説明

Fターム[5F110PP31]の内容

薄膜トランジスタ (412,022) | 再結晶化 (11,370) | 前処理 (1,993)

Fターム[5F110PP31]の下位に属するFターム

ドープ (878)
脱水素 (820)
種の形成 (204)

Fターム[5F110PP31]に分類される特許

21 - 40 / 91


【課題】薄膜トランジスタ、その製造方法及びそれを含む有機電界発光表示装置を提供する。
【解決手段】基板と、前記基板上に位置するバッファ層と、前記バッファ層上に位置する第1の半導体層及び第2の半導体層と、前記第1の半導体層及び第2の半導体層と絶縁されているゲート電極と、前記第1の半導体層及び第2の半導体層と前記ゲート電極とを絶縁するゲート絶縁膜と、前記ゲート電極と絶縁され、前記第2の半導体層に一部が接続するソース/ドレイン電極とを含み、前記第1の半導体層上部に前記第2の半導体層が位置することを特徴とする薄膜トランジスタ及びその製造方法に関する。 (もっと読む)


【課題】容量素子の容量を確保しながらも、発光素子間の輝度ムラが防止された表示特性の良好な表示装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタTr2と容量素子Csとを設けた画素回路を、薄膜トランジスタTrのゲート電極14bの線幅方向に配列した薄膜トランジスタ基板1aを備えてた表示装置である。薄膜トランジスタTr2は、ゲート電極14b上にゲート絶縁膜を介して半導体薄膜32Aを設けて構成されたものである。特にゲート電極14bは、所定線幅にパターニングされている。容量素子Csは、ゲート電極14bから延設された下部電極21c上にゲート絶縁膜を介して上部電極22cを設けて構成されたものである。そして特に、下部電極21cは、ゲート電極14bの線幅方向に隣接させた状態でゲート電極14bに対して離間して配置されている。また上部電極22cは、ソース電極22sまたはドレイン電極22dと同一層を用いた連続的パターンとして設けられている。 (もっと読む)


【課題】優れたオン電流特性と、優れたオフ電流特性を兼ね備え、かつ歩留まりの向上が可能な薄膜トランジスタを提供する。
【解決手段】本発明に係る薄膜トランジスタは、下層半導体層11と、上層半導体層12の間には、ソース領域10S/ドレイン領域10Dに開口部を有する絶縁膜4が形成され、開口部H1,H2を介して、下層半導体層11と上層半導体層12が接続される。下層半導体層11のうち、少なくともソース領域10S/ドレイン領域10Dの間に配置されるチャネル領域10C、及び開口部H1,H2と対向する領域のうちの前記チャネル領域から延設される少なくとも一部の領域は、多結晶半導体層であり、上層半導体層は、非晶質半導体層である。 (もっと読む)


【課題】横方向固相エピタキシャル成長法において単結晶膜成膜工程に要する時間を短縮し、半導体装置の製造を短時間で行う。
【解決手段】単結晶シリコン部403及び絶縁膜401が表面において露出したウエハ200を、構成元素としてSiを含むガスの雰囲気中に曝露し、単結晶シリコン部403及び絶縁膜401の上にアモルファスのシリコン膜402を成膜する成膜工程と、成膜工程後に、シリコン膜402を加熱して、単結晶シリコン部403を基にしてシリコン膜402を単結晶化させる加熱工程と、加熱工程後に、ウエハ200を構成元素としてSiを含むガス及び構成元素としてClを含むガスの混合雰囲気中に曝露し、単結晶化した部分を残留させつつ、単結晶化しなかった部分を除去する選択成長工程と、を含む半導体装置の製造方法であって、ウエハ200に対して、成膜工程、加熱工程及び選択成長工程を繰り返す。 (もっと読む)


【課題】機械的強度に優れたSOI基板及びその作製方法を提供する。
【解決手段】単結晶半導体基板に加速された水素イオンを照射することにより、単結晶半導体基板の表面から所定の深さの領域に脆化領域を形成し、単結晶半導体基板とベース基板とを絶縁層を介して貼り合わせ、単結晶半導体基板を加熱し、脆化領域を境として分離することにより、ベース基板上に絶縁層を介して半導体層を形成し、半導体層の表面にレーザー光を照射して半導体層の少なくとも表層部を溶融させる際に窒素、酸素、又は炭素の少なくともいずれか一を半導体層に固溶する。 (もっと読む)


【課題】単結晶半導体層にレーザー光を照射する場合において、レーザー光の照射時に単結晶半導体層中に不純物元素が取り込まれるのを抑制することを目的の一とする。
【解決手段】SOI基板の作製方法において、単結晶半導体基板と、ベース基板とを用意し、単結晶半導体基板に加速されたイオンを照射することにより、単結晶半導体基板の表面から所定の深さの領域に脆化領域を形成し、単結晶半導体基板とベース基板とを絶縁層を介して貼り合わせ、単結晶半導体基板を加熱し、脆化領域を境として分離することにより、ベース基板上に絶縁層を介して単結晶半導体層を形成し、単結晶半導体層上に形成された酸化膜を除去し、酸化膜を除去した後に単結晶半導体層の表面にレーザー光を照射して単結晶半導体層の少なくとも表面を溶融させ、レーザー光の照射による単結晶半導体層の溶融回数は1回とする。 (もっと読む)


