テスト情報データベース比較装置
【課題】テストプログラム間の差分を容易に抽出することのできるテスト情報データベース比較装置を提供する。
【解決手段】テスト情報データベース比較装置１は、記述言語あるいは表現形式の違いに関わらず、共通の階層的ディレクトリ構造を持って、テストデータごとに生成された複数のテスト情報データベース１０１、１０２、１０３、・・・に対して、ディレクトリ指定部１１が、比較対照のディレクトリを指定し、正規化部１２が、指定されたディレクトリのデータを予め定められた標準形式のデータに正規化し、比較部１３が、正規化されたデータを比較し、差分抽出部１４が、比較部１３の比較結果からテスト情報データベース１０１、１０２、１０３、・・・間の差分を抽出する。
【解決手段】テスト情報データベース比較装置１は、記述言語あるいは表現形式の違いに関わらず、共通の階層的ディレクトリ構造を持って、テストデータごとに生成された複数のテスト情報データベース１０１、１０２、１０３、・・・に対して、ディレクトリ指定部１１が、比較対照のディレクトリを指定し、正規化部１２が、指定されたディレクトリのデータを予め定められた標準形式のデータに正規化し、比較部１３が、正規化されたデータを比較し、差分抽出部１４が、比較部１３の比較結果からテスト情報データベース１０１、１０２、１０３、・・・間の差分を抽出する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、テスト情報データベース比較装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、ＬＳＩのテストをするためのテストプログラムは、使用するＬＳＩテスター機種に応じて、そのＬＳＩテスター機種用のテストプログラム記述言語を用いて記述している。したがって、使用するＬＳＩテスター機種を変更する場合など、変更先のＬＳＩテスター機種用のテストプログラム記述言語で、その記述書式に従って、テストプログラムを記述し直す必要がある。
【０００３】
また、近年は、ＬＳＩテスター機種に関わらず共通に使用できる記述言語としてＩＥＥＥ標準のテストインターフェース言語（Standard Test Interface Language）も用いられるようになっている。ＳＴＩＬを用いてテストプログラムを記述すれば、ＬＳＩテスターの機種展開が容易である。ただし、このＳＴＩＬは、記述の自由度が高く、同じテスト内容であっても、様々な表現形式で記述することができるため、それぞれの表現形式に応じた記述書式を守る必要がある。
【０００４】
そこで、従来、テストプログラム記述言語で作成されたデータに対しては、パーサーによる構文解析を行い、その記述言語の記述書式が守られているかどうかをチェックすることが行われている（例えば、特許文献１参照。）。
【０００５】
しかし、パーサーでは、異なる記述言語あるいは異なる記述形式で記述された２つの記述データがあったときに、その２つの記述データに同じテスト内容が記述されているかどうかを判定することはできない。
【０００６】
このような場合には、２つの記述データの差分は、目視による記述の解読と比較を人手作業で行って得るしかなく、現実的には、テストパターンに対しては波形表示を行うなどして間接的に違いを見るしかなく、また、テスター制御情報を記述するテストプログラムに対しては、その記述言語に精通した技術者がテストフローとテスト項目を解読して判別するしかない、という問題があった。
【特許文献１】特開２００５−２７４４５１号公報 （第５−６ページ、図１）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
そこで、本発明の目的は、テストプログラム間の差分を容易に抽出することのできるテスト情報データベース比較装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の一態様によれば、記述言語あるいは表現形式の違いに関わらず、共通の階層的ディレクトリ構造を持って、テストデータごとに生成された複数のテスト情報データベースに対して、比較対照のディレクトリを指定するディレクトリ指定手段と、指定されたディレクトリのデータを予め定められた標準形式のデータに正規化する正規化手段と、正規化されたデータを比較する比較手段と、前記比較手段の比較結果から前記複数のテスト情報データベース間の差分を抽出する差分抽出手段とを有することを特徴とするテスト情報データベース比較装置が提供される。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、テストプログラム間の差分を容易に抽出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
