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【課題】液相法を用いて、プラスチック基板の耐熱温度以下の比較的低温プロセスでも結晶性が良好な無機膜を製造することができ、材料選択性も広い結晶性無機膜の製造方法を提供する。
【解決手段】結晶性無機膜1は、金属元素及び/又は半導体元素を含む無機物からなり、無機原料、有機前駆体原料、及び有機無機複合前駆体原料からなる群より選ばれた少なくとも1種の結晶性無機膜1の構成元素を含む原料と、有機溶媒とを含む原料液を用いて、液相法により結晶性無機膜1のすべての構成元素を含む非単結晶膜12を成膜する工程(A)と、非単結晶膜12に含まれる少なくとも1種の有機成分の分解温度以下の条件で、非単結晶膜12に含まれるすべての有機成分を分解する工程(B)と、非単結晶膜12が結晶化する温度以上の条件で、非単結晶膜12を加熱して結晶化させる工程(C)とを順次実施して製造されたものである。 (もっと読む)


【課題】半導体基板の大面積化を課題の一とする。または、大面積化に際して生じる問題点を解決することを課題の一とする。または、上記の半導体基板を用いた半導体装置の信頼性を向上することを課題の一とする。
【解決手段】半導体基板の大面積化を図るために、ベース基板としてガラス基板等の絶縁表面を有する基板を用いる。そして、該ベース基板に大型の半導体基板を用いて単結晶半導体層を形成する。なお、ベース基板には複数の単結晶半導体層を設けることが好ましい。その後、単結晶半導体層を、パターニングにより複数の単結晶半導体領域に切り分ける。そして、表面の平坦性を向上し、欠陥を低減するために、単結晶半導体領域に対してレーザー光を照射する、又は加熱処理を施す。該単結晶半導体領域の周縁部は半導体素子として用いずに、中央部を半導体素子として用いる。 (もっと読む)


【課題】ガラス基板などの耐熱性の低い支持基板にバッファ層を介して単結晶半導体層が固定された半導体基板を作製する。
【解決手段】加速された水素イオンを半導体基板に照射し、水素を多量に含んだ損傷領域を形成する。単結晶半導体基板と支持基板を接合させた後、半導体基板を加熱して損傷領域で単結晶半導体基板を分離する。単結晶半導体基板から分離された単結晶半導体層にレーザビームを照射する。レーザビームの照射により単結晶半導体層を溶融させることで、再結晶化することでその結晶性を回復させ、かつ単結晶半導体層の表面を平坦化させる。レーザビームの照射後、単結晶半導体層を溶融させない温度で加熱し、そのライフタイムを向上させる。 (もっと読む)


【課題】バッファ層を介して単結晶半導体層を有する半導体基板を作製する。
【解決手段】半導体基板に水素をドープして、水素を多量に含んだ損傷層を形成する。単結晶半導体基板と支持基板を接合させた後、半導体基板を加熱して損傷領域で単結晶半導体基板を分離する。単結晶半導体層を有する側より単結晶半導体層にレーザビームを照射し、単結晶半導体層のレーザビームが照射されている領域の表面から深さ方向の一部の領域を溶融することで、溶融せずに残った単結晶半導体層の面方位をもとにして再結晶化させることでその結晶性を回復させ、かつ単結晶半導体層の表面の平坦化させる。 (もっと読む)


