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Fターム[5F173AA01]の内容

半導体レーザ (89,583) | 半導体レーザの構造(垂直共振器を除く) (3,926) | 活性層がプレーナー(平坦層で切れ目の無い形状)であるもの (2,480)

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【課題】活性層劣化及び端面劣化を抑制して高出力且つ高信頼性を有するGaN系の半導体レーザ装置を提供する。
【解決手段】半導体レーザ装置は、基板1の上に、各々が六方晶GaN系結晶よりなる第1クラッド層2、活性層4、及び第2クラッド層6が順次形成された積層構造を備えており、光を伝播するストライプ状の光導波路を積層構造の内部に有する半導体レーザ装置であって、光導波路は、積層構造の主面に平行な面内に伸びており、光導波路における少なくとも一方の端部に、面方位が(0001)の光出射端面を有している。 (もっと読む)


【課題】光吸収を抑制することができると共に、活性層への電流注入が効率よく行うことができ、高出力化を図ることが可能となる面発光レーザを提供する。
【解決手段】基板105上に活性層を介してフォトニック結晶層130を有する面発光レーザであって、前記フォトニック結晶層は、少なくとも面内方向に共振させる第1の周期構造と、面内方向の光の強度分布を変調させる第2の周期構造とを有する。
このフォトニック結晶層内の前記光の強度分布は、前記第2の周期構造によって、光強度が高い領域と低い領域とに周期性をもって分布している。前記光強度が低い領域の直上に、前記活性層に電流注入するための導電膜170が選択的に設けられている。 (もっと読む)


【課題】本発明は半導体光装置の製造方法に関し、半導体光装置の特性劣化や信頼性低下を抑制した半導体光装置の製造方法を提供する事を目的とする。
【解決手段】p型クラッド層形成のためのp型クラッド層形成工程と、p型クラッド層形成工程後、p型クラッド層の上層に形成されるp型クラッド層との選択エッチングが可能なキャップ層形成のためのキャップ層形成工程と、キャップ層形成工程後、キャップ層の上層に形成されるスルー膜を形成するためのスルー膜形成工程と、スルー膜形成後窓構造を作製するためのイオン注入工程と、イオン注入工程の後に前述したスルー膜を除去するスルー膜エッチング工程と、スルー膜エッチング工程後にキャップ層を選択的に除去する薬液を使用してキャップ層をエッチングするキャップ層エッチング工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】エッチング深さの制御性や再現性に優れた、より選択性の高い窒化物化合物半導体層のエッチング方法、並びに、そのエッチング方法を用いて製造された半導体デバイスを提供すること。
【解決手段】Al含有窒化物化合物半導体層7上に窒化物化合物半導体層8を形成し、Al含有化合物半導体層7に対する窒化物化合物層8のエッチング選択比が100以上となる条件で窒化物化合物層8をドライエッチングする。 (もっと読む)


【課題】電子のオーバーフローを抑制することができる半導体光素子を提供する。
【解決手段】半導体光素子10は、井戸層31及びバリア層32を含み量子井戸構造を有する活性層15と、バリア層32上に設けられIII−V族化合物半導体材料からなるオフセット層35(第1のクラッド層)と、オフセット層35上に設けられp型不純物を含む電子ストッパー層17と、電子ストッパー層17上に設けられオフセット層35と同一材料からなり、電子ストッパー層17のp型不純物濃度よりも低い濃度のp型不純物を含む第2のクラッド層18とを備える。 (もっと読む)


【課題】 エピタキシャル成長により結晶欠陥の少ない低転位領域を有するGaN系半導体を提供する。
【解決手段】 GaN系半導体のファセット構造を形成しながら成長させて隣接するファセット構造を合体させる。ファセット構造が成長するにしたがい下地からの転位が曲がり低転位領域が形成される。更にファセット構造を成長させて隣接するファセット構造を合体させることでファセット面とファセット面とが重なる領域に曲がった転位を集める。 (もっと読む)


