説明

コネクタ接続検査回路、表示装置、コネクタ接続検査方法及び表示装置の製造方法

【課題】コネクタの接続を効率的に検査することができるコネクタ接続検査回路を提供する。
【解決手段】コネクタ接続検査回路は、第1信号線30の各信号線がそれぞれ接続された複数の端子を有する第1コネクタ410と、第2信号線50の各信号線がそれぞれ接続されると共に、第1コネクタのそれぞれの端子と挿抜可能に接続される複数の端子を有する第2コネクタ420と、第1コネクタの両端の端子に接続された信号線を除く一部の信号線がそれぞれトランジスタ31のソース・ドレインを介して接続される一の端子である第1計測端子と、該一部の信号線以外の残りの信号線がそれぞれトランジスタのソース・ドレインを介して接続される一の端子である第2計測端子と、を備え、第1コネクタの両端の端子に接続された2つの信号線の一方は、第1計測端子に接続され、第2コネクタの両端の端子に接続された2つの信号線は、互いに電気的に接続されている。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、コネクタ接続検査回路、表示装置、コネクタ接続検査方法及び表示装置の製造方法に関し、より詳しくは、複数の信号線の電気的な接続を行うコネクタの異常接続を検出するためのコネクタ接続検査回路、そのコネクタ接続検査回路を備える表示装置、コネクタ接続検査方法、そのコネクタ接続検査方法を使用した表示装置の製造方法に関する。
【背景技術】
【0002】
液晶表示装置等の表示装置をはじめとする電子機器においては、信号の送受信のため、2つの基板の間や部品と基板の間を複数の信号線により同時に接続するコネクタを使用して接続されている。例えば、表示装置において、表示パネルから延びるFPC(Flexible Printed Circuits)と信号発生回路からの信号を中継する中継基板がコネクタを介して接続されている。このようなコネクタは、近年の電子機器の小型化複雑化により、信号線間は狭くなる傾向にあり、接続の不具合が発生してしまう恐れがある。
【0003】
図8〜11は接続の不具合の例を説明するための図である。第1コネクタ810及び第2コネクタ820は、基板700とFPC900とを電気的に接続するものであり、図7には、第1コネクタ810及び第2コネクタ820が正常に接続されている様子が示されている。基板700側の第1コネクタ810は、複数の端子である複数のパッド81を有し、FPC900側の第2コネクタ820は、同じく複数の端子である複数のパッド82を有している。この図7においては、パッド81にパッド82が載るように接触し、それぞれの信号線が導通する正常な接触状態となっている。
【0004】
図9〜11は、第1コネクタ810及び第2コネクタ820の異常接続を説明するための図である。図9は、接続された第1コネクタ810及び第2コネクタ820の中に異物950が混入している様子が示されており、ここで、異物950は、隣り合うパッドの間にあるため、これらのパッドは短絡してしまっている。図10には、第2コネクタ820が、第1コネクタ810とずれて接続されてしまっている様子が示されている。この場合には、パッド81及び82は接触していないため、非導通となる。図11には、第2コネクタ820が、第1コネクタ810に斜めに挿されたときの様子が示されている。この場合には、接触すべきでないパッド81及び82間の接触による短絡、隣り合うパッド間の短絡及び接触すべきパッド81及び82の非接触による非導通が起こる。
【0005】
特許文献1は、インクジェットヘッドへ接続するフレキシブルケーブルの斜め差しを防止することを目的とし、フレキシブルケーブルを介して5Vの印加し、その5Vのフィードバックを確認した後に、36.5Vの印加を行うことについて開示している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0006】
【特許文献1】特開2006−092868号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0007】
例えば、表示装置の表示パネルから延びるFPCと中継基板とを接続するコネクタに上述のような異常接続が発生した場合には、表示パネル上に配置されたドライバIC(Integrated Circuit)を破壊するだけでなく、発熱発火に至る危険もある。また、破壊にはいたらず軽度の損傷で済んだ場合にも、検査を通過し、信頼性低下品が市場に出回る可能性も否定できない。
