コネクタ接続用検査治具
【課題】コネクタが基板の中央部にあっても当該コネクタにプローブを接触可能で、かつコネクタに対する位置合わせの際に検査員の視認性が良好なコネクタ接続用検査治具を提供する。
【解決手段】ガイド３０は、基板１と当接し且つコネクタ２の側縁と係合することで自身のコネクタ２に対する位置決めが可能である。ガイド３０に取り付けられたボス３５ａ,３５ｂと、プローブ保持体１０のガイド溝１１ａ,１１ｂとにより、プローブ保持体１０とガイド３０とが連結される。プローブ保持体１０及びガイド３０は、ガイド３０がコネクタ２に対して位置決めされたときにプローブ１７の先端がコネクタ２に接触する第１の相対位置と、ガイド３０がコネクタ２に対して位置決めされたときに、プローブ１７の先端が基板１から離間すると共に基板１と垂直でコネクタ２を通過する仮想線から離間した第２の相対位置との間で相対移動可能である。
【解決手段】ガイド３０は、基板１と当接し且つコネクタ２の側縁と係合することで自身のコネクタ２に対する位置決めが可能である。ガイド３０に取り付けられたボス３５ａ,３５ｂと、プローブ保持体１０のガイド溝１１ａ,１１ｂとにより、プローブ保持体１０とガイド３０とが連結される。プローブ保持体１０及びガイド３０は、ガイド３０がコネクタ２に対して位置決めされたときにプローブ１７の先端がコネクタ２に接触する第１の相対位置と、ガイド３０がコネクタ２に対して位置決めされたときに、プローブ１７の先端が基板１から離間すると共に基板１と垂直でコネクタ２を通過する仮想線から離間した第２の相対位置との間で相対移動可能である。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、携帯電話機やその他の機器の基板上のコネクタと検査機とをプローブを介して接続するコネクタ接続用検査治具に関する。
【背景技術】
【０００２】
携帯電話機やデジタルカメラのごとく小型の電子機器にあっては、小さなスペースに多くの電子回路を搭載するために、複数枚の基板を重ねるように配設し、基板間をそれぞれに配設されたコネクタ同士を連結して電気的に接続することが行われている。基板とそれに配設されたコネクタを検査するには、コネクタに検査機を電気的に接続する必要がある。
【０００３】
本出願人は既に、下記特許文献１において、コネクタと検査機とを電気的に接続する中継コネクタを提案している。この中継コネクタは、図１１及び図１２（従来例１）に示すように、基板８１０及びコネクタ８１２を押圧ブロック８１５とガイド８２０とで挟み込むことで、プローブ８３０をコネクタ８１２に接触させる構造である。プローブ８３０及び配線基板８４０の配線パターン（不図示）を介してコネクタ８１２が検査機（不図示）と電気的に接続され、検査が実行される。図１３及び図１４（従来例２）は、押圧ブロック８１５側にプローブ８３０及び配線基板８４０を保持した例である。図１５は、検査対象のコネクタ８１２の例示的な斜視図である。
【０００４】
下記特許文献２は、コネクタと検査機とを電気的に接続するコネクタ検査用治具を開示している。このコネクタ検査用治具は、特許文献１のものと異なり、基板及びコネクタを挟み込まずに基板の上方からプローブをコネクタに押し当てて接触させる構造である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００８−１４０７７０号公報
【特許文献２】特開２００５−２８３２１８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１の中継コネクタは、基板及びコネクタを挟み込む構造のため、コネクタが基板の端部にある場合はよいが、コネクタが基板の中央部にあるとプローブとコネクタとを接触させることが不可能ないし困難であるという問題がある。一方、特許文献２のコネクタ検査用治具は、基板及びコネクタを挟み込まずに基板の上方からプローブをコネクタに押し当てる構造のため、コネクタが基板の中央部にあってもプローブとコネクタとの接触が可能である。しかし、特許文献２のコネクタ検査用治具では、コネクタに対して位置合わせする際に、ガイドプレートやプローブ及びその保持体がコネクタ及びその周辺を覆い隠してしまうため、検査員の視認性に問題がある。
【０００７】
本発明はこうした状況を認識してなされたものであり、その目的は、コネクタが基板の中央部にあっても当該コネクタにプローブを接触可能で、かつコネクタに対する位置合わせの際に検査員の視認性が良好なコネクタ接続用検査治具を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明のある態様は、コネクタ接続用検査治具である。コネクタ接続用検査治具は、
基板上のコネクタにプローブを接触させるコネクタ接続用検査治具であって、
プローブを保持するプローブ保持体と、前記プローブを基板上のコネクタと接触するように案内するガイドと、前記プローブ保持体と前記ガイドとを相互に相対移動可能に連結する連結手段とを備え、
前記ガイドは、前記コネクタと係合することで自身の前記コネクタに対する位置決めが可能であり、
前記連結手段は、前記プローブ保持体と前記ガイドとを、前記ガイドが前記コネクタに対して位置決めされたときに前記プローブの先端が前記コネクタに接触する第１の相対位置と、前記ガイドが前記コネクタに対して位置決めされたときに、前記プローブの先端が前記基板から離間すると共に前記基板と垂直で前記コネクタを通過する仮想線から離間した第２の相対位置との間で相対移動可能に連結する。
【０００９】
ある態様のコネクタ接続用検査治具において、前記プローブ保持体と前記ガイドとの間に設けられて両者を所定の相対位置に付勢するスプリングを備え、前記スプリングが前記プローブ保持体と前記ガイドとを前記第２の相対位置に付勢するとよい。
【００１０】
ある態様のコネクタ接続用検査治具において、前記ガイドが前記コネクタに対して位置決めされ且つ前記プローブ保持体と前記ガイドとが少なくとも前記第２の相対位置にあるときに、前記コネクタを目視可能であるとよい。
【００１１】
ある態様のコネクタ接続用検査治具において、前記連結手段は、前記第１の相対位置と、前記第１及び第２の相対位置の間であって、前記ガイドが前記コネクタに対して位置決めされたときに、前記第１の相対位置を基準として前記プローブの先端が前記仮想線と平行に前記基板から離間した第３の相対位置との間で前記プローブ保持体と前記ガイドとを直線的に相対移動可能に連結するとよい。
【００１２】
この場合、前記第２の相対位置から前記第３の相対位置に至る過程で、前記プローブの先端と前記基板との距離が単調に減少するとよい。
【００１３】
ある態様のコネクタ接続用検査治具において、
前記連結手段は、前記プローブ保持体又は前記ガイドの一方に設けられたガイド溝又はガイドスリットと、他方に設けられたボス又は棒状部材とを含み、前記ボス又は前記棒状部材が前記ガイド溝又は前記ガイドスリットに係合して前記ガイド溝又は前記ガイドスリットに沿って相対移動することで、前記プローブ保持体と前記ガイドとを前記第１及び第２の相対位置の間で相対移動可能であるとよい。
【００１４】
ある態様のコネクタ接続用検査治具において、前記ガイドは、前記コネクタに対して位置決めされている状態で下端部側面が前記コネクタの側面に当接し且つ下端を前記基板側との当接部として前記基板に対して立つ脚部を有するとよい。
【００１５】
ある態様のコネクタ接続用検査治具において、
前記ガイドは、底面部と、前記底面部の両側から基板とは反対側に立ち上がって相互に対面する第１及び第２の側壁部とを有し、
前記第１及び第２の側壁部が前記底面部左右から立ち上がる一方、前方には側壁部が存在せず、
前記ガイドが前記コネクタに対して位置決めされ且つ前記プローブ保持体と前記ガイドとが前記第２の相対位置にあるときに、前記底面部の前記開口を通して前記コネクタを前方側から目視可能であるとよい。
【００１６】
ある態様のコネクタ接続用検査治具において、
前記ガイドは、底面部と、前記底面部にある開口の周縁部から立ち上がる脚部と、前記脚部の立ち上がる位置の両側において前記底面部から前記脚部と反対側に立ち上がって相互に対面する第１及び第２の側壁部とを有し、
前記プローブ保持体は、前記第１及び第２の側壁部の間に位置し且つ前記第１及び第２の側壁部と対向する第１及び第２の対向面を有し、
前記連結手段は、前記第１及び第２の対向面又は前記第１及び第２の側壁部の一方に設けられたガイド溝又はガイドスリットと、他方に設けられたボス又は棒状部材とを含み、前記ボス又は前記棒状部材が前記ガイド溝又は前記ガイドスリットに係合して前記ガイド溝又は前記ガイドスリットに沿って相対移動することで、前記プローブ保持体と前記ガイドとを前記第１及び第２の相対位置の間で相対移動可能であり、