【課題】ホウ化物単結晶の成長工程において不純物を除去し、結晶性に優れたホウ化物単結晶を製造することができるホウ化物単結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】ホウ化物単結晶の製造方法は、浮遊帯域法により化学式XB(XはZr,Ti,Cr,Hf及びTaから選ばれる少なくとも1種である)で表されるホウ化物単結晶またはホウ化物多結晶から成る棒状体を、酸素濃度が10ppb以下の不活性ガスから成る雰囲気ガス9中で作製し、次に棒状体を原料棒6として用いて浮遊帯域法により化学式XB(XはZr,Ti,Cr,Hf及びTaから選ばれる少なくとも1種である)で表されるホウ化物単結晶を製造する。 (もっと読む)


半導体デバイスは、活性層(350)およびクラッド層(370)を備える。電子ブロッキング層(380)が、活性層とクラッド層との間の領域内に少なくとも部分的に配設され、活性層からクラッド層に向かう電子の流れに対する電位障壁を形成するように構成される。電子ブロッキング層は、周期表のIII族の2つの元素、および周期表のV族の1つの元素を含む。周期表のIII族の2つの元素の一方が、活性層から離れてクラッド層に向かう方向に濃度が次第に増加する第1の部分、および第1の部分とクラッド層との間で濃度が次第に減少する第2の部分を有する濃度プロファイルを有する。
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【課題】基板上に窒化物系III−V族化合物半導体層を良好な結晶品質で成長させることができる窒化物系III−V族化合物半導体層の成長方法を提供する。
【解決手段】GaN層を基板上に化学気相成長法により成長させ、このGaN層上にAlGaN層を化学気相成長法により成長させる場合に、Gaの原料の供給量に対するNの原料の供給量のモル比を8000以上、好ましくは10000以上、より好ましくは11000以上にしてGaN層を成長させる。基板としてはAl2 3 基板、ZnO基板、SiC基板などを用いる。 (もっと読む)


【課題】発光特性を向上することのできる半導体発光素子および半導体発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体レーザ30は、AlGaNよりなるn型クラッド層2と、n型クラッド層2上に形成されたInsGa1-sN(0≦s<1)よりなるn型中間層3と、n型中間層3上に形成されたIntGa1-tN(0≦t<0.5)よりなるn型緩衝層4と、n型緩衝層4上に形成されたInGaNよりなる量子井戸発光層5とを備えている。量子井戸発光層5はIn濃度が相対的に高いInuGa1-uN(0<u<0.5)よりなる井戸層と、In濃度が相対的に低いInvGa1-vN(0≦v<u)よりなる障壁層とを有している。n型緩衝層4のIn濃度はn型中間層3のIn濃度よりも高く、かつ井戸層5bのIn濃度はn型緩衝層4のIn濃度よりも高い。 (もっと読む)


【課題】デバイスにダメージを与えることなく容易に製造することのできる半導体発光装置の製造方法およびこれを用いて製造された半導体発光装置を提供する。
【解決手段】半導体レーザ素子1の製造方法は、エピタキシャル層15と誘電体膜16とを有するフォトニック結晶構造8を形成するフォトニック結晶構造工程と、フォトニック結晶構造工程後に、誘電体膜16上およびエピタキシャル層15上にGaN層9を形成する工程とを備えている。 (もっと読む)


【課題】化合物半導体発光素子の製造工程においてInの遊離を極力抑え、制御性に優れた結晶成長を可能とし、良質の活性層および活性層の界面を提供することを目的とする。
【解決手段】化合物半導体発光素子の製造方法において、有機金属気相成長法を用い、基板上に、下部クラッド層4を形成し、下部クラッド層上に、第1の温度でInを含む活性層5を形成し、活性層上に、第2の温度で蒸発防止層であるAlXGa1-XN(0≦X≦1)層6を形成し、AlXGa1-XN(0≦X≦1)層上に、第3の温度で上部クラッド層7を形成する。これによりInの組成比を制御することが容易となり、かつ良質の活性層および活性層の界面を提供することができる。 (もっと読む)


【課題】高い出力安定性および長寿命を実現する窒化物半導体レーザー素子が望まれていた。
【解決手段】井戸層22および障壁層21を含む多重量子井戸構造の活性層14を有する窒化物半導体レーザー素子であって、発振波長が430〜440nmで、井戸層22の全積層数が3であり、井戸層22と障壁層21とのバンドギャップエネルギーの差が0.3eV以上である窒化物半導体レーザー素子である。
【効果】井戸層の全積層数を3としたので、高い出力安定性および長寿命化を実現できる。また、井戸層22と障壁層21とのバンドギャップエネルギーの差が0.3eV以上であり、発振特性において従来の素子よりも信頼性に優れる。 (もっと読む)


