イメージセンサーの較正装置、それを用いたマッピングと補償方法
【課題】イメージセンサーの較正装置、それを用いたマッピングと補償方法を提供する。
【解決手段】イメージセンサーの較正装置２０は、画素ユニットアレイとパターンとを備え、画素ユニットアレイに配置される画素ユニットは、平行な経線と平行な緯線が交錯することにより定義される。パターンは、一部の画素ユニットから構成され、その一部の画素ユニットのグレイレベルは、画素ユニットアレイ中のその他の画素のグレイレベルと異なる。パターンは、平行な間隔で、区切られる複数のバーからなる。パターンの特徴により比較工程が実行される。パターンの特徴により、目標画素ユニットと比較画素ユニットを定義する。イメージセンサー上のギャップ尺寸と位置は、目標画素ユニットと比較画素ユニットが一致することによりマッピングされる。スキャンイメージ品質は、ギャップ値の補償により改善される。
【解決手段】イメージセンサーの較正装置２０は、画素ユニットアレイとパターンとを備え、画素ユニットアレイに配置される画素ユニットは、平行な経線と平行な緯線が交錯することにより定義される。パターンは、一部の画素ユニットから構成され、その一部の画素ユニットのグレイレベルは、画素ユニットアレイ中のその他の画素のグレイレベルと異なる。パターンは、平行な間隔で、区切られる複数のバーからなる。パターンの特徴により比較工程が実行される。パターンの特徴により、目標画素ユニットと比較画素ユニットを定義する。イメージセンサー上のギャップ尺寸と位置は、目標画素ユニットと比較画素ユニットが一致することによりマッピングされる。スキャンイメージ品質は、ギャップ値の補償により改善される。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、イメージセンサーの較正装置、イメージセンサーのギャップのマッピングと補償方法に関するものであって、特に、接触型イメージセンサーの較正装置、それを用いたマッピングと補償方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
今日、スキャナーに用いられるイメージセンサーは、主に、電荷結合素子(ＣＣＤ)、接触型イメージセンサー(ＣＩＳ)、光電子増倍管(ＰＭＴ)、相補型ＭＯＳ(ＣＭＯＳ)があり、ＣＣＤとＣＩＳはスキャナーに幅広く用いられている。
【０００３】
一般に、ＣＣＤは光線をアナログ電圧信号に転換し、各画素のグレイレベルをマークし、その後、アナログ/デジタルコンバータが、アナログ電圧信号をデジタル信号に転換する。画像化プロセスで、光源により提供される光線は、鏡により反射されて、光学レンズにより集光され、よって、これらの光学装置の設置により、スキャナーの製造コストを増加させる。ＣＣＤは、冷光源と複数の反射鏡と光学レンズからなる一組の光学システムを必要とし、複雑な光線経路を経ないと、ＣＣＤ表面にイメージが形成できない。更に、ＣＣＤは、一組の反射鏡と光学レンズにより伝送し、ＣＣＤ表面にイメージを形成する必要があるので、光学の収差、色彩の収差、及び、色彩は、スキャンソフトウェアにより補正しなければならない。更に、ＣＣＤを有するスキャナーは光学レンズを用いて、ＣＣＤ表面上にイメージを形成するので、被写界深度が深く、生成されたイメージの品質がよく、特に、隆起した本のスパイン、又は、他の実物に対し、はっきりとしたスキャン結果を得ることができる。
【０００４】
接触型イメージセンサーの操作原理は、スキャナー内の光源により提供される光線がオリジナルイメージ上に照射され、反射される反射光線を感知して、光線信号を電気信号に転換し、スキャナーの底板に位置するアナログ/デジタル変換回路により、電気信号をデジタル信号に転換し、デジタル信号がコンピュータに伝送されて、全スキャンプロセスを完成する。オリジナルイメージにより反射される反射光線は、反射鏡と光学レンズがなくても、直接、ＣＩＳ上にイメージを形成することができるので、ＣＩＳを有するスキャナーの製造コストは低い。光源、センサー、増幅器が集積されるので、ＣＩＳを有するスキャナーの構造、原理と光学経路はシンプルである。更に、オリジナルイメージの表面により反射される反射光線は、ＣＩＳで直接イメージを形成するので、理論上、色彩の収差、光学の収差が生じず、スキャン結果はオリジナルイメージに近い。
【０００５】
しかし、ＣＩＳを有するスキャナーは反射鏡と光学レンズがなく、ＣＩＳはオリジナルイメージを直接スキャンしなければならないので、スキャン精度が低く、スキャン品質は、ＣＣＤを有するスキャナーによりスキャンされたものより悪い。それでも、明るく、薄く、携帯に便利であるので、ＣＩＳを有するスキャナーはスキャン市場を占有している。よって、接触型イメージセンサーのスキャン結果を改善することが必要である。
【０００６】
スキャナーによるスキャンイメージが悪い原因は多くあり、接触型イメージセンサーのスキャナーを例とすると、接触型イメージセンサーのパッケージプロセスで生成される誤差が、不定のギャップを接触型イメージセンサー間に生じる。設置位置の不連続性により、スキャンされたイメージが断層の現象を生成する。よって、本発明は、上述の現象を解決するため、イメージセンサーの較正装置とイメージセンサーのギャップをマッピングする方法を提供し、較正図のパターンと演算方式により、イメージセンサー設置時のギャップ値を確定し、補償する。
【０００７】
更に、イメージセンサー設置時の実際のギャップは、一直線に配列されるときのシフトギャップ、及び、非直線時のアラインメントギャップに分けられるが、どれも、スキャンされたイメージは断層現象が生じる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
よって、本発明は、イメージセンサーの較正装置、及び、スキャンイメージの補償方法を提供し、較正パターンにより、ギャップ箇所のイメージを識別し、画素の大小により、ギャップ値を測定して補償し、シフトギャップとアラインメントギャップを解決することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の目的によると、較正装置は、画素ユニットアレイとパターンとを備える。前記画素ユニットアレイは、複数の平行な経線と複数の平行な緯線とを備え、各経線と各緯線は交錯して、前記画素ユニットアレイに配置された複数の画素ユニットを定義する。前記パターンは前記画素ユニットアレイ中に分布し、そのパターンは前記複数の画素ユニット中の一部の前記画素ユニットから構成され、且つ、前記パターンを構成する前記画素ユニットのグレイレベルが前記画素ユニットアレイ中のその他の前記画素ユニットのグレイレベルと異なり、且つ、前記パターンは、平行な間隔で、区切られる複数のバーを有し、各バーは経線と緯線に平行ではない。
