【課題】パターンを有する位相差フィルムの領域の直線性又はピッチの精度を簡単に評価しうる評価方法を提供する。
【解決手段】光源と基準部材と位相差フィルムと着脱可能な偏光フィルターと光検出器とをこの順に備える評価系において、基準部材は偏光子を備え且つ一の基準方向に延在する透光領域を有し、位相差フィルムは、面内に均一な位相差を有する第一位相差フィルムと、一方向に延在する複数の異方性領域及び等方性領域を面内において交互に有する第二位相差フィルムとを備え、基準部材の基準方向における複数の地点を偏光フィルターを装着せずに観察して、基準方向に平行な基準線を前記複数の地点で同様に設定することと、偏光フィルターを装着して観察して、基準線と光が検出された部分の縁部とのズレ量を測定することとを行い、ズレ量の相違から異方性領域及び等方性領域の直線性を評価する。 （もっと読む）

【課題】光学フィルムを停止させることなく、光学フィルムの光学特性を高精度に測定する。
【解決手段】光学フィルム１１に円偏光を測定光として照射する投光部１２と、Ｘ方向に配列された複数種類の波長板と、各波長板に対応する領域内に、ひとつの測定値を得る単位となる単位受光エリアが複数配列された撮像素子とを有し、光学フィルム１１を透過した測定光を複数種類の偏光状態で単位受光エリア毎に受光する受光部１３と、光学フィルム１１をＸ方向に搬送することにより、単位測定エリアをＸ方向に移動させる搬送ローラ１４と、単位測定エリアをＸ方向に移動させながら単位測定エリアを透過した測定光を複数の単位受光エリアで受光することによって、同一の単位測定エリアについて複数得られる測定値から単位測定エリアのミュラー行列を算出するとともに、算出したミュラー行列の要素を用いて光学特性を算出する制御部１６と、を備える。 （もっと読む）

【課題】光学フィルムを停止させることなく、光学フィルムの光学特性を高精度に測定する。
【解決手段】光学フィルム１１に円偏光を測定光として照射する投光部１２と、Ｙ方向に配列された複数種類の波長板と、ひとつの測定値を得る単位となる結合画素を波長板の各々に対応するように設けた単位受光エリアがＸ方向に複数配列された撮像素子とを有し、光学フィルム１１を透過した測定光を複数種類の偏光状態で単位受光エリア毎に受光する受光部１３と、光学フィルム１１をＸ方向に搬送することにより、単位測定エリアを移動させる搬送ローラ１４と、単位測定エリアを移動させながら測定光を複数の単位受光エリアで受光することによって、同一の単位測定エリアについて複数得られる測定値から単位測定エリアのミュラー行列を算出するとともに、算出したミュラー行列の要素を用いて光学特性を算出する制御部１６と、を備える。 （もっと読む）

【課題】乾麺におけるクラックの発生を事前に予測することができる乾麺のクラック発生予測装置を提供する。
【解決手段】光源部１のハロゲンランプ４から発せられた光が円偏光フィルタ５で円偏光に変換されると共にコンデンサレンズ６で集光されて試料Ｓに照射され、試料Ｓを透過した光が対物レンズ７で平行光に変換された後、楕円偏光解析器８を通してＣＣＤカメラ９に到達し、試料Ｓの複屈折性に起因して試料Ｓを透過する際に生じた位相差をコントラストに変換した位相差像がＣＣＤカメラ９で取得される。位相差像のデータに基づき、予測部３で、試料Ｓが有する複屈折位相差量が計測されると共に計測された複屈折位相差量から試料Ｓ内の残留応力の大きさが評価され、評価された残留応力の大きさに応じて、試料Ｓにおけるクラック発生の有無が予測される。 （もっと読む）

【課題】同じ測定箇所で位相差値と厚みデータとを測定することで、複屈折や厚み方向位相差値Ｒｔｈをより精度よく得ることができる光学測定装置を提供する。
【解決手段】光学測定装置Ｍは、光学フィルムＳに光Ｌ１を入射する投光器３０と、投光器３０から光学フィルムＳに入射された入射光Ｌ１を受光する受光器３４と、受光器３４によって受光された透過光Ｌ１から光学フィルムＳの面内位相差値Ｒ０を算出する位相差Ｒ０算出部１１と、位相差Ｒ０算出部１１で面内位相差値Ｒ０を算出するのに用いた入射光Ｌ１と同じ入射光Ｌ１を用いて光学フィルムＳの厚みデータｄを算出する厚み算出部１２とを備えている。受光器３４は、２つのファイバ部８ａ，８ｂに分岐される光ファイバ８を含んでおり、一方のファイバ部８ａが位相差Ｒ０算出部１１に接続され、他方のファイバ部８ｂが厚み算出部１２に接続されている。 （もっと読む）

