【課題】コネクタの接続を効率的に検査することができるコネクタ接続検査回路を提供する。
【解決手段】コネクタ接続検査回路は、第１信号線３０の各信号線がそれぞれ接続された複数の端子を有する第１コネクタ４１０と、第２信号線５０の各信号線がそれぞれ接続されると共に、第１コネクタのそれぞれの端子と挿抜可能に接続される複数の端子を有する第２コネクタ４２０と、第１コネクタの両端の端子に接続された信号線を除く一部の信号線がそれぞれトランジスタ３１のソース・ドレインを介して接続される一の端子である第１計測端子と、該一部の信号線以外の残りの信号線がそれぞれトランジスタのソース・ドレインを介して接続される一の端子である第２計測端子と、を備え、第１コネクタの両端の端子に接続された２つの信号線の一方は、第１計測端子に接続され、第２コネクタの両端の端子に接続された２つの信号線は、互いに電気的に接続されている。 （もっと読む）

【課題】コネクタにおける短絡を検出できるようにする。
【解決手段】コネクタ異常検出装置が、コネクタを流れる電流の大きさを示す電流情報を取得する電流情報取得部と、電流情報取得部が取得した電流情報の示す電流の大きさが、所定の電流の大きさ以下か否かを判定する判定部と、を具備する。コネクタにおいて短絡が生じた場合、判定部が、電流情報の示す電流の大きさが、所定の電流の大きさよりも大きいと判定して、コネクタにおける短絡を検出し得る。 （もっと読む）

【課題】プローブを各電極に同時に接触させることが困難な検査対象部品等についての検査を可能とする。
【解決手段】回路基板２の任意の２点間の電気的特性値Ｄｍを測定する測定部５と、この電気的特性値Ｄｍに基づいて２点間に実装されたコンデンサ１１〜１７を検査する処理部６とを備え、一方の電極１３ａがアナログスイッチ１８の一方の入出力電極１８ａに接続され、かつ他方の電極１３ｂが導体パターン３２に接続された第１部品としてのコンデンサ１３の検査に際し、測定部５は、アナログスイッチ１８の他方の入出力電極１８ｂと導体パターン３２との２点間の電気的特性値Ｄｍを測定し、処理部６は、アナログスイッチ１８をオン状態に移行させたときに測定部５によって測定される電気的特性値Ｄｍである第１電気的特性値Ｄｍ１に基づいてコンデンサ１３の電気的特性値Ｄｍを算出し、この電気的特性値Ｄｍに基づいてコンデンサ１３を検査する。 （もっと読む）

【課題】交流電流が供給される経路に配置された接続部の接触抵抗を求め、その接続部の接触状態の異常をより精度良く検知することが可能な接触異常検知装置を提供する。
【解決手段】接続部１１は、交流電流が供給される経路に配置されてインバータ７とモータ８とを接続する。電圧測定部２は、接続部１１の両端に発生する電圧を測定する。電流測定部３は、接続部１１に流れる電流を測定する。演算部４は、電圧又は電流がゼロとなる時間付近以外の時間における接続部１１の接触抵抗を求め、その接触抵抗に基づいて接続部１１における接触異常を検知する。 （もっと読む）

【課題】電気機器がアース接続されていない場合、又は極性を間違えて電源に接続した場合に、電気機器への給電を停止でき、経年劣化しにくい給電制御装置を提供する。
【解決手段】給電制御装置１は、一次コイル２１と二次コイル２２との巻数比が互いに異なる一対のトランス２ａ，２ｂを備える。一次コイル群２１０は、電源ライン４０，４１に接続されている。一対の一次コイル２１ａ，２１ｂの間は、電気機器４のアース線４２に接続されている。二次コイル群２２０には、電気機器４への給電を制御する制御回路３が接続されている。制御回路３は、二次コイル群２２０に生じた誘起電圧に応じて、交流電源７（商用電源）に対して電気機器４が極性を間違えて接続されているか否か、及び電気機器４がアース接続されているか否かを検出する。 （もっと読む）

