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Fターム[5F053DD02]の内容

半導体装置を構成する物質の液相成長 (5,002) | 成長物質 (682) | SiC (40)

Fターム[5F053DD02]に分類される特許

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【課題】固着、熱歪、転位の発生を抑制して、高品質で均一な単結晶炭化珪素エピタキシャル膜を形成する技術を提供する。
【解決手段】カーボン原料または単結晶炭化珪素基板の片面にシリコン薄膜を形成する工程、カーボン原料と単結晶炭化珪素基板との間にシリコン薄膜が配置されて所定の式を満たすように、坩堝内に下からシリコン基板、支持台、単結晶炭化珪素基板を積層して配置すると共に、坩堝蓋側からカーボン原料支持台、カーボン原料を接合して配置する工程、坩堝蓋をかぶせた坩堝をシリコンの融点温度以上に加熱してシリコン基板およびシリコン薄膜を融解させると共に坩堝蓋を坩堝の内壁高さまで下降させる工程、単結晶炭化珪素エピタキシャル膜の成長温度以上に加熱してシリコン融液の表面張力により懸垂保持された単結晶炭化珪素基板上に単結晶炭化珪素エピタキシャル膜を形成させる工程を備えている単結晶炭化珪素基板の製造方法。 (もっと読む)


【課題】単結晶炭化ケイ素の液相エピタキシャル成長に要するコストを低減する。
【解決手段】フィード材11は、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層のX線回折により、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、(111)結晶面に対応した回折ピークと、(111)結晶面に対応した回折ピーク以外の回折ピークとが観察されるものである。シード材12は、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層のX線回折により、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、(111)結晶面に対応した1次回折ピークが観察され、(111)結晶面に対応した1次回折ピークの回折強度の10%以上の回折強度を有する他の1次回折ピークが観察されないものである。 (もっと読む)


【課題】単結晶炭化ケイ素の液相エピタキシャル成長に要するコストを低減する。
【解決手段】フィード材11及びシード材12のそれぞれは、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層を有する。フィード材11及びシード材12のそれぞれにおいて、表層の励起波長を532nmとするラマン分光解析によって、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素に由来のL0ピークが観察される。L0ピークの972cm−1からのシフト量の絶対値は、フィード材11の方がシード材12よりも小さい。 (もっと読む)


【課題】安価な単結晶炭化ケイ素液相エピタキシャル成長用シード材を提供する。
【解決手段】単結晶炭化ケイ素液相エピタキシャル成長用シード材12は、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層を有する。表層のX線回折により、(111)結晶面に対応した回折ピークが観察される。表層のX線回折により観察される(111)結晶面のうち、配向角度が67.5°以上であるものの占める割合が80%以上である。 (もっと読む)


【課題】安価な単結晶炭化ケイ素液相エピタキシャル成長用シード材を提供する。
【解決手段】単結晶炭化ケイ素液相エピタキシャル成長用シード材12は、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層を有する。表層の励起波長を532nmとするラマン分光解析によって、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素に由来のL0ピークが観察される。L0ピークの972cm−1からのシフト量の絶対値が4cm−1以上である。 (もっと読む)


【課題】単結晶炭化ケイ素の液相エピタキシャル成長に要するコストの低減が可能な単結晶炭化ケイ素の液相エピタキシャル成長用のシード材とフィード材のユニットを提供する。
【解決手段】フィード材11及びシード材12のそれぞれは、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層を有する。フィード材11及びシード材12のそれぞれの表層のX線回折により、(111)結晶面、(200)結晶面、(220)結晶面及び(311)結晶面の少なくとも一つに対応した1次回折ピークが観察される。フィード材11の少なくとも一つの1次回折ピークから算出される平均結晶子径が、シード材12の少なくとも一つの1次回折ピークから算出される平均結晶子径よりも小さい。 (もっと読む)


【課題】安価な炭化ケイ素液相エピタキシャル成長用シード材を提供する。
【解決手段】単結晶炭化ケイ素液相エピタキシャル成長用シード材12は、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層を有する。表層のX線回折により、(111)結晶面、(200)結晶面、(220)結晶面及び(311)結晶面の少なくとも一つに対応した1次回折ピークが観察される。少なくとも一つの1次回折ピークから算出される平均結晶子径が、700Åより大きい。 (もっと読む)


