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Fターム[5F092BE21]の内容

ホール/MR素子 (37,442) | 各素子に共通の特徴 (1,980) | 結晶配向 (293)

Fターム[5F092BE21]に分類される特許

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【課題】MTJ素子に適用して、抵抗変化率dR/Rを大きくできると共に面積抵抗RAを小さくすることが可能なトンネルバリア層およびその製造方法を提供する。
【解決手段】ピンド層24上にDCスパッタリング法により厚み1.0〜1.3nmの第1マグネシウム(Mg)層を形成したのち、この第1マグネシウム層をラジカル酸化により酸化して第1酸化マグネシウム(MgO)層31を形成する。更に、磁場中でアニールすることにより第1酸化マグネシウム層31に(001)結晶配向性を持たせる。続いて、この第1酸化マグネシウム層31上に0.3〜0.5nmの第2マグネシウム(Mg)層を形成したのち、この第2マグネシウム層を自然酸化させて第2酸化マグネシウム(MgO)層32を形成する。 (もっと読む)


【課題】信頼性の向上が図られた磁気抵抗効果素子およびその製造方法を提供する。
【解決手段】第1の磁性層14、スペーサ層16、およびイオン、プラズマ、または熱で処理される被処理層を有する第2の磁性層18を順に形成する。第2の磁性層をイオン等で応力調整処理することで電流狭窄部での膜残留応力を低下させ、磁気抵抗効果素子の信頼性の向上を図る。 (もっと読む)


【課題】 特に、積層フェリ構造を構成する非磁性中間層の膜厚を特に変更することなく、飽和磁界(Hs)、スピンフロップ磁界(Hsf)及び及び反強磁性結合エネルギー(J)を適切な範囲内に収めることができ、さらに耐熱性にも優れる磁気検出素子を提供することを目的としている。
【解決手段】 非磁性中間層4bは下からRu層11、Rh層12、及びRu層13の順に積層形成されている。これにより、前記非磁性中間層4bの膜厚を特に変更することなく(従来から一般的に用いられている膜厚範囲内で調整しても)、飽和磁界(Hs)、スピンフロップ磁界(Hsf)及び反強磁性結合エネルギー(J)を、前記非磁性中間層4bをRhだけで形成した場合に比べて適度に弱めることが出来る。 (もっと読む)


【目的】 特に従来に比べてシード層の膜厚を薄くしても高い抵抗変化率(ΔR/R)を得ることが可能な磁気検出素子を提供することを目的としている。
【構成】 シード層24は、NiFeCr層27上にCo層28を積層した構造で形成される。これにより前記シード層24の膜厚H1を従来より薄くしてもシード効果が適切に発揮され、高い抵抗変化率(ΔR/R)を得ることができる。前記シード層24の膜厚を薄く出来ることで再生出力の向上を図ることができ、さらにシールド間隔を狭く出来るため線記録密度を向上させることが可能になる。 (もっと読む)


【課題】磁気抵抗効果素子を含むメモリセルのサイズを縮小する。
【解決手段】磁気記憶装置の製造方法は、コンタクトプラグ13および第1の絶縁層11上に、磁気抵抗効果素子10を形成する工程と、上部電極層16上に、第1の方向に延在する第1のマスク層18を形成する工程と、上部電極層16を第1のマスク層18を用いてエッチングする工程と、上部電極層16および非磁性層15上に保護膜20を形成する工程と、保護膜20上に第2のマスク層21を形成する工程と、第2の方向に延在するように、第2のマスク層21上にレジスト層22を形成する工程と、第2のマスク層21をレジスト層22を用いてエッチングし、上部電極層16の側部に側壁部21Aを形成する工程と、非磁性層15および下部電極層14を、第2のマスク層21および側壁部21Aを用いてエッチングする工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】メモリセルを微細化してもビット情報の高い熱擾乱耐性を保ち、大容量化を実現する。
【解決手段】磁気抵抗効果素子は、膜面に対して垂直方向に向く第1の磁化22を有する固定層12と、膜面に対して垂直方向に向く第2の磁化21を有し、スピン偏極電子の作用により第2の磁化21の方向が反転可能な記録層11と、固定層12と記録層11との間に設けられ、固定層12に対向する第1の面と記録層11に対向する第2の面とを有する非磁性層13とを具備し、記録層11の飽和磁化Msは、書き込み電流密度をJw、記録層11の膜厚をt、定数をAとするとき、0≦Ms<√{Jw/(6πAt)}の関係を満たし、Aはg’×e・α/(h/2π×g)、g’はg係数、eは電気素量、αはギルバートのダンピング定数、hはプランク定数、gは第1及び第2の磁化21,22が平行に配列しているときのスピントランスファーの効率である。 (もっと読む)


