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国際特許分類[H03K5/13]の内容

電気 (1,674,590) | 基本電子回路 (63,536) | パルス技術 (16,231) | このサブクラス中の他のメイングループの1によっては包括されないパルス操作 (3,125) | 単一の出力をもち,かつ入力信号を変換して所望の時間間隔を有するパルスを与える配置 (668)

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【課題】遅延値が、電源電圧、抵抗値及び容量値のバラツキの影響を受けない遅延回路を提供する。
【解決手段】遅延回路10は、参照電圧VDD/2を定電流Ickに変換する抵抗を有する定電流源15と、定電流Ickが流される負荷容量Clとを備える遅延回路において、上記抵抗がスイッチトキャパシタ等価抵抗Reqである。上記構成によれば、定電流源15は、スイッチトキャパシタ等価抵抗Reqにより、電源電圧VDDに基づき生成されて定電流源15に入力される参照電圧VDD/2を定電流Ickに変換し、負荷容量Clに出力する。これにより、遅延回路10の遅延値は、電源電圧VDD、遅延回路10が有する抵抗の抵抗値、及び遅延回路10が有する容量の容量値のバラツキの影響を受けない遅延回路を提供することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】複数の単位遅延素子から構成される可変遅延回路を用いてストローブ信号を遅延させるものであって、チップ毎の単位遅延時間のばらつきによらず、全単位遅延素子の動作テストを短時間で行うことができる遅延制御回路の提供。
【解決手段】遅延制御回路1は、基準クロック信号を遅延させる基準可変遅延回路3と、ストローブ信号を遅延させるストローブ可変遅延回路17と、同一構成である上記可変遅延回路3,17にテスト用遅延時間を設定するテスト用遅延制御回路9と、を備える。両可変遅延回路3,17のテストの際、当該回路3,17にはテスト用遅延時間が設定され、基準可変遅延回路3を経て遅延された基準クロック信号はストローブ可変遅延回路17に入力される。また、テストの際、テスト用遅延制御回路9は、合計遅延時間を一定にしたまま、テスト用遅延時間の一方を増加させ他方を減少させてゆく。 (もっと読む)


【課題】遅延時間がより正確で、回路面積が低減される遅延回路を提供する。
【解決手段】遅延回路は、抵抗素子3と容量素子4と接続配線6とを具備する。接続配線6は、基板10上方の第1ポリシリコン層13aと、抵抗素子3と容量素子4とを接続し第1ポリシリコン層13a上の第1シリサイド層14aとを備える。容量素子4は、半導体基板10の表面領域の拡散層12bと、拡散層12b上のゲート絶縁層15bと、ゲート絶縁層15b上の第2ポリシリコン層13bと、第2ポリシリコン層13b上の第2シリサイド層14bとを備える。抵抗素子3は、半導体基板10の上方の第3ポリシリコン層13cを備える。第1、第2、第3ポリシリコン層13a、13b、13cは一体に設けられる。第1、第2シリサイド層14a、14bは一体に設けられる。 (もっと読む)


【課題】PVT変動による遅延制御回路の遅延量変動を正しく補正する。
【解決手段】互いに動作条件が異なる第1及び第2の遅延素子列121,122と、第1及び第2の遅延素子列121,122に同時に入力されたパルス信号Pの伝搬速度差を検出する検出回路123と、検出回路123による検出結果に基づいて選択信号SELを生成する設定回路124とを備える。選択信号SELは、基準信号を遅延させることによって動作タイミング信号を生成する遅延制御回路130に供給され、その遅延量は選択信号SELによって調整される。これにより、PVT変動を見越して遅延制御回路の遅延量を大きく設計しておく必要がなくなるため、パフォーマンスの低下を防止することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】低クロック周波数のディジタル回路により高S/Nが確保できるPWMパルス生成装置を提供すること。
【解決手段】アナログの振幅変換信号Mをアナログ・ディジタル変換器11によりディジタル信号に変換し、パルス変換部13でパルス幅変調されたパルス信号を得るようにしたPWMパルス生成装置において、ディジタル信号により遅延時間が制御されるアナログ遅延器20を設け、ディジタルのパルスに更にディジタルの分解能の0/16〜15/16の遅延時間が付加されるようにして、パルスの分解能を16倍に細かくでき、1/16の周波数のクロックで同等の分解能が確保できるようにし、このとき変換テーブル14を設け、アナログ遅延器20を構成している回路素子の特性バラツキが補正されるようにしたもの。 (もっと読む)