【課題】炭化ケイ素エピタキシャル成長速度を高くできる単結晶炭化ケイ素エピタキシャル成長用フィード材を提供する。
【解決手段】単結晶炭化ケイ素エピタキシャル成長用フィード材11は、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層を有する。表層のX線回折により、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、(111)結晶面に対応した回折ピークと、(111)結晶面に対応した回折ピーク以外の回折ピークとが観察される。 (もっと読む)


【課題】単結晶炭化ケイ素エピタキシャル成長速度を高くできる単結晶炭化ケイ素エピタキシャル成長用フィード材を提供する。
【解決手段】単結晶炭化ケイ素エピタキシャル成長用フィード材11は、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層を有する。表層の、励起波長を532nmとするラマン分光解析によって、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素に由来のL0ピークが観察され、L0ピークの972cm−1からのシフト量の絶対値が4cm−1未満である。 (もっと読む)


【課題】安価な炭化ケイ素液相エピタキシャル成長用シード材を提供する。
【解決手段】単結晶炭化ケイ素液相エピタキシャル成長用シード材12は、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層を有する。表層の励起波長を532nmとするラマン分光解析によって、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素に由来のピークとして、T0ピーク及びL0ピーク以外のピークが観察される。 (もっと読む)


【課題】炭化ケイ素エピタキシャル成長速度を高くできる単結晶炭化ケイ素エピタキシャル成長用フィード材を提供する。
【解決手段】単結晶炭化ケイ素エピタキシャル成長用フィード材11は、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層を有する。表層のX線回折により、(111)結晶面、(200)結晶面、(220)結晶面及び(311)結晶面の少なくとも一つに対応した1次回折ピークが観察される。少なくとも一つの1次回折ピークから算出される平均結晶子径が、700Å以下である。 (もっと読む)


【課題】溶液内のC溶解度を高めてSiC単結晶の成長速度を向上させると共に、単結晶の成長に伴うSiC成分の消費等による溶液の組成変動を抑制し、単結晶成長のための条件を安定させることができるSiC単結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】黒鉛るつぼ10内の底部にSiC種結晶20を設置すると共に、るつぼ10内にSiとCとX(XはSc及びYを除く遷移金属、Al、Ge及びSnから選ばれる1種以上)を含む溶液30を存在させ、溶液30を過冷却させて種結晶20上にSiC単結晶を成長させると共に、SiC単結晶を成長させながら黒鉛るつぼ10の上部から溶液30に粉末状もしくは粒状のSi及び/又はSiC原料41を添加する。 (もっと読む)


【課題】MSE法を用いて、不純物濃度の面内分布のバラツキが充分に抑制されたSiCエピタキシャル膜を作製することができるSiC半導体薄膜の作製方法および作製装置を提供する。
【解決手段】準安定溶媒エピタキシャル法により、SiC半導体薄膜を作製するSiC半導体薄膜の作製方法であって、基板設置治具上に、複数の底面スペーサを所定の間隔を設けて配置し、底面スペーサ上に、炭素原子供給基板、複数の上部スペーサ、Si板および単結晶SiC種基板を、順に積み重ね、その後、Siの融点よりも高い所定の温度まで昇温して、単結晶SiC種基板上に、単結晶SiC膜をエピタキシャル成長させて、SiC半導体薄膜を作製するSiC半導体薄膜の作製方法および作製装置。 (もっと読む)


【課題】炭化珪素基板を用いた半導体装置の製造コストの低減を実現可能な炭化珪素基板の製造方法、半導体装置の製造方法、炭化珪素基板および半導体装置を提供する。
【解決手段】炭化珪素基板1の製造方法は、炭化珪素からなるベース基板10および単結晶炭化珪素からなるSiC基板20を準備する工程と、ベース基板10の主面10A上に接触するようにSiC基板20を載置して、積層基板を作製する工程と、積層基板を、SiC基板20よりもベース基板10の温度が高くなるように加熱することにより、ベース基板10とSiC基板20とを接合する工程と、SiC基板20が接合されたベース基板10の、SiC基板20とは反対側の主面10B上にエピタキシャル成長層30を形成する工程とを備えている。 (もっと読む)


