説明

国際特許分類[C23C16/34]の内容

国際特許分類[C23C16/34]に分類される特許

61 - 70 / 917


【課題】構造が簡素でかつ低コストの白色発光素子を提供する。
【解決手段】基板はSi(100)もしくはGaAs(100)面を使用し、その上に水素化窒化炭素薄膜をスパッタ装置およびプラズマCVD装置によって2層もしくは多層成長し、膜厚増加方向に窒素含有量が増加するように成長させる。窒素含有量が増加するとバンドギャップが広がるので、バンドギャップの狭い下部の水素化窒化炭素からも吸収することなく白色発光を得ることができる。 (もっと読む)


【課題】歪みを減少し、品質を向上させることができる成長基板及び発光素子を提供すること。
【解決手段】本発明の一実施例による発光素子は、シリコン基板と、前記シリコン基板上に形成され、前記シリコン基板の一部を露出する第1バッファ層と、前記第1バッファ層及び前記露出されたシリコン基板を覆い、前記シリコン基板と共晶反応する物質からなる第2バッファ層と、前記第2バッファ層上に形成される第3バッファ層と、前記第3バッファ層上に形成される発光構造物とを備え、前記第2バッファ層はボイドを含む。 (もっと読む)


【課題】ハロゲン系腐食性ガスに対して高い耐食性を有すると共に、高い硬度を有し、耐擦傷性に優れた部材を提供すること。
【解決手段】基材表面の全部又は一部が、相対密度が50%以上98%未満である、CVD法によって調製された、膜割れが生じない窒化アルミニウム(AlN)膜によって被覆された部材。前記窒化アルミニウム(AlN)膜が、ナノインデンテーション法によりダイヤモンドバーコビッチ圧子を用いて測定した室温におけるナノインデンテーション硬さが、10GPa以上30GPa未満であることが特徴である。 (もっと読む)


【課題】電子のトラッピング現象を緩和すると共に、ヘキサゴナル欠陥の発生を抑制可能な窒化物半導体エピタキシャルウェハの製造方法を提供する。
【解決手段】基板1上に核生成層2を形成し、その核生成層2上に第一の窒化物半導体層3を形成し、その第一の窒化物半導体層3上に、前記第一の窒化物半導体層3よりも電子親和力の小さい第二の窒化物半導体層4を形成する窒化物半導体エピタキシャルウェハ10の製造方法において、前記第一の窒化物半導体層3を形成する際の成長温度が、前記第二の窒化物半導体層4を形成する際の成長温度よりも低くするものである。 (もっと読む)


【課題】緻密で原料起因の不純物濃度が低く抵抗率が低い導電性膜を、速い成膜速度で形成する半導体装置の製造方法および基板処理装置を提供する。
【解決手段】2種類以上の原料を処理室内に同時に供給し、前記処理室内に載置された基板上に膜を形成する半導体装置の製造方法であって、前記処理室内に基板を収容する工程と、少なくとも1種の原料を2つの異なる流量を有する複数の連続的パルスで前記処理室内に供給する工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】窒化アルミニウム被覆膜が基材表面に強固に密着してなる耐熱・耐腐食性部材を提供すること。
【解決手段】窒化アルミニウムを主成分とした被覆膜によって、基材の少なくとも一部が覆われた部材。前記被覆膜が、その最表面に0.5原子%以上40原子%以下のフッ素を含有する窒化アルミニウム膜であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】Si元素を含む原料が目的とする結晶に取り込まれることなく副生物となるのを抑え、結晶中のSi濃度を安定に制御することができる、第13族窒化物結晶の製造方法を提供すること。
【解決手段】第13族元素、窒素元素およびSi元素を含む原料を用いて、Si取込効率10%以上で結晶成長を行うことにより、Si元素を含有する第13族窒化物結晶を製造する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、エピタキシャル構造体及びその製造方法に関する。
【解決手段】本発明のエピタキシャル構造体の製造方法は、少なくとも一つのエピタキシャル成長面を有する基板を提供する第一ステップと、前記基板のエピタキシャル成長面の上に複数の空隙を含むカーボンナノチューブ層を懸架するように配置する第二ステップと、前記基板のエピタキシャル成長面にエピタキシャル層を成長させて、前記カーボンナノチューブ層を包む第三ステップと、を含む。 (もっと読む)


【課題】大型で、結晶性が良好な窒化ガリウム系半導体単結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】Ga及びNを含む混晶からなる種結晶を準備する工程S10と、当該種結晶の表面を種結晶のc軸と平行な2つの方向の中の一方から観察したときの視野に含まれる+c極性領域または−c極性領域の一部の極性を反転させる工程と、極性が反転した部分を含む+c極性領域または−c極性領域を成長面として結晶成長させることで、窒化ガリウム系半導体単結晶を得る工程S20と、を有する窒化ガリウム系半導体単結晶の製造方法。 (もっと読む)


【課題】金属および金属化合物のターゲットを主原料とすることで、有機金属ガス等の有害なガスを使用する必要がなくなり、大気圧プラズマを反応場として利用すると共に、熱源としても利用することで高融点材であるシリコンやセラミックス等の基板上へ密着性の良好な金属またはその酸化物若しくは窒化物等の金属化合物薄膜の形成方法及びその形成装置を提供する。
【解決手段】マイクロプラズマ法による薄膜作製方法において、全体に亘って内径が均一である細管1内に薄膜形成用の原料ワイヤー3を設置し、細管1に不活性ガスを導入すると共に高周波電圧を印加して細管1内部に高周波プラズマを発生させ、1又は複数の細管1内部のプラズマガスの流速及びプラズマガス温度を高温に維持しながら原料を加熱・蒸発させ、蒸発した材料を細管1から噴出させて基板上に照射し、プラズマガスにより基板を加熱すると共に、照射した材料を大気圧下で基板上に堆積させる。 (もっと読む)


61 - 70 / 917