前記ガイドが前記コネクタに対して位置決めされている状態で、前記脚部の先端部側面が前記コネクタの側面に当接し、前記脚部の先端が前記基板に当接するとよい。
【００１７】
さらに、前記脚部は、筒形状であって内側面が前記コネクタの側面に当接するとよい。
【００１８】
さらに、前記ガイドは前記脚部の下端のみが前記基板側との当接部であるとよい。
【００１９】
なお、以上の構成要素の任意の組合せ、本発明の表現を方法やシステムなどの間で変換したものもまた、本発明の態様として有効である。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によれば、前記連結手段が前記プローブ保持体と前記ガイドとを前記第１の相対位置と前記第２の相対位置との間で相対移動可能に連結するため、前記ガイドをコネクタに対して位置合わせする際には前記第２の相対位置としておくことで、特許文献２の治具と比較して良好な視認性を確保できる。また、特許文献１の中継コネクタと異なり、基板を挟み込む構成でないため、コネクタが基板の中央部にあっても当該コネクタにプローブを接触可能である。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係るコネクタ接続用検査治具の側面図。
【図２】第１の実施の形態における前記コネクタ接続用検査治具の分解斜視図。
【図３】第１の実施の形態における、ガイドを基板上のコネクタに位置決めしたときの前記コネクタ接続用検査治具の側面図。
【図４】第１の実施の形態における、プローブが前記コネクタの真上に来たときの前記コネクタ接続用検査治具の側面図。
【図５】第１の実施の形態における、前記プローブの先端が前記コネクタに接触したときの前記コネクタ接続用検査治具の側面図。
【図６】本発明の第２の実施の形態に係るコネクタ接続用検査治具の側面図。
【図７】第２の実施の形態における前記コネクタ接続用検査治具の分解斜視図。
【図８】第２の実施の形態における、ガイドを基板上のコネクタに位置決めしたときの前記コネクタ接続用検査治具の側面図。
【図９】第２の実施の形態における、プローブが前記コネクタの真上に来たときの前記コネクタ接続用検査治具の側面図。
【図１０】第２の実施の形態における、前記プローブの先端が前記コネクタに接触したときの前記コネクタ接続用検査治具の側面図。
【図１１】従来例１の中継コネクタのプローブ非接触時の側面図。
【図１２】前記中継コネクタのプローブ接触時の側面図。
【図１３】従来例２の中継コネクタのプローブ非接触時の側面図。
【図１４】前記中継コネクタのプローブ接触時の側面図。
【図１５】検査対象のコネクタの例示的な斜視図。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
以下、図面を参照しながら本発明の好適な実施の形態を詳述する。なお、各図面に示される同一または同等の構成要素、部材等には同一の符号を付し、適宜重複した説明は省略する。また、実施の形態は発明を限定するものではなく例示であり、実施の形態に記述されるすべての特徴やその組み合わせは必ずしも発明の本質的なものであるとは限らない。
【００２３】
（第１の実施の形態）
図１は、本発明の第１の実施の形態に係るコネクタ接続用検査治具の側面図である。図２は、前記コネクタ接続用検査治具の分解斜視図である。このコネクタ接続用検査治具は、図１に示す検査対象の基板１上に設けられたコネクタ２にプローブ１７を接触させて検査を行うものである（コネクタ２の上面に多数の電極部（図１５参照）があり、それにプローブ１７を接触させる）。コネクタ接続用検査治具は、プローブ保持体１０と、ガイド３０と、スプリング９０とを備える。
【００２４】
例えば絶縁樹脂製のプローブ保持体１０は、摺動部材１１と、基板上部カバー１５と、基板下部カバー１８と、ピンブロック１９とを備える。摺動部材１１は、ここでは左右対称形状である。図２に示すように、摺動部材１１は、後述の第１の側壁部３５と対面（又は接触）して相互に摺動する第１の摺動部１１１と、同様に後述する第２の側壁部３７と対面（又は接触）して相互に摺動する第２の摺動部１１２とを有する。第１及び第２の摺動部１１１,１１２は、間に空間１１３を有するように相互に一体となっている。空間１１３は、後述のように、スプリング９０の可動空間を成す。
【００２５】
第１の摺動部１１１の右側面（第１の側壁部３５との対向面）には、相互に同形状のガイド溝１１ａ,１１ｂが形成されている。ガイド溝１１ｂは、ガイド溝１１ａを第１の摺動部１１１の右側面上で平行移動した位置関係である。第２の摺動部１１２の左側面（第２の側壁部３７との対向面）にも同様に、相互に平行なガイド溝（図には現れないが、ガイド溝１１ａ,１１ｂと同形状）が形成されている。これらのガイド溝は、後述のボス３５ａ,３５ｂ,３７ａ,３７ｂとともに、プローブ保持体１０及びガイド３０の連結手段を成す。
【００２６】
第１の摺動部１１１は、貫通孔１１５を有する。第２の摺動部１１２も同様に、貫通孔（図には現れず）を有する。これら貫通孔に、例えばアルミ等の金属製の棒状部材１１９の両端が挿通されて（両端は突出しない）、空間１１３を通して第１及び第２の摺動部１１１,１１２の間を渡す。棒状部材１１９には、スプリング９０の一端が取り付けられる（引っ掛けられる）。
【００２７】
基板上部カバー１５は、摺動部材１１の底面にネジ止め等で固定される。配線用基板１３は、基板上部カバー１５にネジ止め等で固定される。配線用基板１３の上面は、基板上部カバー１５で覆われる。配線用基板１３には、プローブ１７と不図示の検査機とを接続する配線パターンが形成されている。基板下部カバー１８は、配線用基板１３の下面の一部を覆う位置で、すなわち自身と基板上部カバー１５とで配線用基板１３を挟み込む位置で、基板上部カバー１５にネジ止め等で固定される。
【００２８】
ピンブロック１９は、自身と基板上部カバー１５とで配線用基板１３を挟み込む位置で、基板上部カバー１５にネジ止め等で固定される。なお、ピンブロック１９は、基板下部カバー１８と一体であってもよいし、別体であってもよい。ピンブロック１９の貫通孔１６１に、所定本数のプローブ１７がそれぞれ挿通保持され、各プローブ１７の先端部が貫通孔１６１から所定長に渡って下方に突出する。なお、各プローブ１７は、例えばスプリング（図示せず）を内蔵し、先端部が貫通孔１６１の内部に引っ込む方向に収縮可能で、かつ先端部が貫通孔１６１から所定長だけ突出した状態に付勢されているとよい。
【００２９】
図２に示すように、例えば絶縁樹脂製で好ましくは無色透明のガイド３０は、底面部３１と、第１及び第２の側壁部３５,３７とを備える。平板状の底面部３１は、中央部に開口３２を有する。開口３２の縁部から、筒状の脚部３３が立ち上がる（下方に突出する）。開口３２及び脚部３３の内径は、ピンブロック１９の凸部１９２の断面と等しい又は僅かに大きく、ピンブロック１９の凸部１９２をがたつきなくガイド可能である。図１に示すように、脚部３３の下端は内側に折り曲がった折曲げ部３３１であり、脚部３３の下端側開口３３２がコネクタ２に対応した大きさとなっている。図１に拡大して示すように、下端側開口３３２は、先端から所定長に渡って開口径が徐々に小さくなるテーパー部３３３と、テーパー部３３３から上方に延びる開口径が一定の当接部３３４とからなる。テーパー部３３３は、コネクタ２に対する脚部３３の位置決め（ガイド３０の位置決め）を容易にする。検査時には、当接部３３４の内側面がコネクタ２の側面と当接する。
【００３０】
第１及び第２の側壁部３５,３７は、脚部３３の立ち上がる位置の両側において底面部３１から脚部３３と反対側に（上方に）立ち上がり、相互に平行に対面する。例えばアルミ等の金属製の棒状部材３８は、第１及び第２の側壁部３５,３７の段付き貫通孔３５２,３７２に両端がそれぞれ差し込まれ、第１及び第２の側壁部３５,３７の間を渡す。棒状部材３８には、スプリング９０の他端が取り付けられる（引っ掛けられる）。
【００３１】
図２に示すように、底面部３１と脚部３３は一体である一方、底面部３１並びに第１及び第２の側壁部３５,３７は別体である。底面部３１の両側縁部にある凹部３１１,３１２に第１及び第２の側壁部３５,３７の下端部中央の凸部３５１,３７１が嵌合した状態で、底面部３１並びに第１及び第２の側壁部３５,３７がネジ３１３,３１４によって相互に固定される。また、棒状部材３８の両端部は雌ネジ穴となっており、その雌ネジ穴にネジ３８１,３８２が螺着することで棒状部材３８が第１及び第２の側壁部３５,３７に固定される。なお、生産性の観点から、第１及び第２の側壁部３５,３７は相互に同一形状であるとよい。
