説明

Fターム[5F049PA20]の内容

受光素子−フォトダイオード・Tr (21,418) | 製造方法(工程) (2,065) | その他製造方法に関する事項 (144)

Fターム[5F049PA20]に分類される特許

81 - 100 / 144


【課題】製造工程で生じる基板のグローバル段差を抑制し、ホトエッチングの露光工程における焦点ずれによるパターン不良の発生を防止する
【解決手段】配線部11及び受光素子部12を有する基板10を用いる。先ず、工程1において、配線部11上に配線パターン14−1aを作成する。工程2において、被研磨膜20−1を積層し、工程3において、堆積した被研磨膜20−1をCMPによって平坦化処理する。次に、工程4において、平坦化された被研磨面20−1a,20−1bにおいて、配線パターン14−1a上に複数のホールを形成し、これらのホールを導電体22−1で埋める。以下、工程1〜4をn回繰り返すことで、n層配線を積層するが、途中のx回目(1≦x≦n)で、受光素子13の全面を覆うダミーパターン(例えば、メタルパターン)23を形成する。その後、メタルパターン23箇所をエッチングにより除去して、受光素子13を露出する。 (もっと読む)


【課題】量子ドット内の伝導帯量子準位に充分な数の電子を価電子帯からの励起によって供給することにより、光の検知性能を向上させる。
【解決手段】量子ドットからなる層を複数積層した量子ドット積層構造と、p型電極層、n型電極層、および前記p型電極層とn型電極層との間に挟み込まれた量子井戸構造を有する半導体素子と、を備えることを特徴とする赤外線検知であり、半導体素子が量子ドット積層構造に接する位置に形成されている。 (もっと読む)


【課題】情報が記載された面が平面ではない場合であっても情報を精細に読み取る。
【解決手段】ステンレス箔23の表面にTiO2皮膜22が形成されてなる基板20上にフォトセンサ51と薄膜トランジスタ52とからなる複数のセルが配列され、フォトセンサ51がシリコン層73及びシリコン酸化膜74の積層体に電極71,72が形成されてなるとともに、薄膜トランジスタ52がシリコン層64及びシリコン酸化膜65の積層体にゲート電極61及びドレイン/ソース電極62,63が形成されてなり、フォトセンサ51と薄膜トランジスタ52とがセル毎に互いに積層されている。 (もっと読む)


【課題】簡便かつ廉価な構成で光の強度分布を測定する機能を持ち、計測波長帯の選択性を持った光検出器を提供する。
【解決手段】増感色素が塗布された透明半導体電極部11と対向電極部12と、両者に挟まれたバッファ層13とからなる透過型光検出器で、対向電極部または透明半導体電極部が複数の電極セルに分割されて構成される。この光検出器によれば、増感色素で吸収される波長帯の光の一部を用いて、光電変換を行い、波長選択性を持った光検出器をコンパクトな構成で実現することができる。 (もっと読む)


【課題】増倍率(M)=1で平坦性の良い光感度特性を示す埋込みメサ型受光素子を有する受信器の製造方法を提供する。
【解決手段】埋込みメサ型構造を有するアバランシェフォトダイオード(APD)からなる受光素子は、基板101上に形成された第1メサ109の周囲の埋込み層が低抵抗の第1埋込み層110aとその上部に形成された高抵抗の第2埋込み層110bとで構成されている。これにより、増倍開始前の低電圧領域において、第1メサ109の近傍に形成された第1埋込み層110a内をホットキャリアが流れるので、光電流−電圧特性に増倍率(M)=1の平坦部が現れるようになり、かつ保護膜113と第2埋込み層110bとの界面に電流のリークバスが形成され難くなる。 (もっと読む)


【課題】 この発明は、表面の劣化が少なく、かつ、低抵抗のp型III族窒化物半導体を製造することの可能なIII族窒化物半導体の製造方法およびIII族窒化物半導体および半導体装置を提供することを特徴とする。
【解決手段】 p型不純物と水素の両方を少なくとも含むIII族窒化物結晶32を結晶成長させて冷却した後に、前記III族窒化物結晶32の上に、所定の積層構造33を形成することによって、前記III族窒化物結晶をp型III族窒化物半導体として製造する。 (もっと読む)


【課題】グループ内の低次元構造体の数、グループのアスペクト比を、より正確にコントロールすることができる。
【解決手段】低次元構造体(1)の第1のグループ(3a)と低次元構造体(1)の第2のグループ(3b)とを第1の基板に形成する工程を含む低次元構造体のカプセル化方法。低次元構造体(1)の第1のグループ(3a)と低次元構造体(1)の第2のグループ(3b)とはマトリックス(5)に別々にカプセル化される。カプセル化後、低次元構造体(1)の第1のグループ(3a)と低次元構造体(1)の第2のグループ(3b)とを分離してもよい。各グループは、その後、例えば第2の基板(7)に移動するなどの処理が行われる。グループ内の低次元構造体の数、グループのアスペクト比は、低次元構造体が形成される際に決定され、パターニング法を使って決定されていた従来の方法に比べて、より正確にコントロールすることができる。 (もっと読む)


