直流ノード拡散領域の下に埋め込み酸化物を設けず、すべてのデバイスのための本体接触部を有する選択的ＳＯＩ構造を提供する。印加電圧Ｖｄｄ、接地ＧＮＤ、基準電圧Ｖｒｅｆおよびその他の類似ＤＣノードなどのＤＣノード拡散領域の直下に存在する埋め込み酸化物を設けずに、すべてのデバイスのための本体接触部を有する選択的ＳＯＩ構造を提供する。本発明の選択的ＳＯＩ構造をＩＣ中に用いて回路の性能を改善することができる。本発明の選択的ＳＯＩ構造は、上に配置された複数のＳＯＩデバイスを有する上部Ｓｉ含有層を備える絶縁体上シリコン（ＳＯＩ）基板材料を含む。本ＳＯＩデバイスは、本体接触部領域を介して下地のＳｉ含有基板と接触する。下地の埋め込み酸化物領域を備えないＤＣノード拡散領域がＳＯＩデバイスの一つに隣接する。

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下地ＳｉＧｅ層１上に歪みＳｉ層２をエピタキシャル成長させ、ゲート絶縁膜３ａとゲート電極４ａを形成した後、ゲート電極４ａをマスクにして、下地ＳｉＧｅ層１及び歪みＳｉ層２に不純物をイオン注入し（図２（ａ））、活性化のための熱処理を行ってソース・ドレイン領域６を形成する（図２（ｂ）、（ｃ））。このとき、歪みＳｉ層２の膜厚は、最終的なＭＩＳＦＥＴのソース・ドレイン領域６の不純物濃度が最大となる深さをＴ_ｐ（＝Ｒ_ｐ）としたとき、２Ｔ_ｐ以下にする。 （もっと読む）

半導体製造プロセスは、基板上にシリコンフィンを形成することを含む。フィンの主面上にはゲート誘電体が形成される。フィンの少なくとも２つの面の上にゲート電極が形成される。次いで、ゲート電極の側壁に近接して誘電体スペーサが選択的に形成されて、誘電体スペーサが該側壁に限定されることによって、主フィン面の大部分が露出したままとされる。その後、主フィン面上にシリサイドが形成される。一実施形態では、ゲート電極の形成は、フィンおよび基板の上にポリシリコンを堆積し、ポリシリコンの上にキャッピング層を堆積し、キャッピング層の上にフォトレジストをパターニングし、パターニングしたフォトレジストが適所に配された状態でキャッピング層およびポリシリコンをエッチングすることを含む。エッチングによりポリシリコンの幅はキャッピング層の幅よりも小さくなり、ポリシリコンの側壁に隣接するキャッピング層の下に空隙ができ、ここに限定スペーサを形成することができる。
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一実施形態においては、基板上にシリコン膜又はシリコンゲルマニウム膜を堆積させる方法であって、プロセスチャンバ内に基板を配置するステップと、基板表面を約６００℃〜９００℃の範囲の温度に、プロセスチャンバ内の圧力を約１３Ｐａ（０.１トール）〜約２７ｋＰａ（２００トール）の範囲に維持しつつ、加熱するステップと、を含む前記が提供される。堆積ガスは、プロセスチャンバに供給され、ＳｉＨ_４、任意のゲルマニウム源ガス、エッチング剤、キャリヤガス、任意に少なくとも１つのドーパントガスを含んでいる。シリコン膜又はシリコンゲルマニウム膜は、基板上に選択的且つエピタキシャル的に成長する。一実施形態は、シリコン含有膜とキャリヤガスとして不活性ガスを堆積させる方法を含んでいる。方法は、また、選択的シリコンゲルマニウムエピタキシャル膜を用いる電子デバイスの製造を含んでいる。 （もっと読む）

ソース／ドレイン領域の少なくともその幅が最も大きい部分では半導体領域の幅よりも大きく、かつソース／ドレイン領域の最上部側から基体側に向かって連続的に幅が大きくなっている傾斜部を有し、該傾斜部表面にシリサイド膜が形成されていることを特徴とする半導体装置とする。
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電界効果トランジスタのゲート電極などの、シリコン含有領域に、埋め込まれたニッケルシリサイド層（２６０Ａ）、続いてコバルトシリサイド層（２６１Ａ）を形成することによって、縮小されたシリコン回路構造のシート抵抗及び接触抵抗を過度に損なうことなく、デバイスを更に縮小することができるように、両シリサイドの優れた特性が組み合わせられる。
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分離構造を有する半導体デバイス（１０）を形成するための方法が漏れ電流を低減する。チャネル分離構造（３２、３０、３４）がチャネル構造の中の漏れ電流を低減する。さらに、電流電極領域の下に電流電極誘電体分離構造（３６）が形成され、電流電極（４０）間の漏れを防ぐ。
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【課題】ｎ型電界効果トランジスタ（ＮＦＥＴ）およびｐ型電界効果トランジスタ（ＰＦＥＴ）がそれぞれ、第１の半導体の単結晶層内に配置されたチャネル領域を有し、ＰＦＥＴのチャネル領域には第１の大きさの応力が加えられているが、ＮＦＥＴのチャネル領域にはその大きさの応力が加えられていない構造体およびその製造方法を提供すること。
【解決手段】この応力は、第１の半導体とは格子不整合の第２の半導体の層によって加えられる。この第２の半導体の層は、ＰＦＥＴのソースおよびドレイン領域ならびに拡張領域の上の、ＰＦＥＴのチャネル領域から第１の距離のところに形成されており、この第２の半導体の層は、ＮＦＥＴのソースおよびドレイン領域の上の、ＮＦＥＴのチャネル領域からより大きな第２の距離のところにも形成されており、またはＮＦＥＴには全く形成されていない。 （もっと読む）