【００１０】
次に、本発明は、イメージセンサーのギャップのマッピング方法を提供する。まず、較正装置のスキャンイメージを取得する。次に、比較プロセスを設定し、パターン特性に基づいて、パターンの目標画素ユニットと比較画素ユニットを設定し、目標画素ユニットのグレイレベルと比較画素ユニットのグレイレベルが一致するか比較して、グレイレベルが不一致の計数を得る。その後、比較プロセスをスキャンイメージ上で実行すると共に、計数に基づいて、ギャップの大きさを計算し、グレイレベルが不一致の目標画素ユニットと比較画素ユニットを較正装置上の座標とギャップ値に保存する。よって、上述のマッピング方法により得られた結果に基づいて、スキャンイメージの補償方法に応用し、目標物件のスキャンイメージを取得したあと、上述の座標とギャップ値に基づいて、画素値を目標物件中のスキャンイメージ中に挿入する。
【発明の効果】
【００１１】
本発明のイメージセンサーの較正装置、スキャンイメージの補償方法は、較正パターンにより、ギャップ箇所のイメージを識別し、画素の大小により、ギャップ値を測定して補償し、シフトギャップとアラインメントギャップを解決することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１Ａ】本発明の実施例によるスキャンイメージを補償する較正装置とその方法を示す図である。
【図１Ｂ】本発明のもう一つの実施例によるイメージセンサー配置を示す図である。
【図２Ａ】本発明の実施例による較正装置を示す図である。
【図２Ｂ】本発明の実施例による較正装置のスキャンイメージを示す図である。
【図２Ｃ】本発明のもう一つの実施例による較正装置のスキャンイメージを示す図である。
【図３Ａ】本発明の実施例によるイメージセンサーのギャップをマッピングする方法のフローチャート図である。
【図３Ｂ】本発明の実施例による図３Ａの結果によりスキャンイメージを補償する方法のフローチャート図である。
【発明を実施するための形態】
【実施例】
【００１３】
図１Ａは、本発明の実施例によるスキャンイメージを補償する較正装置とその方法を示す図である。図１Ａで示されるように、複数のイメージセンサー１０１が基板１０上に提供される。実際の応用において、イメージセンサー１０１はギャップがなく連続して形成されるので、複数の区間１２が基板１０上の端から端まで配置されて、第一方向Xを定義し、シフトギャップ１０３が相隣する二区間１２間で端から端まで存在する。注意すべきことは、イメージセンサー１０１は、実際の必要に応じて、相隣する二イメージセンサー１０１間にシフトギャップ１０３を存在させる方式で基板１０上に設置し、配列された複数のイメージセンサー１０１は、第一方向Xを定義することができ、区間１２を形成しなくてもいいことである。更に、隣接する二区間１２、又は、隣接する二イメージセンサー１０１間に形成される各二シフトギャップ１０３は、実際の組み立て状況に応じて、同じでもいいし異なってもよい。
【００１４】
図１Ｂは、本発明のもう一つの実施例によるイメージセンサー配置を示す図である。図１Ｂを参照すると、配列された複数のイメージセンサー１０１、又は、区間１２が、第一方向Xに沿って配置されるが、設置時に、一距離オフセットするので、相隣する二区間１２間、又は、二イメージセンサー１０１間にギャップを形成する。この時、第二方向Y上の距離はアラインメントギャップ１０５で、第一方向X上に形成されるギャップはシフトギャップ１０３である。よって、本発明の較正装置とギャップを補償する方法が、図１Ｂで示されるイメージセンサーに適用される。これにより、イメージセンサー１０１、又は、区間１２がどのように設置されても、イメージセンサー１０１、又は、区間１２が端から端まで配置され、第一方向Xにシフトギャップ１０３が形成される、又は、第二方向Yに、アラインメントギャップ１０５が形成されれば、本発明の較正装置とギャップを補償する方法により、スキャンイメージの不連続箇所を補償して、スキャン品質を向上させることができる。
【００１５】
図２Ａは、本発明の実施例による較正装置を示す図である。図２Ａで示されるように、較正装置２０は二次元サイズで、例えば、A４サイズ（２１０ミリ×２９４ミリ）の長方形である。更に、較正装置２０上に、互いに平行な複数の経線２０１と互いに平行な複数の緯線２０３を有し、各経線２０１と各緯線２０３は交錯して、複数の交錯領域を定義し、四つの交錯点、経線２０１と緯線２０３は、大小、及び、形状が同じである画素ユニット２０５を定義し、画素ユニット２０５が較正装置２０上に配列されて、画素ユニットアレイを形成する。注意すべきことは、経線２０１、又は、緯線２０３は直線でも曲線でもよい。次に、図２Ａの較正装置２０は実際の較正装置を一部拡大しており、実際の較正装置の経線と緯線は示されていない。実施例中、経線２０１はｎ本の直線（ｎは正の整数）を有し、イメージセンサー（図示しない）が配列されるX方向と平行である。緯線２０３はｍ本の直線（ｍは正の整数）を有し、両者は交錯して、長方形の画素ユニット２０５を形成する。交差点（０、０）は、較正装置２０向かって左上方からマークされ、右辺に向かって交差点（ｎ、０）に延伸し、下方に向かって交差点（０、ｍ）に延伸し、右下方に向かって交差点（ｎ、ｍ）に延伸するが、本発明はこれに限定するものではない。更に、較正装置２０上は、背景とパターンとに分けられ、背景とパターンのグレイレベルは明らかな差異があり、後続の演算で用いる。実施例中、背景は全白で表示され、パターンは全黒で表示されるが、本発明は、この組み合わせに限定されず、異なるグレイレベル、又は、非白黒で表示してもよい。
【００１６】
注意すべきことは、パターンの基本ユニットは黒色が広がる画素ユニット２０５であることである。実施例中、複数の連続した黒塗りの画素ユニット２０５がバー２０７を形成し、パターンは、平行な間隔で、区切られる複数のバー２０７を含む。各バー２０７は経線２０１にも、緯線２０３にも平行ではない。各バー２０７と経線２０１との挟角は０度、及び、９０度ではない。各バー２０７と緯線２０３との挟角は０度、及び、９０度ではない。バー２０７は図で示されるように直線でも、曲線でもいいことが分かる。よって、本発明は上述の状況に限定されない。この他、バー２０７以外に、較正装置２０上に、緯線２０３に平行な水平バー２０９のパターンを有する。水平バー２０９は、原則として、どのバー２０７とも交錯しない。次に、水平バー２０９は、基本的に、イメージセンサー１０１、又は、区間１２の長さと同じで、即ち、水平バー２０９の長さと画素ユニットアレイの一辺の長さは同じである。更に、近く観察すると、図２Ａで示されるバー２０７の辺縁が鋸歯状であるが、実際の尺寸で、使用者が目視するパターンは平滑な直線が傾斜設置される。上述に基づくと、較正装置２０上のパターンにより、アラインメントギャップとシフトギャップを検査することができる。
