本発明は、チップの実際の較正されていない温度Ｔ_１に比例する第１の信号（Ｉ_ptat1、Ｖ_ptat1、ｆ_ptat1）を供給する信号生成ユニット（２）を有する、温度設定曲線を較正するための半導体チップ上の構成に関する。第２の温度にチップを導くのを避けるために、チップの実際の較正されていない温度Ｔ１に比例する第１の信号（Ｉ_ptat1、Ｖ_ptat1、ｆ_ptat1）を読み出しするとともに、第２の信号（Ｉ_ptat2、Ｖ_ptat2、ｆ_ptat2）を特徴付ける第１の信号（Ｉ_ptat1、Ｖ_ptat1、ｆ_ptat1）に結合される信号オフセット（Ｉ_virt、Ｖ_virt、ｆ_virt）を生成し、そして、第１の信号（Ｉ_ptat1、Ｖ_ptat1、ｆ_ptat1）からの第１の実際の温度Ｔ_１を抽出することおよび第２の信号（Ｉ_ptat2、Ｖ_ptat2、ｆ_ptat2）から第２の較正されていない温度Ｔ₂を抽出することが提案される。
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【課題】 本発明は物体の少なくとも一部の物体温度（Ｔ_v ）を非接触で決定する温度測定装置に関し、環境条件の影響を受けることなく高精度に温度を測定することを目的とする。
【解決手段】 本装置は物体の近傍に配設され、第１及び第２の板４、１４を有するセンサユニット２を備える。感温センサは各板上に配設され、それぞれ第１の板４及び第２の板１４の温度を表す第１及び第２のセンサ信号１０、１８を生成する。本装置は第１及び第２のセンサ信号１０、１８を組み合わせて処理し、物体温度（Ｔ_v ）を決定する制御ユニット１２をも備える。カルマンフィルタの利用が好ましい。 （もっと読む）