【課題】微量セル内の測定対象試料の温度を正確に測定するための方法を提供する。
【解決手段】角セル内の温度（Ｔ_１、Ｔ_２・・・）を変化させ（Ｓ１０）、その温度毎にスペクトルが作成される（Ｓ１２）。スペクトルの主成分スコアを特性値（Ａ_１、Ａ_２・・・）として算出する（Ｓ１４、Ｓ１６）。キャピラリーセル内の温度とスコアとの値をプロットし検量線とする（Ｓ１８）。キャピラリーホルダ内の温度（Ｔ_１、Ｔ_２・・・）を変化させ（Ｓ２０）、その温度毎にスペクトルが作成される（Ｓ２２）。同様の手順で特性値（Ａ_１、Ａ_２・・・）を算出し（Ｓ２４）、検量線（検量式）を用いることによりキャピラリーセル内の温度（Ｔ^０_１、Ｔ^０_２・・・）を求める（Ｓ２６）。キャピラリーセル内の温度とキャピラリーホルダ内の温度とをプロットして校正曲線（校正式）とする。 （もっと読む）

【課題】従来用いられている恒温装置用均熱ブロックは、二重の均熱ブロック同士の接触が極めて良い場合、加熱冷却によって内ケースと外ケースが固着してしまったり、内ケースや外ケースに腐食が生じ、ケース同士が固着してしまったり、熱接触が悪化するなどの問題が生じる可能性があった。
【解決手段】本件発明では、開口部を有する管状の外ケースと、外ケースの開口部から挿入され、外ケースに内接する内ケースとの二重構造からなり、外ケースは、内壁の少なくとも一部が、内ケースの挿入方向へ向かって狭まるようテーパー加工された外テーパー部を有し、内ケースの外周は、外テーパー部に沿った内テーパー部を有し、外ケースと内ケースは、外テーパー部および内テーパー部にて接触し、外テーパー部および内テーパー部の少なくともどちらか一方は腐食防止メッキ処理がなされている恒温装置用均熱ブロックを提供する。 （もっと読む）

【課題】従来の恒温装置用の均熱ブロックは、温度センサなどの恒温対象物を挿入する穴の開口部分から、熱が流出したり流入したりするため、上下で大きな温度差が生まれ、温度分布が不均一であった。
【解決手段】本件発明では、恒温対象物収納ブロックと加熱冷却ブロックの二重構造からなり、略円柱状のブロックであって、上面から底面方向へ恒温対象物を収納する恒温対象物収納穴と、上面側に加熱冷却ブロックと接触する第一接触領域とを有し、加熱冷却ブロックは、上面が開口し恒温対象物収納ブロックを内接して収納可能なブロック収納穴と、第一接触領域と接触する第二接触領域とを有し、加熱冷却ブロックに収納ブロックを収納した状態で、ブロック収納穴の内壁面と前記恒温対象物収納ブロックの外壁面との間に空間を有する恒温装置用均熱ブロックを提供する。 （もっと読む）

【課題】従来の温度校正装置用の均熱ブロックは、温度センサを挿入する穴の開口部分から、熱が流出したり流入したりするため、上下で大きな温度差が生まれ、温度分布が不均一であった。
【解決手段】本件発明では、一端が閉じた管状の加熱冷却管と、前記加熱冷却管に内接し、恒温状態にすべき恒温対象物を挿入可能な恒温対象物挿入穴を有する恒温対象物挿入ブロックとからなり、前記加熱冷却管の長さ方向略中央部の外周には、加熱冷却装置が接続される加熱冷却装置接続部と、を有する恒温装置用均熱ブロックを提供する。また、前記加熱冷却管は、内壁の少なくとも一部が、一端が閉じた方向へ向かって狭まるテーパー形状を有し、前記恒温対象物挿入ブロックの外周は、前記加熱冷却管の内壁のテーパー形状に沿ったテーパー形状を有している恒温装置用均熱ブロックを提供する。 （もっと読む）

