解決手段】 半導体装置１００は、半導体基部１０と分離部２０と抵抗部３０と電流補償部４０を備えている。抵抗部３０は、高電位側に接続される高電位側接続部位３０Ｈと、低電位側に接続される低電位側接続部位３０Ｌを有する。分離部２０は、抵抗部３０の高電位側接続部位３０Ｈに隣接する第１部位２０Ｈが高電位側に接続され、抵抗部３０の低電位側接続部位３０Ｌに隣接する第２部位２０Ｌが低電位側に接続される。電流補償部４０は、第１部位２０Ｈと第２部位２０Ｌの間の少なくとも一部に配置されている。電流補償部４０と分離部２０の間の抵抗値は、抵抗部３０と分離部２０の間の抵抗値よりも小さい。 （もっと読む）

【課題】モジュール化された、相互作用しないやり方で、単一の半導体ウェハにともに接近して実装され、十分に分離された、最適化されたトランジスタまたは他のデバイスの任意の集合の作製を可能にする。
【解決手段】
一群の半導体デバイスが、エピタキシャル層を含まない基板に形成される。一実施例では、この一群は、５ＶのＣＭＯＳペア、１２ＶのＣＭＯＳペア、５ＶのＮＰＮ、５ＶのＰＮＰ、いくつかの形状の横型トレンチＭＯＳＦＥＴ、および３０Ｖ横型Ｎ−チャネルＤＭＯＳを含む。これらのデバイスの各々は、横方向かつ縦方向の双方において極めて小型であり、基板の他のすべてのデバイスから十分に分離され得る。 （もっと読む）