【課題】減少されたゲート高さを有する集積回路トランジスタを形成する方法およびシステムを開示すること。
【解決手段】本方法は、基板、基板の上のゲート導体（１３）、およびゲート導体（１３）の上の少なくとも１つの犠牲層（１４〜１６）を有する積層構造を形成する。このプロセスは、積層構造を基板から延びる少なくとも１つのゲート・スタックにパターン形成し、ゲート・スタックに隣接してスペーサ（６０）を形成し、ゲート・スタックに隣接してソースおよびドレイン領域（７１）を形成するようにスペーサで保護されていない基板の領域にドーピングし、そして、スペーサ（６０）および犠牲層（１４〜１６）を除去する。 （もっと読む）

【課題】 高性能デバイスの金属置換ゲートのための構造および形成方法を提供する。
【解決手段】 まず、半導体基板（２４０）上に設けたエッチ・ストップ層（２５０）上に、犠牲ゲート構造（２６０）を形成する。犠牲ゲート構造（３００）の側壁上に、１対のスペーサ（４００）を設ける。次いで、犠牲ゲート構造（３００）を除去して、開口（６００）を形成する。続けて、スペーサ（４００）間の開口（６００）内に、タングステン等の金属の第１の層（７００）、窒化チタン等の拡散バリア層（８００）、およびタングステン等の金属の第２の層（９００）を含む金属ゲート（１０００）を形成する。 （もっと読む）

【課題】ソース／ドレイン拡張とフロントゲート（front gate）に自己整合させたバックゲートを含む、ＦＤ型ＳＯＩ−ＣＭＯＳデバイスの製造方法に関する。
【解決手段】
ＳＯＩ−ＣＭＯＳ技術は、ポリシリコン、即ちポリＳｉバックゲートは、フロントゲート・デバイスの閾値電圧を制御するために使用され、ｎＭＯＳ及びｐＭＯＳバックゲートは、互いに独立に、及びフロントゲートと独立に、スイッチされる。
特に、バックゲートが、デバイスのフロントゲート及びソース／ドレイン拡張に自己整合されたバックゲートＦＤ型ＣＭＯＳデバイスの製造方法を提供する。バックゲートＦＤ型ＣＭＯＳデバイスは、ＳＩＭＯＸ又は結合ＳＯＩ−ウエハ、ウエハボンディングと薄膜化、ポリＳｉエッチング、ＬＰ−ＣＶＤ、機械化学研磨（ＣＭＰ）を用いて製造される。 （もっと読む）

【課題】 ひずみＳｉ／Ｓｉ_1-XＧｅ_Xデバイス基板において、極めて浅い接合を形成する方法およびそれによって得られる半導体構造を提供する。
【解決手段】 半導体デバイスを形成する方法（およびその結果として得られる構造）は、基板上に、ドーパントおよび少なくとも１つの種を注入するステップと、基板をアニールするステップであって、少なくとも１つの種が、基板のアニールの間のトーパントの拡散を遅らせるステップと、を含む。 （もっと読む）

【課題】 電気特性の優れた多結晶ＴＦＴを提供する。
【解決手段】多結晶膜３を堆積させる工程、堆積した多結晶膜のうち所望の位置４のみを残すようにエッチングする工程、残された部分的な多結晶膜の中で所望の結晶方位の結晶粒５だけを、しかも所望の結晶面（ファセット）６を出した状態になるように異方性エッチングする工程、さらに、こうして得られた結晶核の上に膜を堆積し結晶化させる工程を用いる。 （もっと読む）

【課題】 本発明は薄膜トランジスタアレイ及びその製造方法と液晶表示装置及びその製造方法とエレクトロルミネッセンス表示装置及びその製造方法に関するものであり、均一性と性能に優れた薄膜トランジスタ及びその製造方法を生産性が高く低コストで提供することを目的とする。
【解決手段】 ゲート電極側面に側壁を形成することによって、自己整合的にＬＤＤまたはオフセット領域を形成し、また、層間絶縁膜を複数の層で形成し、これら複数の層間絶縁膜上にソース・ドレイン電極とソースバス配線と画素電極を一括して形成する。 （もっと読む）

【課題】 優れた特性を有する多結晶シリコン膜を備えた半導体装置を高い歩留まりで製造することが可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】 石英ガラスや無アルカリガラスなどの基板１上に、非晶質シリコン膜２ａを形成する。その非晶質シリコン膜２ａ上にＷシリサイド膜（導電膜）４ｂを形成する。そして、Ｗシリサイド膜（導電膜）４ｂに対し、高周波やＹＡＧレーザービームなどの電磁波を照射することにより、Ｗシリサイド膜（導電膜）４ｂを発熱させ、この熱を利用して、非晶質シリコン膜２ａを多結晶シリコン膜２に変える。 （もっと読む）