【課題】 太陽電池の電極の接続不良を短時間で精度よく検出する。
【解決手段】 太陽電池ＳＢの表面上を遮光カーテン６１で、複数の領域に区分する。区分された複数の領域に照射装置５０Ａ，５０Ｂがそれぞれ配置される。照射装置５０Ａ，５０Ｂは、発光信号供給回路８１，８１Ｂにそれぞれ制御されて、互いに異なる周波数で強度が変化する光を太陽電池ＳＢにそれぞれ照射する。磁気センサ１０Ａ，１０Ｂも、複数の領域に配置されてそれぞれ磁界を検出して、前記異なる周波数の光の強度変化がもたらす複数の異なる周波数成分を含む磁界検出信号をそれぞれ出力する。コントローラ９０は、信号選択回路８４，８５及びロックインアンプ８６と協働して、磁気センサ１０Ａ（及び１０Ｂ）による磁界検出信号から照射装置５０Ｂ（及び５０Ａ）の光の照射による光の強度変化がもたらす周波数成分の磁気検出信号を取出す。 （もっと読む）

【課題】コネクタの切片部が、嵌合されるメモリモジュールなどの電子部品に設けた端子部に対して良好な接触性を有しているか否かを評価するためのコネクタ検査方法を提供する。
【解決手段】被検査コネクタ１０の各切片部１３にメモリモジュール１２の各端子部１４を直列状態で電気的に接続し、この直列接続全体の第１の抵抗値を測定する工程と、各端子部１４にケイ砂（粉体）を付着させたメモリモジュール１２を被検査コネクタ１０に嵌合して、被検査コネクタ１０の各切片部１３にメモリモジュール１２の各端子部１４を直列状態で電気的に接続し、この直列接続全体の第２の抵抗値を測定する工程と、前記第１の抵抗値と前記第２の抵抗値の差分抵抗値を算出する工程と、算出された前記差分抵抗値が予め設定した所定範囲内に入っているか否かにより、被検査コネクタ１０の各切片部１３の各端子部１４に対する接触状態を判断する工程と、を有している。 （もっと読む）

【課題】車両用の暖房装置に、補助用の熱源として備えられる電気ヒーターの検査方法であって、電気ヒーターのコネクター部に関する結線状態の良否を、常に正確に判断することが可能な、電気ヒーターの検査方法を提供することを課題とする。
【解決手段】電気ヒーター５１ａの作動前後における、オルタネーター５３の「Ｄｕｔｙ比（Ｒａ）」および「Ｄｕｔｙ比（Ｒｂ）」を各々測定し、これら「Ｄｕｔｙ比（Ｒａ）」および「Ｄｕｔｙ比（Ｒｂ）」の「Ｄｕｔｙ比の変化量（Ｒｃ）」と、予め定められた「規格値（Ｒ）」とを比較することで、ワイヤーハーネス５１ｄのコネクター部の結線状態を判断する。 （もっと読む）

【課題】モジュールと本体側コネクタ間の接続不良に起因してモジュールが動作不良と判断されてしまうおそれがある。
【解決手段】サーバー１００は、複数の接点を介してメモリ装置１０が接続され、複数の接点を介してメモリ装置１０から複数ビットのデータが入力するコネクタ２０と、コネクタ２０を介して入力する複数ビットのデータに含まれるビットにエラーが生じているか否かを判断するビットエラー検出部４１と、ビットエラー検出部４１によりエラーが検出されたビットに対応する接点を含む第１配線と、ビットエラー検出部４１によりエラーが検出されなかったビットに対応する接点を含む第２配線と、に対してテスト波形を入力し、このテスト波形に応じて第１及び第２配線夫々にて生じる反射波のレベル差を評価することで第１配線の状態を判定する接続確認回路５０と、を備える。 （もっと読む）