【課題】ワード線の選択回路のサイズを縮小することにより、半導体装置のサイズを縮小する。
【解決手段】メインワード線は、複数のグループに分類され、メインワードドライバはアドレス情報にしたがってメインワード線を選択する。４本のメインワード線ＭＷＬ０〜ＭＷＬ３から構成される１つのグループが、１つのレベルシフタ１１８を共有する。アドレス情報は、グループ選択のための第１アドレスとメインワード線選択のための第２アドレスを含む。メインワードドライバは、第１アドレスにしたがって、第１グループ選択回路や第２グループ選択回路１２８ａを選択し、選択された第２グループ選択回路１２８ａのレベルシフタ１１８は活性電位（ローレベル）を出力する。そして、選択された第２グループ選択回路１２８ａに所属する複数のメインワード線ＭＷＬ０〜ＭＷＬ３のうちの１本が第２アドレスＡ３，Ａ４により選択される。 （もっと読む）

【課題】複数個のメモリチップが積層された構造を有する半導体装置の信頼性を向上させる。
【解決手段】半導体装置は、複数のビットラインと複数のワードラインとの交差点に複数個のメモリセルが配列される複数個のメモリチップが垂直方向に積層され、いずれか一つのメモリチップには複数個のメモリチップの各々に配列された複数のビットラインと連結されアクティブにされるメモリチップのビットラインをイネーブルさせるためのビットラインセンスアンプと、複数個のメモリチップの各々に配列された複数のワードラインと連結されアクティブされるメモリチップのワードラインをイネーブルさせるためのサブワードラインドライバを含み、ビットラインセンスアンプとサブワードラインドライバがいずれか一つのメモリチップに備わる。 （もっと読む）

【課題】メモリにおけるピーク消費電力管理のためのメカニズムを提供する。
【解決手段】サブ・アレイ・ブロックを含むメモリ・ストレージ・アレイにおけるピーク電力を管理するためのメカニズムが、サブ・アレイ・ブロックの各々に対するワードライン信号の起動を互い違いにすることにより、読み出し動作及び書き込み動作と関連したピーク電流を削減することができる。具体的には、１つのサブ・アレイ・ブロックの読み出しワードライン信号が、別のサブ・アレイ・ブロックの書き込みワードライン信号と同時に１つの論理レベルから別の論理レベルに遷移しないように、各々のサブ・アレイ・ブロックに対してワードライン信号を生成することができる。さらに、ワードライン・ユニットは、所与のサブ・アレイ・ブロックの読み出しワードライン信号が、別のサブ・アレイ・ブロックの読み出しワードライン信号と同時に１つの論理レベルから別の論理レベルに遷移しないように、ワードライン信号を生成することができる。 （もっと読む）

【課題】酸化物半導体のようなバンドギャップが大きな半導体を用いたメモリ装置の保持特性を高める。
【解決手段】ビット線にビット線制御トランジスタを直列に挿入し、そのゲートの最低電位は十分な負の値となるようにする。ビット線制御トランジスタのゲートは電池等に接続するビット線制御回路に接続される。ビット線の最低電位はワード線の最低電位よりも高くなるようにする。外部からの電源が切れた際には、ビット線はビット線制御トランジスタによって遮断され、ビット線に蓄積された電荷が流出することが十分に抑制される。この際、セルトランジスタのゲートの電位は０Ｖであり、一方で、そのソースやドレイン（ビット線）の電位は、ゲートよりも十分に高いので、セルトランジスタは十分なオフ状態であり、データを保持できる。あるいは外部電源遮断時にワード線の電位を十分な負の電位とできるような回路を設けてもよい。 （もっと読む）

【課題】回路構成が簡略化され、安定して動作可能なワード線分割回路を提供する。また、回路構成が簡略化され、安定して動作可能な記憶装置を提供する。
【解決手段】ワード線と、サブワード線との間に、リーク電流が極めて低減されたトランジスタを直列に接続し、ワード線分割回路を構成すればよい。当該トランジスタには、チャネルが形成される半導体層に酸化物半導体を含むトランジスタを適用できる。また、このような回路構成が簡略化されたワード線分割回路を、記憶装置に適用すればよい。 （もっと読む）