【００１７】
図２Ｂは、本発明の実施例による較正装置のスキャンイメージを示す図である。図２Ａの較正装置が図１Ａ、又は、図１Ｂのイメージセンサーによりスキャンされた後、シフトギャップが存在する位置は、較正装置のスキャンイメージがオリジナルの較正装置と異なる。図２Ｂを参照すると、上から下、左から右に、各画素ユニット２０５を追跡する。以下では、座標により画素ユニット２０５の位置を表示する。（０、０）から開始し、まず、現在の位置を（０、０）（目標画素ユニット）に置き、右下の画素ユニット（比較画素ユニット）と比較し、即ち、二画素ユニット（０＋１、０＋１）と（０、０）を検査する。実施例中、（０、０）と（１、１）が黒である。次に、（０、１）と（１、２）が黒であり、比較プロセスは、最後の一個の座標（０、ｍ）まで繰り返される。（０、ａ）と（１、ａ＋１）を比較して（（ａ＋１）<ｍ、ａは正の整数）、皆、黒か白の場合、第０行と第一行のイメージセンサー、又は区間の間にはシフトギャップがない。スキャンイメージの第一行と第二行を継続して検査すると、第一行と第二行のイメージセンサー、又は、区間の間にもシフトギャップがない。座標（３、２）と（４、３）で、（３、２）は黒で、（４、３）は白であることが分かる。よって、第三行と第四行のイメージセンサー、又は、区間の間にシフトギャップがあると判断し、且つ、シフトギャップは１個の画素ユニットである。更に、比較プロセスが繰り返され、座標（３、３）と（４、４）が黒か検査し、一黒一白なら、シフトギャップは、全てが黒であることを判断するまで、一画素ユニットを加える。実施例中、（３、３）と（４、４）が全て黒なので、シフトギャップは１個の画素ユニットである。この方法で、全ての画素ユニットを追跡し、全ての検査結果をメモリ、又は、ストレージデバイス中に保存する。上述によると、図２Ａの較正装置のパターンにより得られるスキャンイメージは、演算時、較正装置のパターンの特性によって、目標画素ユニットと比較画素ユニットのグレイレベルが一致するか検査する。４５度（経線との挟角、又は、緯線との挟角）の直線パターンを例とすると、パターンの特性は斜率絶対値０．５で、比較画素ユニットは対角線にあって相隣する画素ユニットであるので、目標画素ユニットと対角線にあって相隣する画素ユニットのグレイレベルが一致するか検査すると共に、不一致の状況に基づいて、イメージセンサー、又は、区間のシフトギャップの大きさを推算する。上述のデータと情報は、メモリ、又は、ストレージデバイス中に保存し、その後、スキャン待ちのターゲットにスキャンする時、スキャンシステムは、保存したデータと情報に基づいて、シフトギャップが生じる位置に補償を実行して、出力するスキャンイメージを改善する。
【００１８】
較正装置のパターンの特性が単一項で描写できない場合、例えば、曲線パターンで、二項以上のパラメータで描写しなければならない時、テーブルを構築する方式を利用し、まず、目標画素ユニットと対応する比較画素ユニットの座標のテーブルを構築し、スキャン後、直接、テーブル中のデータにより、シフトギャップが存在するか検査する。較正装置のパターンの特性が単一項だけで描写されても、テーブルを製作する方式を利用することができ、本発明が実行する検査は、即時、又は、テーブルを利用する方式に限定されない。
【００１９】
更に、水平バー２０９により、イメージセンサー、又は、区間の間が照準しているか検査することができ、目標画素ユニットと相隣する比較画素ユニットとのグレイレベルが一致するかを検査することを利用することもできる。検査されたシフトギャップが相同で、一旦、目標画素ユニットと相隣する比較画素ユニットのグレイレベルが不一致になると、すぐに、この場所のイメージセンサー、又は、区間にアラインメントギャップが存在することを表示する。
【００２０】
図２Ｃは、本発明のもう一つの実施例による較正装置のスキャンイメージを示す図である。図２Ｂと異なるのは、図２Ｃは、較正装置をスキャンする時に使用する解像度が図２Ｂより大きいことである。よって、図２Ｃで呈現される画素ユニットの尺寸は図２Ｂよりも小さいが、ギャップ値を計算して補償するとき、スキャン時に使用する解像度も考慮する必要があるので、本発明の較正装置が異なる解像度でスキャンするのに応用するとき、イメージセンサーのアラインメントギャップとシフトギャップを検査することができる。次に、図２Ｃの水平バー２０９が呈現する複数の目標画素ユニットと相隣する比較画素ユニットのグレイレベルは不一致で、即ち、イメージセンサーはアラインメントギャップが存在する。
【００２１】
図３Ａは、本発明の実施例によるイメージセンサーのギャップをマッピングする方法のフローチャート図である。図３Ａを参照すると、較正装置が提供され（ステップ３０）、本実施例の較正装置は異なるグレイレベルを有する背景とパターンとを有する。較正装置はスキャンされて、較正装置のスキャンイメージを得る（ステップ３２）。スキャン装置のイメージセンサー間にシフトギャップ、又は、アラインメントギャップがあるとき、較正装置のスキャンイメージのパターンと較正装置のオリジナルパターン間に格差が存在する。スキャンイメージの目標画素ユニットと比較画素ユニットのグレイレベルが一致するか検査する（ステップ３４）。本発明の較正装置のパターン特性により、目標画素ユニットと比較画素ユニットを含む比較工程を設定し、一目標画素ユニットと対応する比較画素ユニットのグレイレベルが一致する時、スキャン装置のセンサーは、対応位置上に、アラインメントギャップ、又は、シフトギャップがないことを表示する。そうでない場合は、スキャン装置のセンサーが対応位置上に、アラインメントギャップ、又は、シフトギャップが存在することを表示する。その後、検査結果に基づいて、ギャップの大小と位置を計算し（ステップ３６）、目標画素ユニットと比較画素ユニットのグレイレベルの不一致の計数に基づいて、ギャップの大きさを計算すると共に、目標画素ユニットと比較画素ユニットとの較正装置上での座標を記録し、ギャップ値と位置は、スキャン装置、又は、その他の設備のストレージデバイス、例えば、スキャン装置のメモリやハードディスク中に保存される。
