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Fターム[5J039HH07]の内容

パルスの操作 (9,993) | パターン監視(パルス列) (332) | 監視種別 (173) | 所定パターンの検知 (40)

Fターム[5J039HH07]に分類される特許

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【課題】電流量の監視による遅延仮定なしで配線故障検出ができ、遅延故障耐性と配線故障耐性を同時に有した非同期データ転送装置を提供する。
【解決手段】IPコア間に配設するLSIの非同期データ転送装置1において、第1のIPコアに接続する第1の配線3aと、第2のIPコアに接続する第2の配線3bと、第1の配線3aに接続する送信器2と、第2の配線3bに接続する受信器4と、送信器2と受信器4とを接続する第3の配線3cと、を含み、送信器2は、符号器5と入力制御部6とを有する入力部2Aと、出力部2Bと、を含み、受信器4は、入力部4Bと、復号器7と出力制御部8とを有する出力部4Aと、を含み、送信器2の符号器5は、第3の配線3cのオープン故障を検出する電流ドライバ回路11a,11b,11c,11dを備える。 (もっと読む)


【課題】 データ判定回路の回路規模を大きくすることなく、孤立パルスを確実に検出する。
【解決手段】 閾値判定部は、2値データのデータ列を表すアナログデータ信号をオーバーサンプルすることにより生成されるデジタルコードを順に受け、負のデジタルコードが連続するときに増加値を示す閾値信号を出力し、正のデジタルコードが連続するときに減少値を示す閾値信号を出力する。孤立パルス判定部は、デジタルコードに閾値信号が示す値を加えて補正デジタルコードを生成し、連続する補正デジタルコードを用いて孤立パルスを検出する。バイナリ判定部は、連続するデジタルコードの符号を用いて2値データの論理を求める。データ選択部は、孤立パルスが検出されるときに、孤立パルスの論理を2値データの論理として出力し、孤立パルスが検出されないときに、バイナリ判定部により求められた2値データの論理を出力する。 (もっと読む)


【課題】メモリ等の入力対象に入力される信号の誤判定を行うのに好適な誤り検出回路を提供する。
【解決手段】集積回路1を、誤り検出回路2A〜2Cとメモリ回路3とを含み、誤り検出回路2A〜2Cを、クロック信号CKの立ち上がりエッジにおいて入力信号IN0〜INnの状態を保持し、保持した状態を示す第1信号IN_A0〜IN_Anを出力するラッチ回路21A0〜21Anと、クロック信号CKを遅延時間t1だけ遅延させる遅延回路20Aと、遅延クロック信号CK_Aの立ち上がりエッジにおいて入力信号IN0〜INnの状態を保持し、保持した状態を示す第2信号IN_B0〜IN_Bnを出力するラッチ回路21B0〜21Bnと、第1信号IN_A0〜IN_Anと第2信号IN_B0〜IN_Bnとが一致しているか否かを比較判定し、判定結果を示す第3信号COMP0〜COMPnを出力する比較回路24_0〜24_nとを含む構成とした。 (もっと読む)


【課題】発振回路の発振周波数の異常を検出することができる発振異常検出回路を提供することである。
【解決手段】クロック信号CLKを、直列接続された複数の遅延素子20〜25を用いて遅延させる遅延部2と、遅延素子20〜25の出力信号であるクロック信号CLK0〜CLK5から、全体遅延時間tda内における、クロック信号CLKの変化を示す発振信号パターンD0〜D5を取得する信号パターン取得部3と、期待信号パターンE0〜E5を予め記憶する期待値記憶部4と、発振信号パターンD0〜D5と期待信号パターンE0〜E5とを比較する比較部5と、比較部5による比較結果が一致しない場合、発振回路100に発振異常が生じていると判定する異常判定部6とを備えた。 (もっと読む)