【0008】
また、特許文献1のような検査は有効であるものの、この検査では、コネクタにおける特定のパッドの導通/非導通については検出できるものの、異物の混入やコネクタのずれによる隣接端子の接触について検出することは難しい。
【0009】
本発明は、上述の事情を鑑みてされたものであり、コネクタの接続を効率的に検査することができるコネクタ接続検査回路、表示装置、コネクタ接続検査方法及び表示装置製造方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0010】
本発明のコネクタ接続検査回路は、複数の端子を有する第1コネクタと、前記第1コネクタの前記複数の端子にそれぞれ電気的に接続された複数の信号線である第1信号線と、前記第1コネクタのそれぞれの端子と挿抜可能に電気的に接続される複数の端子を有する第2コネクタと、前記第2コネクタのそれぞれの端子にそれぞれ電気的に接続された複数の信号線である第2信号線と、前記第1信号線の複数の信号線のうち、前記第1コネクタの所定の2つの端子に接続された信号線を除く一部の信号線がそれぞれトランジスタのソース・ドレインを介して接続される一の端子である第1計測端子と、前記第1信号線の複数の信号線のうち、前記第1コネクタの前記所定の2つの端子に接続された信号線を除く残りの信号線がそれぞれトランジスタのソース・ドレインを介して接続される一の端子である第2計測端子と、前記トランジスタのそれぞれのゲートに共通に接続する一のゲート信号線と、を備え、前記第1信号線のうち、前記第1コネクタの前記所定の2つの端子に接続された2つの信号線の一方は、前記第1計測端子に接続され、前記第2信号線のうち、前記第1コネクタの前記所定の2つの端子に対応する前記第2コネクタの2つの端子に接続された2つの信号線は、互いに電気的に接続されている、ことを特徴とするコネクタ接続検査回路である。
【0011】
また、本発明のコネクタ接続検査回路においては、前記一部の信号線の各信号線と前記残りの信号線の各信号線は、前記第1コネクタの複数の並んだ端子に交互に接続されていてもよい。
【0012】
また、本発明のコネクタ接続検査回路においては、検査時において、前記第1信号線のうち、前記第1コネクタの前記所定の2つの端子に接続された2つの信号線の他方には所定の電位が印加されると共に、前記ゲート信号線には前記ソース・ドレインを導通させる電位が印加されることができる。
【0013】
また、本発明のコネクタ接続検査回路においては、前記所定の2つの端子は、前記第1コネクタの両端の端子とすることができる。
【0014】
本発明の表示装置は、表示パネルと、前記表示パネルに映像信号を送信する中継基板と、前記表示パネルと前記中継基板とを接続するフレキシブルプリント基板と、前記中継基板と前記フレキシブルプリント基板とのコネクタによる接続を検査するための上述したコネクタ接続検査回路のいずれかのコネクタ接続検査回路と、を備える表示装置である。
【0015】
本発明のコネクタ接続検査方法は、複数の信号線である第1信号線の各信号線がそれぞれ電気的に接続された複数の端子を有する第1コネクタと、複数の信号線である第2信号線の各信号線がそれぞれ電気的に接続されると共に、前記第1コネクタのそれぞれの端子と挿抜可能に電気的に接続される複数の端子を有する第2コネクタとの接続検査を行うコネクタ接続検査方法であって、前記第2コネクタの所定の2つの端子に接続された前記第2信号線のうちの2つの信号線は、互いに電気的に接続され、前記所定の端子に対応する前記第1コネクタの2つの端子のうち一方の端子に接続された信号線に所定の電圧を印加し、前記第1コネクタの2つの端子のうち他方に接続された信号線で前記印加された電圧が計測されるかどうかを検査する端子接続検査工程と、前記第1信号線の複数の信号線のうち、前記第1コネクタの端子の並びで、前記他方を含む、一つおきの端子に接続された信号線が共に接続され、前記一端に所定の電圧を印加し、前記一つおきの端子の間の端子のそれぞれが共に電気的に接続された信号線において、前記印加された電圧が計測されるかどうかを検査する隣接端子短絡検査工程と、を備えるコネクタ接続検査方法である。
【0016】
また、本発明のコネクタ接続検査方法においては、前記端子接続検査工程と、前記隣接端子短絡検査工程とは並行して行われることができる。