【実施例１】
【００１１】
図１は、本発明の実施例１に係るテスト情報データベース比較装置の構成の例を示すブロック図である。
【００１２】
本実施例のテスト情報データベース比較装置１は、記述言語あるいは表現形式の違いに関わらず、共通の階層的ディレクトリ構造を持って、テストデータごとに生成された複数のテスト情報データベース１０１、１０２、１０３、・・・に対して、比較対照のディレクトリを指定するディレクトリ指定部１１と、指定されたディレクトリのデータを予め定められた標準形式のデータに正規化する正規化部１２と、正規化されたデータを比較する比較部１３と、比較部１３の比較結果からテスト情報データベース１０１、１０２、１０３、・・・間の差分を抽出する差分抽出部１４と、を有する。
【００１３】
テスト情報データベース１０１、１０２、１０３、・・・は、それぞれ、テストプログラム記述言語で記述されたテストデータから、パーサやコンパイラなどにより生成されたデータベースである。元になるテストデータの記述言語あるいは表現形式に違いがあっても、テスト情報データベース１０１、１０２、１０３、・・・は、共通の階層的ディレクトリ構造を持つように生成される。
【００１４】
図２に、各テスト情報データベースの階層的ディレクトリ構造の例を示す。
【００１５】
この例では、各テスト情報データベースは、その上位階層に、ＬＳＩテスターを制御する情報に関連するテスト情報関連ディレクトリ、テストパターンデータに関連するテストパターン関連ディレクトリ、ＬＳＩテスター固有のパラメータに関連する共通利用データ関連ディレクトリ、を有している。
【００１６】
テスト情報関連ディレクトリの下位階層には、フロー情報ディレクトリ、ピン情報ディレクトリ、レベル情報ディレクトリ、波形情報ディレクトリ、パワーシーケンス情報ディレクトリなどが含まれる。
【００１７】
テストパターン関連ディレクトリには、パターンデータディレクトリなどが含まれる。
【００１８】
また、共通利用データ関連ディレクトリには、テスターリソースマッピング情報ディレクトリ、テストメソッドリソース情報ディレクトリ、テストメソッド情報ディレクトリ、テスター制約情報ディレクトリなどが含まれる。
【００１９】
このように、本実施例のテスト情報データベース比較装置１が比較を行うとするテスト情報データベースは、共通の階層的ディレクトリ構造を有しているので、テスト情報データベース比較装置１は、ディレクトリ指定部１１により比較対照のディレクトリを指定し、そのディレクトリのレコードどうしを比較するようにする。
【００２０】
ただし、元のテストデータの記述言語あるいは表現形式が違っていると、同じディレクトリのレコードであっても、テスト情報データベースのレコードの記述形式が異なることがある。
【００２１】
そこで、正規化部１２が、指定されたディレクトリのデータを予め定められた標準形式のデータに正規化し、テスト情報データベースのレコードの記述形式を共通にする。
【００２２】
正規化の形式としては、比較の目的に応じて、テスト実行のタイミングにおけるテストスペックを記述する形式、ＬＳＩテスターのテストユニットに対する入出力情報を時系列に記述する形式、デバイスの信号ピン、電源ピン、グラウンドピンに印加される電気信号の変化点を時系列に記述する形式、などがとられる。
【００２３】
このような記述形式の共通化により、各ディレクトリのレコードの比較が容易になる。
【００２４】
図３〜５に、正規化部１２による正規化の具体的な例の一部を示す。
【００２５】
図３は、正規化の形式として、テスト実行のタイミングにおけるテストスペックを記述する形式をとった例である。
【００２６】
この場合、テスト項目ごとに、そのテストに必要な総てのスペックが一定のフォーマットで書き出される。ＬＳＩテスターの機種により、テスト実行までの設定方式は様々に異なるが、テストされるデバイス側から見たときには、テスト実行時に与えられる信号値はどのテストでも同じ状態となる。そこで、テスト実行時に設定されている信号状態を示すテストスペック形式でテスト情報関連ディレクトリを正規化することにより、テストデータの記述言語あるいは表現形式に違いに関らず、テスト情報関連ディレクトリの記述内容を共通化することができる。
【００２７】
図５は、テスト情報関連ディレクトリの別の正規化の形式として、テスト装置のテストユニットに対する入出力情報を時系列に記述する形式をとった例である。
【００２８】
この場合、テストされるデバイスの総ての外部ピン（信号ピン、電源ピン、グラウンドピン）に対して、使用する測定ユニットに対する設定条件が記述される。
【００２９】