【課題】炭化珪素基板中を貫通して流体が漏出することを防止することができる炭化珪素基板の製造方法を提供する。
【解決手段】炭化珪素から作られた第1および第2の被支持部11、12の各々と、炭化珪素から作られた支持部30とが互いに対向し、かつ第1および第2の被支持部11、12の間に隙間GPが設けられるように、第1および第2の被支持部11、12、および支持部30が配置される。支持部30の炭化珪素を昇華および再結晶させることで、第1および第2の単結晶基板11、12の各々に支持部30が接合される。この際、隙間GPにつながるように支持部30に貫通孔THが形成されることで、隙間GPおよび貫通孔THを通って流体が通過し得る経路PTが形成される。この経路PTを塞ぐことで、炭化珪素基板中を貫通して流体が漏出することを防ぐことが可能となる。 (もっと読む)


【課題】溶液法によって安定した品質のSiCを長時間製造し得るSiC単結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】溶液法により、SiCとCと前記2成分以外の溶液成分を含む原料溶液3からSiC種結晶基板9上にSiC単結晶を成長させる方法であって、SIC成長開始前にはCを溶解させる工程を有し、SIC成長開始後にはSiCを補給する工程を有する。ここで、SiCを補給する工程は、溶液3内であってSiC種結晶基板9の支持棒5と黒鉛坩堝2との間に設けたSiC製の遮蔽壁4から補給する工程である。 (もっと読む)


【課題】低い格子欠陥密度で良質なSiC単結晶を、高い成長速度で、かつ長時間安定して成長させることのできるSiC単結晶製造方法を提供する。
【解決手段】SiC単結晶基板15とSiを含む原料を加熱かつ融解して得られた融液層16とを接触させることによって、基板15上にSiC単結晶を成長させるSiC単結晶製造方法において、大気圧下または加圧下で、基板15との接触部とは反対側の融液層16の表面16b側から、Siを含む分子とCを含む分子とを含むプラズマ17を供給し、かつ融液層16の基板15との接触部における温度を融液層16の表面16bにおける温度より低くする。 (もっと読む)


【課題】発光デバイスや電子デバイス用基板として好適な平坦性の高い高品質のSiC単結晶基板の製造を安定して行うことを可能にする技術を提供する。
【解決手段】SiまたはSiと他の金属との合金からなる融液にCが溶解している原料溶液5に結晶成長用基板1を浸漬し、少なくとも基板1の近傍の溶液5を過飽和状態とすることによって基板1上にSiC単結晶を成長させるSiC単結晶の製造方法において、(1)融液の材料が少なくとも1種の酸化物を含む、(2)酸素を含む不活性ガス雰囲気下で結晶成長を行う、および(3)酸素を含む不活性ガスを原料溶液に吹き込みながら結晶成長を行う、の少なくとも1つに手法によって、原料溶液5中に酸素を含有させながら、SiC単結晶を成長させる。 (もっと読む)


【課題】基板表面が分子レベルで平坦化された単結晶SiC基板を提供する。
【解決手段】炭素ゲッター効果を有する嵌合容器に単結晶4H−SiC又は単結晶6H−SiCからなる単結晶SiC基板5を収容し、前記嵌合容器の内部をシリコンの飽和蒸気圧下かつ高温真空下とし、更に、前記嵌合容器の内部圧力が外部圧力よりも高くなる状態を維持しながら1500℃以上2200℃以下で加熱制御する。これによって、当該単結晶SiC基板5の表面が、単結晶SiC基板を構成するSiC分子の積層方向の1周期分であるフルユニットの高さ又は半周期分であるハーフユニットの高さからなるステップで終端し、分子レベルで平坦化される。前記方法で製造した単結晶SiC基板と炭素供給フィード基板とを対向配置し、その間にシリコンの極薄融液層を介在させつつ加熱することで、準安定溶媒エピタキシー法によって単結晶4H−SiCを液相エピタキシャル成長させる。 (もっと読む)


【課題】雑晶の発生を抑止し、良質な2H炭化珪素単結晶を製造する方法を提供する。
【解決手段】圧力容器内において、珪素が溶解したリチウムフラックス23に炭化珪素単結晶基板25を接触させる工程と、前記圧力容器内にメタン26を導入し、前記リチウムフラックス23に前記メタン26を接触させることにより、前記リチウムフラックス23から前記単結晶基板25上に2H炭化珪素単結晶27を成長させる工程とを包含する炭化珪素単結晶の製造方法。 (もっと読む)


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