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Fターム[5F045DC61]の内容

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【課題】信号遅延の抑制と絶縁性の向上との両立が可能な絶縁膜形成方法及び絶縁膜形成装置を提供する。
【解決手段】
シリコン貫通電極用の貫通孔が形成されたシリコン基板を備える基板Sに絶縁膜を形成するに際し、抵抗加熱ヒータ33Hによって加熱された基板Sを収容する反応室31Sに、酸素ガス及びキャリアガスであるアルゴンガスと混合されたZr(BHを供給する。そして、Zr(BHを上記基板S上で熱酸化することによって、基板Sの表面及び上記貫通孔の内側面にジルコニウム、ホウ素、及び酸素を含む絶縁膜の一つであるZrBO膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】耐圧をより向上することができる化合物半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】化合物半導体装置の一態様には、基板1と、基板1の上方に形成された化合物半導体積層構造8と、基板1と化合物半導体積層構造8との間に形成された非晶質性絶縁膜2と、が設けられている。 (もっと読む)


【課題】比較的低温で成膜しても含有する炭素濃度を多くさせてクリーニング時のエッチングレートを比較的小さくでき、もってクリーニング時の膜厚の制御性を向上させることができる成膜方法を提供する。
【解決手段】被処理体Wが収容されて真空引き可能になされた処理容器4内に、シラン系ガスと窒化ガスと炭化水素ガスとを供給して前記被処理体の表面にSiCN膜よりなる薄膜を形成する成膜方法において、前記シラン系ガスと前記窒化ガスと前記炭化水素ガスとをそれぞれ一定の供給期間でパルス状に供給する供給工程と供給を停止する停止工程とよりなる1サイクルを複数回繰り返し実行してプラズマを用いることなく前記薄膜を形成する。これにより、比較的低温で成膜しても含有する炭素濃度を多くさせてクリーニング時のエッチングレートを比較的小さくでき、もってクリーニング時の膜厚の制御性を向上させる。 (もっと読む)


【課題】発光のブルーシフトが抑制された発光デバイスの製造に好適なIII族窒化物結晶基板、エピ層付III族窒化物結晶基板、ならびに半導体デバイスおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】本III族窒化物結晶基板は、III族窒化物結晶基板1の任意の特定結晶格子面のX線回折条件を満たしながら結晶基板の主表面1sからのX線侵入深さを変化させるX線回折測定から得られる特定結晶格子面の面間隔において、0.3μmのX線侵入深さにおける面間隔d1と5μmのX線侵入深さにおける面間隔d2とから得られる|d1−d2|/d2の値で表される結晶基板の表面層の均一歪みが1.9×10-3以下であり、主表面1sの面方位が、結晶基板の(0001)面または(000−1)面1cから<11−20>方向に10°以上81°以下で傾斜している。 (もっと読む)


【課題】基板の温度制御変動を抑制し、高品質の膜を再現性よく成膜することのできる成膜装置を提供する。
【解決手段】蒸発源12およびプラズマ生成空間と、基板保持部に保持された基板14とをシャッター20で隔てた状態で、蒸発源を加熱し、プラズマ105を生成する。基板サセプタ13に内蔵された加熱源13aにより基板を加熱するとともに、シャッターの基板側の面に配置された輻射熱源により、蒸発源およびプラズマからシャッターに到達している熱量と同等の輻射熱量を供給して基板を加熱する。基板の温度が所定の温度に達した状態で、シャッターを開き、蒸発源からの蒸気をプラズマを通過させて、基板上に堆積させる。これにより、シャッターを開いても基板温度の変動を抑制できる。 (もっと読む)


【課題】 膜中の炭素、水素、窒素、塩素等の不純物濃度が極めて低い絶縁膜を低温で形成する。
【解決手段】 基板を収容した処理容器内に所定元素を含む原料ガスを供給することで、基板上に所定元素含有層を形成する工程と、処理容器内に窒素を含むガスを活性化して供給することで、所定元素含有層を窒化層に変化させる工程と、処理容器内に原料ガスを供給することで、窒化層上に所定元素含有層を形成する工程と、処理容器内に酸素を含むガスを活性化して供給することで、窒化層上に形成された所定元素含有層および窒化層を、酸化層また酸窒化層に変化させる工程と、を1サイクルとして、このサイクルを複数回繰り返すことで、基板上に所定膜厚の酸化膜または酸窒化膜を形成する工程を有する。 (もっと読む)