【課題】光ファイバを用いた温度分布測定器において、温度分布測定器本体側の温度変化による測定誤差の発生を防ぐ。
【解決手段】光ファイバと、光ファイバに光パルスを出射する光源と、光ファイバからのラマン散乱光を受光して電気信号に変換する受光部と、光ファイバの所定の位置近傍の温度を測定する温度計と、温度計の測定値の所定期間の平均値を算出する温度データ処理部と、平均値を基準温度として、電気信号に基づいて光ファイバの温度分布を算出する演算部とを備えた温度分布測定器。さらに、光ファイバの所定の位置および温度計が断熱材に覆われるようにしてもよい。 （もっと読む）

【課題】 電子チップを単一の要素と接するように配置するだけで、その電子チップの較正を行うことができ、また不揮発性メモリの使用を必要としない、電子チップの較正方法を提供する。
【解決手段】 この較正方法は、較正される電子チップの通常トランスデューサ、および通常トランスデューサの熱的特性と異なる熱的特性を有する較正トランスデューサを、第１の要素に接するように配置するステップ（１４４）と、通常トランスデューサおよび較正トランスデューサで、それぞれ、対応する温度変化ΔＴ₁、および温度変化ΔＴ₁と異なる温度変化ΔＴ_cを測定するステップ（１４６）と、測定された温度変化ΔＴ₁およびΔＴ_cに基づいて、較正される電子チップを較正するステップ（１５４、１５６）とを含んでいる。 （もっと読む）

【課題】光ファイバにおける波長により異なる伝送損失の変化が生じてもその伝送損失の補正を行い、温度分布の校正を行うこと。
【解決手段】たとえばＬＤ駆動選択回路（半導体レーザ駆動選択回路）３から第１の光パルス（１１００ｎｍ）を発振し、反ストークス光波長損失測定用半導体レーザ（ＬＤ（３））５から第１の光パルスより発生する後方散乱の第１の反ストークス光と同波長の第２の光パルス（１０５０ｎｍ）を発振し、ストークス光波長損失測定用半導体レーザ（ＬＤ（２））４からから第１の光パルスより発生する後方散乱の第１のストークス光と同波長の第３の光パルス（１１５０ｎｍ）を発振し、信号制御処理部により、第２の光パルスの伝送損失により、第１の反ストークス光の伝送損失の補正を行い、第３の光パルスの伝送損失により、第１のストークス光の伝送損失の補正を行うようにした。 （もっと読む）

【課題】被測温体の表面に感温部を接触して表面温度を測定する接触式表面温度センサを精度よく比較校正できる接触式表面温度センサ校正器、接触式表面温度センサの校正方法及び基準温度センサの校正方法を提供する。
【解決手段】接触式表面温度センサ２０を校正するための接触式表面温度センサ校正器１０で、前記接触式表面温度センサ２０の感温部２１を当接する基準ブロック１１に基準温度センサ３０を固定配置すると共に、前記基準ブロック１１に接して前記基準ブロック１１を加熱して昇温させる加熱源１７を設けた加熱ブロック１４とは分離可能に前記基準ブロック１１を構成する。 （もっと読む）

【課題】設計変更せずに、複数個の温度を容易に感知し、工程の変化に対処できるようにした温度センサを提供すること。
【解決手段】テストモードで発振信号に応じてカウントされる第１のカウント信号及び第２のカウント信号を生成するカウント信号生成部と、前記第１のカウント信号及び第２のカウント信号をデコードして第１のテスト選択信号及び第２のテスト選択信号と終了信号とを生成するカウント信号デコーダと、前記第１のテスト選択信号及び第２のテスト選択信号に応じて第１の選択基準電圧または第２の選択基準電圧を入力基準電圧に出力する入力基準電圧選択部と、前記第１のテスト選択信号及び第２のテスト選択信号に応じて第１のラッチパルス及び第２のラッチパルスを生成するラッチパルス生成部とを備えることを特徴とする。 （もっと読む）