図６は、テストパターン関連ディレクトリの正規化の形式として、デバイスの信号ピン、電源ピン、グラウンドピンに印加される電気信号の変化点を時系列に記述する形式をとった例である。
【００３０】
この場合、図６（ａ）に波形イメージで示すような信号の変化に対して、図６（ｂ）に示すような形式で、対象となるテストの開始時刻を０ｓｅｃとして、電源やグラウンドも含めた各信号の変化が記述される。
【００３１】
比較部１３は、正規化部１２により正規化された状態で、ディレクトリ指定部１１により指定されたディレクトリの記述内容を比較する。
【００３２】
差分抽出部１４は、比較部１３による比較により差違が検出されると、その差違が検出された箇所を、差分結果１１１として出力する。このとき、正規化したデータと元のデータとの対応情報を保持しておくことにより、元のデータ形式で差分結果を出力することもできる。
【００３３】
このような本実施例によれば、テスター制御情報を含む複数のテスト情報データベース間の差分を、テストデータの記述言語あるいは表現形式の違いに関らず、容易に抽出することができる。また、目視によらず差分を抽出するので、抽出結果の正確性が増大する。
【実施例２】
【００３４】
本実施例では、複数のテストプログラムの間の差分を検出するテスト情報データベース比較装置の例を示す。
【００３５】
図６は、本発明の実施例２に係るテスト情報データベース比較装置の構成の例を示すブロック図である。
【００３６】
本実施例のテスト情報データベース比較装置２は、図１に示したテスト情報データベース比較装置１に、さらにデータベース生成部２１Ａ、２１Ｂを追加したものである。そこで、図６において、図１に示したブロックと同じ機能を有するブロックについては、図１と同じ符号を付し、ここではその詳細な説明を省略する。
【００３７】
本実施例のテスト情報データベース比較装置２は、例えば、それぞれ固有の記述言語で記述される、Ａ社テスター用テストプログラム２１１とＢ社テスター用テストプログラム２１２との間における差分を抽出し、テスト情報の差分２２１として出力するテスト情報データベース比較装置である。
【００３８】
データベース生成部２１Ａは、Ａ社テスター用テストプログラム２１１を実行するテスターエミュレータあるいはテストプログラムシミュレータを利用して、テスト実行時にＡ社テスターのテストユニットに格納されるスペックやパラメータを抽出し、テスト情報データベース２０１に格納する。
【００３９】
データベース生成部２１Ｂは、Ｂ社テスター用テストプログラム２１２を実行するテスターエミュレータあるいはテストプログラムシミュレータを利用して、テスト実行時にＢ社テスターのテストユニットに格納されるスペックやパラメータを抽出し、テスト情報データベース２０２に格納する。
【００４０】
このテスト情報データベース２０１とテスト情報データベース２０２に対して、ディレクトリ指定部１１、正規化部１２、比較部１３、差分抽出部１４が、実施例１と同様の処理を行い、その差分をテスト情報の差分２２１として出力する。
【００４１】
このような本実施例によれば、それぞれが固有の記述言語で記述されていても、複数のテストプログラムの間の差違を容易に抽出することができる。
【実施例３】
【００４２】
本実施例では、基準テストプログラムと他のテストプログラムとの差分を抽出して、基準テストプログラムと同じテストを実行するように、他のテストプログラムの修正を行うことのできるテスト情報データベース比較装置の例を示す。
【００４３】
図７は、Ｂ社テスター用テストプログラム２１２を基準テストプログラムとしたときの、本発明の実施例３に係るテスト情報データベース比較装置の構成の例を示すブロック図である。
【００４４】
本実施例のテスト情報データベース比較装置３は、図６に示したテスト情報データベース比較装置２に、さらにテスト情報データ修正部３１およびテストデータ生成部３２を追加したものである。そこで、図７において、図６に示したブロックと同じ機能を有するブロックについては、図６と同じ符号を付し、ここではその詳細な説明を省略する。
【００４５】
テスト情報データ修正部３１は、差分抽出部１４により抽出されたテスト情報の差分２２１にもとづいて、その差分が解消するように、テスト情報データベース２０１に格納されているテスト情報データの修正を行なう。
【００４６】
テストデータ生成部３２は、テスト情報データ修正部３１により修正されたテスト情報データベースから、Ａ社テスター用のテストプログラムを生成する。生成されたテストプログラムは、基準テストプログラムであるＢ社テスター用テストプログラム２１２と同じテストを実行する修正版Ａ社テスター用のテストプログラム２１１Ａとなる。
【００４７】
