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国際特許分類[G01R31/00]の内容

物理学 (1,541,580) | 測定;試験 (294,940) | 電気的変量の測定;磁気的変量の測定 (31,836) | 電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの (15,110)

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【課題】 高感度、かつ高精度のセンサ、検査装置および検査方法を提供する。
【解決手段】 導電性の膜であるITO膜でセンサ電極20を形成し、パネル上の画素電極との間の静電結合を介して受信電極として機能させる。また、ゲート電極51の下にゲート金属23を形成し、その一端部にコンタクト43を介してセンサ電極20を接続することで、CMOS素子41とセンサ電極20との連結を確保する。その結果、ゲート電極51の作り込みのプロセスに依存することなく、センサ電極20をCMOS素子41のゲート電極51に対して電気的に接続できる。 (もっと読む)


【課題】状態信号の正常範囲を容易に変更することができる装置を提供する。
【解決手段】信号取得部10は、インバータ200から状態信号を取得する。正常範囲設定部20は、状態信号の正常範囲を設定する。この際、正常範囲設定部20は、正常範囲の設定値を表示部60へ表示させるとともに、ユーザインターフェース部50を介して行われるユーザによる設定値の変更操作に応じて正常範囲の設定値を変更する。異常検出部30は、状態信号の信号値が正常範囲を超える場合にインバータ200が異常状態であると判断する。システム制御部40は、異常状態であると判断された場合にインバータ200の動作を停止させる。 (もっと読む)


【課題】チップ形電子部品を回転円盤等で搬送し、その電気的特性を検査し分類するチップ形電子部品特性検査分類装置を提供する。
【解決手段】本発明によるチップ形電子部品30の電気特性を検査し、前記検査の結果に基づきチップ形電子部品30を分類する装置の検査用接触子の前記チップ形電子部品の端面電極31と接触する部分を前記検査用接触子の材質をパラジウム、銀、白金と金をベースとする合金とする。前記チップ形電子部品の端面電極と接触する部分の形状は、例えば細いワイヤを複数本束ねたブラシ形状とする。 (もっと読む)


【課題】 検査対象の良否を高精度で検査できるセンサ、検査装置および検査方法を提供する。
【解決手段】 中央部分がたわみ、その断面形状がゆるいS字型のガラス等からなるセンサ基板5a,5bの一方端部上面にセンサ回路31を配し、その部分を、他の信号基板24上に設けた一定の高さを有するスペーサ33に密着させる。その結果、センサ回路31が信号基板24の面位置よりも高くなり、センサ回路31に設けたセンサ電極20を、検査対象である液晶パネルの画素電極に容易に近接して制御することができる。 (もっと読む)


本発明は、検査装置の設計変更や修正の機会を低減し、液晶表示装置の製品価格の上昇を抑えることができる基板の検査方法を提供する。
本発明の検査方法では、第1アレイ領域に形成された少なくとも一部の配線と第2アレイ領域に形成された少なくとも一部の配線の両方に短絡する共通端子(101b)を基板上に形成する。共通端子(101b)から第1アレイ領域及び第2アレイ領域の両方に電気信号を供給する。画素電極に対して電子ビームを照射し、画素電極から放出される2次電子の情報によって画素電極に関する検査を行う。
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【課題】簡単かつ正確な不良判定および欠陥箇所の特定の可能な検査回路およびその方法を提供する。
【解決手段】複数のシフトレジスタ回路と、複数のラッチ回路と、複数の第1のNOR回路と、複数の第2のNOR回路と、複数の第1のNAND回路と、複数の第2のNAND回路と、複数のインバータを有した構成であり、画素部に設けられた複数のソース信号線のそれぞれを前記複数のラッチ回路に接続し、前記インバータの最終段から検査出力を得る。 (もっと読む)


【課題】アレイ基板及びこれを有する表示装置が開示される。
【解決手段】アレイ基板及びこれを有する表示装置において、画素部は、多数のゲートライン、多数のデータライン、及び多数のゲートラインと多数のデータラインに電気的に連結された多数の画素を含む。ゲート駆動回路は、多数のゲートラインの第1端部に電気的に連結され多数のゲートラインにゲート信号を提供する。第1検査回路は、多数のゲートラインのうち、奇数番目ゲートラインに電気的に連結され奇数番目ゲートラインに連結された奇数番目画素を検査する。第2検査回路は、多数のゲートラインのうち、偶数番目ゲートラインに電気的に連結され偶数番目ゲートラインに連結された偶数番目画素を検査する。従って、アレイ基板の欠陥を検出する能力を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】 EMC試験(特にイミュニティ試験)を行うに当たって、試験用電波を送信するのに用いられる増幅器のコストアップを招くことなく、試験対象物に対して試験用電波を適正に照射できるようにする。
【解決手段】 試験用電波を放射するホーンアンテナ30において、ホーン34の後端側に延設された導波管32の外壁に、金属筐体内に収納されて高周波信号を増幅する増幅器20を固定し、ホーンアンテナ30には、この増幅器20を介して試験用電波放射用の高周波信号を入力する。この結果、増幅器20とホーンアンテナ30とを接続する同軸ケーブル31の長さを短くして、高周波信号の伝送損失を低減することができ、増幅器20は、低出力のものを使用することが可能となる。また、増幅器20からの熱は、ホーンアンテナ30を介して放射できるため、増幅器20に放熱用のフィン等を設ける必要がない。 (もっと読む)


【課題】画素欠陥検査についてコストの上昇を抑制しつつ良好な検査精度を得ることができる液晶表示装置を提供する。
【解決手段】ソースドライバ300内に、画素形成部に含まれる画素容量を充電するためにアナログバッファBFから出力される駆動用映像信号の電圧と画素容量に蓄積された電荷の読み出しによって検出される電圧との差異電圧を出力する差異電圧出力バッファCMPを備える。また、切替スイッチSA1〜SAnによって、駆動用映像信号の伝達先を映像信号線SL1〜SLnと差異電圧出力バッファCMPとの間で切り替える。画素欠陥検査の際には、まず、表示部内のすべての画素形成部に含まれる画素容量を順次に充電する。充電終了後、表示部内のすべての画素形成部に含まれる画素容量に蓄積された電荷を順次に読み出し、上述の差異電圧に基づいて、画素欠陥の有無を判別する。 (もっと読む)


【課題】検査ステージに支持された液晶パネルの背面に気体を吹き付けることにより,液晶パネルの温度上昇を抑制する。
【解決手段】液晶パネル48はその周辺部で検査ステージのパネル受け14に支持される。液晶パネル48の背面の少なくとも一部は,検査ステージの内部空間64に露出している。この内部空間64にノズル62が開口している。ノズル62から液晶パネル48の背面に空気68が吹き付けられる。液晶パネル48を冷却した空気68は排出空間28から出て行く。液晶パネル48がバックライト34で照明されても,液晶パネル48の温度はあまり上昇しない。 (もっと読む)


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