【００２２】
図３Ｂは、本発明の実施例による図３Ａの結果によりスキャンイメージを補償する方法のフローチャート図である。図３Ｂを参照すると、スキャン装置は、スキャンしたい目標物件に対しスキャンを実行する（ステップ３８）。ギャップ値とギャップが生じる位置に基づいて、スキャンで得られるイメージ信号に対し、対応位置のギャップ補償を実行する（ステップ４０）。実施例中、ギャップ値が画素である場合、ギャップ生成位置の各平行線に画素を挿入し、この画素値はギャップ生成位置の両辺の画素値の平均値であるが、本発明は上述の方法で得られる補償したい値に限定されない。上述によると、補償を経たイメージ信号は未補償前の信号より完全で、よって、出力されるスキャンイメージも連続し、イメージ品質は未補償前よりよい。
【００２３】
本発明では好ましい実施例を前述の通り開示したが、これらは決して本発明に限定するものではなく、当該技術を熟知する者なら誰でも、本発明の精神と領域を脱しない範囲内で各種の変動や潤色を加えることができ、従って本発明の保護範囲は、特許請求の範囲で指定した内容を基準とする。
【符号の説明】
【００２４】
１０ 基板
１２ 区間
１０１ イメージセンサー
１０３ シフトギャップ
１０５ アラインメントギャップ
２０ 較正装置
２０１ 経線
２０３ 緯線
２０５ 画素ユニット
２０７ バー
２０９ 水平バー
【技術分野】
【０００１】
本発明は、イメージセンサーの較正装置、イメージセンサーのギャップのマッピングと補償方法に関するものであって、特に、接触型イメージセンサーの較正装置、それを用いたマッピングと補償方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
今日、スキャナーに用いられるイメージセンサーは、主に、電荷結合素子(ＣＣＤ)、接触型イメージセンサー(ＣＩＳ)、光電子増倍管(ＰＭＴ)、相補型ＭＯＳ(ＣＭＯＳ)があり、ＣＣＤとＣＩＳはスキャナーに幅広く用いられている。
【０００３】
一般に、ＣＣＤは光線をアナログ電圧信号に転換し、各画素のグレイレベルをマークし、その後、アナログ/デジタルコンバータが、アナログ電圧信号をデジタル信号に転換する。画像化プロセスで、光源により提供される光線は、鏡により反射されて、光学レンズにより集光され、よって、これらの光学装置の設置により、スキャナーの製造コストを増加させる。ＣＣＤは、冷光源と複数の反射鏡と光学レンズからなる一組の光学システムを必要とし、複雑な光線経路を経ないと、ＣＣＤ表面にイメージが形成できない。更に、ＣＣＤは、一組の反射鏡と光学レンズにより伝送し、ＣＣＤ表面にイメージを形成する必要があるので、光学の収差、色彩の収差、及び、色彩は、スキャンソフトウェアにより補正しなければならない。更に、ＣＣＤを有するスキャナーは光学レンズを用いて、ＣＣＤ表面上にイメージを形成するので、被写界深度が深く、生成されたイメージの品質がよく、特に、隆起した本のスパイン、又は、他の実物に対し、はっきりとしたスキャン結果を得ることができる。
【０００４】
接触型イメージセンサーの操作原理は、スキャナー内の光源により提供される光線がオリジナルイメージ上に照射され、反射される反射光線を感知して、光線信号を電気信号に転換し、スキャナーの底板に位置するアナログ/デジタル変換回路により、電気信号をデジタル信号に転換し、デジタル信号がコンピュータに伝送されて、全スキャンプロセスを完成する。オリジナルイメージにより反射される反射光線は、反射鏡と光学レンズがなくても、直接、ＣＩＳ上にイメージを形成することができるので、ＣＩＳを有するスキャナーの製造コストは低い。光源、センサー、増幅器が集積されるので、ＣＩＳを有するスキャナーの構造、原理と光学経路はシンプルである。更に、オリジナルイメージの表面により反射される反射光線は、ＣＩＳで直接イメージを形成するので、理論上、色彩の収差、光学の収差が生じず、スキャン結果はオリジナルイメージに近い。
【０００５】
しかし、ＣＩＳを有するスキャナーは反射鏡と光学レンズがなく、ＣＩＳはオリジナルイメージを直接スキャンしなければならないので、スキャン精度が低く、スキャン品質は、ＣＣＤを有するスキャナーによりスキャンされたものより悪い。それでも、明るく、薄く、携帯に便利であるので、ＣＩＳを有するスキャナーはスキャン市場を占有している。よって、接触型イメージセンサーのスキャン結果を改善することが必要である。
【０００６】
スキャナーによるスキャンイメージが悪い原因は多くあり、接触型イメージセンサーのスキャナーを例とすると、接触型イメージセンサーのパッケージプロセスで生成される誤差が、不定のギャップを接触型イメージセンサー間に生じる。設置位置の不連続性により、スキャンされたイメージが断層の現象を生成する。よって、本発明は、上述の現象を解決するため、イメージセンサーの較正装置とイメージセンサーのギャップをマッピングする方法を提供し、較正図のパターンと演算方式により、イメージセンサー設置時のギャップ値を確定し、補償する。
【０００７】
更に、イメージセンサー設置時の実際のギャップは、一直線に配列されるときのシフトギャップ、及び、非直線時のアラインメントギャップに分けられるが、どれも、スキャンされたイメージは断層現象が生じる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
よって、本発明は、イメージセンサーの較正装置、及び、スキャンイメージの補償方法を提供し、較正パターンにより、ギャップ箇所のイメージを識別し、画素の大小により、ギャップ値を測定して補償し、シフトギャップとアラインメントギャップを解決することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の目的によると、較正装置は、画素ユニットアレイとパターンとを備える。前記画素ユニットアレイは、複数の平行な経線と複数の平行な緯線とを備え、各経線と各緯線は交錯して、前記画素ユニットアレイに配置された複数の画素ユニットを定義する。前記パターンは前記画素ユニットアレイ中に分布し、そのパターンは前記複数の画素ユニット中の一部の前記画素ユニットから構成され、且つ、前記パターンを構成する前記画素ユニットのグレイレベルが前記画素ユニットアレイ中のその他の前記画素ユニットのグレイレベルと異なり、且つ、前記パターンは、平行な間隔で、区切られる複数のバーを有し、各バーは経線と緯線に平行ではない。
