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国際特許分類[H01S5/343]の内容

電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 誘導放出を用いた装置 (18,077) | 半導体レーザ (12,571) | 活性領域の構造または形状;活性領域に用いられる材料 (2,589) | 量子井戸または超格子構造を含むもの,例.単一量子井戸型レーザ (1,637) | A↓I↓I↓IB↓V族化合物におけるもの,例.AlGaAsレーザ (1,558)

国際特許分類[H01S5/343]に分類される特許

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【課題】非極性III族窒化物テンプレートまたは基板上に成長される発光デバイス構造からなるオプトエレクトロニクスデバイスおよびその製作方法を提供する。
【解決手段】
非極性III族窒化物テンプレートまたは基板上に成長される発光デバイス構造であって、発光デバイス構造の活性領域は、一つ以上の非極性インジウム含有III族窒化物層からなり、発光デバイス構造は、最大外部量子効率と比べて、111A/cm2 の直流密度での外部量子効率が20%減少することを特徴とするオプトエレクトロニクスデバイス構造を製作するために用いられる。 (もっと読む)


【課題】平坦性が向上した半導体基板を基礎として、特性の高性能化された半導体発光素子を提供する。
【解決手段】p型電極32と、n型電極31と、p型電極32に接続され、複数のp型窒化物系III−V族化合物半導体からなるp型積層構造(16〜20)と、n型電極31に接続され、複数のn型窒化物系III−V族化合物半導体であるn型積層構造(11〜14)と、p型積層構造(16〜20)とn型積層構造(11〜14)との間に形成されたInGaNからなる多重井戸構造を備える活性層15とを備え、n型積層構造が、GaN層11と、GaN層11上に形成されたドープ層10と、ドープ層10上に設けられた窒化物系III−V族化合物半導体層12と、窒化物系III−V族化合物半導体層12よりも活性層15側に設けられた超格子層13とを含む。 (もっと読む)


【課題】半極性III族窒化物に対して良好な接触抵抗を提供できる、III族窒化物半導体素子を作製する方法を提供する。
【解決手段】III族窒化物半導体素子41は、半極性主面を有する基板55と、基板55の主面55a上に設けられた窒化ガリウム系半導体層51と、窒化ガリウム系半導体層51の主面51aに接触を成す電極53aとを備える。窒化ガリウム系半導体層51はその表面が半極性を示すように成長されるけれども、高真空中で窒素ラジカル又はガリウムフラックスを照射しながらの熱処理によりその表面が改質される。改質処理により、窒化ガリウム系半導体層51の改質された主面51aは、元の半極性面から変化して、m面を含むステップ構造を有するものになる。基板55の主面55aは、該III族窒化物半導体のc軸方向に延びる基準軸VC55に直交する基準平面を基準にして61度より大きい角度を成す。 (もっと読む)


【課題】リッジ部の側方に位置する光の吸収膜に起因する応力を低減すると共に、水平拡がり角のばらつきを抑制でき、水平拡がり角が安定したFFP特性を実現できるようにする。
【解決手段】リッジ部6aの両側方及び両側面上に形成され、両側面上において下部よりも上部が厚い第1の誘電体膜7と、第1の誘電体膜7上におけるリッジ部の両側方で且つリッジ部6aの側面の上から見て第1の誘電体膜7のリッジ部の側面上部分と重ならない領域に形成され、活性層4からの光を吸収する吸収膜8と、第1の誘電体膜の上に、吸収膜を覆うと共にリッジ部側の端部がリッジ部と反対側の端部よりも厚く形成され、共振方向に対して垂直な方向の断面が順メサ形状となる厚膜部を有する第2の誘電体膜9とを備えている。リッジ部は、側面が第1の誘電体膜の上面に対して内側に傾いた順メサ形状を有し、吸収膜のリッジ部側の端部は、第2の誘電体膜の厚膜部の外側の境界位置よりもリッジ部に近接するように形成されている。 (もっと読む)