【課題】低速テスターによる直流電圧を用いてスケルチ回路をより高速テストをすることが可能な半導体集積回路を提供する。
【解決手段】半導体集積回路は、スケルチ回路のテスト動作時において、第1の受信端子に第1の直流電圧を印加し、且つ、第2の受信端子に第1の直流電圧と異なる第2の直流電圧を印加した状態で、第1のスイッチ回路と第2のスイッチ回路とをオン/オフが同期するように制御するとともに、第1および第2のスイッチ回路のオン/オフに対して相補的になるようにして第3のスイッチ回路と前記第4のスイッチ回路とをオン/オフが同期するように制御する。 (もっと読む)


【課題】従来のHDMIのオーディオクロック伝送システムでは、サイクルタイムスタンプ値が変動してオーディオクロックの精度が劣化してしまう。
【解決手段】データのサンプルクロックを所定の分周比で分周してクロックを生成するクロック分周手段と、クロック分周手段で生成したクロックをカウントするカウント手段と、カウント生成手段で計測したカウント値を平均化する平均化手段と、平均化手段で取得した平均カウント値のビット数を削減するノイズシェーピング手段と、基本クロック、ノイズシェーピング手段で生成したカウント値及びクロック分周手段で使用した分周比を送出する送出手段を備える。 (もっと読む)


【課題】 異なる時間レンジにおける信号レベルおよび信号レベルの変化を同時に出力し、ノイズ周波数が状況に応じて変わる場合にも、ノイズキャンセルを効果的に行うことができるようにする。
【解決手段】 N進カウンタ群1は、N進カウンタ1−1〜1−Mを有し、各N進カウンタ1−iは、クロック信号を印加され、そのクロック信号の周期を増加させて出力する。また、レベル変化検知器群3は、レベル変化検知器3−1〜3−Mを有し、各レベル変化検知器3−iは、N進カウンタ1−iから出力される第1クロック信号Giの1周期ごとに入力信号Lei−1のレベルをサンプリングしサンプリング信号Leiを出力するとともに、第1クロック信号より周期の短い第2クロック信号Gi−1の1周期ごとに入力信号Lei−1のレベルを検出してレベル変化の有無を示すレベル変化状態信号Chiを出力する。 (もっと読む)


【課題】総比較結果に遅れが生じると共に、総比較結果にひげ状のノイズが重畳される。
【解決手段】nbit比較回路は、縦続接続された(n−1)個の1bit比較回路10(=10−2〜10−n)と、ラッチ回路20と、選択回路30とを有している。ラッチ回路20は、最終段の1ビット比較回路10−nから出力される最終段比較結果c[n]を、LSBにおけるカウントアップデータb[1]の立ち下がりでラッチして第1の信号q[1]を出力すると共に、カウントアップデータb[1]の立ち上がりでラッチして第2の信号q[2]を出力する。選択回路30は、第1の信号q[1]及び第2の信号q[2]のうちのいずれか1つを、LSBにおけるターゲットデータa[1]の論理レベルにより選択して総比較結果outを出力する。 (もっと読む)


【課題】従来のクロックゲーティング技術を採用した半導体集積回路装置では、スキャンテストに対応することができなかった。
【解決手段】本発明の半導体集積回路装置は、モード制御信号SMCに基づきスキャンデータSINと入力データDINとのいずれか一方の値を保持する複数のフリップフロップSFFa〜SFFcと、複数のフリップフロップSFFa〜SFFcのデータ入力端子及びデータ出力端子の値を監視してデータ転送状態を感知し、データ転送が行われている期間はクロック制御信号CCSaをイネーブル状態とするデータ転送感知回路32と、クロック制御信号CCSaに応じて複数のフリップフロップSFFa〜SFFcに対するクロック信号の供給を行うクロックゲーティング回路16と、モード制御信号SMCがイネーブル状態の期間にクロック制御信号CCSaをイネーブル状態とする動作モード判別回路と、を有する。 (もっと読む)