【００１０】
次に、本発明は、イメージセンサーのギャップのマッピング方法を提供する。まず、較正装置のスキャンイメージを取得する。次に、比較プロセスを設定し、パターン特性に基づいて、パターンの目標画素ユニットと比較画素ユニットを設定し、目標画素ユニットのグレイレベルと比較画素ユニットのグレイレベルが一致するか比較して、グレイレベルが不一致の計数を得る。その後、比較プロセスをスキャンイメージ上で実行すると共に、計数に基づいて、ギャップの大きさを計算し、グレイレベルが不一致の目標画素ユニットと比較画素ユニットを較正装置上の座標とギャップ値に保存する。よって、上述のマッピング方法により得られた結果に基づいて、スキャンイメージの補償方法に応用し、目標物件のスキャンイメージを取得したあと、上述の座標とギャップ値に基づいて、画素値を目標物件中のスキャンイメージ中に挿入する。
【発明の効果】
【００１１】
本発明のイメージセンサーの較正装置、スキャンイメージの補償方法は、較正パターンにより、ギャップ箇所のイメージを識別し、画素の大小により、ギャップ値を測定して補償し、シフトギャップとアラインメントギャップを解決することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１Ａ】本発明の実施例によるスキャンイメージを補償する較正装置とその方法を示す図である。
【図１Ｂ】本発明のもう一つの実施例によるイメージセンサー配置を示す図である。
【図２Ａ】本発明の実施例による較正装置を示す図である。
【図２Ｂ】本発明の実施例による較正装置のスキャンイメージを示す図である。
【図２Ｃ】本発明のもう一つの実施例による較正装置のスキャンイメージを示す図である。
【図３Ａ】本発明の実施例によるイメージセンサーのギャップをマッピングする方法のフローチャート図である。
【図３Ｂ】本発明の実施例による図３Ａの結果によりスキャンイメージを補償する方法のフローチャート図である。
【発明を実施するための形態】
【実施例】
【００１３】
図１Ａは、本発明の実施例によるスキャンイメージを補償する較正装置とその方法を示す図である。図１Ａで示されるように、複数のイメージセンサー１０１が基板１０上に提供される。実際の応用において、イメージセンサー１０１はギャップがなく連続して形成されるので、複数の区間１２が基板１０上の端から端まで配置されて、第一方向Xを定義し、シフトギャップ１０３が相隣する二区間１２間で端から端まで存在する。注意すべきことは、イメージセンサー１０１は、実際の必要に応じて、相隣する二イメージセンサー１０１間にシフトギャップ１０３を存在させる方式で基板１０上に設置し、配列された複数のイメージセンサー１０１は、第一方向Xを定義することができ、区間１２を形成しなくてもいいことである。更に、隣接する二区間１２、又は、隣接する二イメージセンサー１０１間に形成される各二シフトギャップ１０３は、実際の組み立て状況に応じて、同じでもいいし異なってもよい。
【００１４】
図１Ｂは、本発明のもう一つの実施例によるイメージセンサー配置を示す図である。図１Ｂを参照すると、配列された複数のイメージセンサー１０１、又は、区間１２が、第一方向Xに沿って配置されるが、設置時に、一距離オフセットするので、相隣する二区間１２間、又は、二イメージセンサー１０１間にギャップを形成する。この時、第二方向Y上の距離はアラインメントギャップ１０５で、第一方向X上に形成されるギャップはシフトギャップ１０３である。よって、本発明の較正装置とギャップを補償する方法が、図１Ｂで示されるイメージセンサーに適用される。これにより、イメージセンサー１０１、又は、区間１２がどのように設置されても、イメージセンサー１０１、又は、区間１２が端から端まで配置され、第一方向Xにシフトギャップ１０３が形成される、又は、第二方向Yに、アラインメントギャップ１０５が形成されれば、本発明の較正装置とギャップを補償する方法により、スキャンイメージの不連続箇所を補償して、スキャン品質を向上させることができる。
【００１５】
図２Ａは、本発明の実施例による較正装置を示す図である。図２Ａで示されるように、較正装置２０は二次元サイズで、例えば、A４サイズ（２１０ミリ×２９４ミリ）の長方形である。更に、較正装置２０上に、互いに平行な複数の経線２０１と互いに平行な複数の緯線２０３を有し、各経線２０１と各緯線２０３は交錯して、複数の交錯領域を定義し、四つの交錯点、経線２０１と緯線２０３は、大小、及び、形状が同じである画素ユニット２０５を定義し、画素ユニット２０５が較正装置２０上に配列されて、画素ユニットアレイを形成する。注意すべきことは、経線２０１、又は、緯線２０３は直線でも曲線でもよい。次に、図２Ａの較正装置２０は実際の較正装置を一部拡大しており、実際の較正装置の経線と緯線は示されていない。実施例中、経線２０１はｎ本の直線（ｎは正の整数）を有し、イメージセンサー（図示しない）が配列されるX方向と平行である。緯線２０３はｍ本の直線（ｍは正の整数）を有し、両者は交錯して、長方形の画素ユニット２０５を形成する。交差点（０、０）は、較正装置２０向かって左上方からマークされ、右辺に向かって交差点（ｎ、０）に延伸し、下方に向かって交差点（０、ｍ）に延伸し、右下方に向かって交差点（ｎ、ｍ）に延伸するが、本発明はこれに限定するものではない。更に、較正装置２０上は、背景とパターンとに分けられ、背景とパターンのグレイレベルは明らかな差異があり、後続の演算で用いる。実施例中、背景は全白で表示され、パターンは全黒で表示されるが、本発明は、この組み合わせに限定されず、異なるグレイレベル、又は、非白黒で表示してもよい。
【００１６】
注意すべきことは、パターンの基本ユニットは黒色が広がる画素ユニット２０５であることである。実施例中、複数の連続した黒塗りの画素ユニット２０５がバー２０７を形成し、パターンは、平行な間隔で、区切られる複数のバー２０７を含む。各バー２０７は経線２０１にも、緯線２０３にも平行ではない。各バー２０７と経線２０１との挟角は０度、及び、９０度ではない。各バー２０７と緯線２０３との挟角は０度、及び、９０度ではない。バー２０７は図で示されるように直線でも、曲線でもいいことが分かる。よって、本発明は上述の状況に限定されない。この他、バー２０７以外に、較正装置２０上に、緯線２０３に平行な水平バー２０９のパターンを有する。水平バー２０９は、原則として、どのバー２０７とも交錯しない。次に、水平バー２０９は、基本的に、イメージセンサー１０１、又は、区間１２の長さと同じで、即ち、水平バー２０９の長さと画素ユニットアレイの一辺の長さは同じである。更に、近く観察すると、図２Ａで示されるバー２０７の辺縁が鋸歯状であるが、実際の尺寸で、使用者が目視するパターンは平滑な直線が傾斜設置される。上述に基づくと、較正装置２０上のパターンにより、アラインメントギャップとシフトギャップを検査することができる。
