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Fターム[5H420NA11]の内容

電気的変量の制御(交流、直流、電力等) (13,664) | 基準生成部 (1,182) | 基準生成形式 (1,136) | 分圧回路 (690)

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【課題】半導体装置、及び、その製造方法を提供する。
【解決手段】PN接合を有する第1半導体素子と、PN接合を有する第2半導体素子と、第1半導体素子と第2半導体素子とを構成要素として含む回路と、を有し、回路から、第1半導体素子のPN接合に生じる第1順方向電圧と、第2半導体素子のPN接合に生じる第2順方向電圧とが加算された加算信号が出力される半導体装置であって、第1半導体素子と第2半導体素子とが直列接続されており、第1半導体素子及び第2半導体素子それぞれの実使用温度域において、回路が第2半導体素子を構成要素として含まない場合に、回路から出力される第1信号の温度特性と、回路が第1半導体素子を含まない場合に、回路から出力される第2信号の温度特性と、が反転している。 (もっと読む)


【課題】低い最低動作電圧にて安定動作可能なレギュレータ回路を実現することを目的の一とする。また、最低動作電圧が低いレギュレータを用いてリーダ/ライタとの通信距離が長いRFIDタグの実現を目的の一とする。
【解決手段】基準電位と入力電位との電圧を監視し、前記電圧が所定のしきい値を超過した後、前記電圧の値に依らず一定の出力電位を得る半導体装置を提供する。前記半導体装置は、前記基準電位と前記入力電位との間の電圧を、第1の複数の非線形素子と、少なくとも一の線形素子を用いて分圧し、前記電圧の値に依らず一定の第1のバイアス電圧を生じ、前記第1のバイアス電圧を基準とし、前記基準電位と前記入力電位との間の電圧を、第2の複数の非線形素子を用いて分圧して、前記電圧の値に依らず一定の第2のバイアス電圧を生じ、前記第2のバイアス電圧を基準として、前記出力電位を決定する。 (もっと読む)


【課題】Depletion型MOS TrとEnhance型MOS Trによって形成される半導体装置において、回路的な付加によって半導体装置の面積を増大させることなく、温度特性やアナログ特性を向上させた基準電圧回路を提供する。
【解決手段】異なる濃度を有するDepletion型MOS TrとEnhance型MOS Trのウェル領域を作製する。 (もっと読む)


【課題】電流制御用MOSトランジスタに流れる電流をカレントミラー方式で検出して制御する充電制御用ICにおいて、トランジスタのサイズ比がばらついても電流検出精度を向上させることができるようにする。
【解決手段】カレントミラー方式の電流検出回路(13)に、バイアス状態制御用トランジスタ(Q3)と、電流制御用トランジスタ(Q1)と電流検出用トランジスタのドレイン電圧を入力とする演算増幅回路(AMP1)とを設け、該演算増幅回路の出力に基づいて電流検出用MOSトランジスタのバイアス状態が、電流制御用MOSトランジスタのバイアス状態と同一になるように構成するとともに、電流制御用トランジスタと電流検出用トランジスタの各ドレイン電極から演算増幅回路の対応する入力点までの配線の寄生抵抗による電圧降下が同一となるように、電流検出用トランジスタのドレイン配線の長さを調整するようにした。 (もっと読む)


【課題】リップル除去率を高めながら、安定した電圧を発生することができる基準電圧発生回路を得る。
【解決手段】この基準電圧発生回路は、定電流回路部14と、差動アンプ13と、出力アンプ12と、第1及び第2のバイポーラトランジスタT1、T2と抵抗が接続されている基準電圧発生器11とを備えている。出力アンプ12は、ソースが基準電圧発生回路の入力に接続され、ゲートが定電流回路部の出力と接続されている第1のMOSトランジスタと、エミッタが基準電圧発生器の抵抗、第1のMOSトランジスタのドレイン及び基準電圧発生回路の出力に接続されている第3のバイポーラトランジスタを有し、差動アンプの出力を増幅した信号を第3のバイポーラトランジスタのベースに入力することにより、一定の電圧を発生させる。 (もっと読む)