【課題】せり上げ構造を有する半導体装置において、せり上げる領域をエッチングする際に、活性層である島状半導体膜がエッチングされるのを抑制する。
【解決手段】島状半導体膜の表面を酸化あるいは窒化して第1の絶縁膜を形成し、第1の絶縁膜の一部の領域上に半導体膜を形成し、第1の絶縁膜の一部を除去して島状半導体膜の中の半導体膜が形成されていない領域を露出させ、島状半導体膜の表面及び半導体膜を酸化あるいは窒化して第2の絶縁膜を形成し、第2の絶縁膜上にゲート電極を形成し、第2の絶縁膜をエッチングしてゲート絶縁膜を形成し、ゲート電極をマスクとして島状半導体膜及び半導体膜に一導電型を付与する不純物元素を添加し、島状半導体膜及び半導体膜を加熱して不純物元素を活性化させ、島状半導体膜及び半導体膜を加熱することにより第1の絶縁膜が消失する半導体装置の作製方法に関する。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の生産効率を高めるため、5インチよりも大きく、できるだけ大口径の半導体基板を利用して半導体装置を製造することを課題とする。
【解決手段】第1の半導体ウエハの表面上にバッファ層を形成し、イオンドーピング装置によりHイオンを第1の半導体ウエハに照射してバッファ層の下方に損傷領域を形成する。バッファ層を介して、第2の単結晶半導体基板と第1の単結晶半導体基板を密着させ、第2の単結晶半導体基板と第1の単結晶半導体基板とを貼り合わせ、第1の単結晶半導体基板の加熱によって損傷領域に亀裂を生じさせ、第1の単結晶半導体基板の一部を第1の単結晶半導体基板から分離する。第2の単結晶半導体基板に固定された単結晶半導体層を加熱しながら、単結晶半導体層にレーザビームを照射して平坦性の向上と結晶性の回復の両方を行う。 (もっと読む)


【課題】耐熱性の低い基板をベース基板とするSOI基板で、レーザ光で表面を溶融させることにより、機械的な研磨が不要な半導体装置を提供する。
【解決手段】ベース基板101、絶縁層116、接合層114、半導体層115を有するSOI基板に、レーザー光122を照射することにより半導体層115上面を溶融させ、冷却、固化することで、機械的な研磨を行わなくても、平坦性が優れたSOI半導体装置を提供できる。また、レーザー光の端部が照射された領域の半導体層は半導体素子として用いずに、レーザー光の端部以外が照射された領域の半導体層を半導体素子として用いることにより、半導体装置の性能を大きく向上することができる。 (もっと読む)


【課題】ガラス基板などの耐熱性の低い支持基板にバッファ層を介して単結晶半導体層が固定された半導体基板を作製する。
【解決手段】イオンドーピング装置により、水素ガスを励起して生成したイオンを加速し単結晶半導体基板に照射し、水素を多量に含んだ損傷領域を形成する。単結晶半導体基板と支持基板を接合させた後、単結晶半導体基板を加熱して、損傷領域で単結晶半導体基板を分離する。単結晶半導体基板から分離された単結晶半導体層を加熱しながら、この単結晶半導体層にレーザビームを照射する。レーザビームの照射により単結晶半導体層を溶融させることで、再単結晶化して、その結晶性を回復させ、かつ単結晶半導体層の表面を平坦化する。 (もっと読む)


【課題】 光照射による不純物を含む半導体層の均一な熱処理を可能とする半導体装置、及びこの半導体装置の熱処理方法を提供すること。
【解決手段】 透明基板上に配列された複数の半導体パターンの集合を具備する半導体装置であって、前記半導体パターンの集合は、その上にゲート絶縁膜をはさんで対向して設けられたゲート電極を有する第1の半導体パターンと、前記第1の半導体パターンと電気的に分離され、前記第1の半導体パターンを所定の間隔で取り囲む複数の第2の半導体パターンとを含み、前記第1の半導体パターンと第2の半導体パターンとは、同一又は近似する形状及びサイズを有し、前記第1の半導体パターンと、これを取り囲む第2の半導体パターンとの間隔は、2μm以下であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】SOI基板に不純物が混入するのを防ぐことができる、半導体装置の作製方法を提供する。
【解決手段】水素ガス、ヘリウムガスおよびハロゲンガスから選ばれた1種または複数種のガスを含むソースガスを励起してイオンを生成し、該イオンをボンド基板に添加することで、ボンド基板中に脆化層を形成する。そして、ボンド基板の表面近傍、すなわち、ボンド基板のうち、脆化層よりも浅い位置から表面までの領域を、エッチングまたは研磨などにより除去する。次に、ボンド基板とベース基板とを貼り合わせた後、該ボンド基板を脆化層において分離させることで、ベース基板上に半導体膜を形成する。上記半導体膜をベース基板上に形成した後、該半導体膜を用いて半導体素子を形成する。 (もっと読む)