【課題】ゲート絶縁層とチャネル層との密着性が良好な電界効果型トランジスタを提供する。
【解決手段】基板と、前記基板上に、ゲート電極と、ゲート絶縁層と、チャネル層と、ソース電極と、ドレイン電極と、を有し、前記ゲート絶縁層は酸化ガリウムを含み、前記チャネル層は有機半導体層である、電界効果型トランジスタ。 (もっと読む)


【課題】多孔質絶縁膜における空孔の径を小さくすることができ、かつ多孔質絶縁膜の強度を高くすることができる多孔質絶縁膜の製造方法を提供する。
【解決手段】環状シロキサンを骨格とし側鎖に少なくとも一つの揮発性炭化水素基が結合した環状シロキサン化合物と、シリコン含有化合物とを、プラズマ中に導入し、基板上に絶縁膜を形成する工程と、絶縁膜にエネルギーを加えることにより、絶縁膜を多孔質絶縁膜にする工程とを備える。シリコン含有化合物は、環状シロキサン化合物の骨格、揮発性炭化水素基、及び環状シロキサン化合物と揮発性炭化水素基の結合より低エネルギーで分解する。 (もっと読む)


【課題】基板配列領域における全領域で低WERを確保するとともに、良好なWIWを得る。
【解決手段】炭素が添加された窒化シリコン膜を形成する工程では、処理容器内にシリコンを含むガスを供給して基板上に1原子層から数原子層のシリコン膜を形成する第1工程と、処理容器内に窒素を含むガスを熱で活性化して供給することで、シリコン膜を熱窒化して窒化シリコン膜に改質する第2工程と、処理容器内にシリコンを含むガスを供給して窒化シリコン膜上に1原子層から数原子層のシリコン膜を形成する第3工程と、処理容器内に炭素を含むガスを熱で活性化して供給することで、窒化シリコン膜上に形成された前記シリコン膜または窒化シリコン膜に炭素を添加する第4工程と、を1サイクルとして、このサイクルを少なくとも1回以上行う。 (もっと読む)


【課題】ウィンドウ特性の向上とリテンション特性の向上とを同時に図ることのできる半導体装置及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】シリコン基板110上に、トンネル酸化膜111、チャージトラップ膜112、ブロッキング酸化膜113、ゲート電極114が、下側からこの順で形成された積層構造を有する半導体装置であって、ブロッキング酸化膜113が、チャージトラップ膜112側に設けられた結晶質膜113aと、当該結晶質膜113aの上層に設けられたアモルファス膜113bとを具備している。 (もっと読む)


【課題】 プラズマCVD法によって、電荷蓄積層として利用可能な、トラップが多数存在する窒化珪素膜を製造する方法を提供する。
【解決手段】 複数の孔を有する平面アンテナ31により処理容器1にマイクロ波を導入するプラズマCVD装置100において、処理容器1内の圧力を10Pa以上133.3Pa以下の範囲内に設定し、高周波電源9から、ウエハWを載置する載置台2の電極7にウエハWの面積当り0.009W/cm以上0.64W/cm以下の範囲内の出力密度で高周波電力を供給して、ウエハWにRFバイアスを印加しながら、シリコン含有化合物ガスと窒素ガスを含む成膜ガスを用いてプラズマCVDを行う。 (もっと読む)


【課題】HF系溶液に対するエッチングレートが少ないシリコン窒化膜を形成することが可能な基板処理方法を提供する。
【解決手段】加熱された基板200を収容した処理室201内に、ビスターシャリーブチルアミノシランガスとアンモニアガスとを供給して、CVD法により基板上にシリコン窒化膜304を形成し、シリコン窒化膜が形成された基板を800℃以上の雰囲気で加熱処理する。 (もっと読む)