フォトダイオードアレイの製造方法は、互いに反対向きの第1および第2主表面を有する半導体基板を用意することを含む。半導体基板は、第1主表面側の第1導電率の第1層と、第2主表面側の第2導電率の第2層を持つ。第1主表面に対する第1深さ位置へ延びるビアを基板に形成する。ビアは第1アスペクト比を持つ。ビアの形成と大体同時に、ビアから間隔をおいて、第1主表面に対する第2深さ位置へ延びる分離溝を基板に形成する。分離溝は第1アスペクト比と異なる第2アスペクト比を持つ。
(もっと読む)


【課題】有機光電変換素子をバイアス一定状態で動作させ、発生した光電流を駆動回路で蓄積することで、高SN比、優れたリニアリティ特性で情報を読取ることが出来る信頼性に優れたイメージセンサを提供すること。
【解決手段】有機化合物層で形成された有機光電変換層7がITO陽極6とアルミ陰極8の間に狭持された光電変換素子3と、光電変換素子3で生成された信号電荷を検知する検知手段および検知手段で検知した信号電荷を読み出す信号電荷読出手段を有する駆動回路を搭載したICチップ4と、を基板上に備えるイメージセンサであって、検知手段は、光電変換素子3のITO陽極6とアルミ陰極8との電位差を所定の値になるように保ち、光電変換素子3から生成される信号電荷を蓄積して検知する回路からなる。 (もっと読む)


【課題】
受光部の上部構造層で生じる膜厚差に起因して、開口部の底面が平坦にならず、受光部面内での入射光量の不均一が生じる。
【解決手段】
第1金属層間を、ダマシン法、もしくは、第1金属層を形成した後に積層する絶縁膜をCMPにより研磨することで平坦な層を形成する。これにより、受光部に積層される絶縁膜も平坦に形成される。したがって、受光部の内部をエッチングにより開口する場合、開口部の底面を平坦に形成することができる。 (もっと読む)


【課題】外部環境に対しより安定した光検出機能を有する半導体装置を得ることを課題とする。
【解決手段】第1のフォトダイオードと、遮光された第2のフォトダイオードと、ボルテージフォロワ回路を含む第1の回路群と、第2の回路群と、補正用回路とを有し、第1のフォトダイオードの出力は第1の回路群のボルテージフォロワ回路に入力され、第1の回路群の出力は補正用回路に入力され、第2のフォトダイオードの出力は第2の回路を介して補正用回路に入力される。これら入力を補正用回路にて加算及び減算、もしくはそのいずれか一方を行うことで、第1のフォトダイオードにおける温度に起因した出力変動を除去する。なお、第1のフォトダイオードには開放電圧が出力されるよう基準電位が供給され、第2のフォトダイオードには順方向のバイアスが印加されるよう電位が供給されている。 (もっと読む)


予備形成した任意形状のナノ結晶を、非結晶で非炭化水素のバリア層の上または中に挿入することに基づいた材料構造が提示される。該構造の実施形態は、種々のバリア層およびコンタクトを含み、これらは層状にできる。該構造を、検出器またはソーラーセルとして用いた場合、吸収プロセスの際にナノ結晶内で生成された電荷キャリアの輸送が、量子力学的トンネル現象、熱イオン放射または電子コンタクトへの拡散により発生する。こうした構造の一実施形態は、光電池デバイスであり、異なるコンタクト材料およびバリア層を用いてビルトイン(built-in)バイアスが確立される。該構造は、変調器または発光器(emitter)としても使用可能である。本発明は、積層され、隣接コンタクト領域を共有する多くの構造で構成してもよく、個々の層は、特定の周波数または周波数群の光を吸収、放射または変調するように同調している。 (もっと読む)


本発明は、光検出器及びCMOS撮像装置に使用する高速かつ高効率のPINダイオードを提供するものである。PINダイオードは、2つのシリコン酸化物のトンネル障壁層の間に配置された、真性Ge又は真性GeSiなどの真性半導体材料の層を含む。2つのトンネル障壁層は、それら自体がn型シリコンの層とp型シリコンの層との間に配置される。 (もっと読む)


【課題】光電変換層のエッチングを段階的に行うことで、端部の側面が異なるテーパ角を有する光電変換素子を提供する。
【解決手段】pin型の光電変換素子はpn型と比べて応答速度が高速であるが、暗電流が大きいという欠点がある。この暗電流の一因は、エッチングで発生したエッチング残渣が光電変換層の端部の側面に堆積し、このエッチング残渣を介して導通することによるものだと考えられる。そこで、従来は単一面のテーパ形状であった端部の側面を二段階のテーパ形状にし、光電変換層のp層の端部の側面とn層の端部の側面が同一面上に存在しない構成とすることで、光電変換素子のリーク電流を低減する。 (もっと読む)