【００１７】
図２Ｂは、本発明の実施例による較正装置のスキャンイメージを示す図である。図２Ａの較正装置が図１Ａ、又は、図１Ｂのイメージセンサーによりスキャンされた後、シフトギャップが存在する位置は、較正装置のスキャンイメージがオリジナルの較正装置と異なる。図２Ｂを参照すると、上から下、左から右に、各画素ユニット２０５を追跡する。以下では、座標により画素ユニット２０５の位置を表示する。（０、０）から開始し、まず、現在の位置を（０、０）（目標画素ユニット）に置き、右下の画素ユニット（比較画素ユニット）と比較し、即ち、二画素ユニット（０＋１、０＋１）と（０、０）を検査する。実施例中、（０、０）と（１、１）が黒である。次に、（０、１）と（１、２）が黒であり、比較プロセスは、最後の一個の座標（０、ｍ）まで繰り返される。（０、ａ）と（１、ａ＋１）を比較して（（ａ＋１）<ｍ、ａは正の整数）、皆、黒か白の場合、第０行と第一行のイメージセンサー、又は区間の間にはシフトギャップがない。スキャンイメージの第一行と第二行を継続して検査すると、第一行と第二行のイメージセンサー、又は、区間の間にもシフトギャップがない。座標（３、２）と（４、３）で、（３、２）は黒で、（４、３）は白であることが分かる。よって、第三行と第四行のイメージセンサー、又は、区間の間にシフトギャップがあると判断し、且つ、シフトギャップは１個の画素ユニットである。更に、比較プロセスが繰り返され、座標（３、３）と（４、４）が黒か検査し、一黒一白なら、シフトギャップは、全てが黒であることを判断するまで、一画素ユニットを加える。実施例中、（３、３）と（４、４）が全て黒なので、シフトギャップは１個の画素ユニットである。この方法で、全ての画素ユニットを追跡し、全ての検査結果をメモリ、又は、ストレージデバイス中に保存する。上述によると、図２Ａの較正装置のパターンにより得られるスキャンイメージは、演算時、較正装置のパターンの特性によって、目標画素ユニットと比較画素ユニットのグレイレベルが一致するか検査する。４５度（経線との挟角、又は、緯線との挟角）の直線パターンを例とすると、パターンの特性は斜率絶対値０．５で、比較画素ユニットは対角線にあって相隣する画素ユニットであるので、目標画素ユニットと対角線にあって相隣する画素ユニットのグレイレベルが一致するか検査すると共に、不一致の状況に基づいて、イメージセンサー、又は、区間のシフトギャップの大きさを推算する。上述のデータと情報は、メモリ、又は、ストレージデバイス中に保存し、その後、スキャン待ちのターゲットにスキャンする時、スキャンシステムは、保存したデータと情報に基づいて、シフトギャップが生じる位置に補償を実行して、出力するスキャンイメージを改善する。
【００１８】
較正装置のパターンの特性が単一項で描写できない場合、例えば、曲線パターンで、二項以上のパラメータで描写しなければならない時、テーブルを構築する方式を利用し、まず、目標画素ユニットと対応する比較画素ユニットの座標のテーブルを構築し、スキャン後、直接、テーブル中のデータにより、シフトギャップが存在するか検査する。較正装置のパターンの特性が単一項だけで描写されても、テーブルを製作する方式を利用することができ、本発明が実行する検査は、即時、又は、テーブルを利用する方式に限定されない。
【００１９】
更に、水平バー２０９により、イメージセンサー、又は、区間の間が照準しているか検査することができ、目標画素ユニットと相隣する比較画素ユニットとのグレイレベルが一致するかを検査することを利用することもできる。検査されたシフトギャップが相同で、一旦、目標画素ユニットと相隣する比較画素ユニットのグレイレベルが不一致になると、すぐに、この場所のイメージセンサー、又は、区間にアラインメントギャップが存在することを表示する。
【００２０】
図２Ｃは、本発明のもう一つの実施例による較正装置のスキャンイメージを示す図である。図２Ｂと異なるのは、図２Ｃは、較正装置をスキャンする時に使用する解像度が図２Ｂより大きいことである。よって、図２Ｃで呈現される画素ユニットの尺寸は図２Ｂよりも小さいが、ギャップ値を計算して補償するとき、スキャン時に使用する解像度も考慮する必要があるので、本発明の較正装置が異なる解像度でスキャンするのに応用するとき、イメージセンサーのアラインメントギャップとシフトギャップを検査することができる。次に、図２Ｃの水平バー２０９が呈現する複数の目標画素ユニットと相隣する比較画素ユニットのグレイレベルは不一致で、即ち、イメージセンサーはアラインメントギャップが存在する。
【００２１】
図３Ａは、本発明の実施例によるイメージセンサーのギャップをマッピングする方法のフローチャート図である。図３Ａを参照すると、較正装置が提供され（ステップ３０）、本実施例の較正装置は異なるグレイレベルを有する背景とパターンとを有する。較正装置はスキャンされて、較正装置のスキャンイメージを得る（ステップ３２）。スキャン装置のイメージセンサー間にシフトギャップ、又は、アラインメントギャップがあるとき、較正装置のスキャンイメージのパターンと較正装置のオリジナルパターン間に格差が存在する。スキャンイメージの目標画素ユニットと比較画素ユニットのグレイレベルが一致するか検査する（ステップ３４）。本発明の較正装置のパターン特性により、目標画素ユニットと比較画素ユニットを含む比較工程を設定し、一目標画素ユニットと対応する比較画素ユニットのグレイレベルが一致する時、スキャン装置のセンサーは、対応位置上に、アラインメントギャップ、又は、シフトギャップがないことを表示する。そうでない場合は、スキャン装置のセンサーが対応位置上に、アラインメントギャップ、又は、シフトギャップが存在することを表示する。その後、検査結果に基づいて、ギャップの大小と位置を計算し（ステップ３６）、目標画素ユニットと比較画素ユニットのグレイレベルの不一致の計数に基づいて、ギャップの大きさを計算すると共に、目標画素ユニットと比較画素ユニットとの較正装置上での座標を記録し、ギャップ値と位置は、スキャン装置、又は、その他の設備のストレージデバイス、例えば、スキャン装置のメモリやハードディスク中に保存される。
【００２２】