【課題】製品ごとのトランジスタの閾値電圧のばらつきに基づく遅延量の変動を抑制することが可能な遅延回路を提供する。
【解決手段】容量素子M5〜M8は、インバータバッファ11〜14のそれぞれの出力端子と接続されている。Vt依存電圧発生部2は、自己の有するMOSトランジスタの閾値電圧Vtnに応じた電圧を、容量素子M5〜M8が有するMOSトランジスタの基板に印加する。 (もっと読む)


【課題】クロックのパルス幅が狭い場合、及び広い場合において、合成回路の誤動作を回避し、動作周波数の高速化に対応可能とするDLLの提供。
【解決手段】外部クロック(CK)の第1遷移(Rise)に対応して互いに異なる遅延時間の信号を出力し、CKの第2の遷移(Fall)に対応して互いに異なる遅延時間の信号を出力する第1の可変遅延回路20と、第1の可変遅延回路からの信号をそれぞれ受ける第2の可変遅延回路10R、10Fからの出力信号を合成して出力する第1の合成回路30とを備え、第2の可変遅延回路は第1の可変遅延回路からの信号からワンショットパルスを生成するワンショットパルス生成回路と、リセット端子を備えるラッチ回路と、ラッチ回路のセット出力の遷移エッジを受け、所定の比率で合成した信号を出力する第2の合成回路と、を備え、第2の合成回路の出力がラッチ回路のリセット端子に入力される。 (もっと読む)


【課題】高精度な同期特性を有するDLL回路を提供する。
【解決手段】第1クロック信号CLK1が入力され、第1クロック信号CLK1を遅延した第2クロック信号CLK2を出力するとともに、制御信号Vcにより遅延時間が可変される可変遅延回路11と、第1クロック信号CLK1および第2クロック信号CLK2が入力され、第1クロック信号CLK1と第2クロック信号CLK2との位相を比較して、その位相差ΔΦに応じた信号を出力する位相検出回路12と、位相検出回路12の出力V1を積分する積分回路13と、積分回路13の出力V2を予め定めた基準値Vrefと比較し、比較結果を出力する比較回路14と、比較回路14の出力V3を平均化し、高周波成分を除去した信号を、制御信号Vcとして可変遅延回路11に出力するローパスフィルタ15と、を具備する。 (もっと読む)


【課題】リセット動作に要する時間を短縮でき、リセット動作時に発生する雑音を抑制し、高速な繰り返しの入力信号に対応でき、高集積化、低消費電力化できるランプ波形発生方式の遅延回路を提供する。
【解決手段】ランプ波形を発生する遅延発生容量と、一端が第1の初期電圧源に接続され他端が遅延発生容量の他端に接続の第1のスイッチと、一端が第2の初期電圧源に接続され他端が遅延発生容量の他端に接続の第2のスイッチと、一端がチャージ電流源に接続され他端が遅延発生容量の他端に接続の第3のスイッチと、一端がディスチャージ電流源に接続され他端が遅延発生容量の他端に接続の第4のスイッチと、第1のコンパレータと、入力に第1のコンパレータの出力が接続される第1のワンショットと、第2のコンパレータと、入力に第2のコンパレータの出力が接続される第2のワンショットと、遅延出力信号を出力する論理和ゲートとを備える。 (もっと読む)


【課題】入力信号を基にディレイパルスを発生させる場合に、ディレイパルスのパルス幅の温度依存性を低減できるディレイパルス発生回路を提供する。
【解決手段】ディレイを発生させる温度補償ディレイ回路を、PMOSトランジスタQ11とNMOSトランジスタQ12とで構成されるインバータと、インバータの出力端に一端が接続されると共に、他端に第1のバイアス信号PBIASが印加されるキャパシタ素子C11と、インバータの出力端に一端が接続されると共に、他端に第2のバイアス信号NBIASが印加されるキャパシタ素子C12とで構成する。そして、第1のバイアス信号PBIASの電圧を動作温度の低下に応じて増加させ、第2のバイアス信号NBIASの電圧を動作温度の低下に応じて減少させることにより、動作温度の変化によるディレイ時間の変動を低減する。 (もっと読む)


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