【課題】同期式連続データ伝送の信頼性を確保すると共に容易に設計することができるデータ送受信方法を提供する。
【解決手段】データ送信装置11は、通信開始時にテストデータをデータ受信装置12に送信する。データ受信装置12は、システムクロックを数倍に逓倍した内部クロックによりテストデータをサンプリングしてキャプチャ回路23に取り込み、データ取り込みタイミング制御部24において上記取り込みデータから最適のデータ取り込みタイミングを選択して設定する。データ受信装置12は、通常のデータを取り込む際は、データ取り込みタイミング制御部24において設定された最適のデータ取り込みタイミングにて受信データの取り込みを行う。 (もっと読む)


【課題】 自走発振器のロックを検出するシステム及び方法を提供することである。
【解決手段】 FROサンプラー110の出力がサンプルストレージメディア120の入力にカップリングされ、パターン検出ロジックが、サンプルストレージメディアを1つ以上のパターン検出器130に作動上カップリングしてサンプルにアクセスし又はサンプルを入手する。パターン検出器が、保存サンプル1〜Nを、保存サンプル(N+1)〜2Nと比較してその等値性を調べ、サンプル1と4が同値を含み、サンプル2と5が同値を含み、サンプル3と6が同値を含むことを発見すると、サンプル1、2、3がサンプル4、5、6と同じパターンの反復であると見なされる。 (もっと読む)


【課題】 冗長構成とすることなく、デバイスの運用を中断せずに機能の更新が可能となると共に、冗長分のコスト及び消費電力を削減できるプログラマブルロジックデバイス、カード及び伝送装置を提供する。
【解決手段】 FPGA10は、入力される入力信号を複数に分配し、論理ブロックに既に構成された論理回路1及び論理ブロックに新規に構成される新規な論理回路11に対して、分配された信号を出力する分配回路部2と、論理回路1及び新規な論理回路11からの各出力信号のうちいずれかを選択するセレクタ回路部3と、新規な論理回路11に出力信号を出力するように分配回路部2を制御すると共に、新規な論理回路11からの出力信号を出力するようにセレクタ回路部3を制御する切り替え制御部4と、を備える。 (もっと読む)


【課題】設計工数の増大を防止するために、簡単な回路構成で故障検出を可能にしたクロックゲーティング回路及びマクロセルを提供すること。
【解決手段】本発明に係るクロックゲーティング回路は、入力したクロック信号CLK12に対応するゲーテッドクロック信号GCLK13の出力をクロックイネーブル信号CEN10に応じて制御するクロックゲーティング回路である。また、CEN10の信号値をクロック信号CLK12に同期してラッチするラッチ5を有する。そして、CLK12を入力し、ラッチ5の出力信号に応じて、GCLK13の出力を制御するAND4を有する。さらに、ラッチ5の出力信号の信号値をクロック信号CLK12に同期してラッチし、ラッチした値を出力するラッチ6を備えることを特徴としている。それにより、簡単な回路構成でスキャン試験を実行することができる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、容易な回路設計で高速データ伝送に対応することが可能なCRC演算回路を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明に係るCRC演算回路は、伝送データからシリアル処理でCRC符号を算出する演算過程を解析して導き出される所定の演算式に基づいて、前記伝送データからパラレル処理で前記CRC符号を算出する論理回路を有して成る構成とされている。 (もっと読む)


【課題】制御出力信号が制御入力信号を忠実に復元しているか否かを検出、監視する自己診断機能を備えたパワー半導体の駆動回路装置および信号伝達回路装置を提供する。
【課題を解決するための手段】
パワー半導体の駆動回路装置30は、制御入力信号Sinを生成する電子制御装置32と、主経路34と自己診断機能38を有する信号伝達回路装置300と、信号伝達回路装置300からの制御出力信号Soutで駆動されるパワー半導体40とを備える。自己診断機能38は帰還パルス送信回路360、第2信号伝達回路370および第2受信回路380を有する。第2受信回路380では制御出力信号Soutが制御入力信号Sinに一致しているか、または不一致であるかを比較し、比較した結果を比較信号出力端子390に出力する。比較信号出力端子390に出力された信号は電子制御装置32に伝達される。 (もっと読む)