【課題】ワード線の活性化電位への立ち上がりの遅れを回避しチップサイズの縮小化、動作速度の高速化に対応可能とする。
【解決手段】メモリセル容量（Ｃ）と、前記メモリセル容量及びビット線（ＢＬＴ）との間に設けられたメモリセルトランジスタ（ＮＭ）と、前記メモリセルトランジスタの制御電極に接続されるワード線（ＳＷＬ）と、前記ワード線を駆動するワードドライバ（ＳＷＤ）と、を備えた半導体装置であって、前記ワードドライバは、前記ワード線を活性化させる第１の期間、及びそれに続く第２の期間において、それぞれ第１の電源電圧、及び、第２の電源電圧により前記ワード線を駆動し、前記第１の電源電圧は前記第２の電源電圧よりも高い電位である。 （もっと読む）

【課題】電力が供給されない状況でも記憶内容の保持が可能で、かつ、書き込み回数にも制限が無い、新たな構造の半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】トランジスタのオフ電流を十分に小さくすることができる材料、例えば、ワイドギャップ半導体である酸化物半導体材料を用いて半導体装置を構成する。トランジスタのオフ電流を十分に小さくすることができる半導体材料を用いることで、長期間にわたって情報を保持することが可能である。また、信号線の電位変化のタイミングを、書き込みワード線の電位変化のタイミングより遅らせる。これによって、データの書き込みミスを防ぐことが可能である。 （もっと読む）

【課題】ワード選択スピードを向上することができ、また動作電流の低減を図ることが可能な半導体記憶装置を提供することである。
【解決手段】本発明かかる半導体記憶装置は、メインワードデコーダ１と、サブワードドライバ２_１〜２_４と、両端にサブワードドライバ２_１、２_２がそれぞれ設けられると共に、複数のサブワード線を含む第１のメモリセルアレイ３_１と、メインワードデコーダ１から最も離れた位置に配置され、サブワードドライバ２_３、２_４がメインワードデコーダ１に近い側のみに配置された第２のメモリセルアレイ３_２と、を備える。メインワード線４およびプリデコード線５は、メインワードデコーダ１から第２のメモリセルアレイ３_２のサブワードドライバ２_４まで延びるように配置されている。 （もっと読む）

【課題】ワード線非活性化における情報破壊を防止する半導体装置を提供すること。
【解決手段】半導体装置は、ワード線及びビット線を含むメモリセルマットと、サブワードドライバ回路と、サブワードドライバ回路を制御する第１制御部と、を有するメモリセルアレイを備える。第２制御部は、第１電源電位を低電位側とする第１電源電圧で動作する第３回路部と、第１電源電位よりも低い第２電源電位を低電位側とする第２電源電圧で動作する第４回路部と、を含む。第２制御部は、サブワードドライバ回路に第１制御信号を供給し、第１制御部に第２制御信号を供給する。第１制御部は、第１電源電位を受け取らずに第２電源電位を低電位側とする第３電源電圧で動作し、第２制御信号を受け取り第３制御信号をサブワードドライバ回路に供給する。サブワードドライバ回路は、第１制御信号と第３制御信号とを受け取り、活性状態のワード線を非線形に非活性状態とする。 （もっと読む）

【課題】ビット線構成が階層化されたメモリセルアレイにおいて、回路規模が小さくチップ面積の増加及びタイミングスキューを抑制可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】本発明の半導体装置は、ビット線構成がローカルビット線ＬＢＬとグローバルビット線ＧＢＬとに階層化され、ローカルビット線ＬＢＬとグローバルビット線ＧＢＬとの間の接続を制御する階層スイッチＳＷを備えている。階層スイッチＳＷの制御のため、ローカルスイッチ制御線ＬＳＬとメインスイッチ制御線ＭＳＬが配置される。ローカルスイッチ制御線ＬＳＬはローカルスイッチドライバＬＳＤにより駆動され、メインスイッチ制御線ＭＳＬはメインスイッチドライバＭＳＤにより選択的に活性化される。メモリセルアレイの規模が大きくなっても、ローカルスイッチドライバＬＳＤとメインスイッチドライバＭＳＤの配置によるレイアウト面積の増大及びタイミングスキューを抑制することができる。 （もっと読む）