【課題】生産性に優れるとともに、優れた発光特性を備えたIII族窒化物化合物半導体発光素子の製造方法、及びIII族窒化物化合物半導体発光素子、並びにランプを提供する。
【解決手段】基板11上に、III族元素としてGaを含むIII族窒化物化合物半導体からなる半導体層をスパッタ法によって成膜する工程を含む製造方法であり、基板11とスパッタターゲットとを対向して配置するとともに、基板11とスパッタターゲットとの間隔を20〜100mmの範囲とする。 (もっと読む)


【課題】生産性に優れるとともに、優れた発光特性を備えたIII族窒化物化合物半導体発光素子の製造方法、及びIII族窒化物化合物半導体発光素子、並びにランプを提供する。
【解決手段】基板11上に、III族元素としてGaを含むIII族窒化物化合物半導体からなる半導体層をスパッタ法によって成膜する工程を含む製造方法であり、半導体層をスパッタ法で成膜する際に、基板11に印加するバイアス値を0.1W/cm以上とする。 (もっと読む)


【課題】2方向に劈開性を示す酸化ガリウム基板を含むウエハを分離して素子化する際に、酸化ガリウム基板の劈開を防止する。
【解決手段】半導体層を積層した酸化ガリウム基板2をその第1の劈開面mにそって短冊状に分割してバー20を形成し(第1の分割ステップ)、このバー20を第1の劈開面側mから分割する(第2の分割ステップ)。 (もっと読む)


【課題】光の取り出し効率を向上させることができる上、半導体多層膜に接する電極の変質を防ぐことができる半導体発光装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】基板(10)と、基板(10)上に形成された金属接合層(11)と、金属接合層(11)上に配置された、凹部(12a)を有する金属層(12)と、凹部(12a)内に形成された電極(13)と、電極(13)に接し、かつ凹部(12a)内に形成された半導体多層膜(14)と、半導体多層膜(14)の側面と凹部(12a)との間に配置された電気絶縁膜(15)とを含み、凹部(12a)は、半導体多層膜(14)の光出射側に向かって広がっており、半導体多層膜(14)の側面は、凹部(12a)の内壁に沿って形成されており、金属接合層(11)と金属層(12)との間に介在する金属拡散防止層(17)を含む半導体発光装置(1)とする。 (もっと読む)


【課題】窒化物半導体発光素子を提供する。
【解決手段】活性層と、活性層の一方の側にn型光ガイド層32及びその他方の側にp型光ガイド層を備える積層構造物と、を有し、活性層は、Inx1Ga(1−x1)N(0<x1≦1)で形成されるウェル層16と、ウェル層の両側にInx2Ga(1−x2)N(0≦x2<1)で形成される障壁層12と、ウェル層と障壁層との間に設けられてインジウム拡散を防止する拡散防止層14と、を備える。 (もっと読む)


【課題】デバイス品質の良好なInN/GaNヘテロ構造の半導体光素子を提供する。
【解決手段】基板1、n型コンタクト層2、n型クラッド層3、n型ガイド層4、活性層5、p型ガイド層6、p型クラッド層7、p型コンタクト層8を順に積層して構成されている。またn型コンタクト層3上には第一の電極9が、p型コンタクト層9上には第二の電極10が形成されており、第一と第二の電極の間に電圧を印加することで活性層5に正孔及び電子を注入し、発光させることが可能である。 (もっと読む)


【課題】量子井戸サブバンド間遷移には、赤外線イメージセンサ、量子カスケードレーザや超高速光変調素子への応用があり、従来のTMモードのみの光との相互作用に加え、TEモード光との相互作用を可能にし、これらのデバイスの高効率、高性能化を実現する。
【解決手段】電子の有効質量に異方性がある半導体を用い、かつ、等エネルギー面の主軸から傾いた方向に量子井戸構造を形成することにより、TEモード光(電磁波)によりサブバンド間電子遷移を生じさせる方法を発明した。 (もっと読む)


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