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Fターム[5F102GT01]の内容

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Fターム[5F102GT01]に分類される特許

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電磁放射線を用いた一回の露光プロセスでT−ゲートを製造する方法が開示される。
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【課題】電力用デバイスにおいて双方向に電圧をブロックできるようにする。
【解決手段】大電流を搬送するチャンネルを得るAlGaN/GaNインターフェースを備えたIII族窒化物双方向スイッチであり、この双方向スイッチは、この双方向スイッチのために、電流を搬送するチャンネルを形成するための二次元電子ガスの発生を阻止したり、または可能にする少なくとも1つのゲートにより作動する。 (もっと読む)


窒化ガリウム材料デバイスおよびその形成方法を提供する。該デバイスは、電極規定層を包含する。電極規定層は典型的にはその内部に形成されたビアを有し、該ビア内に電極が(少なくとも部分的に)形成される。したがって、ビアは、電極の寸法を(少なくとも部分的に)規定する。いくつかの場合において、電極規定層は、窒化ガリウム材料領域上に形成された不動態化層である。 (もっと読む)


低接触抵抗を実現しつつ表面荒れの少ない電極が得られる技術を提供する。
半導体膜101の上部に設けられる電極であって、この半導体膜101の上部にこの半導体膜の側から順に積層された第一金属層102と第二金属層103とを有し、この第一金属膜102が、Alからなり、この第二金属膜103が、Nb、W、Fe、Hf、Re、TaおよびZrからなる群より選ばれる1種以上の金属からなることを特徴とする電極。 (もっと読む)


活性層との電気的コンタクトで形成された金属のソースおよびドレインコンタクト(20,22)を有する活性半導体層を備えるトランジスタ構造。ゲートコンタクト(26)が、活性層内の電界を変調するためにソースコンタクトとドレインコンタクトとの間に形成されている。スペーサ層(24)が、活性層の上に形成されている。導電性フィールドプレート(28)がスペーサ層の上に形成され、ゲートコンタクトの端からドレインコンタクトに向かって距離L延びている。フィールドプレートは、ゲートコンタクトに電気的に接続されている。

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【課題】窒素を含む化合物半導体層の表面に生じた、エッチングによるダメージを除去あるいは軽減し、ゲート電極に良好なショットキ特性を有する半導体装置を形成する。
【解決手段】ドライエッチングにより、第1化合物半導体層22のゲート電極形成予定領域36の表面を露出するとともに、コンタクト層32を形成する。次いで、この第1化合物半導体層22の露出した表面に対するアニール処理を行う。前述のドライエッチングの際に第1化合物半導体層22の表面に生じたダメージを、窒素プラズマを用いた表面処理を行うことにより、良好な電気特性をもつ第1化合物半導体層22の表面を形成する。この窒素プラズマを用いた表面処理を行った第1化合物半導体層22の表面上にゲート電極38を形成し、良好なショットキ特性を有するゲート電極を具えたリセス型HEMT10を形成する。 (もっと読む)


【課題】ゲート長の短いゲート電極を有し、しかも低抵抗で高周波特性が優れている半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】少なくともノンドープInGaP層又はノンドープInAlGaP層からなる上層半導体層12と、この上層半導体層直下にGaAs層またはAlGaAs層からなる下層半導体層11を含む半導体基板に、上層半導体層表面から上層半導体層への浸入が、下層半導体層で略停止するショットキーゲート電極15と、このショットキーゲート電極部に接続して第1の電極の抵抗を低減する第2の電極部16からなるT字型ゲート電極を形成する。 (もっと読む)


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