【課題】高出力でかつ磁界を検知する感度が良好な磁気抵抗効果素子、これを用いた磁気ヘッド、磁気記憶装置、および磁気メモリ装置を提供する。
【解決手段】第1例のGMR膜30は、下地層31、反強磁性層32、固定磁化積層体33、非磁性金属層37、自由磁化層38、保護層39が順次積層された構成からなる。自由磁化層はCoFeAlからなり、CoFeAlの組成を、三元系の組成図において、各組成の座標を(Co含有量,Fe含有量,Al含有量)として表すと、点A(55,10,35)、点B(50,15,35)、点C(50,20,30)、点D(55,25,20)、点E(60,25,15)、点F(70,15,15)として、点A、点B、点C、点D、点E、点F、および点Aをこの順にそれぞれ直線で結んだ領域ABCDEFA内の組成から選択する。 (もっと読む)


【課題】より高い信号検出感度を維持しつつ、エレクトロマイグレーションの発生を抑制することのできるスピンバルブ構造を提供する。
【解決手段】ピンド層20は、フリー層27の側から第1強磁性層18と結合層17と第2強磁性層16とが順に積層されたシンセティック構造を有するものである。第2強磁性層16は、面心立方構造を有するCoFeからなる第1および第2の強磁性膜13,15と、それらに挟まれた、Fe50 Co50 やFe70 Co30 などからなる中間膜14とを有する。第1および第2の強磁性膜13,15における他の層との界面は(111)面となっており、中間膜14からの鉄原子やコバルト原子などの拡散が抑制される。 (もっと読む)


【課題】高速かつ消費電力が極めて小さい不揮発性メモリを提供する。
【解決手段】不揮発性磁気メモリに、高出力なトンネル磁気抵抗効果素子を装備し、スピントランスファートルクによる書込み方式を適用する。トンネル磁気抵抗効果素子1は、CoとFeとBを含有する体心立方構造の強磁性膜304と、(100)配向した岩塩構造のMgO絶縁膜305と、強磁性膜306とを積層した構造を有する。 (もっと読む)


【課題】種々の用途に使用できる導電制御デバイスを提供すること。
【解決手段】導電制御デバイスは、比較的大きい飽和保磁力を有する第1強磁性領域(6)と、比較的小さい飽和保磁力を有する第2強磁性領域(8)と、第1強磁性領域と第2強磁性領域との間に配置された接合領域(11)とを備え、このデバイスは、更に接合領域内の電荷キャリア密度を制御するよう接合領域に電界を加えるためのゲート(3)も備える。 (もっと読む)


磁気素子を提供する方法及びシステムが開示される。この方法及びシステムは、第1及び第2のピン層、フリー層、並びに第1及び第2の各ピン層とフリー層との間の第1及び第2のバリア層を提供する。第1のバリア層は、絶縁体である結晶性MgOで、第1のバリア層を通過するトンネル現象を可能にするように構成されることが好ましい。さらに、第1のバリア層は、フリー層又は第1のピン層のような別の層とのインタフェースを有する。このインタフェースは、少なくとも50パーセントの、好ましくは80パーセントを超える、高スピン偏極を提供する構造を有する。第2のバリア層は絶縁体で、第2のバリア層を通過するトンネル現象を可能にするように構成される。磁気素子は、書き込み電流が磁気素子を通過する時にスピン伝送によりフリー層が切り換えられることを可能にするように構成される。
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磁気素子を提供するための方法及びシステムを開示する。本方法及びシステムには、固着層、自由層、及び固着層と自由層との間のスペーサ層を設ける段階を含む。スペーサ層は、絶縁性の層であり、また、規則的に配列された結晶構造を有する。また、スペーサ層は、スペーサ層をトンネル通過できるように構成される。一態様において、自由層には、スペーサ層に対して特定の結晶構造及び集合組織を有する単一の磁性層が含まれる。他の態様において、自由層には、2つの副層が含まれ、第1副層は、スペーサ層に対して特定の結晶構造及び集合組織を有し、第2副層は、より小さいモーメントを有する。更に他の態様において、本方法及びシステムは、更に、第2固着層、及び自由層と第2固着層との間に存在する非磁性の第2スペーサ層を設ける段階を含む。本磁気素子は、書き込み電流が磁気素子を通過する際、スピン転移により自由層を切り換えるように構成される。 (もっと読む)


単結晶MgO(001)基板11を準備し、50nm厚のエピタキシャルFe(001)下部電極(第1電極)17をMgO(001)シード層15上に室温で成長し、次いで、超高真空(2×10−8Pa)において、350℃でアニールを行う。2nm厚のMgO(001)バリア層21をFe(001)下部電極(第1電極)17上に室温でエピタキシャル成長する。この際、MgOの電子ビーム蒸着を用いた。MgO(001)バリア層21上に室温で、厚さ10nmのFe(001)上部電極(第2電極)23を形成した。連続して、10nm厚さのCo層21をFe(001)上部電極(第2電極)23上に堆積した。Co層21は、上部電極23の上部電極23の保持力を高めることによって反平行磁化配置を実現するためのものである。次いで、上記の作成試料を微細加工してFe(001)/MgO(001)/Fe(001)TMR素子を形成する。これによりMRAMの出力電圧値を高めることができる。 (もっと読む)


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