【課題】ガラス基板等の支持基板上に単結晶半導体基板から分離した単結晶半導体層を形成する半導体基板の作成方法、及び半導体層が分離された後の単結晶半導体基板を再生処理の方法を提供する。
【解決手段】ガラス基板等の支持基板に、単結晶半導体層を接合するに際し、支持基板または単結晶半導体基板の一方若しくは双方に、酸化シリコン膜を用いる。本構成によれば、ガラス基板等の耐熱温度が700℃以下の基板でであっても接合部の接着力が強固なSOI層を得ることができる。また、単結晶半導体層が分離された単結晶半導体基板は、半導体層が分離された面側から単結晶半導体基板にレーザ光を照射して、単結晶半導体基板の表面を溶融させ、一領域あたりの溶融時間を0.5マイクロ秒乃至1ミリ秒とする再生処理を施した後、再利用する。 (もっと読む)


【課題】単結晶半導体層を有するSOI構造の基板を大面積化する。
【解決手段】矩形状の単結晶半導体基板を複数用意する。各単結晶半導体基板に、水素イオンをドープして所望の深さに損傷領域を形成し、各単結晶半導体基板の表面に接合層を形成する。損傷領域および接合層が形成された複数の単結晶基板をトレイに配置する。トレイには、単結晶半導体基板を収めるための凹部が形成されている。トレイに配置した状態で、損傷領域および接合層を形成した複数の単結晶半導体基板をベース基板と貼り合わせる。加熱処理することにより、損傷領域に沿って単結晶半導体基板を分割することで、ベース基板に薄片化された複数の単結晶半導体層が形成される。 (もっと読む)


【課題】単結晶半導体層を有するSOI構造の基板を大面積化する。
【解決手段】矩形状の複数の単結晶半導体基板をトレイに配置する。トレイには、単結晶半導体基板を収めるための凹部が形成されている。トレイに配置した状態で、水素イオンをドープして所望の深さに損傷領域し、また、複数の単結晶半導体基板表面に接合層を形成する。損傷領域および接合層を形成した複数の単結晶半導体基板をトレイに配置して、ベース基板と貼り合わせる。加熱処理することにより、損傷領域に沿って単結晶半導体基板を分割することで、ベース基板に薄片化された複数の単結晶半導体層が形成される。 (もっと読む)


【課題】耐熱性の低い基板をベース基板とするSOI基板を用いて高性能な半導体装置を提供することを課題とする。また、機械的な研磨を行わずに高性能な半導体装置を提供することを課題とする。また、該半導体装置を用いた電子機器を提供することを課題とする。
【解決手段】絶縁基板上の絶縁層と、絶縁層上の接合層と、接合層上の単結晶半導体層と有し、単結晶半導体層は、その上部表面における凹凸形状の算術平均粗さが1nm以上7nm以下とする。または、凹凸形状の二乗平均平方根粗さが1nm以上10nm以下であっても良い。または、凹凸形状の最大高低差が5nm以上250nm以下であっても良い。 (もっと読む)


【課題】結晶化に続いて、所定の位置に残すことができ、その後の処理工程を妨げない手段によって種結晶を横成長させる方法並びに該方法を用いた構造体を提供する。
【解決手段】第1の半導体結晶をエッチングして種結晶領域を形成し、その上に、種結晶領域を露出させる開口部が設けられた絶縁体層、および第2の半導体膜を形成してレーザアニールし、種結晶から横成長を行う。その後、種結晶領域の上の第2の半導体膜を除去し、残っている第2の半導体膜中のトランジスタ活性領域を形成する。 (もっと読む)


