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Fターム[5F157DC88]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | その他の課題の解決 (1,637) | エネルギー節減、動力伝達ロス減 (608) | 消耗部品の長期使用 (67)

Fターム[5F157DC88]に分類される特許

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ウエハ(W)から膜(66)を除去する間に処理液体循環システム(73,73’)へ放出される膜の残骸物(66a)の量を減少させることによってフィルタ(80)の洗浄又は交換の頻度を減らす方法が供される。当該方法は、基板処理システム(1)の処理チャンバ(46)内で、上に膜(66)が形成されたウエハ(W)を、処理液体(64)に曝露する工程を有する。前記ウエハ(W)は、回転しないか、又は第1速度(608a,908a,1208a)で回転される。前記処理液体(64)は、前記処理チャンバ(46)から処理液体循環システム(73)へ放出される。その結果、前記処理液体(64,64a,64b)への前記ウエハ(W)の曝露は中断され、前記ウエハ(W)は前記第1速度(608a,908a,1208a)よりも速い第2速度(608b,908b,1208b)で回転することで、該ウエハ(W)から前記膜(66)の残骸物(66a)が遠心状に除去される。それに続いて、前記ウエハ(W)は同一又は異なる処理液体(64,64a,64b)に曝露され、かつ前記処理液体(64,64a,64b)は、前記処理チャンバ(46)から処理液体廃液管(78)へ放出される。
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【課題】ドラム式回転洗浄装置を用いた洗浄等の基板処理の際において、ダミー基板の使用回数を増加させると共に破損した場合の破片の飛散を抑制することにより、半導体装置の製造コストを低減する。
【解決手段】基板処理方法は、複数の容器204のそれぞれに複数の被処理基板104を収納する工程と、被処理基板104と実質的に等しい質量を有し、少なくとも側面を含む2つの主面の周縁部が耐薬品性の樹脂によって被覆されている板状部材よりなるダミー基板100を複数の容器204に必要枚数収納することによって、複数の容器204に収納された被処理基板104とダミー基板100との合計枚数を複数の容器204の全てにおいて同数とする工程と、ダミー基板100を収納した複数の容器204を回転軸に対して対称に配置すると共に回転軸を中心に回転させながら被処理基板104を処理する工程とを含む。 (もっと読む)


開示されているのは、プレート状物体の湿式処理用装置であり、以下のように構成されている:第一プレート、前記第一プレートと実質的に平行な単一のプレート状物体を保持するための保持手段、処理時に前記第一プレートとプレート状物体の間の第一ギャップに液体を導入するための第一分配手段、この場合、第一プレートは少なくとも99重量%のシリコンから成っているシリコン・プレート、そのプレート状の物体を処理している時に、そのシリコン・プレートが処理液と接触していること、それに関連した方法がさらに開示されている。
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マイクロ電子デバイスの製造において使用される半導体処理システムのコンポーネントから残留物を洗浄するための方法および装置。残留物を効果的に除去するために、コンポーネントは、十分な時間の間および十分な条件下において、気相反応物質に接触させられて、残留物を少なくとも部分的に除去する。残留物とコンポーネントを構成する物質とが異なる場合には、気相反応物質は、残留物と選択的に反応し、イオン注入装置のコンポーネントを構成する物質とは最小限だけ反応する。残留物とコンポーネントを構成する物質とが同一である場合には、気相反応物質は、残留物およびコンポーネントパーツの両方と反応し得る。
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メガソニックプロセス装置および方法は、少なくとも300kHzの基本共振周波数で厚さ方向モードで作動する1つ以上の圧電振動子を備える。発生器は、所定のスイープ周波数領域で変動する変動周波数駆動信号で振動子を起動する。発生器は、全振動子の共振周波数を含むスイープ周波数領域中で駆動信号の周波数を繰り返し変動させあるいはスイープする。 (もっと読む)


【課題】 払拭部材の消費量を低減しながら、処理液供給ノズルを確実に洗浄することが可能なノズル洗浄機構およびそのノズル洗浄機構を使用した基板処理装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 ノズル洗浄機構は、レジストを塗布するためのノズルと平行に配設されたレール41に沿って移動可能なブラケット42と、ブラケット42の上方に配設された払拭部45とを備える。また、払拭部45は、ケーシング51と、払拭紙や払拭布等からなる長尺の払拭部材52が巻回された送りロール53と、送りロール53から送り出された払拭部材52を巻き取る巻き取りロール54と、払拭部材52に洗浄液を供給する洗浄液供給ノズルとを備える。 (もっと読む)


エッチングチャンバ、レジスト剥離チャンバ等の、半導体基板が処理されるプラズマ処理チャンバ用の構成要素の石英表面のウェット洗浄方法は、石英表面を、少なくとも一つの有機溶媒、塩基溶液及び複数の異なる酸溶液と接触させて、石英表面から有機汚染物質及び金属汚染物質を除去する工程を含む。石英表面は、好ましくは、少なくとも2回酸溶液の一つと接触させられる。 (もっと読む)


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