【００３２】
プローブ保持体１０及びガイド３０の連結について説明する。前述のガイド溝１１ａ,１１ｂと共に連結手段を成すボス３５ａ,３５ｂは、第１の側壁部３５の穴部３５３,３５４に嵌入される。同様に、連結手段を成すボス３７ａ,３７ｂは、第２の側壁部３７の穴部３７３,３７４に嵌入される。ボス３５ａ,３５ｂは、第１の側壁部３５からの突出部分がプローブ保持体１０の摺動部材１１の右側面のガイド溝１１ａ,１１ｂと係合し、ガイド溝１１ａ,１１ｂに沿って相対的に摺動可能である。同様に、ボス３７ａ,３７ｂは、摺動部材１１の左側面のガイド溝（不図示）と係合し、当該ガイド溝に沿って相対的に摺動可能である。したがって、プローブ保持体１０及びガイド３０は相対的に摺動可能である。摺動可能範囲は、前記ガイド溝の形状によって定まる（規制される）。
【００３３】
図１に示すように、ガイド溝１１ａ,１１ｂは、プローブ１７の長さ方向と平行且つ直線的にボス３５ａ,３５ｂをガイドする第１のガイド溝部１２１ａ,１２１ｂと、第１のガイド溝部１２１ａ,１２１ｂの下端部から所定の角度を成して斜め下方にボス３５ａ,３５ｂをガイドする第２のガイド溝部１２２ａ,１２２ｂとを有する。なお、第１のガイド溝部１２１ａ,１２１ｂと第２のガイド溝部１２２ａ,１２２ｂとの接続箇所は、角張らないようにＲ面となっている。
【００３４】
棒状部材３８,１１９間を連結するスプリング９０により、ガイド３０に対してプローブ保持体１０は引っ張られて、ガイド３０は図１（及び図３）に示す相対位置（本発明の第２の相対位置に対応）に付勢される。検査の際には、スプリング９０による付勢に抗して検査員がプローブ保持体１０を押下げ操作することにより、プローブ保持体１０及びガイド３０を、図１（及び図３）に示す相対位置から図４に示す相対位置（本発明の第３の相対位置に対応）及び図５に示す相対位置（本発明の第１の相対位置に対応）に相対移動可能である。
【００３５】
以下、本実施の形態のコネクタ接続用検査治具を用いた検査の流れを説明する。
【００３６】
１．位置合わせ工程
検査員は、コネクタ接続用検査治具を図３に示すようにセットする。すなわち、ガイド３０の脚部３３と基板１上のコネクタ２とを係合させる。具体的には、筒状の脚部３３の下端側開口３３２の内側にコネクタ２が入るように、脚部３３の下端を基板１に当接させる。すると、図３に拡大して示すように、下端側開口３３２の当接部３３４の内側面がコネクタ２の側面に当接する。
【００３７】
このとき、スプリング９０の付勢力により、プローブ保持体１０及びガイド３０は、第２の相対位置にある。この第２の相対位置では、プローブ１７は、基板１と垂直でコネクタ２を通過する仮想線５と平行で、かつ仮想線５から離間している。また、プローブ保持体１０及び配線用基板１３も仮想線５から離間している。さらに、ガイド３０は、第１及び第２の側壁部３５,３７以外に底面部３１から上方に立ち上がるものがない。したがって、検査員の視線（図３に矢印Ｘで示す）は位置合わせ工程の実行中に底面部３１の開口３２を通してコネクタ２を目視可能であるため、位置合わせの作業性が良好である。
【００３８】
２．プローブ接触工程
検査員は、スプリング９０による付勢に抗してプローブ保持体１０を押下げ操作し、プローブ保持体１０及びガイド３０を図３に示す第２の相対位置から図４に示す第３の相対位置に相対移動する。すなわち、ボス３５ａ,３５ｂを第２のガイド溝部１２２ａ,１２２ｂに沿って相対移動する（ボス３７ａ,３７ｂも同時かつ同様に相対移動する）。この第３の相対位置では、プローブ１７は、仮想線５と平行で且つコネクタ２の真上にあり、プローブ１７の仮想延長線上にコネクタ２が位置する。また、第２の相対位置と比較して、プローブ１７の先端は基板１に近づいている。なお、第２の相対位置から第３の相対位置に相対移動する際、プローブ１７の先端と基板１との距離は単調に減少する。すなわち、第２の相対位置から第３の相対位置に相対移動する過程で、プローブ１７は斜め下方向に直線的に移動するため、プローブ１７の先端と基板１との距離は増加することなく減少する。
【００３９】
検査員は、スプリング９０による付勢に抗してプローブ保持体１０をさらに押下げ操作し、プローブ保持体１０及びガイド３０を、図４に示す第３の相対位置から図５に示す第１の相対位置に直線的に相対移動する。すなわち、ボス３５ａ,３５ｂを第１のガイド溝部１２１ａ,１２１ｂに沿って直線的に相対移動する（ボス３７ａ,３７ｂも同時かつ同様に相対移動する）。ここでの相対移動方向は、仮想線５及びプローブ１７と平行である。
【００４０】
この第１の相対位置では、ピンブロック１９は、凸部１９２がガイド３０の脚部３３の内側に入り込み（脚部３３にガイドされ）、プローブ１７は、仮想線５と平行で且つ先端がコネクタ２に接触する。そして、コネクタ２を有する電子部品等の検査対象の検査が実行される。すなわち、コネクタ２からの信号をプローブ１７で受け取り、配線基板１３を介して不図示の検査機へ伝達する。もしくは、不図示の検査機から送られた信号が、配線基板１３を介し、プローブ１７からコネクタ２へと伝達される。なお、図３に示す第２の相対位置から図５に示す第１の相対位置への相対移動は、通常は図４に示す第３の相対位置で一旦停止することなく連続的に実行される。また、検査が終了してコネクタ接続用検査治具を基板１から離せば、スプリング９０の付勢力によりプローブ保持体１０及びガイド３０は図１に示す第２の相対位置に戻る。
【００４１】
本実施の形態によれば、下記の効果を奏することができる。
【００４２】
(1) プローブ保持体１０及びガイド３０を上記のとおり連結する構成のため、位置合わせ工程の実行中は、基板１と垂直でコネクタ２を通過する仮想線５（換言すればコネクタ２の真上）からプローブ１７、プローブ保持体１０及び配線用基板１３が離間した状態（図１及び図３に示す第２の相対位置）とすることが可能である。また、底面部３１の開口３２の前後には側壁部が存在しない。したがって、位置合わせ工程に際して検査員はコネクタ２を開口３２を通して前方斜め上から目視可能であり、特許文献２のように位置合わせ時にガイドプレートやプローブ及びその保持体がコネクタ及びその周辺を覆い隠す構成と比較して、位置合わせ工程の作業性が良好でミスも少ない。
【００４３】
(2) スプリング９０の付勢力により、位置合わせ工程の際に検査員は意識しなくてもプローブ保持体１０及びガイド３０を図１及び図３に示す第２の相対位置に維持することができる。このため、位置合わせ工程におけるコネクタ２の良好な視認性を容易に確保可能である。また、検査終了後は、スプリング９０の付勢力により図５に示す第１の相対位置から図１及び図３に示す第２の相対位置に自然に復帰するため、次の検査への移行がスムーズである。
【００４４】
(3) 図４に示す第３の相対位置から図５に示す第１の相対位置への移動は、仮想線５及びプローブ１７と平行で直線的である。したがって、プローブ１７をコネクタ２に垂直に押し当てることができ、横方向（プローブ１７と垂直な方向）の応力が発生しない。したがって、プローブ１７が折れるのを防止でき、また接触の確実性も高い。
【００４５】
(4) 底面部３１が無色透明なため、開口３２を通してだけでなく、底面部３１を透過してコネクタ２を目視可能となり、位置合わせの作業性が一層良好となる。
【００４６】
(5) 基板１を挟み込まずにプローブ１７をコネクタ２に押し当てる構造のため、特許文献１の構成と異なり、コネクタ２が基板１の中央部にあっても不都合なく検査を実行可能である。
【００４７】
(6) 脚部３３の下端のみが基板１との当接部であるため、基板１上のコネクタ２の周囲に別の部品が存在しても、支障なく検査を実行可能である。
【００４８】
(7) ガイド溝１１ａ,１１ｂが上記の形状のため、図３に示す第２の相対位置から図４に示す第３の相対位置に相対移動する過程で、プローブ１７の先端と基板１との距離が単調に減少する（つまり増加することなく減少する）。すなわち、図３に示す第２の相対位置から図４に示す第３の相対位置を経由して図３に示す第１の相対位置まで相対移動させる場合に、検査員はプローブ保持体１０に上方向の力を加える必要がない。したがって、図４に示す第３の相対位置で一旦停止することなく図３に示す第２の相対位置から図３に示す第１の相対位置までスムーズに相対移動させることが容易で、作業性が良い。
【００４９】
（第２の実施の形態）
