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国際特許分類[H01L49/02]の内容

国際特許分類[H01L49/02]に分類される特許

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【課題】動作速度が速くかつ集積化が可能な新しい構造の不揮発性スイッチング素子およびこの不揮発性スイッチング素子を有する集積回路を提供することを可能とする。
【解決手段】基板2上に設けられ、所定温度から±80Kの範囲内の温度変化によって電気抵抗率が10倍以上の変化を生じる材料の膜を有するスイッチング部6と、スイッチング部に温度変化を生じさせる機能を有するペルチエ素子10,12,13と、スイッチング部とペルチエ素子との間に設けられペルチエ素子からの熱を伝達する電気絶縁体の膜を有する熱伝達/電気絶縁膜8と、スイッチング部に接続される1対の電極6a、6bと、を備えている。 (もっと読む)


【課題】 可変抵抗体の電気的に寄与する領域の面積が上部電極若しくは下部電極等で規定される面積よりも微細な面積である構造の可変抵抗素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】 下地基板5上に配置される下部電極1の上部には、突起電極物2が形成される。突起電極物2は、下部電極1の接触面と異なる面に可変抵抗体3と接触されており、この可変抵抗体3が突起電極物2との接触面と異なる面において上部電極4と接触している。これによって突起電極物2(可変抵抗体3)と上部電極4とのクロスポイント部分可変抵抗体の電気的に寄与している領域になるため、従来の可変抵抗素子における領域よりも、その面積が縮小される。 (もっと読む)


【課題】非線形素子の電気的特性のばらつきが発生せず、コントラストのムラを抑えた電気光学装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】基板上に複数の非線形素子を備えてなる電気光学装置の製造方法であって、基板上に、非線形素子を形成するための複数の導電パターン50と、幹線55aと、当該幹線55aから分岐して所定の方向に延在する第1の支線55b,当該第1の支線55bから分岐するとともに所定の方向とは交差する方向に延在して複数の導電パターン50に電気的に接続する第2の支線55cを有する給電パターン55とを形成する工程と、給電パターン55を介して導電パターン50に給電し、当該導電パターン50の表面に酸化膜を形成することにより、非線形素子の絶縁層を形成する陽極酸化工程とを有し、給電パターン55の少なくとも第1の支線55b及び第2の支線55cの幅を同一に形成することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】下電極の側面を素子部として利用した非線形素子の素子特性のばらつきを解消可能な非線形素子の製造方法、および電気光学装置を提供すること。
【解決手段】非線形素子を製造するにあたって、下電極形成工程ST102においてマスクスパッタ法により島状のタンタル膜からなる下電極13を例えば100〜150nm程度の厚さで形成した後、第1の絶縁膜形成工程ST103においてマスクスパッタ法により、下電極13の上面にタンタル酸化物からなる第1の絶縁膜17を例えば50〜150nm程度の厚さで形成する。次に、第2の絶縁膜形成工程ST104において、気相酸化法により、下電極13の側面132に第1の絶縁膜17より薄い第2の絶縁膜14を形成した後、上電極15a、15bを形成する。 (もっと読む)


【課題】下電極の側面を素子部として利用した非線形素子の素子特性のばらつきを解消可能な非線形素子の製造方法、および電気光学装置を提供すること。
【解決手段】非線形素子を製造するにあたって、Ta膜パターニング工程ST104において、第1の絶縁膜17の上層にレジストマスク18aを形成した状態で、フッ素を含有するエッチングガスを用いて、第1の絶縁膜17とともにタンタル膜13にドライエッチングを行った後、フッ素除去工程ST105で加熱処理を行って、下電極13bの側面132bに残留するフッ素を除去する。そして、下電極13bの側面132bに第1の絶縁膜17aより薄い第2の絶縁膜14を形成した後、上電極15a、15bを形成する。 (もっと読む)


【課題】画素電極と非線形抵抗素子の第2素子電極とを絶縁膜によって異なる層に分けた
構造の電気光学装置において、画素電極と第2素子電極との間で良好なコンタクトを得る

【解決手段】基板7a上に設けられたTFD素子31を有する電気光学装置である。TF
D素子31は、第1素子電極32と、第1素子電極32に重ねられた絶縁膜33と、絶縁
膜33に重ねられた第2素子電極34a,34bとを有する。電気光学装置はさらにTF
D素子31を覆う層間絶縁膜22と、その層間絶縁膜22上に設けられた画素電極24と
を有する。画素電極24は、第2素子電極34a,34bと導電接続される。第2素子電
極34a,34bはMo又はMo合金によって形成される。 (もっと読む)


【課題】MSM電流制限素子、およびMSM電流制限素子を有する抵抗メモリセルを製造することができる製造方法を提供する。
【解決手段】基板を用意する工程と、基板上にMSM下部電極を形成する工程と、MSM下部電極上に、xが約1以上約2以下の範囲内であるZnOx半導体層を形成する工程と、ZnOx半導体層上にMSM上部電極を形成する工程とを有している。このZnOx半導体層を、スピンコート法、DCスパッタリング法、RFスパッタリング法、有機金属気相成長法(MOCVD)または原子層堆積法(ALD)のような様々な薄膜形成技術を用いて形成する。 (もっと読む)


【課題】大きく異なる2つの安定した抵抗特性を可逆的かつ反復的に示す、高度集積化した不揮発性メモリへ適用可能なスイッチング素子の提供。
【解決手段】2つの電極間に、組成揺らぎを含む単一中心金属元素からなる金属酸化物薄膜が介在した可変抵抗素子を備え、該両電極間に、第1の閾値以上の電圧又は電流と、該第1の閾値の絶対値よりもその絶対値が小さい第2の閾値以下の電圧又は電流と、該第2の閾値の絶対値よりもその絶対値が小さい第3の閾値以下の電圧又は電流とを選択的に印加可能な制御回路と接続し、その絶対値が少なくとも第3の閾値以下の電位域又は電流域における電極間の抵抗特性を可逆的に1000〜10000倍変化せしめることを特徴とする、スイッチング素子。 (もっと読む)


【課題】 第1導電膜/絶縁膜/第2導電膜の積層構造を有する素子基板の製造方法において、エッチング処理に伴うダメージを回復させて、素子特性の向上を図る。
【解決手段】 本発明の素子基板製造方法は、基体10上に、第1導電膜20、絶縁膜30、及び第2導電膜40を含む積層体2を形成する工程と、積層体2をエッチング処理により所定平面形状に形成する工程と、エッチング処理によって露出した積層体2の側壁2aにラジカル状態又はイオン状態の改質ガス55を供給する工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】 素子用下電極の側面に形成した薄い絶縁膜のみを実質的に利用する、いわゆるラテラル構造の非線形素子およびその製造方法において、素子用下電極の寸法や側面形状にばらつきが発生しない構成を提供し、さらに、このような非線形素子を画素スイッチング素子として用いたアクティブマトリクス型の電気光学装置、およびこの電気光学装置を用いた電子機器を提供する。
【解決手段】 非線形素子43は、素子用下電極44の上面441を覆う第1の絶縁膜46aが素子用下電極44の第2の側面44bを覆う第2の絶縁膜46bより厚いラテラル構造を備えている。素子用下電極44の側面のうち、その外周縁に位置する側面は、膜厚が厚い第1の絶縁膜46aが形成された第1の側面44aになっている一方、切り欠き49に面する側面は、膜厚が薄い第2の絶縁膜46bが形成された第2の側面44bになっている。 (もっと読む)


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