【課題】慣用のロジックプロセスによる埋込みＤＲＡＭセルのデータ保持性能を改善できるワード線ドライバを提供する。
【解決手段】慣用のロジックプロセスによるｐチャネルトランジスタ１０１を含むＤＲＡＭセルにアクセスするためのワード線ドライバを提供する。このワード線ドライバは、ｐ型基板の中の深いｎ型ウェル領域の中に配置したｐ型ウェル領域に設けたｎチャネルトランジスタ３１３を含む。負極性のブースト電圧供給源から前記ｐ型ウェルおよび前記ｎチャネルトランジスタのソースに負極性ブースト電圧を供給する。この負極性ブースト電圧は、ｐチャネルアクセストランジスタのスレッショルド電圧以上の電圧値だけ接地電位よりも低い。深いｎ型ウェルおよびｐ型基板は接地電位点に接続する。 （もっと読む）

【課題】メモリセルの非アクティブ（非選択）時に定常的なリーク電流が発生するのを防止する半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】ビット線（ＢＩＴ／ＢＩＴＢ）と、前記ビット線に接続されるメモリ要素（メモリセルまたはローカルセンスアンプ）と、ワード線が活性化（ＷＬ＝Ｈ）されることにより前記メモリ要素がアクティブ状態とされる直前の所定期間（ＰＲＥ＝Ｌ）だけ前記ビット線に所定電圧（ＶＤＤ）を印加するプリチャージ回路と、を有する。 （もっと読む）

【課題】複数のメインワード線を備える半導体記憶装置において、複数のメインワード線を同時に活性化したいという要望が存在する。しかし、１本のメインワード線を駆動可能な能力を持つドライバでは、複数のメインワード線を同時に活性化することができない。そのため、複数のメインワード線を同時に活性化する半導体記憶装置が望まれる。
【解決手段】図１に示す半導体記憶装置は、第１及び第２のメインワード線と、外部から入力されるテストコマンドに応じて、第１のメインワード線を第１のタイミングで活性化させ、かつ、第１のメインワード線の活性状態を維持させたまま第１のタイミングとは異なる第２のタイミングで第２のメインワード線を活性化させる制御回路と、を備える。 （もっと読む）

【課題】センスアンプのイコライズ速度を高めつつ、イコライズ動作とワード線のリセット動作との同期を取る。
【解決手段】ビット線対ＢＬＴ，ＢＬＢをイコライズするイコライズ回路を含むセンスアンプＳＡと、イコライズ信号ＥＱＢの振幅をＶＤＤレベルに変換するイコライズ制御回路６４と、タイミング信号に基づいてサブワード線ＳＷＬを制御するワードドライバＷＤとを備える。ワードドライバＷＤは、ＶＤＤレベルに応じてサブワード線ＳＷＬの動作タイミングを変化させるためのレベルシフト回路ＬＶ１を含んでおり、これによりＶＤＤレベルが変化した場合であっても、イコライズ動作の完了タイミングとサブワード線のリセットタイミングが連動する。 （もっと読む）

【課題】ビットライン間のカップリング、またはワードライン間のカップリングを低減させることができる半導体メモリ装置を提供する。
【解決手段】第１ビットラインＢＬ１２に連結される第１メモリセルを含む第１領域ＳＭＣＢ１、及び第２ビットラインＢＬ２２に連結される第２メモリセルを含む第２領域ＳＭＣＢ２を具備する複数のメモリセル・ブロック１１０＿１〜１１０＿８と、対応するメモリセル・ブロックの前記第１メモリセル、または前記第２メモリセルと連結される複数のビットライン・センスアンプ１２０＿１〜１２０＿６と、第１ビットラインを、対応するビットライン・センスアンプに連結したり、グローバル・ビットラインＧＢＬ１〜ＧＢＬ８を介して、前記第２ビットラインを、前記対応するビットライン・センスアンプに連結する複数の連結部１３０＿１〜１３０＿８と、を具備する。 （もっと読む）