【課題】高効率プロセスで非晶質シリコンと多結晶シリコン(若しくは擬似単結晶シリコン)を同一基板上に形成する表示装置の製造方法を提供する。
【解決手段】絶縁基板上に、第1の非晶質の薄膜シリコンを蒸着する第1の蒸着工程と、前記第1の非晶質シリコンに選択的にレーザ光を照射し前記第1の非晶質シリコンに含有する水素を取り除く第1のレーザ光照射工程と、前記第1のレーザ光照射工程の後に、前記第1の非晶質シリコンに選択的にレーザ光を照射し多結晶若しくは擬似単結晶の薄膜シリコンを形成する第2のレーザ光照射工程と、前記前記多結晶若しくは前記擬似単結晶の薄膜シリコンを能動層として薄膜トランジスタを形成する薄膜トランジスタ形成工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】半導体結晶を良好に成長させることができるレーザ照射装置を提供する。
【解決手段】制御装置7は、被加熱材料の密度が、ρ(kg/m3)であり、被加熱材料の比熱が、C(J/kg・K)であり、被加熱材料6bに対する第2パルスレーザ光の消衰係数が、kであり、被加熱材料6bからステージへの熱移動における熱透過率が、h(W/m・K)であり、第2パルスレーザ光の波長が、λ(m)であり、第2パルスレーザ光の時間軸波形の半値幅が、twであり、T=(3.0×10-3)・ρ・C・λ/(4π・k・h)である場合に、第1パルスレーザ光のピークが、第2パルスレーザ光が被加熱材料に照射されている間において、T−0.15tw≦td≦T+0.3twという条件を満たす遅延時間tdだけ、第2パルスレーザ光のピークから遅延して、被照射物6に照射されるように、第1レーザ照射機構1および前記第2レーザ照射機構2を制御する。 (もっと読む)


【課題】最終結晶においてリッジ高さが高い結晶が含まれないように半導体薄膜を形成することが可能な半導体薄膜の製造装置を提供すること。
【解決手段】制御部8は、移動部7により被照射物80を相対的に移動させながら第1レーザ出力部4および第2レーザ出力部65に対して複数回の照射を行なわせることにより、重複する照射領域内で結晶の引継ぎ成長を行なわせる。このとき、あるスリットに対応する照射領域の両端部から成長する結晶が衝突しないように第1レーザ出力部4および第2レーザ出力部65の照射タイミングを制御した後、移動部7により被照射物を相対的に移動させ、他のスリットに対応する照射領域の両端部から成長する結晶が衝突するように第1レーザ出力部4および第2レーザ出力部65の照射タイミングを制御する。したがって、リッジ高さが高い結晶が含まれないように半導体薄膜を形成することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】SOI基板の作製時に発生する金属汚染の影響を抑える。
【解決手段】半導体基板に水素イオンを照射し損傷領域を形成した後、ベース基板と半導体基板を接合させる。加熱処理を行って、半導体基板を劈開させSOI基板を作製する。SOI基板の半導体層上に、Arなど第18族元素を含んだ半導体でなるゲッタリングサイト層を形成する。加熱処理を行って、半導体層中の金属元素をゲッタリングサイト層にゲッタリングさせる。エッチングにより、ゲッタリングサイト層を除去することで、半導体層の薄膜化を行う。 (もっと読む)


【課題】酸化亜鉛に代表される酸化物半導体膜を用いて薄膜トランジスタを形成することで、作製プロセスを複雑化することなく、尚かつコストを抑えることができる半導体装置及びその作製方法を提供することを目的とする。
【解決手段】基板上に設けられたゲート電極と、ゲート電極上に設けられたゲート絶縁膜と、ゲート絶縁膜上に設けられた酸化物半導体膜と、を備えるトランジスタを有し、酸化物半導体膜の少なくともチャネル形成領域となる領域に対して加熱処理が行われている。 (もっと読む)


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