【課題】ガラス基板のような耐熱性の低い基板をベース基板として使用した場合にも、実用に耐えうるSOI基板の作製方法を提供する。
【解決手段】SOI基板の作製において、ボンド基板中に脆化層を形成する際の水素イオンドーズ量を、ボンド基板の分離下限となる水素イオンドーズ量より増加して脆化層を形成し、ベース基板に貼り合わせたボンド基板を分離して、ベース基板上に単結晶半導体膜が形成されたSOI基板を形成し、該単結晶半導体膜の表面にレーザ光を照射して作製する。 (もっと読む)


【課題】電磁波を吸収する粒子を含有する前駆体層を用いることにより、前駆体層への局所加熱による機能性層への変換を可能な機能性層の製造方法を提供することであり、且つ、該製造方法を用いて製造された電子デバイスを提供する。
【解決手段】少なくとも1種類の、電磁波を吸収する粒子を含有する前駆体層に電磁波を照射し、該電磁波を吸収する粒子を発熱させ、該前駆体層を機能性層に変換する工程を有することを特徴とする機能性層の製造方法。 (もっと読む)


【課題】 照射されたレーザ光の一部が被結晶化薄膜を透過する結晶化において、均一性に優れた結晶化を行うことが可能な結晶化装置を提供する。
【解決手段】 光透過性を有する基板1上に形成された被結晶化薄膜(アモルファスシリコン薄膜3)に対してレーザ光を照射して結晶化を行う結晶化装置である。アモルファスシリコン薄膜3が形成された基板1を支持する基板ステージSを有する。基板ステージSは、表面が例えば鏡面化され、アモルファスシリコン薄膜3の結晶化領域全体における反射率が略均一である。照射するレーザ光の波長域は、可視領域であり、例えば固体レーザの高調波である。 (もっと読む)


【課題】基板が設置されたステージをX方向やY方向に移動させるレーザー照射装置は、基板が大型化した場合、比例してフットプリント(処理に必要とされる平面での面積)が格段に大きくなり、装置全体の巨大化を招く問題が生じてしまう。
【解決手段】本発明のレーザ照射装置は、ガルバノミラーやポリゴンミラーによりレーザー光を半導体膜に照射して走査させ、さらにレーザー光照射の際は、常に半導体膜への入射角度θをある角度に一定に保つ。 (もっと読む)


【課題】特性が向上した半導体装置の製造方法及び半導体装置を提供すること。
【解決手段】本発明にかかる半導体装置の製造方法では、まず、絶縁性基板1上にゲート電極2を形成し、ゲート電極2上にゲート絶縁膜3を成膜する。そして、ゲート絶縁膜3上に非晶質半導体膜14を成膜し、非晶質半導体膜14に対して、レーザーアニールを行い、非晶質半導体膜14を微結晶半導体膜4に変換する。その後、微結晶半導体膜4に対してフッ酸処理を施し、フッ酸処理が施された微結晶半導体膜4上に、パターン端が微結晶半導体膜4のパターン端より外側に配置され、パターン端近傍においてゲート絶縁膜3と接するように非晶質半導体膜14を形成する。 (もっと読む)


【課題】膜厚バラツキを抑制し、かつドライエッチングダメージの発生を抑制できる優れた素子特性を兼ね備えた薄膜半導体装置及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】透明絶縁性基板上に形成され、所定の間隔を隔てて第1導電型の不純物を含むソース領域及び第1導電型の不純物を含むドレイン領域を有する島状半導体層、前記ソース領域及びドレイン領域の間の島状半導体層上に形成されたゲート絶縁膜及びゲート電極、前記ゲート電極の側壁に形成された、低温酸化膜、低温窒化膜及び低温酸化膜の3層構造のサイドウォールスペーサー、及び島状半導体層及びゲート電極を覆う層間絶縁膜を具備することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 優れたコンタクト特性及び優れた素子特性を持った薄膜半導体装置及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】 透明絶縁性基板上に形成され、所定の間隔を隔てて不純物を含むソース領域ドレイン領域を有する島状半導体層、前記ソース領域及びドレイン領域の間の島状半導体層上に形成されたゲート絶縁膜、前記ゲート絶縁膜上に形成されたゲート電極、前記島状半導体層及びゲート電極を覆う層間絶縁膜、前記ソース領域及びドレイン領域にそれぞれ接続する、前記層間絶縁膜に形成されたコンタクト孔内にそれぞれ埋め込まれた不純物を含む多結晶半導体層、及び前記多結晶半導体層に接続する高融点金属層を含む配線層を具備し、前記多結晶半導体層と配線層の高融点金属層との間には、高融点金属と半導体との化合物からなる薄層が形成されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】トランジスタ駆動に適した比抵抗をもつ良質な無機膜を提供する。
【解決手段】一般式Nabcd(式中NはZnまたはMg、MはTi、WまたはMo、QはInまたはFeであり、a,b,c,dは正の実数である)で表される無機膜を、Nの酸化物、アルコキシドまたは有機金属化合物の少なくとも1つと、Mの酸化物、アルコキシドまたは有機金属化合物の少なくとも1つと、Qの酸化物、アルコキシドまたは有機金属化合物の少なくとも1つと、有機溶媒と、を含む原料液を基板上に塗布成膜し、加熱処理により製造する。 (もっと読む)