図３Ｂは、本発明の実施例による図３Ａの結果によりスキャンイメージを補償する方法のフローチャート図である。図３Ｂを参照すると、スキャン装置は、スキャンしたい目標物件に対しスキャンを実行する（ステップ３８）。ギャップ値とギャップが生じる位置に基づいて、スキャンで得られるイメージ信号に対し、対応位置のギャップ補償を実行する（ステップ４０）。実施例中、ギャップ値が画素である場合、ギャップ生成位置の各平行線に画素を挿入し、この画素値はギャップ生成位置の両辺の画素値の平均値であるが、本発明は上述の方法で得られる補償したい値に限定されない。上述によると、補償を経たイメージ信号は未補償前の信号より完全で、よって、出力されるスキャンイメージも連続し、イメージ品質は未補償前よりよい。
【００２３】
本発明では好ましい実施例を前述の通り開示したが、これらは決して本発明に限定するものではなく、当該技術を熟知する者なら誰でも、本発明の精神と領域を脱しない範囲内で各種の変動や潤色を加えることができ、従って本発明の保護範囲は、特許請求の範囲で指定した内容を基準とする。
【符号の説明】
【００２４】
１０ 基板
１２ 区間
１０１ イメージセンサー
１０３ シフトギャップ
１０５ アラインメントギャップ
２０ 較正装置
２０１ 経線
２０３ 緯線
２０５ 画素ユニット
２０７ バー
２０９ 水平バー
【特許請求の範囲】
【請求項１】
較正装置であって、画素ユニットアレイとパターンとを備え、
前記画素ユニットアレイは、複数の平行な経線と複数の平行な緯線と、を備え、各経線と各緯線は交錯して、前記画素ユニットアレイに配置された複数の画素ユニットを定義し、
前記パターンは前記画素ユニットアレイ中に分布し、前記パターンは前記複数の画素ユニットの一部の前記画素ユニットから構成され、且つ、前記パターンを構成する前記画素ユニットは、前記画素ユニットアレイ中のその他の前記画素ユニットと異なるグレイレベルがあり、且つ、前記パターンは、平行な間隔で、区切られる複数のバーを有し、前記各バーは前記経線と前記緯線に平行ではないことを特徴とする較正装置。
【請求項２】
前記パターンは、更に、前記経線と前記緯線に平行な水平バーを有し、前記水平バーの長さと前記画素ユニットアレイの一辺の長さは等しいことを特徴とする請求項１に記載の較正装置。
【請求項３】
前記水平バーと前記バーは交錯しないことを特徴とする請求項２に記載の較正装置。
【請求項４】
前記バーと任意の一本の前記経線、又は、任意の一本の前記緯線は４５度の挟角を有することを特徴とする請求項１に記載の較正装置。
【請求項５】
前記画素ユニットの幾何学形状は長方形であることを特徴とする請求項１に記載の較正装置。
【請求項６】
前記経線、又は、前記緯線は直線であることを特徴とする請求項１に記載の較正装置。
【請求項７】
前記経線、又は、前記緯線は曲線であることを特徴とする請求項１に記載の較正装置。
【請求項８】
前記パターンは、複数の黒色画素ユニットからなり、その他の画素ユニットは白色であることを特徴とする請求項１に記載の較正装置。
【請求項９】
イメージセンサーのギャップのマッピング方法であって、
画素ユニットアレイとパターンとを備え、前記画素ユニットアレイは、複数の平行な経線と複数の平行な緯線とを備え、各経線と各緯線は交錯して、前記画素ユニットアレイに配置された複数の画素ユニットを定義し、前記パターンは前記画素ユニットアレイ中に分布し、前記パターンは前記複数の画素ユニットの一部の前記画素ユニットから構成され、且つ、前記パターンを構成する画素ユニットのグレイレベルが画素ユニットアレイ中のその他の画素ユニットのグレイレベルと異なり、且つ、前記パターンは、平行な間隔で、区切られる複数のバーを有し、前記各バーは前記経線と前記緯線に平行ではない較正装置を提供するステップと、
前記較正装置のスキャンイメージを得るステップと、
前記パターンのパターン特性に基づいて、前記パターンの目標画素ユニットと比較画素ユニットを設定するステップと、前記目標画素ユニットのグレイレベルと前記比較画素ユニットのグレイレベルが一致するか比較して、グレイレベルが不一致の計数を得るステップと、からなる比較工程を設定するステップと、
前記比較工程を前記スキャンイメージ上で実行するステップと、
前記計数により、ギャップの大きさを示すギャップ値を計算し、グレイレベルが不一致の前記目標画素ユニットと前記比較画素ユニットとの前記較正装置上での座標と前記ギャップ値を保存するステップと、
を備えることを特徴とするイメージセンサーのギャップのマッピング方法。
【請求項１０】
前記較正装置を提供するステップは、更に、前記パターンの前記画素ユニットを黒色に、その他の画素ユニットを白色に設定するステップを含むことを特徴とする請求項９に記載のイメージセンサーのギャップのマッピング方法。
【請求項１１】
前記比較工程を設定するステップは、更に、前記パターン特性を直線の斜率に設定して、前記目標画素ユニットと前記比較画素ユニットが対角線の位置関係をなすようにするステップを含むことを特徴とする請求項９に記載のイメージセンサーのギャップのマッピング方法。
【請求項１２】
スキャンイメージの補償方法であって、
画素ユニットアレイとパターンとを備え、前記画素ユニットアレイは、複数の平行な経線と複数の平行な緯線とを備え、各経線と各緯線は交錯して、画素ユニットアレイに配置された複数の画素ユニットを定義し、前記パターンは前記画素ユニットアレイ中に分布し、前記パターンは前記複数の画素ユニット中の一部の前記画素ユニットから構成され、且つ、前記パターンを構成する画素ユニットのグレイレベルが画素ユニットアレイ中のその他の画素ユニットのグレイレベルと異なり、且つ、前記パターンは、平行な間隔で、区切られる複数のバーを有し、前記各バーは前記経線と前記緯線に平行ではない較正装置を提供するステップと、
前記較正装置のスキャンイメージと目標物件のスキャンイメージを得るステップと、
前記パターンのパターン特性に基づいて、前記パターンの目標画素ユニットと比較画素ユニットを設定するステップと、前記目標画素ユニットのグレイレベルと前記比較画素ユニットのグレイレベルが一致するか比較して、グレイレベルが不一致の計数を得るステップと、からなる比較工程を設定するステップと、
前記比較工程を前記較正装置の前記スキャンイメージ上で実行するステップと、
前記計数により、イメージセンサーのギャップの大きさを示すギャップ値を計算し、グレイレベルが不一致の前記目標画素ユニットと前記比較画素ユニットとの前記較正装置上での座標と前記ギャップ値を保存するステップと、
前記座標と前記ギャップ値に基づいて、画素値を前記目標物件の前記スキャンイメージ中に挿入するステップと、