【課題】画質の良好な撮像装置を提供する。
【解決手段】レーザ光源１０と、ポンプ光Ｌ３の入力により被測定物５０に電磁波Ｌ４を照射する照射部３０と、被測定物を透過又は反射した電磁波とプローブ光Ｌ２とを合波する合波部１４と、合波部により合波された電磁波とプローブ光とが入射され、電磁波の電界強度に応じて誘起される複屈折によりプローブ光の偏光状態を変調させる電気光学素子３２と、電気光学素子により偏光状態が変調されたプローブ光のうちの所定の偏光成分の光を通過させる検光子３４と、検光子を通過した光を光電変換する光電変換部３６と、分岐部と合波部との間におけるプローブ光の進行経路に配され、電気光学素子の各箇所における複屈折性のばらつきに起因して生じるプローブ光の偏光状態の変調のばらつきを相殺するように各箇所における複屈折の程度が設定され、プローブ光の偏光状態を予め調整する光学補償素子とを有している。 （もっと読む）

【課題】新規な粘着剤の複屈折性評価方法、その評価方法を用いた粘着剤の設計方法及び製造方法、この製造方法により得られた粘着剤、得られた粘着剤を用いる偏光板及び液晶表示装置、並びにこれらの製造方法の提供。
【解決手段】固有複屈折が絶対値で１×１０^−３以下、光弾性定数が絶対値で１×１０^−１２Ｐａ^−１以下であるポリマーフィルムを支持体として、支持体に粘着剤を付与した積層フィルムを準備する工程と、積層フィルムを熱延伸する工程と、熱延伸した後の積層フィルムのリタデーションと、粘着剤の層の厚さを測定する工程と、を有する粘着剤の複屈折性評価方法。 （もっと読む）

【課題】少量のサンプルであっても、高い分解能と安定した計測精度が実現でき、安価でコンパクトな光学的成分測定装置を提供する。
【解決手段】光ファイバループ２を一の方向に伝搬する直線偏光を右円偏光に変換して測定対象のサンプル２２に入射する第１光変換部２３と、光ファイバループ２を他の方向に伝搬する直線偏光を左円偏光に変換してサンプル２２に入射する第２光変換部２４と、を有する円偏光入射部２１を備え、両光変換部２３，２４は、サンプル２２の一側に並列して配置され、円偏光を同一方向に出射するように構成され、円偏光入射部２１は、一の光変換部２３から出射された円偏光を反射し、サンプル２２に少なくとも１往復透過させた後、他の光変換部２４に入射させる反射手段２５をさらに備え、反射手段２５は、入射してきた円偏光を偶数回反射させて、サンプル２２に出射する偶数個の反射ミラー２５ａからなる。 （もっと読む）

【課題】 走行している長尺の光学異方性膜が所望の光学特性が得られているか否かの判定をインラインでの測定で可能にする評価方法、かかる評価方法を可能にする測定装置、および該評価結果を用いて所望の光学特性を有する光学異方性膜を製造する方法を提供する。
【課題手段】 光学異方性膜に対し垂直方向、面内遅相軸方向に対し方位角−５°〜＋５°かつ極角θ_１（ただし、３０°≦θ_１≦７０°である）の方向、および面内遅相軸方向に対し方位角θ_２（ただし、３０°≦θ_２≦６０°である）かつ極角θ_３（ただし、３０°≦θ_３≦７０°である）の方向に光を照射してそれぞれの透過偏光状態の変化を測定する工程、およびその測定値と、所望の光学特性を有する光学異方性膜について同様の測定を行って得られる透過偏光状態の変化とを対比する工程、を有する光学異方性膜の評価方法。 （もっと読む）

【課題】液晶パラメータ測定の方法及び装置の提供。
【解決手段】第１電気コントローラにより線偏光ジェネレータを調整し、第２電気コントローラにより偏光分析器を調整する。該線偏光ジェネレータは光源からの入射光を受け取り並びに複数の偏光の特徴を抽出し、第１電気コントローラにより制御されて、この複数の偏光を測定サンプルに照射する。該測定サンプルを透過した光は偏光分析器に受け取られる。第２電気コントローラは該偏光分析器を制御して特定の偏光を抽出して後端のデータ処理装置に送る。該データ処理装置は該偏光分析器からの偏光データを受け取り液晶分割層モデルを使用して少なくとも一つの液晶パラメータを得る。 （もっと読む）