【課題】Loopbackテストの際に電圧振幅マージン不足の半導体装置が次工程へと流出するのを防止する。
【解決手段】シリアライザ17は、テストモード期間にクロック信号CLK1に応じてパタン発生器20が出力するパラレルのテストパタン信号をシリアル信号に変換して出力バッファ16よりテスト治具側の外部ループバックパスへ出力する。CPU21は、遅延制御信号DLC1,DLC2によって一方の可変遅延素子VDL1,VDL2の遅延時間を制御する。入力バッファ10の出力であるテストパタン信号VRxとLSIテスタ等より印加される外部基準電圧Vrefとの差動信号VRx1がCDR12に印加され、クロック信号CLK2が生成される。両信号VRx,CLK2の一方の位相が変更されて、外部基準電圧Vrefの値毎にタイミングマージンがチェックされる。 (もっと読む)


【課題】パルス信号を高精度に検出すること。
【解決手段】パルス検出装置1は、所定期間に中間電位を含むパルス信号を検出する。また、パルス検出装置1は、パルス信号の中間電位を、ローレベル又はハイレベルに固定する信号固定手段を備えている。さらに、信号固定手段は、パルス信号が入力される入力信号線に接続されたプルダウン抵抗9又はプルアップ抵抗であるのが好ましい。なお、パルス検出方法は、パルス信号の中間電位を、ローレベル又はハイレベルに固定する信号固定工程を含んでいる。 (もっと読む)


【課題】 この発明は、テスト兼用端子に高電圧のノイズが入力された場合でも容易にテストモードに入ることのない半導体装置を提供する。
【解決手段】 この発明は、通常動作モードと、テストモードを備えた半導体装置において、前記半導体装置は、振幅が電源電圧以内の通常信号と振幅が前記電源電圧より高い高電圧信号の入力が可能なテスト兼用入力端子Aと、テスト兼用入力端子Aに入力される高電圧信号を検出する高電圧検出回路10と、高電圧検出回路10からの高電圧信号が所定のパターンで変化したことを検出するパターン検出回路20と、検出したテスト兼用入力端子Aから高電圧信号が所定のパターンで印加された場合に、前記通常動作モードから前記テストモードに切り換える切り替え手段30と、備えた。 (もっと読む)


【課題】 セットアップ違反に対するより一般的な検出技術を提供する。
【解決手段】 外部からの入力データを受ける第1のフリップフロップと、前記入力データを受けるラッチと、このラッチの出力と前記第1のフリップフロップの出力との排他的論理和を入力する第2のフリップフロップとを備えた電子回路。また前記第1のフリップフロップの出力を入力とし前記第2のフリップフロップの出力に基づく通知信号を抑制信号入力として用いる電子回路を具備した情報再生装置。 (もっと読む)


【課題】適正なパルス数のパルス信号が出力されない状態を検知可能なパルス出力装置を提供する。
【解決手段】 CPU3は、入力信号に応じたパルス数を算出するパルス数算出手段31と、パルス数算出手段31により算出されたパルス数のパルス信号を出力するパルス出力手段32と、後述するパルス用カウンタ61によりカウントされたパルス数と、パルス数算出手段31により算出されたパルス数とを照合する照合手段33を構成する。外部回路6には、パルス出力手段32から出力されたパルス信号のパルス数をカウントするパルス用カウンタ61と、パルス用カウンタ61によりカウントされたカウント数を格納するレジスタ62と、レジスタ62に格納されたカウント数をシリアル通信によりCPU3に向けて送信する通信手段63と、が設けられる。 (もっと読む)


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