【課題】光感度を向上した、速い応答時間の薄膜トランジスタを提供する。
【解決手段】光による照射に対して感光性を有する薄膜トランジスタ(TFT)であって、光による照射はトランジスタの特性を高め、かつトランジスタ状態のパラメータを制御する。トランジスタは、絶縁基板と、ソース電極と、ドレイン電極と、トランジスタのチャネルを形成する第1の半導体材料と、ゲート電極と、ゲート電極および半導体層の間の絶縁層を含む。第2の半導体材料が、半導体層ならびにソース電極およびドレイン電極の少なくとも一つの間に電気的に接続されて配置される。第2の半導体材料は光導電性である。 (もっと読む)


アバランシェフォトダイオードが、高品質電気光学的活性基板と、活性基板に接着されたハンドル基板と、アバランシェ電流利得を生成するための高電界領域を含む、高品質電気光学的活性基板内に形成されたアバランシェフォトダイオード活性エリアとを含む。活性基板に接着されたハンドルウェハを使用することにより、本発明のアバランシェフォトダイオードは、所望の電気特性を減少させることなしに、より厚さおよび強度がある。
(もっと読む)


【課題】感度低下及び分光感度のブロード化を防ぐことが可能な光電変換素子を提供する。
【解決手段】第一電極膜11と、第一電極膜11に対向する第二電極膜13と、第一電極膜11と第二電極膜13の間に配置される正孔輸送性光電変換材料と電子輸送性光電変換材料とを含んでなり、該正孔輸送性光電変換材料と該電子輸送性光電変換材料の光吸収の極大波長の差及び/又は長波長端の差が50nm以下である光電変換膜を含む光電変換層12とからなる光電変換部を有する光電変換素子であって、第二電極膜13上方から該光電変換膜に光が入射されるものであり、該光電変換膜は、第二電極膜13上方からの入射光に応じて電子と正孔を発生し、且つ、正孔の移動度よりも電子の移動度が小さい特性を持ち、且つ、第一電極膜11近傍よりも第二電極膜13近傍の方が電子と正孔をより多く発生するものであり、第一電極膜11を正孔の取り出し用の電極とした。 (もっと読む)


【課題】 製造コストを低減させることが可能になるとともに、製造過程において、配線部の上面に導電性の汚れなどが付着しても、フォトダイオードの容量を増加させず、その感度が低下するのを防ぐ。
【解決手段】 画素領域11内の第1導電型の第1半導体領域10aと、この第1半導体領域10a内に設けられ、信号電荷を蓄積する第2導電型の第2半導体領域12と、この第2半導体領域12、および画素領域11の外部に設けられた回路素子を接続する配線部13、14と、この配線部13、14において画素領域11内に位置する部分の上に、絶縁保護膜15を介して設けられ所定の電位に保持される有機膜16とを有する光電変換装置10であって、有機膜16は、導電性の粒子若しくは繊維を含む熱可塑性のポリイミド樹脂により形成されている。 (もっと読む)


【課題】検出可能な赤外線の帯域が広い量子ドット型光半導体装置及びその製造方法を提供することである。
【解決手段】GaAs半導体基板51の上に、バッファ層52、下部電極層53、第1の赤外線吸収層54a、第2の赤外線吸収層54b及び上部電極層55を形成する。第1及び第2の赤外線吸収層54a,54bはいずれも量子ドットと、量子ドットを覆うキャップ層と、量子ドットにより導入された歪みを回復させる中間層とを複数積層して形成されている。第1及び第2の赤外線吸収層54a,54bの量子ドットはいずれもInAsにより形成されており、中間層はいずれもAl0.5Ga0.5Asにより形成されている。また、第1の赤外線吸収層54aのキャップ層はAl0.15Ga0.85Asにより形成され、第2の赤外線吸収層54bのキャップ層はAl0.2Ga0.8Asにより形成されている。 (もっと読む)


【課題】製造歩留まりを向上させることができる薄型光素子及びその製造方法、デバイス製造方法、並びに当該製造方法を用いて製造されたデバイスを備える電子機器を提供する。
【解決手段】薄型光素子10は、半導体層11と半導体層11上に形成された一対の電極12,13とを備え、半導体層11の電極12,13が形成された面とは反対側の面を受光面11aとしている。この薄型光素子10は、半導体層11及び電極12,13の上部を覆うよう形成された強度付与層14と、強度付与層14上に形成された一対の接続電極15,16とを備えており、これら一対の電極12,13と一対の接続電極15,16とは、強度付与層14に形成されたスルーホール17,18を介してそれぞれ接続されている。 (もっと読む)


81 - 100 / 144