【0017】
また、本発明のコネクタ接続検査方法においては、前記第1コネクタの2つの端子を除く端子に接続された信号線には、それぞれトランジスタのソース・ドレインが接続されるように挿入され、前記隣接端子短絡検査工程において、前記トランジスタのゲートにソース・ドレインの導通電圧を印加し、電圧を計測する、こととしてもよい。
【0018】
また、本発明のコネクタ接続検査方法においては、前記所定の2つの端子は、前記第2コネクタの両端の端子とすることができる。
【0019】
本発明の表示装置の製造方法は、薄膜トランジスタの形成されたガラス基板を使用して表示パネルを製造する表示パネル製造工程と、映像信号を前記表示パネルに送信するための中継基板を製造する中継基板製造工程と、前記表示パネルと前記中継基板とをフレキシブルケーブルにより接続する接続工程と、前記中継基板と前記フレキシブルケーブルとの接続を検査する、上述したコネクタ接続検査方法のいずれかのコネクタ接続検査方法を用いた検査工程と、を備える表示装置の製造方法である。
【図面の簡単な説明】
【0020】
【図1】本発明の一実施形態に係る表示装置について示す図である。
【図2】図1の表示装置において、映像信号の伝達を説明するための図である。
【図3】図2のコネクタ並びにその周辺の回路の電気的接続について概略的に示す図である。
【図4】コネクタの接続の検査工程について示すフローチャートである。
【図5】図4のフローチャートの変形例について示す図である。
【図6】表示装置の製造工程について示すフローチャートである。
【図7】コネクタ並びにその周辺の回路の電気的接続の他の例について示す図である。
【図8】第1コネクタ及び第2コネクタが正常に接続されている様子を示す図である。
【図9】接続された第1コネクタ及び第2コネクタの中に異物が混入している様子を示す図である。
【図10】第2コネクタが、第1コネクタとずれて接続されてしまっている様子を示す図である。
【図11】第2コネクタが、第1コネクタに斜めに挿されたときの様子を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0021】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照しつつ説明する。なお、図面において、同一又は同等の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
【0022】
図1は、本発明の一実施形態に係る表示装置100について示す図である。ここで、表示装置は、液晶表示装置、有機EL(Electro-Luminescent)表示装置等の各画素が階調値に応じた輝度となることにより表示を行う表示装置を含む。この図に示されるように、表示装置100は、表示パネル200を挟むように固定する上フレーム110及び下フレーム120と、映像情報を表示パネル200で表示できる形式に変換する中継基板300と、その中継基板300において変換された情報を表示パネル200に伝えるフレキシブルプリント基板(FPC)500と、により構成されている。
【0023】
図2は、図1の表示装置100において、映像信号の伝達を説明するための図である。この図2に示されるように、映像信号発生器150で生成された映像信号は、フラットケーブル145を介して中継基板300に伝達される。中継基板300では、映像信号発生器150で生成された映像信号を、表示パネル200で表示できる形式に変換し、結合された第1コネクタ410及び第2コネクタ420を介してFPC500を経由し表示パネル200へと伝送される。表示パネル200では、駆動IC(Integrated Circuit)220が所定のクロックで動作することにより、表示領域210に映像信号に基づいた画像が表示される。
【0024】
図3は、図2の第1コネクタ410及び第2コネクタ420並びにその周辺の回路の電気的接続について概略的に示す図である。第1コネクタ410は、中継基板300と固定的に接続され一体となっており、第2コネクタ420は、FPC500と固定的に接続され一体となっており、第1コネクタ410と第2コネクタ420は挿抜可能に接続されている。
【0025】