図６は、本発明の第２の実施の形態に係るコネクタ接続用検査治具の側面図である。図７は、前記コネクタ接続用検査治具の分解斜視図である。第１の実施の形態では各相対位置間でプローブ１７は平行移動させたが、本実施の形態ではプローブ１７を平行移動に加えて回転させる。以下、第１の実施の形態との相違点を中心に説明する。
【００５０】
摺動部材１１（ここでは左右対称形状）の右側面に形成されたガイドスリット１１０は、プローブ１７と平行な直線状の第１のガイドスリット部１２１と、円弧状等の曲線状の第２のガイドスリット部１２２とからなる。摺動部材１１の左側面にも同形状のガイドスリット（不図示）が形成され、両方のガイドスリットを棒状部材３８が渡す。そして、棒状部材３８は、両方のガイドスリットを通るとともに両端が第１及び第２の側壁部３５,３７の段付き貫通孔３５２,３７２にそれぞれ差し込まれ、両端の雌ネジ穴にネジ３８１,３８２が螺着することで第１及び第２の側壁部３５,３７に固定される。
【００５１】
ボス３５ａは、第１の側壁部３５の穴部３５３に嵌入される。ボス３７ａは、第２の側壁部３７の穴部３７３に嵌入される。ボス３５ａは、第１の側壁部３５からの突出部分がプローブ保持体１０の摺動部材１１の右側面のガイド溝１１ａ（プローブ１７と平行な直線状）と係合し、ガイド溝１１ａに沿って相対的に摺動可能である。ボス３７ａは、摺動部材１１の左側面のガイド溝（不図示。ガイド溝１１ａと同形状）と係合し、当該ガイド溝に沿って相対的に摺動可能である。
【００５２】
スプリング９０は、一端が摺動部材１１の引っ掛け部１１８に取り付けられ（引っ掛けられ）、他端は棒状部材３８に取り付けられる（引っ掛けられる）。スプリング９０は、プローブ保持体１０及びガイド３０を図６（及び図８）に示す相対位置（本発明の第２の相対位置に対応）に付勢する。検査の際には、スプリング９０による付勢に抗して検査員がプローブ保持体１０を回転及び押下げ操作することにより、プローブ保持体１０及びガイド３０を、図６（及び図８）に示す相対位置から図９に示す相対位置（本発明の第３の相対位置に対応）及び図１０に示す相対位置（本発明の第１の相対位置に対応）に相対移動可能である。
【００５３】
以下、本実施の形態のコネクタ接続用検査治具を用いた検査の流れを説明する。
【００５４】
検査員は、コネクタ接続用検査治具を図８に示すようにセットする。すなわち、ガイド３０の脚部３３と基板１上のコネクタ２とを係合させる。このとき、スプリング９０の付勢力により、プローブ保持体１０及びガイド３０は、第２の相対位置にある。この第２の相対位置では、プローブ１７は、基板１と垂直でコネクタ２を通過する仮想線５と垂直で、かつ先端が仮想線５から離間している。また、プローブ保持体１０及び配線用基板１３も仮想線５から離間している。さらに、ガイド３０は、第１及び第２の側壁部３５,３７以外に底面部３１から上方に立ち上がるものがない。したがって、検査員の視線（図８に矢印Ｘで示す）は底面部３１の開口３２を通してコネクタ２を目視可能であるため、位置合わせの作業性が良好である。なお、摺動部材１１の空間１１３を通し、かつ底面部３１の開口３２を通してコネクタ２を見ることも可能である。
【００５５】
検査員は、スプリング９０による付勢に抗してプローブ保持体１０を、ボス３５ａ,３７ａを軸にガイド３０に対して回転させ、これによりプローブ保持体１０及びガイド３０を図８に示す第２の相対位置から図９に示す第３の相対位置に相対移動する。すなわち、棒状部材３８を第２のガイドスリット部１２２に沿って相対移動する。この第３の相対位置では、プローブ１７は、仮想線５と平行で且つコネクタ２の真上にあり、プローブ１７の仮想延長線上にコネクタ２が位置する。また、第２の相対位置と比較して、プローブ１７の先端は基板１に近づいている。
【００５６】
検査員は、スプリング９０による付勢に抗してプローブ保持体１０を押下げ操作し、プローブ保持体１０及びガイド３０を、図９に示す第３の相対位置から図１０に示す第１の相対位置に直線的に相対移動する。すなわち、棒状部材３８を第１のガイドスリット部１２１に沿って直線的に相対移動する。同時にボス３５ａもガイド溝１１ａに沿って直線的に相対移動する（ボス３７ａも同時かつ同様に相対移動する）。ここでの相対移動方向は、仮想線５及びプローブ１７と平行である。
【００５７】
この第１の相対位置では、ピンブロック１９は、凸部１９２がガイド３０の脚部３３の内側に入り込み（脚部３３にガイドされ）、プローブ１７は、仮想線５と平行で且つ先端がコネクタ２に接触する。そして、コネクタ２を有する検査対象の検査が実行される。なお、検査が終了してコネクタ接続用検査治具を基板１から離せば、スプリング９０の付勢力によりプローブ保持体１０及びガイド３０は図６に示す第２の相対位置に戻る。
【００５８】
本実施の形態によれば、操作性は若干複雑になるものの、その他の点では第１の実施の形態と同様の効果を奏することができる。
【００５９】
以上、実施の形態を例に本発明を説明したが、実施の形態の各構成要素や各処理プロセスには請求項に記載の範囲で種々の変形が可能であることは当業者に理解されるところである。以下、変形例について触れる。
【００６０】
実施の形態におけるガイド溝１１ａ等は、ガイドスリットとしてもよい。この場合、係合するボスの抜止めのために、ガイドスリットを段付きスリットにする等の工夫をするとよい。あるいは、左右のガイドスリットを渡す棒状部材をボスの替わりに設けてもよい。
【００６１】
実施の形態とは逆に、ガイド溝１１ａ等をガイド３０側（第１及び第２の側壁部３５,３７）に設け、ボス３５ａ等をプローブ保持体１０側（摺動部材１１）に設けてもよい。この場合も、同様の相対移動を実現可能である。
【００６２】
操作性は低下するものの、コストその他の要因のためにスプリング９０を設けないことも考えられる。
【００６３】
脚部３３は、筒状である場合に限られない。ピンブロック１９の各側面をガイドし且つコネクタ２の各側面と当接する脚部が別々に（例えば４つ）底面部３１から立ち上がってもよい。
【符号の説明】
【００６４】
１０ プローブ保持体
１１ 摺動部
１１ａ,１１ｂ ガイド溝
１３ 配線用基板
１５ 基板上部カバー
１７ プローブ
１８ 基板下部カバー
１９ ピンブロック
３０ ガイド
３１ 底面部
３２ 開口
３３ 脚部
３５ 第１の側壁部
３５ａ,３５ｂ ボス
３７ 第２の側壁部
３７ａ,３７ｂ ボス
９０ スプリング
【技術分野】
【０００１】
本発明は、携帯電話機やその他の機器の基板上のコネクタと検査機とをプローブを介して接続するコネクタ接続用検査治具に関する。
【背景技術】
【０００２】
携帯電話機やデジタルカメラのごとく小型の電子機器にあっては、小さなスペースに多くの電子回路を搭載するために、複数枚の基板を重ねるように配設し、基板間をそれぞれに配設されたコネクタ同士を連結して電気的に接続することが行われている。基板とそれに配設されたコネクタを検査するには、コネクタに検査機を電気的に接続する必要がある。
【０００３】
本出願人は既に、下記特許文献１において、コネクタと検査機とを電気的に接続する中継コネクタを提案している。この中継コネクタは、図１１及び図１２（従来例１）に示すように、基板８１０及びコネクタ８１２を押圧ブロック８１５とガイド８２０とで挟み込むことで、プローブ８３０をコネクタ８１２に接触させる構造である。プローブ８３０及び配線基板８４０の配線パターン（不図示）を介してコネクタ８１２が検査機（不図示）と電気的に接続され、検査が実行される。図１３及び図１４（従来例２）は、押圧ブロック８１５側にプローブ８３０及び配線基板８４０を保持した例である。図１５は、検査対象のコネクタ８１２の例示的な斜視図である。
【０００４】
下記特許文献２は、コネクタと検査機とを電気的に接続するコネクタ検査用治具を開示している。このコネクタ検査用治具は、特許文献１のものと異なり、基板及びコネクタを挟み込まずに基板の上方からプローブをコネクタに押し当てて接触させる構造である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００８−１４０７７０号公報
【特許文献２】特開２００５−２８３２１８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１の中継コネクタは、基板及びコネクタを挟み込む構造のため、コネクタが基板の端部にある場合はよいが、コネクタが基板の中央部にあるとプローブとコネクタとを接触させることが不可能ないし困難であるという問題がある。一方、特許文献２のコネクタ検査用治具は、基板及びコネクタを挟み込まずに基板の上方からプローブをコネクタに押し当てる構造のため、コネクタが基板の中央部にあってもプローブとコネクタとの接触が可能である。しかし、特許文献２のコネクタ検査用治具では、コネクタに対して位置合わせする際に、ガイドプレートやプローブ及びその保持体がコネクタ及びその周辺を覆い隠してしまうため、検査員の視認性に問題がある。