【課題】
窒化物半導体レーザ素子の共振器面に、レーザ光出射部に対応した光吸収層を加工による損傷を軽減して製造することを目的とする。
【解決手段】
導波路領域の端部に共振器面を有する窒化物半導体層を形成する工程と、
前記共振器面上に、反射ミラーと、保護膜と、光吸収層とを順次形成する工程と、
前記光吸収層に前記導波路領域に対応する開口部を形成する開口部形成工程とを具備する窒化物半導体レーザ素子の製造方法。 (もっと読む)


【課題】半導体レーザ素子自体の温度が上がっても、偏光角の温度変化を小さく抑えることができる半導体レーザ素子を提供する。
【解決手段】
n型GaAs基板101から上方に向かって、n型AlGaInP第1クラッド層104、アンドープGaInP/AlGaInP多重量子井戸活性層105、p型AlGaInP第2クラッド層106およびp型GaAsキャップ層108がこの順で配置されている。この第1クラッド層104および第2クラッド層106のそれぞれにおいて、多重量子井戸活性層105側の部分の基板101に対する格子不整合率は、多重量子井戸活性層105側とは反対側の部分の基板101に対する格子不整合率よりも大きい。これにより、多重量子井戸活性層105が発熱しても、多重量子井戸活性層105近傍の部分において横方向に縮める応力が作用するようにできる。 (もっと読む)


【課題】発光効率の高い半導体発光素子を提供する。
【解決手段】実施の形態の半導体発光素子は、n型窒化物半導体層と、n型窒化物半導体層上の窒化物半導体の活性層と、活性層上のp型窒化物半導体層と、を備える。そして、p型窒素化物半導体層が窒化アルミニウムガリウム層を含み、窒化アルミニウムガリウム層中のインジウム濃度が1E18atoms/cm以上1E20atoms/cm以下であり、炭素濃度が6E17atoms/cm以下であり、マグネシウム濃度をX、アクセプタ濃度をYとした場合に、
Y>{(−5.35e19)−(X−2.70e19)1/2−4.63e19
である。 (もっと読む)


【課題】比較的に高い利得の量子カスケードレーザを提供する。
【解決手段】複数の活性層71と、複数の活性層71と共にカスケード構造を成す複数の注入層73と、を有するコア層を備える量子カスケードレーザである。活性層71の障壁層B21、量子井戸層W21、障壁層B22、量子井戸層W22、障壁層B23、量子井戸層W23、障壁層B24が、順に設けられている。量子井戸層W21の膜厚Lw21は、膜厚Lw22の膜厚Lw22よりも大きく、量子井戸層W22の膜厚Lw22は、量子井戸層W23の膜厚Lw23よりも大きく、障壁層B22の膜厚Lb22は、障壁層B23の膜厚Lb23よりも小さい。このような層構造によって生じるバンド構造により、発光を伴う電子の遷移確率の向上と、発光を伴わない電子遷移確率の抑制とが、実現できる。 (もっと読む)


【課題】n型不純物のパイルアップによるp型キャリア濃度の低減を抑制したIII−V族化合物半導体結晶、光半導体素子及びそれらの製造方法を提供する。
【解決手段】大気中に暴露されたp−InP層13a上に、Zn及びSbを含むp−InP層14aと、Znを含むp−InP層14bとを順次積層して、p型III−V族化合物半導体結晶を再成長させると共に、p−InP層14a中におけるZnの濃度をp−InP層14b中におけるZnの濃度より高くした。 (もっと読む)


【課題】凸状のリッジ部を有する窒化物半導体レーザ装置において、リッジ部とそれに接続される電極とのコンタクト抵抗を低減する。
【解決手段】リッジ部16Aの上方に厚い膜厚の酸化シリコン膜18を堆積し、リッジ部16Aが形成された領域とその周囲との実効的な段差を大きくする。これにより、リッジ部16Aの両側に塗布されたフォトレジスト膜22の膜厚を厚くすることができるので、フォトレジスト膜22を露光する際の露光光量を調節することによって、リッジ部16Aの両側にフォトレジスト膜22の未露光部分を残す際、その上面の高さ(未露光部分の膜厚)を高い寸法精度で制御することができる。 (もっと読む)


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