【課題】 CVD法によりバンドギャップの大きさを制御して窒化珪素膜を製造する。
【解決手段】 複数の孔を有する平面アンテナ31により処理容器1にマイクロ波を導入するプラズマCVD装置100において、0.1Pa以上1333Pa以下の範囲内から選択される一定の処理圧力で、シリコン含有化合物ガスと窒素ガスとの流量比(シリコン含有化合物ガス流量/窒素ガス流量)を0.005以上0.2以下の範囲内から選択してプラズマCVDを行い、膜中に含まれるSi/N比をコントロールしてバンドギャップの大きさが2.5eV以上7eV以下の範囲内の窒化珪素膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】 CVD法により個々の窒化珪素膜のバンドギャップの大きさを変えて窒化珪素膜積層体を製造する。
【解決手段】 複数の孔を有する平面アンテナ31によりチャンバー1にマイクロ波を導入するプラズマCVD装置100を用い、シリコン含有化合物ガスとアンモニアガスとを含む成膜ガスを用い、シリコン含有化合物ガス/アンモニアガス流量比を0.015以上0.2以下の範囲内に設定し、0.1Pa以上1333Pa以下の範囲内から選択される処理圧力でプラズマCVDを行い、バンドギャップの大きさが2.5eV以上7eV以下の範囲内の窒化珪素膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】処理容器内の基板に対向して配置され、前記基板にガスを供給してガス処理を行うにあたり、その内部の流路におけるガスの置換を高速で行うことができるガス供給装置を提供すること。
【解決手段】縮径端側から拡径端側にガスを通流させるための概ね円錐形状のガス通流空間を形成する本体部と、前記ガス通流空間の縮径端側に設けられ、当該ガス通流空間にガスを導入するためのガス導入ポートと、前記ガス通流空間を、外側に向かうにつれて末広がりの程度が大きくなるように同心円状に区画するための区画部材と、を備えるようにガス供給装置を構成することで従来のガスシャワーヘッドに比べてガス供給装置内部のガス流路におけるコンダクタンスを大きくして、そのガス流路におけるガスの置換性を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】α-アルミナを含むアルミナ膜の成膜温度の低温化を図ることができるアルミナ膜の成膜方法、成膜装置及び前記成膜方法を実施するプログラムを格納した記憶媒体を提供する。
【解決手段】
処理容器2内に被処理体であるウエハWを載置した後、アルミニウムのβ-ジケトン錯体を含む原料ガス及び酸素ガス等の酸化ガスを導入して、その処理容器2内の処理雰囲気の温度を200℃以上、1,000℃以下の温度範囲に加熱することによりウエハW表面にα-アルミナを含むアルミナ膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】目詰まりなどを起こすことがなく長期使用が可能であり、かつ、反応部への安定的な原料供給が可能な気化器を提供する。
【解決手段】分散部本体1の内部に形成されたガス通路2と、ガス通路2に加圧されたキャリアガス3を導入するガス導入口4と、ガス通路2を通過するキャリアガスに原料溶液を供給するための手段6と、分散された原料溶液を含むキャリアガスを気化部22に送るためのガス出口7と、ガス通路2内を流れるを冷却する手段18と、を有する分散部8と、装置の反応部と分散部8のガス出口7に接続された気化管20と、気化管20を加熱するヒータ21と、を有し、原料溶液が分散されたキャリアガスを加熱・気化させる気化部22と、を有し、ガス出口7の外側に細孔101を有する輻射防止部102を設けてある。 (もっと読む)


【課題】ウエハに形成する薄膜の膜質のバラツキを防止できる気相成長装置を提供すること。
【解決手段】プラズマCVD装置は、真空室1内に、材料ガスを吐出する吐出口2aが設けられた上部電極2と、ウエハ5が載置される下部電極4と、この下部電極4を支持する支持アーム11と、下部電極4及び支持アーム11の下方に配置された加熱ランプ7とを備える。下部電極4は、電極が内蔵された電極板4aと嵌合部4bを有し、電極板4aの端面にウエハ5の載置面4cが形成されている一方、嵌合部4bの端面に受熱面4dが形成されている。支持アーム11は、下部電極の電極板4aの縁部を支持する支持部11aと、下部電極の嵌合部4bが嵌合する開口12を有する。加熱ランプ7からの熱光線が、支持アーム11の開口12を通って下部電極の受熱面4dの全面に照射されて、下部電極の載置面4c上のウエハ5の温度が面内において均一に加熱される。 (もっと読む)


【課題】粉体状のターゲット材料を用いたスパッタ法において、長時間の連続稼動によっても、常に一定で安定した膜厚および成膜レートを得ることが可能な成膜装置および成膜方法を提供すること。
【解決手段】真空を維持することが可能な真空槽と、真空槽内にあり基板を載置する基板保持台と、基板保持台と対向して設置され、粉状のターゲット材料を保持する容器を載置し、かつ、基板保持台に対向する面の中心軸を中心に回転するカソードと、カソードに電圧を印加する電源と、真空槽内にガスを供給しつつ排気するガス供排気手段からなる成膜装置において、基板保持台とカソードとの間には開口部を有してアースシールドが配置され、アースシールドのカソード側の表面の一部には、粉状のターゲット材料を攪拌する攪拌手段が設けられたこと。 (もっと読む)


【課題】 スピンコート方法、低誘電率絶縁膜、及び、半導体装置に関し、簡単な装置構成によって、機械的強度、比誘電率、或いは、膜密着性に優れた絶縁膜を成膜する。
【解決手段】 スピンコート中に、スピンコート材料3と反応する気相材料4をスピンコータカップ1内に導入する。 (もっと読む)


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