【０００７】
本発明はこうした状況を認識してなされたものであり、その目的は、コネクタが基板の中央部にあっても当該コネクタにプローブを接触可能で、かつコネクタに対する位置合わせの際に検査員の視認性が良好なコネクタ接続用検査治具を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明のある態様は、コネクタ接続用検査治具である。コネクタ接続用検査治具は、
基板上のコネクタにプローブを接触させるコネクタ接続用検査治具であって、
プローブを保持するプローブ保持体と、前記プローブを基板上のコネクタと接触するように案内するガイドと、前記プローブ保持体と前記ガイドとを相互に相対移動可能に連結する連結手段とを備え、
前記ガイドは、前記コネクタと係合することで自身の前記コネクタに対する位置決めが可能であり、
前記連結手段は、前記プローブ保持体と前記ガイドとを、前記ガイドが前記コネクタに対して位置決めされたときに前記プローブの先端が前記コネクタに接触する第１の相対位置と、前記ガイドが前記コネクタに対して位置決めされたときに、前記プローブの先端が前記基板から離間すると共に前記基板と垂直で前記コネクタを通過する仮想線から離間した第２の相対位置との間で相対移動可能に連結する。
【０００９】
ある態様のコネクタ接続用検査治具において、前記プローブ保持体と前記ガイドとの間に設けられて両者を所定の相対位置に付勢するスプリングを備え、前記スプリングが前記プローブ保持体と前記ガイドとを前記第２の相対位置に付勢するとよい。
【００１０】
ある態様のコネクタ接続用検査治具において、前記ガイドが前記コネクタに対して位置決めされ且つ前記プローブ保持体と前記ガイドとが少なくとも前記第２の相対位置にあるときに、前記コネクタを目視可能であるとよい。
【００１１】
ある態様のコネクタ接続用検査治具において、前記連結手段は、前記第１の相対位置と、前記第１及び第２の相対位置の間であって、前記ガイドが前記コネクタに対して位置決めされたときに、前記第１の相対位置を基準として前記プローブの先端が前記仮想線と平行に前記基板から離間した第３の相対位置との間で前記プローブ保持体と前記ガイドとを直線的に相対移動可能に連結するとよい。
【００１２】
この場合、前記第２の相対位置から前記第３の相対位置に至る過程で、前記プローブの先端と前記基板との距離が単調に減少するとよい。
【００１３】
ある態様のコネクタ接続用検査治具において、
前記連結手段は、前記プローブ保持体又は前記ガイドの一方に設けられたガイド溝又はガイドスリットと、他方に設けられたボス又は棒状部材とを含み、前記ボス又は前記棒状部材が前記ガイド溝又は前記ガイドスリットに係合して前記ガイド溝又は前記ガイドスリットに沿って相対移動することで、前記プローブ保持体と前記ガイドとを前記第１及び第２の相対位置の間で相対移動可能であるとよい。
【００１４】
ある態様のコネクタ接続用検査治具において、前記ガイドは、前記コネクタに対して位置決めされている状態で下端部側面が前記コネクタの側面に当接し且つ下端を前記基板側との当接部として前記基板に対して立つ脚部を有するとよい。
【００１５】
ある態様のコネクタ接続用検査治具において、
前記ガイドは、底面部と、前記底面部の両側から基板とは反対側に立ち上がって相互に対面する第１及び第２の側壁部とを有し、
前記第１及び第２の側壁部が前記底面部左右から立ち上がる一方、前方には側壁部が存在せず、
前記ガイドが前記コネクタに対して位置決めされ且つ前記プローブ保持体と前記ガイドとが前記第２の相対位置にあるときに、前記底面部の前記開口を通して前記コネクタを前方側から目視可能であるとよい。
【００１６】
ある態様のコネクタ接続用検査治具において、
前記ガイドは、底面部と、前記底面部にある開口の周縁部から立ち上がる脚部と、前記脚部の立ち上がる位置の両側において前記底面部から前記脚部と反対側に立ち上がって相互に対面する第１及び第２の側壁部とを有し、
前記プローブ保持体は、前記第１及び第２の側壁部の間に位置し且つ前記第１及び第２の側壁部と対向する第１及び第２の対向面を有し、
前記連結手段は、前記第１及び第２の対向面又は前記第１及び第２の側壁部の一方に設けられたガイド溝又はガイドスリットと、他方に設けられたボス又は棒状部材とを含み、前記ボス又は前記棒状部材が前記ガイド溝又は前記ガイドスリットに係合して前記ガイド溝又は前記ガイドスリットに沿って相対移動することで、前記プローブ保持体と前記ガイドとを前記第１及び第２の相対位置の間で相対移動可能であり、
前記ガイドが前記コネクタに対して位置決めされている状態で、前記脚部の先端部側面が前記コネクタの側面に当接し、前記脚部の先端が前記基板に当接するとよい。
【００１７】
さらに、前記脚部は、筒形状であって内側面が前記コネクタの側面に当接するとよい。
【００１８】
さらに、前記ガイドは前記脚部の下端のみが前記基板側との当接部であるとよい。
【００１９】
なお、以上の構成要素の任意の組合せ、本発明の表現を方法やシステムなどの間で変換したものもまた、本発明の態様として有効である。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によれば、前記連結手段が前記プローブ保持体と前記ガイドとを前記第１の相対位置と前記第２の相対位置との間で相対移動可能に連結するため、前記ガイドをコネクタに対して位置合わせする際には前記第２の相対位置としておくことで、特許文献２の治具と比較して良好な視認性を確保できる。また、特許文献１の中継コネクタと異なり、基板を挟み込む構成でないため、コネクタが基板の中央部にあっても当該コネクタにプローブを接触可能である。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係るコネクタ接続用検査治具の側面図。
【図２】第１の実施の形態における前記コネクタ接続用検査治具の分解斜視図。
【図３】第１の実施の形態における、ガイドを基板上のコネクタに位置決めしたときの前記コネクタ接続用検査治具の側面図。
【図４】第１の実施の形態における、プローブが前記コネクタの真上に来たときの前記コネクタ接続用検査治具の側面図。
【図５】第１の実施の形態における、前記プローブの先端が前記コネクタに接触したときの前記コネクタ接続用検査治具の側面図。
【図６】本発明の第２の実施の形態に係るコネクタ接続用検査治具の側面図。
【図７】第２の実施の形態における前記コネクタ接続用検査治具の分解斜視図。
【図８】第２の実施の形態における、ガイドを基板上のコネクタに位置決めしたときの前記コネクタ接続用検査治具の側面図。
【図９】第２の実施の形態における、プローブが前記コネクタの真上に来たときの前記コネクタ接続用検査治具の側面図。
【図１０】第２の実施の形態における、前記プローブの先端が前記コネクタに接触したときの前記コネクタ接続用検査治具の側面図。
【図１１】従来例１の中継コネクタのプローブ非接触時の側面図。
【図１２】前記中継コネクタのプローブ接触時の側面図。
【図１３】従来例２の中継コネクタのプローブ非接触時の側面図。
【図１４】前記中継コネクタのプローブ接触時の側面図。
【図１５】検査対象のコネクタの例示的な斜視図。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
以下、図面を参照しながら本発明の好適な実施の形態を詳述する。なお、各図面に示される同一または同等の構成要素、部材等には同一の符号を付し、適宜重複した説明は省略する。また、実施の形態は発明を限定するものではなく例示であり、実施の形態に記述されるすべての特徴やその組み合わせは必ずしも発明の本質的なものであるとは限らない。
【００２３】
（第１の実施の形態）
図１は、本発明の第１の実施の形態に係るコネクタ接続用検査治具の側面図である。図２は、前記コネクタ接続用検査治具の分解斜視図である。このコネクタ接続用検査治具は、図１に示す検査対象の基板１上に設けられたコネクタ２にプローブ１７を接触させて検査を行うものである（コネクタ２の上面に多数の電極部（図１５参照）があり、それにプローブ１７を接触させる）。コネクタ接続用検査治具は、プローブ保持体１０と、ガイド３０と、スプリング９０とを備える。
【００２４】