この図に示されるように、第1コネクタ410は、中継基板300の第1配線(第1信号線)30a〜30gが電気的に接続された信号線の方向で交互にずらしながら並んだ7つの端子であるパッド41a〜41gを有し、第2コネクタ420は、FPC500の第2配線(第2信号線)50a〜50gが電気的に接続された信号線の方向で交互にずらしながら並び、第1コネクタ410のパッド41a〜41gとそれぞれ接触するための端子であるパッド42a〜42gを有している。第1コネクタ410と第2コネクタ420が正常に接続されると、第1コネクタ410のパッド41a〜41gに対応する第2コネクタ420のパッド42a〜42gが接触し、それぞれ電気的に接続される。
【0026】
FPC500では、第2コネクタ420の両端のパッド42a及び42gにそれぞれ接続された第2配線50a及び50gが互いに電気的に接続されている。また、中継基板300では、第1コネクタ410において両端のパッド41a及び41gに接続された第1配線30a及び30gを除く第1配線30b〜30fは分岐してそれぞれトランジスタ31b〜31fのソース・ドレインのいずれか一方に接続されている。更にトランジスタ31c及び31eのソース・ドレインのいずれか他方は計測ポイントMP1に接続され、トランジスタ31b、31d及び31fのソース・ドレインのいずれか他方は計測ポイントMP2に接続され、各トランジスタ31b〜31fのゲートは共通のゲート線32に接続されている。なお、本実施形態においては、ゲートにHigh電圧が印加されると導通するn型のトランジスタを用いているが、p型のトランジスタを用いた構成としていてもよい。
【0027】
また、第1配線30gは、計測ポイントMP1と接続されており、第1配線30a及びゲート線32は、それぞれ電圧を印加する印加ポイントAP1及びAP2に接続されている。図3において、これらのポイントに接続されていない破線で示される配線は、スイッチの設定を組み合わせることにより、ハイ・インピーダンスを有する素子を介して接地されることができるようになっている。以後の検査工程の説明においては、ハイ・インピーダンスを有する素子を介して接地されているものとする。
【0028】
次に、図3のように接続されるコネクタ周辺回路を用いて、第1コネクタ410及び第2コネクタ420の接続検査の方法について説明する。図4は第1コネクタ410及び第2コネクタ420の接続の検査工程S100について示すフローチャートである。なお、このフローチャートに記載された処理は、不図示の記憶装置に保存されたプログラムにより不図示の処理装置を用いて実行される。このフローチャートに示されるように、まず、ステップS11において印加ポイントAP1にHigh電圧を印加し、ステップS12において、計測ポイントMP1において、High電圧が検出されるかどうかを確認する。これにより、第1コネクタ410の両端のパッド41a及び41gと、第2コネクタ420の両端のパッド42a及び42gがとがそれぞれ電気的に接続されていることが確かめられ、コネクタ両端接続について検査することができる。
【0029】
ステップS12において否定的な判定の場合には、ステップS15に移行し、コネクタの接続検査は不合格のため検査NG等を表示し、検査工程S100を終了する。一方、肯定的な判定の場合には、ステップS13に進み、印加ポイントAP2にHigh電圧を印加し、続いてステップS14において、計測ポイントMP2でLow電圧が検出されるかどうか検査する。
【0030】
ここで、印加ポイントAP2にHigh電圧が印加されると、トランジスタ31b〜31fが導通し、ステップS12において印加ポイントAP1に印加されたHigh電圧は、第1配線30aから、第2配線50a、第2配線50g、第1配線30g、トランジスタ31e及び31cを介して、パッド41e及び41cをHigh電圧とする。したがって、その経路中のパッド41a及び41gと合わせて、パッド41a、41c、41e及び41gがHigh電圧となり、これらの間にあるパッド41b、41d及び41fは、Low電圧に維持されているため、隣あうパッドのいずれかが短絡している場合には、計測ポイントMP2にHigh電圧が検出される。ここで、計測ポイントMP2にHigh電圧が検出され、ステップS14において否定的な判定の場合には、ステップS15に移行し、コネクタの接続検査は不合格となり検査NG等を表示し、検査工程S100を終了する。一方、Low電圧が検出された場合には、ステップS16において検査合格の処理を行い、検査工程S100を終了する。検査が不合格であった場合には、コネクタの接続しなおし等を行い、再び検査工程S100を繰り返してもよい。