を備えることを特徴とするスキャンイメージの補償方法。
【請求項１】
較正装置であって、画素ユニットアレイとパターンとを備え、
前記画素ユニットアレイは、複数の平行な経線と複数の平行な緯線と、を備え、各経線と各緯線は交錯して、前記画素ユニットアレイに配置された複数の画素ユニットを定義し、
前記パターンは前記画素ユニットアレイ中に分布し、前記パターンは前記複数の画素ユニットの一部の前記画素ユニットから構成され、且つ、前記パターンを構成する前記画素ユニットは、前記画素ユニットアレイ中のその他の前記画素ユニットと異なるグレイレベルがあり、且つ、前記パターンは、平行な間隔で、区切られる複数のバーを有し、前記各バーは前記経線と前記緯線に平行ではないことを特徴とする較正装置。
【請求項２】
前記パターンは、更に、前記経線と前記緯線に平行な水平バーを有し、前記水平バーの長さと前記画素ユニットアレイの一辺の長さは等しいことを特徴とする請求項１に記載の較正装置。
【請求項３】
前記水平バーと前記バーは交錯しないことを特徴とする請求項２に記載の較正装置。
【請求項４】
前記バーと任意の一本の前記経線、又は、任意の一本の前記緯線は４５度の挟角を有することを特徴とする請求項１に記載の較正装置。
【請求項５】
前記画素ユニットの幾何学形状は長方形であることを特徴とする請求項１に記載の較正装置。
【請求項６】
前記経線、又は、前記緯線は直線であることを特徴とする請求項１に記載の較正装置。
【請求項７】
前記経線、又は、前記緯線は曲線であることを特徴とする請求項１に記載の較正装置。
【請求項８】
前記パターンは、複数の黒色画素ユニットからなり、その他の画素ユニットは白色であることを特徴とする請求項１に記載の較正装置。
【請求項９】
イメージセンサーのギャップのマッピング方法であって、
画素ユニットアレイとパターンとを備え、前記画素ユニットアレイは、複数の平行な経線と複数の平行な緯線とを備え、各経線と各緯線は交錯して、前記画素ユニットアレイに配置された複数の画素ユニットを定義し、前記パターンは前記画素ユニットアレイ中に分布し、前記パターンは前記複数の画素ユニットの一部の前記画素ユニットから構成され、且つ、前記パターンを構成する画素ユニットのグレイレベルが画素ユニットアレイ中のその他の画素ユニットのグレイレベルと異なり、且つ、前記パターンは、平行な間隔で、区切られる複数のバーを有し、前記各バーは前記経線と前記緯線に平行ではない較正装置を提供するステップと、
前記較正装置のスキャンイメージを得るステップと、
前記パターンのパターン特性に基づいて、前記パターンの目標画素ユニットと比較画素ユニットを設定するステップと、前記目標画素ユニットのグレイレベルと前記比較画素ユニットのグレイレベルが一致するか比較して、グレイレベルが不一致の計数を得るステップと、からなる比較工程を設定するステップと、
前記比較工程を前記スキャンイメージ上で実行するステップと、
前記計数により、ギャップの大きさを示すギャップ値を計算し、グレイレベルが不一致の前記目標画素ユニットと前記比較画素ユニットとの前記較正装置上での座標と前記ギャップ値を保存するステップと、
を備えることを特徴とするイメージセンサーのギャップのマッピング方法。
【請求項１０】
前記較正装置を提供するステップは、更に、前記パターンの前記画素ユニットを黒色に、その他の画素ユニットを白色に設定するステップを含むことを特徴とする請求項９に記載のイメージセンサーのギャップのマッピング方法。
【請求項１１】
前記比較工程を設定するステップは、更に、前記パターン特性を直線の斜率に設定して、前記目標画素ユニットと前記比較画素ユニットが対角線の位置関係をなすようにするステップを含むことを特徴とする請求項９に記載のイメージセンサーのギャップのマッピング方法。
【請求項１２】
スキャンイメージの補償方法であって、
画素ユニットアレイとパターンとを備え、前記画素ユニットアレイは、複数の平行な経線と複数の平行な緯線とを備え、各経線と各緯線は交錯して、画素ユニットアレイに配置された複数の画素ユニットを定義し、前記パターンは前記画素ユニットアレイ中に分布し、前記パターンは前記複数の画素ユニット中の一部の前記画素ユニットから構成され、且つ、前記パターンを構成する画素ユニットのグレイレベルが画素ユニットアレイ中のその他の画素ユニットのグレイレベルと異なり、且つ、前記パターンは、平行な間隔で、区切られる複数のバーを有し、前記各バーは前記経線と前記緯線に平行ではない較正装置を提供するステップと、
前記較正装置のスキャンイメージと目標物件のスキャンイメージを得るステップと、
前記パターンのパターン特性に基づいて、前記パターンの目標画素ユニットと比較画素ユニットを設定するステップと、前記目標画素ユニットのグレイレベルと前記比較画素ユニットのグレイレベルが一致するか比較して、グレイレベルが不一致の計数を得るステップと、からなる比較工程を設定するステップと、
前記比較工程を前記較正装置の前記スキャンイメージ上で実行するステップと、
前記計数により、イメージセンサーのギャップの大きさを示すギャップ値を計算し、グレイレベルが不一致の前記目標画素ユニットと前記比較画素ユニットとの前記較正装置上での座標と前記ギャップ値を保存するステップと、
前記座標と前記ギャップ値に基づいて、画素値を前記目標物件の前記スキャンイメージ中に挿入するステップと、
を備えることを特徴とするスキャンイメージの補償方法。
【図１Ａ】
【図１Ｂ】
【図２Ａ】
【図２Ｂ】
【図２Ｃ】
【図３Ａ】
【図３Ｂ】
【図１Ｂ】
【図２Ａ】
【図２Ｂ】
【図２Ｃ】
【図３Ａ】
【図３Ｂ】
【公開番号】特開２０１１−１９２０５（Ｐ２０１１−１９２０５Ａ）
【公開日】平成２３年１月２７日（２０１１．１．２７）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００９−２３７７７９（Ｐ２００９−２３７７７９）
【出願日】平成２１年１０月１４日（２００９．１０．１４）
【出願人】（５０１３４８７２６）全友電腦股▲ふん▼有限公司 (3)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２３年１月２７日（２０１１．１．２７）
【国際特許分類】
【出願日】平成２１年１０月１４日（２００９．１０．１４）
【出願人】（５０１３４８７２６）全友電腦股▲ふん▼有限公司 (3)
【Ｆターム（参考）】
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