例えば絶縁樹脂製のプローブ保持体１０は、摺動部材１１と、基板上部カバー１５と、基板下部カバー１８と、ピンブロック１９とを備える。摺動部材１１は、ここでは左右対称形状である。図２に示すように、摺動部材１１は、後述の第１の側壁部３５と対面（又は接触）して相互に摺動する第１の摺動部１１１と、同様に後述する第２の側壁部３７と対面（又は接触）して相互に摺動する第２の摺動部１１２とを有する。第１及び第２の摺動部１１１,１１２は、間に空間１１３を有するように相互に一体となっている。空間１１３は、後述のように、スプリング９０の可動空間を成す。
【００２５】
第１の摺動部１１１の右側面（第１の側壁部３５との対向面）には、相互に同形状のガイド溝１１ａ,１１ｂが形成されている。ガイド溝１１ｂは、ガイド溝１１ａを第１の摺動部１１１の右側面上で平行移動した位置関係である。第２の摺動部１１２の左側面（第２の側壁部３７との対向面）にも同様に、相互に平行なガイド溝（図には現れないが、ガイド溝１１ａ,１１ｂと同形状）が形成されている。これらのガイド溝は、後述のボス３５ａ,３５ｂ,３７ａ,３７ｂとともに、プローブ保持体１０及びガイド３０の連結手段を成す。
【００２６】
第１の摺動部１１１は、貫通孔１１５を有する。第２の摺動部１１２も同様に、貫通孔（図には現れず）を有する。これら貫通孔に、例えばアルミ等の金属製の棒状部材１１９の両端が挿通されて（両端は突出しない）、空間１１３を通して第１及び第２の摺動部１１１,１１２の間を渡す。棒状部材１１９には、スプリング９０の一端が取り付けられる（引っ掛けられる）。
【００２７】
基板上部カバー１５は、摺動部材１１の底面にネジ止め等で固定される。配線用基板１３は、基板上部カバー１５にネジ止め等で固定される。配線用基板１３の上面は、基板上部カバー１５で覆われる。配線用基板１３には、プローブ１７と不図示の検査機とを接続する配線パターンが形成されている。基板下部カバー１８は、配線用基板１３の下面の一部を覆う位置で、すなわち自身と基板上部カバー１５とで配線用基板１３を挟み込む位置で、基板上部カバー１５にネジ止め等で固定される。
【００２８】
ピンブロック１９は、自身と基板上部カバー１５とで配線用基板１３を挟み込む位置で、基板上部カバー１５にネジ止め等で固定される。なお、ピンブロック１９は、基板下部カバー１８と一体であってもよいし、別体であってもよい。ピンブロック１９の貫通孔１６１に、所定本数のプローブ１７がそれぞれ挿通保持され、各プローブ１７の先端部が貫通孔１６１から所定長に渡って下方に突出する。なお、各プローブ１７は、例えばスプリング（図示せず）を内蔵し、先端部が貫通孔１６１の内部に引っ込む方向に収縮可能で、かつ先端部が貫通孔１６１から所定長だけ突出した状態に付勢されているとよい。
【００２９】
図２に示すように、例えば絶縁樹脂製で好ましくは無色透明のガイド３０は、底面部３１と、第１及び第２の側壁部３５,３７とを備える。平板状の底面部３１は、中央部に開口３２を有する。開口３２の縁部から、筒状の脚部３３が立ち上がる（下方に突出する）。開口３２及び脚部３３の内径は、ピンブロック１９の凸部１９２の断面と等しい又は僅かに大きく、ピンブロック１９の凸部１９２をがたつきなくガイド可能である。図１に示すように、脚部３３の下端は内側に折り曲がった折曲げ部３３１であり、脚部３３の下端側開口３３２がコネクタ２に対応した大きさとなっている。図１に拡大して示すように、下端側開口３３２は、先端から所定長に渡って開口径が徐々に小さくなるテーパー部３３３と、テーパー部３３３から上方に延びる開口径が一定の当接部３３４とからなる。テーパー部３３３は、コネクタ２に対する脚部３３の位置決め（ガイド３０の位置決め）を容易にする。検査時には、当接部３３４の内側面がコネクタ２の側面と当接する。
【００３０】
第１及び第２の側壁部３５,３７は、脚部３３の立ち上がる位置の両側において底面部３１から脚部３３と反対側に（上方に）立ち上がり、相互に平行に対面する。例えばアルミ等の金属製の棒状部材３８は、第１及び第２の側壁部３５,３７の段付き貫通孔３５２,３７２に両端がそれぞれ差し込まれ、第１及び第２の側壁部３５,３７の間を渡す。棒状部材３８には、スプリング９０の他端が取り付けられる（引っ掛けられる）。
【００３１】
図２に示すように、底面部３１と脚部３３は一体である一方、底面部３１並びに第１及び第２の側壁部３５,３７は別体である。底面部３１の両側縁部にある凹部３１１,３１２に第１及び第２の側壁部３５,３７の下端部中央の凸部３５１,３７１が嵌合した状態で、底面部３１並びに第１及び第２の側壁部３５,３７がネジ３１３,３１４によって相互に固定される。また、棒状部材３８の両端部は雌ネジ穴となっており、その雌ネジ穴にネジ３８１,３８２が螺着することで棒状部材３８が第１及び第２の側壁部３５,３７に固定される。なお、生産性の観点から、第１及び第２の側壁部３５,３７は相互に同一形状であるとよい。
【００３２】
プローブ保持体１０及びガイド３０の連結について説明する。前述のガイド溝１１ａ,１１ｂと共に連結手段を成すボス３５ａ,３５ｂは、第１の側壁部３５の穴部３５３,３５４に嵌入される。同様に、連結手段を成すボス３７ａ,３７ｂは、第２の側壁部３７の穴部３７３,３７４に嵌入される。ボス３５ａ,３５ｂは、第１の側壁部３５からの突出部分がプローブ保持体１０の摺動部材１１の右側面のガイド溝１１ａ,１１ｂと係合し、ガイド溝１１ａ,１１ｂに沿って相対的に摺動可能である。同様に、ボス３７ａ,３７ｂは、摺動部材１１の左側面のガイド溝（不図示）と係合し、当該ガイド溝に沿って相対的に摺動可能である。したがって、プローブ保持体１０及びガイド３０は相対的に摺動可能である。摺動可能範囲は、前記ガイド溝の形状によって定まる（規制される）。
【００３３】
図１に示すように、ガイド溝１１ａ,１１ｂは、プローブ１７の長さ方向と平行且つ直線的にボス３５ａ,３５ｂをガイドする第１のガイド溝部１２１ａ,１２１ｂと、第１のガイド溝部１２１ａ,１２１ｂの下端部から所定の角度を成して斜め下方にボス３５ａ,３５ｂをガイドする第２のガイド溝部１２２ａ,１２２ｂとを有する。なお、第１のガイド溝部１２１ａ,１２１ｂと第２のガイド溝部１２２ａ,１２２ｂとの接続箇所は、角張らないようにＲ面となっている。
【００３４】
棒状部材３８,１１９間を連結するスプリング９０により、ガイド３０に対してプローブ保持体１０は引っ張られて、ガイド３０は図１（及び図３）に示す相対位置（本発明の第２の相対位置に対応）に付勢される。検査の際には、スプリング９０による付勢に抗して検査員がプローブ保持体１０を押下げ操作することにより、プローブ保持体１０及びガイド３０を、図１（及び図３）に示す相対位置から図４に示す相対位置（本発明の第３の相対位置に対応）及び図５に示す相対位置（本発明の第１の相対位置に対応）に相対移動可能である。
【００３５】
以下、本実施の形態のコネクタ接続用検査治具を用いた検査の流れを説明する。
【００３６】
１．位置合わせ工程
検査員は、コネクタ接続用検査治具を図３に示すようにセットする。すなわち、ガイド３０の脚部３３と基板１上のコネクタ２とを係合させる。具体的には、筒状の脚部３３の下端側開口３３２の内側にコネクタ２が入るように、脚部３３の下端を基板１に当接させる。すると、図３に拡大して示すように、下端側開口３３２の当接部３３４の内側面がコネクタ２の側面に当接する。
【００３７】
このとき、スプリング９０の付勢力により、プローブ保持体１０及びガイド３０は、第２の相対位置にある。この第２の相対位置では、プローブ１７は、基板１と垂直でコネクタ２を通過する仮想線５と平行で、かつ仮想線５から離間している。また、プローブ保持体１０及び配線用基板１３も仮想線５から離間している。さらに、ガイド３０は、第１及び第２の側壁部３５,３７以外に底面部３１から上方に立ち上がるものがない。したがって、検査員の視線（図３に矢印Ｘで示す）は位置合わせ工程の実行中に底面部３１の開口３２を通してコネクタ２を目視可能であるため、位置合わせの作業性が良好である。
【００３８】
２．プローブ接触工程
検査員は、スプリング９０による付勢に抗してプローブ保持体１０を押下げ操作し、プローブ保持体１０及びガイド３０を図３に示す第２の相対位置から図４に示す第３の相対位置に相対移動する。すなわち、ボス３５ａ,３５ｂを第２のガイド溝部１２２ａ,１２２ｂに沿って相対移動する（ボス３７ａ,３７ｂも同時かつ同様に相対移動する）。この第３の相対位置では、プローブ１７は、仮想線５と平行で且つコネクタ２の真上にあり、プローブ１７の仮想延長線上にコネクタ２が位置する。また、第２の相対位置と比較して、プローブ１７の先端は基板１に近づいている。なお、第２の相対位置から第３の相対位置に相対移動する際、プローブ１７の先端と基板１との距離は単調に減少する。すなわち、第２の相対位置から第３の相対位置に相対移動する過程で、プローブ１７は斜め下方向に直線的に移動するため、プローブ１７の先端と基板１との距離は増加することなく減少する。
