説明

国際特許分類[G01N21/91]の内容

国際特許分類[G01N21/91]に分類される特許

61 - 66 / 66


【課題】目的物を蛍光剤で処理し、目的物に光を照射し、照射された目的物からの蛍光を画像記録部により記録して目的物中の割れを検出すること。
【解決手段】目的物(11)を蛍光剤で処理し、目的物(11)に光を照射し、照射された目的物からの蛍光を画像記録部(13、54)により記録することからなる、目的物中の割れを検出する方法であって、画像記録部(13、54)により得られた目的物(11)の画像を、画像の色内容に関して自動的にデジタル化して目的物中の任意の割れを検出するために分析することを特徴とする方法。 (もっと読む)


【課題】省電力下で肉体的な負担を軽減して作業効率を向上させ得る手動操作式の磁粉式探傷装置を提供する。
【解決手段】磁性材表面1を走行するキャスタ13付きの台車基部12に復帰ばね16を介して押下げ操作可能に支持された昇降式台車10に、両側のコア脚部20aの先端部が一対の磁極ヘッド23として形成され、かつ励磁コイル21を巻回されたコア20と、磁極ヘッド23間の領域の磁性材表面1に紫外線照射用スイッチ19の操作に応答して紫外線を照射する紫外線光源とが取付けられる。磁極ヘッド23の高さ位置は、キャスタ13よりも上方位置に設定されている。台車基部12に、昇降式台車10が下降したのを検知して励磁コイル21の給電を自動的に行わせる下降検知スイッチ17が設けられる。昇降式台車10を押下げ操作すると、下降検知スイッチ17がオンになると共に、磁極ヘッド23が磁性材表面1に当接する。
(もっと読む)


【課題】 水素脆化を広範囲な領域について容易かつ確実に検査できる方法を提供する。
【解決手段】 被検査材料を引っ張り、被検査材料にひずみを付与した後、染色浸透探傷試験を行うことを特徴とし、被検査材料に段階的にひずみを付与し、それぞれの段階で染色浸透探傷試験を行うことによって、水素脆化の状況を把握し、またひずみ率が5%のひずみを付与した後、染色浸透探傷試験で割れが検出されない場合は、非検査材料にはすぐに問題となる水素脆化はないと判定する。 (もっと読む)


【課題】
非破壊検査である浸透探傷と磁粉探傷とを、従来、目視で行われていたのを、画像データをもちいて検査する。
【解決手段】
被検査試料をカラービデオカメラで撮像して得た画像信号を用いて、擬似欠陥を含む欠陥候補を自動検出し、結果を画面上に表示し、その中から真の欠陥を検出する。また、画像データを記憶手段に記憶させておき、画面上に繰り返して表示できるようにした。浸透探傷では、画面各位置の色度を求め、色差から欠陥候補を抽出し、さらに、色差の微分値により欠陥を疑似欠陥を識別する。また、浸透探傷では、照明による正反射を除くため偏光フィルタを用い、磁粉探傷では、紫外線カットフィルタをカメラに装着してノイズを防ぐ。白色照明灯と紫外線照明灯の両方を装備することにより、1つのプローブで、両方の検査を行うことを可能にした。 (もっと読む)


【課題】画像による目視検査での欠陥候補の確認をし易くし、欠陥の見逃しなどをなくして欠陥検査の信頼性を高める。
【解決手段】ここでは、試験体1に紫外線を照明し、割れ欠陥2aで蛍光を発光させる磁粉探傷法による欠陥検査であるが、かかる試験体1の表面を、紫外線カットフィルタ5を介して、カラーテレビカメラ3で撮像する。カラービデオカメラ3から出力されるR,G,B信号による原画像は、画像メモリ7に一旦格納される。この原画像はカラーモニタ9で表示されるとともに、コンピュータ8はG画像を処理して欠陥候補を検出し、カラーモニタ9に表示される原画像中の欠陥候補毎に欠陥候補マーカを付加表示させる。検査者は、この欠陥候補マーカでもって原画像中の欠陥候補を知り、この欠陥候補に対して真の割れ欠陥か擬似欠陥かを目視確認する。原画像と検査結果はデータ記憶装置11に格納される。 (もっと読む)


【課題】安定した高い信頼性を持つ画像データと撮像位置表示手段を用いて高精度の連続した画像データにより目視検査とも対応できる探傷検査方法を提供する。
【解決手段】デジタルカメラで色表示手段であるカラー色票を撮像しモニタに表示する。色再現しているかチェックし、カラー色表の各色が再現していなければ、カメラ設定をチェックする。解像度表示手段であるLPゲージを撮像し、2.0LPが分離していなければ、カメラ設定をチェックする。検査対象に探傷処理をした後、検査対象に撮像位置表示手段であるスケールバーを装着し、スケールバーのマークに合わせて撮像する。画像データを全て検査用PCに転送し、検査用PCで欠陥検査を実行する。欠陥検査中に欠陥を発見した場合、その欠陥の位置や大きさ、形状などの欠陥情報を記録し欠陥数などのデータを表示する。 (もっと読む)


61 - 66 / 66