【0031】
ここで図5のフローチャートに示されるように、図4のステップS13をステップS11と同時に行うステップS21を採用しても、同様の検査を行うことができる。
【0032】
図6は、表示装置100の製造工程について示すフローチャートである。このフローチャートに示されるように、まず、ステップS51の表示パネル製造工程S51において、アクティブマトリクス基板からなる表示パネル200を製造する。次に、ステップS52において、映像情報を表示パネル200で表示できる形式に変換する中継基板300を製造し、ステップS53において、製造された表示パネル200及び中継基板300をFPC500で接続する。引き続きステップS100において、図4で説明した検査工程S100を実施し、FPC500と中継基板300との接続を確認する。ここで、検査が不合格であった場合には、コネクタの接続しなおし等を行い、検査工程S100を繰り返してもよい。最後に、ステップS54の表示装置組立工程において、接続を確認した表示パネル200に上フレーム110、下フレーム120等を取付て、表示装置を完成させ、表示装置製造工程を終了する。
【0033】
なお、本実施形態においては、説明のために、第1コネクタ410及び第2コネクタ420のパッドの数は7となっているが、パッドの数はこれに限られず、多くても少なくてもよい。また、パッドの並びは2列としたが、一列に順に並んでいてもよいし、3列以上で並んで配列されていてもよい。この場合にも隣り合うパッドに交互にHigh電位及びLow電位が印加される必要がある。
【0034】
なお、本実施形態においては、第2コネクタの両端のパッドに接続された第2配線の信号線を互いに接続することとしたが、図7に示されるように、第1コネクタ430及び第2コネクタ440のパッド数の合計が偶数である等の理由により、第2配線のうち、第2コネクタの両端の端子でない端子に接続された2つの信号線51c及び51gが接続されたFPC510を使用し、中継基板310において端から2番目の配線35cに接続された印加ポイントAP1に電圧が印加されるようにしてもよい。
【符号の説明】
【0035】
30a〜30g 配線、31b〜31f トランジスタ、32 ゲート線、41a〜41g パッド、42a〜42g パッド、50a〜50g 配線、100 表示装置、110 上フレーム、120 下フレーム、145 フラットケーブル、150 映像信号発生器、200 表示パネル、210 表示領域、300 中継基板、410 第1コネクタ、420 第2コネクタ。

【特許請求の範囲】
【請求項1】
複数の端子を有する第1コネクタと、
前記第1コネクタの前記複数の端子にそれぞれ電気的に接続された複数の信号線である第1信号線と、
前記第1コネクタのそれぞれの端子と挿抜可能に電気的に接続される複数の端子を有する第2コネクタと、
前記第2コネクタのそれぞれの端子にそれぞれ電気的に接続された複数の信号線である第2信号線と、
前記第1信号線の複数の信号線のうち、前記第1コネクタの所定の2つの端子に接続された信号線を除く一部の信号線がそれぞれトランジスタのソース・ドレインを介して接続される一の端子である第1計測端子と、
前記第1信号線の複数の信号線のうち、前記第1コネクタの前記所定の2つの端子に接続された信号線を除く残りの信号線がそれぞれトランジスタのソース・ドレインを介して接続される一の端子である第2計測端子と、
前記トランジスタのそれぞれのゲートに共通に接続する一のゲート信号線と、を備え、
前記第1信号線のうち、前記第1コネクタの前記所定の2つの端子に接続された2つの信号線の一方は、前記第1計測端子に接続され、
前記第2信号線のうち、前記第1コネクタの前記所定の2つの端子に対応する前記第2コネクタの2つの端子に接続された2つの信号線は、互いに電気的に接続されている、ことを特徴とするコネクタ接続検査回路。
【請求項2】
請求項1に記載のコネクタ接続検査回路であって、
前記一部の信号線の各信号線と前記残りの信号線の各信号線は、前記第1コネクタの複数の並んだ端子に交互に接続されている、ことを特徴とするコネクタ接続検査回路。
【請求項3】
請求項1又は2に記載のコネクタ接続検査回路であって、