【課題】薄膜トランジスタを有する半導体装置を安価に大量生産することを可能にする、半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】プラスチック基板11等の基板上にアモルファスシリコン層13を形成する工程と、アモルファスシリコン層13をパターニングして、薄膜トランジスタとなる所定のパターンを形成する工程と、その後、パターニングされたアモルファスシリコン層13を結晶化する工程とを有して、薄膜トランジスタを有する半導体装置を製造する。 (もっと読む)


【課題】微細化TFTに適用が可能な低抵抗のソース・ドレイン構造を低温プロセスで形成可能な薄膜半導体及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】透明絶縁性基板上に形成され、所定の間隔を隔てて第1導電型の不純物を含むソース領域及び第1導電型の不純物を含むドレイン領域を有する島状半導体層、前記ソース領域及びドレイン領域の間の島状半導体層上に形成されたゲート絶縁膜、前記ゲート絶縁膜上に形成され、側壁に絶縁膜からなるサイドウオールスペーサを有するゲート電極、及び前記ソース領域並びにドレイン領域上にそれぞれ600℃以下の温度で固相成長された、第1導電型の不純物を含む積上げソース多結晶半導体層並びに第1導電型の不純物を含む積上げドレイン多結晶半導体層を具備することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】配向性を有さない基板上に複合酸化物等の無機結晶性配向膜を成膜する方法を提供する。
【解決手段】ガラス基板等の非晶質基板11上に、層状結晶構造を有する無機結晶粒子20を含む原料と有機溶媒とを含む原料液を用いて、液相法により無機結晶粒子20を含む非単結晶膜12を成膜し、この非単結晶膜12が結晶化する温度以上の条件で非単結晶膜12を加熱し、無機結晶粒子20の一部を結晶核として非単結晶膜12を結晶化させることにより、無機結晶性配向膜1を製造する。 (もっと読む)


【課題】生産性が向上し、特性の良好な半導体装置の製造方法及び半導体製造装置を提供すること。
【解決手段】本発明にかかる半導体装置の製造方法は、絶縁性基板1上に非晶質半導体膜15を成膜する工程と、非晶質半導体膜15を脱水素処理する工程と、脱水素処理された非晶質半導体膜15に保護層5を形成する工程と、保護層5を介して非晶質半導体膜15を多結晶化する工程とを備える。また、非晶質半導体膜15の成膜から保護層5の形成まで、絶縁性基板1を真空中に保持する。 (もっと読む)


【課題】ガラス基板などの耐熱性の低い支持基板にバッファ層を介して単結晶半導体層が固定された半導体基板を作製する。
【解決手段】加速された水素イオンを半導体基板に照射し、水素を多量に含んだ損傷領域を形成する。単結晶半導体基板と支持基板を接合させた後、半導体基板を加熱して損傷領域で単結晶半導体基板を分離する。単結晶半導体基板から分離された単結晶半導体層にレーザビームを照射する。レーザビームの照射により単結晶半導体層を溶融させることで、再結晶化することでその結晶性を回復させ、かつ単結晶半導体層の表面を平坦化させる。レーザビームの照射後、単結晶半導体層を溶融させない温度で加熱し、そのライフタイムを向上させる。 (もっと読む)


【課題】信頼性向上、歩留まり向上が可能で、かつ品質向上につながる半導体薄膜の製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明に係る半導体薄膜の製造方法は、基板上に非晶質の半導体薄膜を形成する工程(step1)と、自然酸化膜を除去する工程(Step2)と、紫外線照射によって生成するオゾン又は/及び酸素ラジカルにより表面酸化処理を行う工程(Step3)と、結晶粒界が略等間隔で、かつ格子状の周期構造を有する多結晶化された半導体薄膜を得るレーザーアニール工程(Step4)とを備え、レーザーアニール工程において、表面酸化処理を行う工程を経ずに、自然酸化膜を除去する工程後、直ちにレーザーアニールを行うことにより多結晶化された半導体薄膜を得る場合のレーザー光の最適エネルギー密度に対して、所定のエネルギー密度だけ低いエネルギー密度にてレーザー光照射を行う。 (もっと読む)


21 - 40 / 91