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国際特許分類[H01S5/343]の内容

電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 誘導放出を用いた装置 (18,077) | 半導体レーザ (12,571) | 活性領域の構造または形状;活性領域に用いられる材料 (2,589) | 量子井戸または超格子構造を含むもの,例.単一量子井戸型レーザ (1,637) | A↓I↓I↓IB↓V族化合物におけるもの,例.AlGaAsレーザ (1,558)

国際特許分類[H01S5/343]に分類される特許

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【課題】ウェハの中央部と周辺部とで主表面のオフ角がばらつく基板を用いる場合にも、発光効率がばらつくことを抑制することが可能な窒化物系半導体レーザ素子を提供する。
【解決手段】この青紫色半導体レーザ素子100(窒化物系半導体レーザ素子)は、n型GaN基板1と、活性層13を有しn型GaN基板1の主表面1a上に形成された半導体素子層10とを備える。半導体素子層10は、結晶成長面がa軸方向([11−20]方向)に沿った方向にオフ角度を略有しない主表面(バッファ層11の主表面11cなど)を有する素子層領域10aと、結晶成長面が[11−20]方向に沿った方向にオフ角度を有する主表面(主表面11dなど)を有する素子層領域10bとを含み、半導体素子層10の素子層領域10aに、リッジ部3が形成されている。 (もっと読む)


【課題】複数の井戸層がバリア層を介して積層されてなる活性層を有しつつ動作電圧を低減することが可能な窒化ガリウム系半導体レーザ素子を提供する。
【解決手段】半導体レーザ1は、半極性主面である表面10aを有する半導体基板10と、表面10a上に配置された下部光ガイド層20dと、下部光ガイド層20d上に配置されると共に510〜550nmの光を発生可能な量子井戸構造を有する活性層30と、を備え、量子井戸構造が、InGaNからなる井戸層30aと、井戸層30a上に配置されると共に窒化ガリウム系半導体からなるバリア層30bと、バリア層30b上に配置されると共にInGaNからなる井戸層30cと、を有し、バリア層30bのバンドギャップが下部光ガイド層20dのバンドギャップより小さい。 (もっと読む)


【課題】発振歩留まりを改善可能な構造のIII族窒化物半導体レーザ素子を提供する。
【解決手段】第1及び第2の割断面27、29の各々には、支持基体17の端面17c及び半導体領域19の端面19cが現れる。レーザ構造体13は第1及び第2の面13a、13bを含み、第1の面13aは第2の面13bの反対側の面である。第1及び第2の割断面27、29の各々は、第1の面13aのエッジから第2の面13bのエッジまで延在する。半導体領域19はInGaN層24を含む。半導体領域19は、InGaN層24を含むことができる。割断面29は、InGaN層24の端面24aに設けられた段差26を含む。段差26は、当該III族窒化物半導体レーザ素子11の一方の側面22aから他方の側面22bへの方向に延在する。段差26は、割断面27、29において、InGaN層24の端面24aの一部分又は全体的に形成されることができる。 (もっと読む)


【課題】半導体レーザと半導体マッハツェンダ変調器とを集積した光集積回路において、小型化および低消費電力化を図ること。
【解決手段】波長可変DFBレーザアレイの一端に第1の光導波路、他端に第2の光導波路が接続され、第1の光導波路に第1の半導体マッハツェンダ変調器、第2の光導波路に第2の半導体マッハツェンダ変調器が接続されている。半導体レーザのメサ構造の配置方向は、メサ構造の側面への再成長に最適な方向であり、半導体マッハツェンダ型変調器が有する2本のアーム導波路の配置方向は、2本のアーム導波路に対するポッケルス効果が最大となる方向とする。加えて、本実施形態に係る光集積回路では、半導体レーザの共振器構造を、その両端における光出力が等しくなるように対称に構成し、一方からの光出力を破棄することなく、ともに半導体マッハツェンダ変調器に入力する。 (もっと読む)