【００３９】
検査員は、スプリング９０による付勢に抗してプローブ保持体１０をさらに押下げ操作し、プローブ保持体１０及びガイド３０を、図４に示す第３の相対位置から図５に示す第１の相対位置に直線的に相対移動する。すなわち、ボス３５ａ,３５ｂを第１のガイド溝部１２１ａ,１２１ｂに沿って直線的に相対移動する（ボス３７ａ,３７ｂも同時かつ同様に相対移動する）。ここでの相対移動方向は、仮想線５及びプローブ１７と平行である。
【００４０】
この第１の相対位置では、ピンブロック１９は、凸部１９２がガイド３０の脚部３３の内側に入り込み（脚部３３にガイドされ）、プローブ１７は、仮想線５と平行で且つ先端がコネクタ２に接触する。そして、コネクタ２を有する電子部品等の検査対象の検査が実行される。すなわち、コネクタ２からの信号をプローブ１７で受け取り、配線基板１３を介して不図示の検査機へ伝達する。もしくは、不図示の検査機から送られた信号が、配線基板１３を介し、プローブ１７からコネクタ２へと伝達される。なお、図３に示す第２の相対位置から図５に示す第１の相対位置への相対移動は、通常は図４に示す第３の相対位置で一旦停止することなく連続的に実行される。また、検査が終了してコネクタ接続用検査治具を基板１から離せば、スプリング９０の付勢力によりプローブ保持体１０及びガイド３０は図１に示す第２の相対位置に戻る。
【００４１】
本実施の形態によれば、下記の効果を奏することができる。
【００４２】
(1) プローブ保持体１０及びガイド３０を上記のとおり連結する構成のため、位置合わせ工程の実行中は、基板１と垂直でコネクタ２を通過する仮想線５（換言すればコネクタ２の真上）からプローブ１７、プローブ保持体１０及び配線用基板１３が離間した状態（図１及び図３に示す第２の相対位置）とすることが可能である。また、底面部３１の開口３２の前後には側壁部が存在しない。したがって、位置合わせ工程に際して検査員はコネクタ２を開口３２を通して前方斜め上から目視可能であり、特許文献２のように位置合わせ時にガイドプレートやプローブ及びその保持体がコネクタ及びその周辺を覆い隠す構成と比較して、位置合わせ工程の作業性が良好でミスも少ない。
【００４３】
(2) スプリング９０の付勢力により、位置合わせ工程の際に検査員は意識しなくてもプローブ保持体１０及びガイド３０を図１及び図３に示す第２の相対位置に維持することができる。このため、位置合わせ工程におけるコネクタ２の良好な視認性を容易に確保可能である。また、検査終了後は、スプリング９０の付勢力により図５に示す第１の相対位置から図１及び図３に示す第２の相対位置に自然に復帰するため、次の検査への移行がスムーズである。
【００４４】
(3) 図４に示す第３の相対位置から図５に示す第１の相対位置への移動は、仮想線５及びプローブ１７と平行で直線的である。したがって、プローブ１７をコネクタ２に垂直に押し当てることができ、横方向（プローブ１７と垂直な方向）の応力が発生しない。したがって、プローブ１７が折れるのを防止でき、また接触の確実性も高い。
【００４５】
(4) 底面部３１が無色透明なため、開口３２を通してだけでなく、底面部３１を透過してコネクタ２を目視可能となり、位置合わせの作業性が一層良好となる。
【００４６】
(5) 基板１を挟み込まずにプローブ１７をコネクタ２に押し当てる構造のため、特許文献１の構成と異なり、コネクタ２が基板１の中央部にあっても不都合なく検査を実行可能である。
【００４７】
(6) 脚部３３の下端のみが基板１との当接部であるため、基板１上のコネクタ２の周囲に別の部品が存在しても、支障なく検査を実行可能である。
【００４８】
(7) ガイド溝１１ａ,１１ｂが上記の形状のため、図３に示す第２の相対位置から図４に示す第３の相対位置に相対移動する過程で、プローブ１７の先端と基板１との距離が単調に減少する（つまり増加することなく減少する）。すなわち、図３に示す第２の相対位置から図４に示す第３の相対位置を経由して図３に示す第１の相対位置まで相対移動させる場合に、検査員はプローブ保持体１０に上方向の力を加える必要がない。したがって、図４に示す第３の相対位置で一旦停止することなく図３に示す第２の相対位置から図３に示す第１の相対位置までスムーズに相対移動させることが容易で、作業性が良い。
【００４９】
（第２の実施の形態）
図６は、本発明の第２の実施の形態に係るコネクタ接続用検査治具の側面図である。図７は、前記コネクタ接続用検査治具の分解斜視図である。第１の実施の形態では各相対位置間でプローブ１７は平行移動させたが、本実施の形態ではプローブ１７を平行移動に加えて回転させる。以下、第１の実施の形態との相違点を中心に説明する。
【００５０】
摺動部材１１（ここでは左右対称形状）の右側面に形成されたガイドスリット１１０は、プローブ１７と平行な直線状の第１のガイドスリット部１２１と、円弧状等の曲線状の第２のガイドスリット部１２２とからなる。摺動部材１１の左側面にも同形状のガイドスリット（不図示）が形成され、両方のガイドスリットを棒状部材３８が渡す。そして、棒状部材３８は、両方のガイドスリットを通るとともに両端が第１及び第２の側壁部３５,３７の段付き貫通孔３５２,３７２にそれぞれ差し込まれ、両端の雌ネジ穴にネジ３８１,３８２が螺着することで第１及び第２の側壁部３５,３７に固定される。
【００５１】
ボス３５ａは、第１の側壁部３５の穴部３５３に嵌入される。ボス３７ａは、第２の側壁部３７の穴部３７３に嵌入される。ボス３５ａは、第１の側壁部３５からの突出部分がプローブ保持体１０の摺動部材１１の右側面のガイド溝１１ａ（プローブ１７と平行な直線状）と係合し、ガイド溝１１ａに沿って相対的に摺動可能である。ボス３７ａは、摺動部材１１の左側面のガイド溝（不図示。ガイド溝１１ａと同形状）と係合し、当該ガイド溝に沿って相対的に摺動可能である。
【００５２】
スプリング９０は、一端が摺動部材１１の引っ掛け部１１８に取り付けられ（引っ掛けられ）、他端は棒状部材３８に取り付けられる（引っ掛けられる）。スプリング９０は、プローブ保持体１０及びガイド３０を図６（及び図８）に示す相対位置（本発明の第２の相対位置に対応）に付勢する。検査の際には、スプリング９０による付勢に抗して検査員がプローブ保持体１０を回転及び押下げ操作することにより、プローブ保持体１０及びガイド３０を、図６（及び図８）に示す相対位置から図９に示す相対位置（本発明の第３の相対位置に対応）及び図１０に示す相対位置（本発明の第１の相対位置に対応）に相対移動可能である。
【００５３】
以下、本実施の形態のコネクタ接続用検査治具を用いた検査の流れを説明する。
【００５４】
検査員は、コネクタ接続用検査治具を図８に示すようにセットする。すなわち、ガイド３０の脚部３３と基板１上のコネクタ２とを係合させる。このとき、スプリング９０の付勢力により、プローブ保持体１０及びガイド３０は、第２の相対位置にある。この第２の相対位置では、プローブ１７は、基板１と垂直でコネクタ２を通過する仮想線５と垂直で、かつ先端が仮想線５から離間している。また、プローブ保持体１０及び配線用基板１３も仮想線５から離間している。さらに、ガイド３０は、第１及び第２の側壁部３５,３７以外に底面部３１から上方に立ち上がるものがない。したがって、検査員の視線（図８に矢印Ｘで示す）は底面部３１の開口３２を通してコネクタ２を目視可能であるため、位置合わせの作業性が良好である。なお、摺動部材１１の空間１１３を通し、かつ底面部３１の開口３２を通してコネクタ２を見ることも可能である。
【００５５】
検査員は、スプリング９０による付勢に抗してプローブ保持体１０を、ボス３５ａ,３７ａを軸にガイド３０に対して回転させ、これによりプローブ保持体１０及びガイド３０を図８に示す第２の相対位置から図９に示す第３の相対位置に相対移動する。すなわち、棒状部材３８を第２のガイドスリット部１２２に沿って相対移動する。この第３の相対位置では、プローブ１７は、仮想線５と平行で且つコネクタ２の真上にあり、プローブ１７の仮想延長線上にコネクタ２が位置する。また、第２の相対位置と比較して、プローブ１７の先端は基板１に近づいている。
【００５６】
検査員は、スプリング９０による付勢に抗してプローブ保持体１０を押下げ操作し、プローブ保持体１０及びガイド３０を、図９に示す第３の相対位置から図１０に示す第１の相対位置に直線的に相対移動する。すなわち、棒状部材３８を第１のガイドスリット部１２１に沿って直線的に相対移動する。同時にボス３５ａもガイド溝１１ａに沿って直線的に相対移動する（ボス３７ａも同時かつ同様に相対移動する）。ここでの相対移動方向は、仮想線５及びプローブ１７と平行である。
