【課題】ARTおよびELOを用いて、格子不整合材料などを含む基板上に、太陽電池などのデバイスを形成する方法および構造を提供する。
【解決手段】構造を形成する方法であって、第１の半導体材料を含む基板上に配置されたマスク層に第１開口を形成するステップ、第１開口内に、第１の半導体材料と格子不整合の第２の半導体材料を含み、マスク層の上面上に延伸する十分な厚さを有する第１の膜層を形成するステップ、および第１の膜層上、かつマスク層の少なくとも一部の上に第２の半導体材料を含む第２の膜層を形成するステップ、第１の膜層の縦方向成長速度は、第１の膜層の横方向成長速度より大きく、第２の膜層の横方向成長速度は、第２の膜層の縦方向成長速度より大きい方法。 （もっと読む）

【課題】寄生抵抗の低減に対して有利な半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置は、半導体基板１１と、前記半導体基板上にゲート絶縁膜１２を介して設けられるゲート電極１３と、前記半導体基板中に前記ゲート電極を挟むように隔離して設けられるエクステンション領域ＬＤＤと、前記エクステンション領域の両側を挟むように前記半導体基板中に設けられ、前記半導体基板とは異なる格子定数有し、前記半導体基板に歪みを付与する歪み付与層２２と、前記エクステンション領域の両側の前記半導体基板中に前記ゲート電極を挟むように隔離して設けられるソース／ドレインＳ／Ｄと、前記ソース／ドレイン上に設けられるシリサイド層ＳＳ／Ｄとを具備し、前記歪み付与層と前記半導体基板との界面Si-Siは、少なくとも前記シリサイド層の底面の一部に一致する。 （もっと読む）

【課題】温度変化に伴う基板の位置変位に対して、基板上の任意の位置における位置変位を補正する。
【解決手段】基板ステージの各位置における温度変化による膨張や伸縮を位置変位として関数化し、基板上の所定位置での位置変位から、補正対象の位置変位に関わるパラメータ値を求め、このパラメータ値を関数に適用することによって基板上の任意の位置の位置変位を求める。基板ステージの各位置の温度変化による位置変位を、経過時間を変数とする関数で表し、この位置変位の関数をデータテーブルとして備えておき、基板ステージ上に載置される基板の任意の位置における位置変位を求める工程と、求めた位置変位に対応する基板の温度変化の経過時間を関数を用いて求める工程と、経過時間算出工程で求めた経過時間を基板ステージの各位置で定められた関数に代入して補正データを算出する工程とを含む。 （もっと読む）

【課題】極浅接合の深さが精密制御された半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】主面が第１面方位である第１導電型の第１半導体層１１と、第１半導体層１１上に直接接合され、主面が第１面方位と異なる第２面方位である第１導電型の第２半導体層１２と、第２半導体層１２に連接して第１半導体層１１上に形成され、主面が第１面方位である第３半導体層１３ａ、１３ｂと、第２半導体層１２上にゲート絶縁膜を介して形成されたゲート電極１５と、ゲート電極１５をゲート長方向に挟むように第２半導体層１２に形成され、第１半導体層１１と第２半導体層１２との接合面１６に至る第２導電型の第１不純物拡散領域１７ａ、１７ｂと、第１不純物拡散領域１７ａ、１７ｂをゲート長方向に挟むように第３半導体層１３ａ、１３ｂから第１半導体層１１の上部にかけて形成された第２導電型の第２不純物拡散領域１８ａ、１８ｂと、を具備する。 （もっと読む）

【課題】Ｓｉ基板とその上に形成される窒化物半導体単結晶層との間に、ＳｉＮ_x層を生成することなく、低抵抗であり、窒化物半導体単結晶層の結晶性に優れた窒化物半導体基板およびその製造方法を提供する。
【解決手段】Ｓｉ（１１１）基板１上に、ＴｉおよびＶのいずれか１種以上からなる金属膜を形成する工程と、前記金属膜を窒化して、ＴｉＮ、ＶＮおよび両者の化合物のいずれか１種以上からなる窒化物中間層２を形成する工程と、前記窒化物中間層上に、ＧａＮ（０００１）、ＡｌＮ（０００１）およびＩｎＮ（０００１）のうちの少なくともいずれか１種以上からなる窒化物半導体単結晶層３を形成する工程とを経て、窒化物半導体基板を作製する。 （もっと読む）

【課題】形成される炭化シリコン層の結晶性を悪化させることなく、従来に比べて生産性を向上させることができる炭化シリコンの製造方法を提供する。
【解決手段】シリコン基板１の表面にシリコン酸化層２を形成し、シリコン基板１内にシリコン酸化層２を通して炭素イオンを注入することによりシリコンと炭素の混在した炭素含有層３を形成し、シリコン基板１からシリコン酸化層２を選択的に除去することにより炭素含有層３を露出させ、シリコン基板１を熱処理して炭素含有層３を単結晶化させることにより単結晶炭化シリコン層４を形成し、熱処理の過程で単結晶炭化シリコン層４の表面に形成された酸化層５を除去することにより単結晶炭化シリコン層４を露出させて、ＳｉＣウエハ１０を製造する。 （もっと読む）

【課題】レーザーアニールによる半導体層の均一性を増大させる方法を提供する。
【解決手段】半導体層の構造を変化させるプロセスおよび装置に関し,次のプロセスステップを有する。すなわち、半導体層３０の少なくとも１つの領域を第１のレーザ光３５で照射するステップと、半導体層３０の少なくとも１つの領域を少なくとも１つの第２のレーザ光２７で照射するステップとを有し、第１のレーザ光３５を照射した後に第２のレーザ光２７を一時的に照射し、第１のレーザ光３５の放射強度は第２のレーザ光２７よりも低く、第１のレーザ光３５および第２のレーザ光２７は１つのレーザビーム２１から生成される。 （もっと読む）

【課題】シリコン層のスリップ転位を防止するとともに特性を向上させる。
【解決手段】本発明の半導体基板の製造方法は、埋め込み酸化膜上にシリコン層が設けられた半導体基板の製造方法であって、膜厚が１ｎｍ以上１００ｎｍ以下の埋め込み酸化膜上にシリコン層のシード層を有するベース基板を準備する工程と、シード層を１０００℃以上１３００℃以下の温度でエピタキシャル成長させることにより、膜厚が１μｍ以上２０μｍ以下のシリコン層を形成する工程と、を有している。 （もっと読む）

【課題】基板上に薄膜成長核を形成する場合に、大気圧環境下で、高温プロセスを排除し、かつスループットを低下させることなく、さらには薄膜成長核の無駄を発生させることなく容易に薄膜成長核を形成することにより膜製造設備のコストの低減及び膜製造コストの低減を図ることができる膜製造方法を提供する。
【解決手段】金属若しくは半導体を構成する元素、又はその元素からなるイオンを組成中に含む物質の溶液又は懸濁液を、基板上に塗布し、乾燥させた後、大気圧水素プラズマにて曝露処理することにより、基板上に薄膜を形成するための薄膜成長核を形成する。 （もっと読む）

本発明の態様は、量子ドット、複数の量子ドットなどを製造する方法を提供する。 （もっと読む）