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国際特許分類[H01S5/343]の内容

電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 誘導放出を用いた装置 (18,077) | 半導体レーザ (12,571) | 活性領域の構造または形状;活性領域に用いられる材料 (2,589) | 量子井戸または超格子構造を含むもの,例.単一量子井戸型レーザ (1,637) | A↓I↓I↓IB↓V族化合物におけるもの,例.AlGaAsレーザ (1,558)

国際特許分類[H01S5/343]に分類される特許

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【課題】リッジ部を形成するためのエッチングの際にGaAsキャップ層の側壁にサイドエッチングが進行することを防止できる半導体レーザ素子の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の半導体レーザ素子の製造方法は、半導体基板2上にnクラッド層3と、活性層4と、第1pクラッド層5と、エッチングストップ層6と、第2pクラッド層7と、キャップ層9とを順次積層して形成する工程と、キャップ層9の一部を除去した開口部10AにZnO層11を形成して窓領域を形成する工程と、開口部10Aからキャップ層9上にかけてストライプ状の絶縁膜マスクパターン16を形成し、絶縁膜マスクパターン16から露出したキャップ層9をエッチング除去する工程と、絶縁膜マスクパターン16から露出しているキャップ層9の側壁を酸化する工程と、エッチングストップ層6に達するまでエッチングを行ってリッジを形成する工程とを含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】主としてFFPに優れた半導体レーザ素子を得ること課題とする。
【解決手段】本発明の一実施形態に係る半導体レーザ素子100は、窒化物半導体からなる下部コンタクト層101と、窒化物半導体からなりInを含む第1層102aと窒化物半導体からなりInを含まない第2層102bとを含む超格子構造であると共に暗色領域を有する光吸収層102と、窒化物半導体からなる活性層107と、窒化物半導体からなる上部コンタクト層111と、を順に備える。 (もっと読む)


【課題】偏光度を高めることが可能な構造を有する窒化ガリウム系半導体発光素子を提供する。
【解決手段】発光ダイオード11aは、半導体領域13と、InGaN層15と、活性層17とを備える。半導体領域13は半極性を示す主面13aを有し、GaNまたはAlGaNからなる。半導体領域13の主面13aは、該主面13aにおける[0001]軸方向の基準軸Cxに直交する平面Scに対して角度αで傾斜する。半導体領域13の厚さD13はInGaN層17の厚さDInGaNより大きく、InGaN層15の厚さDInGaNは150nm以上を有する。InGaN層15は半導体領域13の主面13aの直上に設けられて、主面13aに接している。活性層17は、InGaN層15の主面15a上に設けられ、この主面15aに接触している。活性層17は、InGaN井戸層21を含む。 (もっと読む)


【課題】半極性面を主面とするGaN基板を用いた場合でも容易に作製することができ、かつ低閾値電流となる窒化物半導体レーザ素子、それを用いた光源装置およびその窒化物半導体レーザ素子の製造方法を提供する。
【解決手段】{20−21}面を第1の主面とする窒化ガリウム基板と、窒化ガリウム基板の第1の主面に接して設けられた窒化物半導体厚膜と、窒化物半導体厚膜上に設けられた窒化物半導体レーザ素子層とを備え、窒化物半導体厚膜は、窒化物半導体厚膜の主面である{20−21}面と89.95°以上90.05°以下の角度を為す範囲内に{−1017}面を有する窒化物半導体レーザ素子、それを用いた光源装置およびその窒化物半導体レーザ素子の製造方法である。 (もっと読む)


【課題】光閉じ込め性の低下を縮小しながら駆動電圧の低減を可能にする窒化物半導体レーザを提供する。
【解決手段】半導体領域19では、発光層13の活性層25、第1のクラッド領域21及び第2のクラッド領域23は主面17a上に設けられる。第2のクラッド領域23は、第1p型III族窒化物半導体層27及び第2p型III族窒化物半導体層29を含む。第1p型III族窒化物半導体層27はInAlGaN層からなり、第2p型III族窒化物半導体層29は該InAlGaN層と異なる半導体からなる。このInAlGaN層は非等方的な歪みを内包する。第1p型III族窒化物半導体層27は第2p型III族窒化物半導体層29と活性層25との間に設けられる。第2p型III族窒化物半導体層29の比抵抗ρ29は第1p型III族窒化物半導体層27の比抵抗ρ27より低い。 (もっと読む)


【課題】m面基板上で結晶成長させたGaN系半導体素子におけるAg電極の凝集による反射率低下を抑制する。
【解決手段】本発明の窒化物半導体発光素子の製造方法は、成長面がm面であるp型AldGaeN層25を有する窒化物系半導体積層構造20を形成する工程(a)と、p型AldGaeN層25の成長面13に接するAg電極30を形成する工程(b)と、を含み、前記工程(b)は、厚さが200nm以上1000nm以下のAg電極30を形成する工程(b1)と、Ag電極30を400℃以上600℃以下に加熱する工程(b2)と、を含む。 (もっと読む)


【課題】コア層に印加される電界の均一性を向上する量子カスケード半導体レーザを提供する。
【解決手段】量子カスケード半導体レーザ1は、主面10aと裏面10bと裏面10bに設けられた凹部50とを有する半導体基板10と、主面10aに設けられた半導体領域20と、半導体領域20上において一方向に延在するリッジ部30と、リッジ部30に沿って設けられた上部電極E1と、裏面10bに設けられた下部電極E2と、を備え、半導体領域20は、下部クラッド層21と、コア層23と、上部クラッド層25とを含み、各層は主面10aの法線軸NVに沿って順に配列されており、下部クラッド層21の導電型は、上部クラッド層25の導電型と同じであり、凹部50は、裏面10bにおいて、リッジ部30に対応する位置に設けられており、下部電極E2は、凹部50に設けられていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】温度特性が良く、高速変調が可能な半導体レーザを提供する。
【解決手段】InP基板上の半導体量子井戸構造を活性層とする半導体レーザにおいて、井戸層にはSbを含まないInGaAsPまたはInAsPまたはInGaAsのいずれかを用い、障壁層にはSbを含むInGaPSbまたはInGaAsPSbのいずれかを用いる。このように障壁層にのみSbを含むため、伝導体のバンド不連続を大きくしても、従来の材料よりも価電子帯のバンド不連続を小さくでき、井戸層の数を増加させた際の正孔と電子の不均一な分布の発生を避けることが可能となり、温度特性の改善や高速変調を実現できる。 (もっと読む)


【課題】エージング後のCODレベルを向上することができる窒化物半導体発光素子を提供する。
【解決手段】光出射部にコート膜が形成されている窒化物半導体発光素子であって、光出射部は、窒化物半導体からなり、コート膜は、アルミニウムの酸窒化物からなり、厚さ方向に酸素の含有量が異なる窒化物半導体発光素子である。 (もっと読む)


【課題】
歪みの点から、光半導体装置の偏光無依存性、発光波長ないし吸光波長の長波長化に改良を与える。
【解決手段】
光半導体装置は、第1の格子定数を有する半導体基板と、半導体基板上方に形成され、第1の格子定数より大きな第2の格子定数を有する量子ドットと、半導体基板上方で量子ドットの側面を囲み、第1の格子定数より小さな第3の格子定数を有するサイドバリアと、半導体基板上方で量子ドット及びサイドバリアに接して形成され、第1の格子定数より大きく、前記第2の格子定数より小さな第4の格子定数を有する第1の歪み緩和層と、を有する。 (もっと読む)


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