検査時において、前記第1信号線のうち、前記第1コネクタの前記所定の2つの端子に接続された2つの信号線の他方には所定の電位が印加されると共に、前記ゲート信号線には前記ソース・ドレインを導通させる電位が印加される、ことを特徴とするコネクタ接続検査回路。
【請求項4】
請求項1乃至3のいずれか一項に記載のコネクタ接続検査回路であって、
前記所定の2つの端子は、前記第1コネクタの両端の端子である、ことを特徴とするコネクタ接続検査回路。
【請求項5】
表示パネルと、
前記表示パネルに映像信号を送信する中継基板と、
前記表示パネルと前記中継基板とを接続するフレキシブルプリント基板と、
前記中継基板と前記フレキシブルプリント基板とのコネクタによる接続を検査するための請求項1乃至4のいずれか一項に記載のコネクタ接続検査回路と、を備える表示装置。
【請求項6】
複数の信号線である第1信号線の各信号線がそれぞれ電気的に接続された複数の端子を有する第1コネクタと、複数の信号線である第2信号線の各信号線がそれぞれ電気的に接続されると共に、前記第1コネクタのそれぞれの端子と挿抜可能に電気的に接続される複数の端子を有する第2コネクタとの接続検査を行うコネクタ接続検査方法であって、
前記第2コネクタの所定の2つの端子に接続された前記第2信号線のうちの2つの信号線は、互いに電気的に接続され、前記所定の端子に対応する前記第1コネクタの2つの端子のうち一方の端子に接続された信号線に所定の電圧を印加し、前記第1コネクタの2つの端子のうち他方に接続された信号線で前記印加された電圧が計測されるかどうかを検査する端子接続検査工程と、
前記第1信号線の複数の信号線のうち、前記第1コネクタの端子の並びで、前記他方を含む、一つおきの端子に接続された信号線が共に接続され、前記一端に所定の電圧を印加し、前記一つおきの端子の間の端子のそれぞれが共に電気的に接続された信号線において、前記印加された電圧が計測されるかどうかを検査する隣接端子短絡検査工程と、を備えるコネクタ接続検査方法。
【請求項7】
請求項4に記載のコネクタ接続検査方法であって、
前記端子接続検査工程と、前記隣接端子短絡検査工程とは並行して行われる、ことを特徴とするコネクタ接続検査方法。
【請求項8】
請求項6乃至7のいずれか一項に記載のコネクタ接続検査方法であって、
前記第1コネクタの2つの端子を除く端子に接続された信号線には、それぞれトランジスタのソース・ドレインが接続されるように挿入され、
前記隣接端子短絡検査工程において、前記トランジスタのゲートにソース・ドレインの導通電圧を印加し、電圧を計測する、ことを特徴とするコネクタ接続検査方法。
【請求項9】
請求項6乃至8のいずれか一項に記載のコネクタ接続検査方法であって、
前記所定の2つの端子は、前記第2コネクタの両端の端子である、ことを特徴とするコネクタ接続検査回路。
【請求項10】
薄膜トランジスタの形成されたガラス基板を使用して表示パネルを製造する表示パネル製造工程と、
映像信号を前記表示パネルに送信するための中継基板を製造する中継基板製造工程と、
前記表示パネルと前記中継基板とをフレキシブルケーブルにより接続する接続工程と、
前記中継基板と前記フレキシブルケーブルとの接続を検査する、請求項6乃至9のいずれか一項に記載のコネクタ接続検査方法を用いた検査工程と、を備える表示装置の製造方法。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【図8】
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【図9】
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【図10】
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【図11】
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【公開番号】特開2013−58428(P2013−58428A)
【公開日】平成25年3月28日(2013.3.28)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2011−196787(P2011−196787)
【出願日】平成23年9月9日(2011.9.9)
【出願人】(502356528)株式会社ジャパンディスプレイイースト (2,552)
【Fターム(参考)】