【課題】発振歩留まりを改善可能な構造のIII族窒化物半導体レーザ素子を提供する。
【解決手段】第1及び第2の割断面27、29の各々には、支持基体17の端面17c及び半導体領域19の端面19cが現れる。レーザ構造体13は第1及び第2の面13a、13bを含み、第1の面13aは第2の面13bの反対側の面である。第1及び第2の割断面27、29の各々は、第1の面13aのエッジから第2の面13bのエッジまで延在する。半導体領域19はInGaN層24を含む。半導体領域19は、InGaN層24を含むことができる。割断面29は、InGaN層24の端面24aに設けられた段差26を含む。段差26は、当該III族窒化物半導体レーザ素子11の一方の側面22aから他方の側面22bへの方向に延在する。段差26は、割断面27、29において、InGaN層24の端面24aの一部分又は全体的に形成されることができる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、半導体光装置の特性劣化や信頼性低下を抑制した半導体光装置の製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本願の発明に係る半導体光装置の製造方法は、活性層を形成する活性層形成工程と、該活性層形成工程後に、リン系III−V族半導体層を形成する活性層保護膜形成工程と、該活性層保護膜形成工程後に酸化シリコン系又は窒化シリコン系の膜を形成するシリコン系膜形成工程とを備えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】本発明の実施形態は、波長10μmを超える遠赤外領域の光を放射する高出力の半導体発光装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態に係る半導体発光装置は、複数の量子井戸のサブバンド間における電子のエネルギー緩和により発光光を放射する半導体発光装置であって、前記発光光の放射方向に対して平行な方向に延在するストライプ状に設けられ、前記複数の量子井戸を含み10μm以上の波長の前記発光光を放射する活性層と、前記ストライプ状の活性層の長辺に沿って少なくとも前記活性層の上下に設けられ、前記活性層よりも屈折率が低い1対のクラッド層と、を備え、前記クラッド層の少なくとも一部は、前記活性層と格子定数が異なる材料を含み、前記活性層に格子整合する材料を含む他の部分よりも前記発光光の波長における光吸収が相対的に低いことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】十分な光出力が得られる窒化物半導体発光素子およびその製造方法を提供する。
【解決手段】n型窒化物半導体を有する第1クラッド層13と、第1クラッド層13上に形成され、Inを含む窒化物半導体を有する活性層14と、活性層14上に形成されたGaN層17と、GaN層17上に形成され、第1のAl組成比x1を有する第1AlGaN層18と、第1AlGaN層18上に形成され、第1のAl組成比x1より高い第2のAl組成比x2を有し、且つGaN層17および第1AlGaN層18より多量にMgを含有するp型第2AlGaN層19と、第2AlGaN層19上に形成され、p型窒化物半導体を有する第2クラッド層20と、を具備する。 (もっと読む)


【課題】可飽和吸収領域に損傷が発生し難い構成、構造を有するバイ・セクション型のGaN系半導体レーザ素子を提供する。
【解決手段】半導体レーザ素子は、発光領域及び可飽和吸収領域を構成する第3化合物半導体層と第2化合物半導体層が積層されて成り、リッジストライプ構造を有する積層構造体、第2電極並びに第1電極を備え、第2電極は、発光領域に直流電流を流す第1部分と可飽和吸収領域に電界を加えるための第2部分とに分離溝によって分離されており、リッジストライプ構造の両側には第2化合物半導体層露出領域が設けられており、発光領域を構成する第3化合物半導体層の部分から第2化合物半導体層露出領域の頂面までの平均距離をL1-ave、第2電極の第2部分と分離溝との境界において第3化合物半導体層の部分から第2化合物半導体層露出領域の頂面までの距離をL2としたとき、1<L2/L1-aveを満足する。 (もっと読む)


【課題】クラックの発生が抑制された窒化物半導体層を有する半導体発光素子を提供する。
【解決手段】半導体発光素子の製造方法は、GaN基板11を準備する工程と、前記GaN基板上に、GaNと材料の異なる窒化物半導体からなるバッファ層12を部分的に形成する工程と、前記バッファ層から前記GaN基板が露出された第1領域、および、前記バッファ層が形成された第2領域にGaNを成長させてGaN層を形成する工程と、前記GaN層上に窒化物半導体層を形成する工程と、を有する。 (もっと読む)


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