【課題】電圧発生回路のミラートランジスタ及び出力トランジスタのゲート電圧を同一で、且つ一定な電圧に制御する。
【解決手段】電圧発生回路30には、差動増幅回路1、Nch MISトランジスタNT1乃至3、Nch MISトランジスタNT11乃至13、Pch MISトランジスタPT11乃至13、抵抗RA1乃至RA4、及び抵抗RS1乃至RS4が設けられる。Nch MISトランジスタNT1は、ドレインに高電位側電源VDD電圧が入力され、ゲートに差動増幅回路1から出力される出力電圧(ゲート電圧)Vを入力する。Nch MISトランジスタNT2は、ドレインに高電位側電源VDD電圧が入力され、ゲートに差動増幅回路1から出力される出力電圧(ゲート電圧)Vを入力する。Nch MISトランジスタNT3は、ソースフォロア型トランジスタドレインとして降圧された内部電源電圧としての出力電圧VINTを出力する。 (もっと読む)


【課題】起動回路を備えた基準電圧生成回路において、基準電圧を生成した後の起動回路内に流れる余分な消費電流を抑制する。
【解決手段】起動信号CEをHレベルにすると、起動回路部2aのトランジスタPM10aがオンすることによって、電源からトランジスタPM10a、PM8aを経由して基準電圧回路部1aを動作させるための電流が供給され、基準電圧回路部1aから基準電圧VREFが生成される。また、トランジスタPM1a〜PM6aのゲート・ソース間電圧降下により起動回路の動作電流I1aが流れるが、トランジスタNM6aがオフになるため、トランジスタNM6a内の寄生容量C1aに充電される。充電が終わると起動回路の動作電流I1aは流れなくなるため、起動回路部2aにおける消費電流を抑制することができる。 (もっと読む)


【課題】微細化されたMOSFETに好適な基準電圧発生回路を有する半導体集積回路装置を提供する。
【解決手段】第1電流密度とされる第1トランジスタと第1電流密度よりも小さな第2電流密度とされる第2トランジスタのベースを共通接続し、そのコレクタ差電圧に対応した出力電圧を増幅回路で形成して上記ベースに帰還する。第1抵抗素子に上記第1と第2トランジスタのベース,エミッタ間差電圧を印加して基準電流を形成する。上記基準電流に対応した電流を上記第1、第2及び第3トランジスタに供給する。上記第3トランジスタのベースとコレクタとを共通接続し、第2抵抗素子を直列形態に接続する。上記第3トランジスタのサイズ及び上記第1及び第2抵抗素子の抵抗値の設定により、上記第3トランジスタ及び第2抵抗素子で発生する電圧が、上記第1及び第2電源電圧及び温度変化に対して一定の基準電圧となるようにする。 (もっと読む)


【課題】 半導体抵抗を使用して基準電圧を生成する時に、高温になるとリーク電流が増大し、基準電圧を正確に得ることが不可能になった。
【解決手段】 カレントミラー回路5と温度補償用トランジスタQ3との組み合せによって基準電圧生成装置を構成する。カレントミラー回路5の1つのコレクタ抵抗R2のリーク電流Ileakをリーク電流検出回路23で検出する。リーク電流を検出したコレクタ抵抗R2が接続されたトランジスタQ2とそのエミッタ抵抗R3との直列回路に対して並列に分流回路24を接続し、この分流回路24を流れる電流をリーク電流検出回路23の出力で制御する。分流回路24を流れる電流は、コレクタ抵抗R2のリーク電流を抜き取るために使用する。 (もっと読む)


【課題】 製造プロセスの変動や温度変動に対する変動を低減させて高精度の複数の定電流を生成しバイアス電流として供給することができる定電流回路及びその定電流回路を使用したシステム電源装置を得る。
【解決手段】 PMOSトランジスタM1及びM2から流れる各電流i1及びi2の一方の電流の変動に対して負帰還がかけられてその変動を打ち消すように、演算増幅回路AMPがPMOSトランジスタM1及びM2の動作制御を行い、PMOSトランジスタM1及びM2から対応して電流が供給される2つのpnpトランジスタQ1及びQ2に流れる電流密度の差によって生じる電位差に接続した抵抗R1に流れる定電流を基準電流とし、演算増幅回路AMPによって動作制御されたPMOSトランジスタMA1〜MAnで該基準電流に比例した各電流をそれぞれ生成して出力するようにした。 (もっと読む)


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