【課題】ネガティブワード線方式の半導体記憶装置において非選択ワード線の電位を安定させる。
【解決手段】少なくとも１つのメモリブロック（６０）を備えた半導体記憶装置（５０）において、第１の負電位を出力する第１の負電位発生回路（６４）と、第２の負電位を出力する第２の負電位発生回路（６５）と、メモリブロックにおけるワード線（１３）と第１の負電位との間の第１の放電経路（２５）と、ワード線（１３）と第２の負電位との間の第２の放電経路（２１）とを備えている。 （もっと読む）

【課題】高集積化を図り、単位面積あたりの記憶容量を増加させた新たな構造の半導体装置を提供することを目的の一とする。高集積化に伴い増加する回路素子数の低減が可能で、かつ、素子数低減による電力削減が可能な、新たな構造の半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】ビット線と、ｍ（ｍは３以上の自然数）本のワード線と、ソース線と、ｍ本の信号線と、第１乃至ｍのメモリセルと、駆動回路と、を有する半導体装置において、メモリセルは、第１のトランジスタ、容量素子に蓄積された電荷を保持する第２のトランジスタを含み、第２のトランジスタは酸化物半導体層で形成されるチャネルを有する。上記構成において、駆動回路は、第ｊ（ｊは３以上の自然数）の信号線に出力される信号を用いて第（ｊ−１）の信号線に出力される信号を生成する。 （もっと読む）

【課題】ワード線間の寄生容量が相対的に大きくなっても性能が低下しない半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】第１の方向に配線された複数のワード線と、第１の方向と交差する方向に配線された複数のビット線と、複数のワード線とビット線との交点に対応して設けられた複数のＤＲＡＭセルを備えるメモリセルアレイと、複数のワード線を駆動するワード線ドライバと、複数のワード線それぞれに接続されメモリセルアレイを間に挟んで、ワード線ドライバに対して反対側に配置され、当該ワード線に隣接するワード線が選択されたときに導通して当該ワード線を非選択電位に接続し、当該ワード線が選択されたときに非導通となる複数のワード線電位安定化トランジスタと、を備える。 （もっと読む）

【課題】ＣＭＯＳのＤＲＡＭの記憶コンデンサの初期電圧を大きくし、また時間が経つにつれて電荷が漏れ出す速度を小さくする方法を提供する。
【解決手段】第１電圧範囲を持つ第１入力信号８１に応答して第１出力信号を出すデコーダ回路１０を備える。出力回路１１は前記第１出力信号に応答して、第２電圧範囲を持つ第２出力信号２６を出す。第２電圧範囲は、前記第１電圧範囲の最小電圧より小さい電圧と、前記第１電圧範囲の最大電圧より大きい電圧を含む。 （もっと読む）

【課題】電力が供給されない状況でも記憶内容の保持が可能で、かつ、書き込み回数にも制限が無い、新たな構造の半導体装置を提供する。
【解決手段】第１の信号線と、第２の信号線と、メモリセルと、電位変換回路と、を有し、メモリセルは、第１のゲート電極、第１のソース電極、第１のドレイン電極、及び第１のチャネル形成領域を含む第１のトランジスタと、第２のゲート電極、第２のソース電極、第２のドレイン電極、及び第２のチャネル形成領域を含む第２のトランジスタと、容量素子と、を有し、第１のチャネル形成領域は、第２のチャネル形成領域とは、異なる半導体材料を含んで構成され、第２のドレイン電極と、容量素子の電極の一方と、第１のゲート電極と、は電気的に接続され、第２のゲート電極は、第２の信号線を介して電位変換回路と電気的に接続される。 （もっと読む）