【００５７】
この第１の相対位置では、ピンブロック１９は、凸部１９２がガイド３０の脚部３３の内側に入り込み（脚部３３にガイドされ）、プローブ１７は、仮想線５と平行で且つ先端がコネクタ２に接触する。そして、コネクタ２を有する検査対象の検査が実行される。なお、検査が終了してコネクタ接続用検査治具を基板１から離せば、スプリング９０の付勢力によりプローブ保持体１０及びガイド３０は図６に示す第２の相対位置に戻る。
【００５８】
本実施の形態によれば、操作性は若干複雑になるものの、その他の点では第１の実施の形態と同様の効果を奏することができる。
【００５９】
以上、実施の形態を例に本発明を説明したが、実施の形態の各構成要素や各処理プロセスには請求項に記載の範囲で種々の変形が可能であることは当業者に理解されるところである。以下、変形例について触れる。
【００６０】
実施の形態におけるガイド溝１１ａ等は、ガイドスリットとしてもよい。この場合、係合するボスの抜止めのために、ガイドスリットを段付きスリットにする等の工夫をするとよい。あるいは、左右のガイドスリットを渡す棒状部材をボスの替わりに設けてもよい。
【００６１】
実施の形態とは逆に、ガイド溝１１ａ等をガイド３０側（第１及び第２の側壁部３５,３７）に設け、ボス３５ａ等をプローブ保持体１０側（摺動部材１１）に設けてもよい。この場合も、同様の相対移動を実現可能である。
【００６２】
操作性は低下するものの、コストその他の要因のためにスプリング９０を設けないことも考えられる。
【００６３】
脚部３３は、筒状である場合に限られない。ピンブロック１９の各側面をガイドし且つコネクタ２の各側面と当接する脚部が別々に（例えば４つ）底面部３１から立ち上がってもよい。
【符号の説明】
【００６４】
１０ プローブ保持体
１１ 摺動部
１１ａ,１１ｂ ガイド溝
１３ 配線用基板
１５ 基板上部カバー
１７ プローブ
１８ 基板下部カバー
１９ ピンブロック
３０ ガイド
３１ 底面部
３２ 開口
３３ 脚部
３５ 第１の側壁部
３５ａ,３５ｂ ボス
３７ 第２の側壁部
３７ａ,３７ｂ ボス
９０ スプリング
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板上のコネクタにプローブを接触させるコネクタ接続用検査治具であって、
プローブを保持するプローブ保持体と、前記プローブを基板上のコネクタと接触するように案内するガイドと、前記プローブ保持体と前記ガイドとを相互に相対移動可能に連結する連結手段とを備え、
前記ガイドは、前記コネクタと係合することで自身の前記コネクタに対する位置決めが可能であり、
前記連結手段は、前記プローブ保持体と前記ガイドとを、前記ガイドが前記コネクタに対して位置決めされたときに前記プローブの先端が前記コネクタに接触する第１の相対位置と、前記ガイドが前記コネクタに対して位置決めされたときに、前記プローブの先端が前記基板から離間すると共に前記基板と垂直で前記コネクタを通過する仮想線から離間した第２の相対位置との間で相対移動可能に連結する、コネクタ接続用検査治具。
【請求項２】
請求項１に記載のコネクタ接続用検査治具において、前記ガイドが前記コネクタに対して位置決めされ且つ前記プローブ保持体と前記ガイドとが少なくとも前記第２の相対位置にあるときに、前記コネクタを目視可能である、コネクタ接続用検査治具。
【請求項３】
請求項１又は２に記載のコネクタ接続用検査治具において、前記連結手段は、前記第１の相対位置と、前記第１及び第２の相対位置の間であって、前記ガイドが前記コネクタに対して位置決めされたときに、前記第１の相対位置を基準として前記プローブの先端が前記仮想線と平行に前記基板から離間した第３の相対位置との間で前記プローブ保持体と前記ガイドとを直線的に相対移動可能に連結する、コネクタ接続用検査治具。
【請求項４】
請求項１から３のいずれかに記載のコネクタ接続用検査治具において、前記ガイドは、前記コネクタに対して位置決めされている状態で下端部側面が前記コネクタの側面に当接し且つ下端を前記基板側との当接部として前記基板に対して立つ脚部を有する、コネクタ接続用検査治具。
【請求項５】
請求項１から４のいずれかに記載のコネクタ接続用検査治具において、
前記ガイドは、底面部と、前記底面部の両側から基板とは反対側に立ち上がって相互に対面する第１及び第２の側壁部とを有し、
前記第１及び第２の側壁部が前記底面部左右から立ち上がる一方、前方には側壁部が存在せず、
前記ガイドが前記コネクタに対して位置決めされ且つ前記プローブ保持体と前記ガイドとが前記第２の相対位置にあるときに、前記底面部の前記開口を通して前記コネクタを前方側から目視可能である、コネクタ接続用検査治具。
【請求項１】
基板上のコネクタにプローブを接触させるコネクタ接続用検査治具であって、
プローブを保持するプローブ保持体と、前記プローブを基板上のコネクタと接触するように案内するガイドと、前記プローブ保持体と前記ガイドとを相互に相対移動可能に連結する連結手段とを備え、
前記ガイドは、前記コネクタと係合することで自身の前記コネクタに対する位置決めが可能であり、
前記連結手段は、前記プローブ保持体と前記ガイドとを、前記ガイドが前記コネクタに対して位置決めされたときに前記プローブの先端が前記コネクタに接触する第１の相対位置と、前記ガイドが前記コネクタに対して位置決めされたときに、前記プローブの先端が前記基板から離間すると共に前記基板と垂直で前記コネクタを通過する仮想線から離間した第２の相対位置との間で相対移動可能に連結する、コネクタ接続用検査治具。
【請求項２】
請求項１に記載のコネクタ接続用検査治具において、前記ガイドが前記コネクタに対して位置決めされ且つ前記プローブ保持体と前記ガイドとが少なくとも前記第２の相対位置にあるときに、前記コネクタを目視可能である、コネクタ接続用検査治具。
【請求項３】
請求項１又は２に記載のコネクタ接続用検査治具において、前記連結手段は、前記第１の相対位置と、前記第１及び第２の相対位置の間であって、前記ガイドが前記コネクタに対して位置決めされたときに、前記第１の相対位置を基準として前記プローブの先端が前記仮想線と平行に前記基板から離間した第３の相対位置との間で前記プローブ保持体と前記ガイドとを直線的に相対移動可能に連結する、コネクタ接続用検査治具。
【請求項４】
請求項１から３のいずれかに記載のコネクタ接続用検査治具において、前記ガイドは、前記コネクタに対して位置決めされている状態で下端部側面が前記コネクタの側面に当接し且つ下端を前記基板側との当接部として前記基板に対して立つ脚部を有する、コネクタ接続用検査治具。
【請求項５】
請求項１から４のいずれかに記載のコネクタ接続用検査治具において、
前記ガイドは、底面部と、前記底面部の両側から基板とは反対側に立ち上がって相互に対面する第１及び第２の側壁部とを有し、
前記第１及び第２の側壁部が前記底面部左右から立ち上がる一方、前方には側壁部が存在せず、
前記ガイドが前記コネクタに対して位置決めされ且つ前記プローブ保持体と前記ガイドとが前記第２の相対位置にあるときに、前記底面部の前記開口を通して前記コネクタを前方側から目視可能である、コネクタ接続用検査治具。
【図２】
【図７】
【図１】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図７】
【図１】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【公開番号】特開２０１２−５９４２７（Ｐ２０１２−５９４２７Ａ）
【公開日】平成２４年３月２２日（２０１２．３．２２）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−１９９５０３（Ｐ２０１０−１９９５０３）
【出願日】平成２２年９月７日（２０１０．９．７）
【出願人】（０００００６７５８）株式会社ヨコオ (158)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年３月２２日（２０１２．３．２２）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年９月７日（２０１０．９．７）
【出願人】（０００００６７５８）株式会社ヨコオ (158)
【Ｆターム（参考）】
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