このような本実施例によれば、基準テストプログラムと同じテストが実行できるように行う、他のテストプログラムに対する修正を容易に行うことができる。これにより、例えば、ＬＳＩテスターの機種展開を容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】本発明の実施例１に係るテスト情報データベース比較装置の構成の例を示すブロック図。
【図２】テスト情報データベースの階層的ディレクトリ構成の例を示す図。
【図３】本発明の実施例の正規化部における正規化処理の第１の例を示す図。
【図４】本発明の実施例の正規化部における正規化処理の第２の例を示す図。
【図５】本発明の実施例の正規化部における正規化処理の第３の例を示す図。
【図６】本発明の実施例２に係るテスト情報データベース比較装置の構成の例を示すブロック図。
【図７】本発明の実施例３に係るテスト情報データベース比較装置の構成の例を示すブロック図。
【符号の説明】
【００４９】
１、２、３ テスト情報データベース比較装置
１１ ディレクトリ指定部
１２ 正規化部
１３ 比較部
１４ 差分抽出部
２１Ａ、２１Ｂ データベース生成部
３１ テスト情報データ修正部
３２ テストプログラム生成部
【技術分野】
【０００１】
本発明は、テスト情報データベース比較装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、ＬＳＩのテストをするためのテストプログラムは、使用するＬＳＩテスター機種に応じて、そのＬＳＩテスター機種用のテストプログラム記述言語を用いて記述している。したがって、使用するＬＳＩテスター機種を変更する場合など、変更先のＬＳＩテスター機種用のテストプログラム記述言語で、その記述書式に従って、テストプログラムを記述し直す必要がある。
【０００３】
また、近年は、ＬＳＩテスター機種に関わらず共通に使用できる記述言語としてＩＥＥＥ標準のテストインターフェース言語（Standard Test Interface Language）も用いられるようになっている。ＳＴＩＬを用いてテストプログラムを記述すれば、ＬＳＩテスターの機種展開が容易である。ただし、このＳＴＩＬは、記述の自由度が高く、同じテスト内容であっても、様々な表現形式で記述することができるため、それぞれの表現形式に応じた記述書式を守る必要がある。
【０００４】
そこで、従来、テストプログラム記述言語で作成されたデータに対しては、パーサーによる構文解析を行い、その記述言語の記述書式が守られているかどうかをチェックすることが行われている（例えば、特許文献１参照。）。
【０００５】
しかし、パーサーでは、異なる記述言語あるいは異なる記述形式で記述された２つの記述データがあったときに、その２つの記述データに同じテスト内容が記述されているかどうかを判定することはできない。
【０００６】
このような場合には、２つの記述データの差分は、目視による記述の解読と比較を人手作業で行って得るしかなく、現実的には、テストパターンに対しては波形表示を行うなどして間接的に違いを見るしかなく、また、テスター制御情報を記述するテストプログラムに対しては、その記述言語に精通した技術者がテストフローとテスト項目を解読して判別するしかない、という問題があった。
【特許文献１】特開２００５−２７４４５１号公報 （第５−６ページ、図１）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
そこで、本発明の目的は、テストプログラム間の差分を容易に抽出することのできるテスト情報データベース比較装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の一態様によれば、記述言語あるいは表現形式の違いに関わらず、共通の階層的ディレクトリ構造を持って、テストデータごとに生成された複数のテスト情報データベースに対して、比較対照のディレクトリを指定するディレクトリ指定手段と、指定されたディレクトリのデータを予め定められた標準形式のデータに正規化する正規化手段と、正規化されたデータを比較する比較手段と、前記比較手段の比較結果から前記複数のテスト情報データベース間の差分を抽出する差分抽出手段とを有することを特徴とするテスト情報データベース比較装置が提供される。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、テストプログラム間の差分を容易に抽出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
【実施例１】
【００１１】
図１は、本発明の実施例１に係るテスト情報データベース比較装置の構成の例を示すブロック図である。
【００１２】
本実施例のテスト情報データベース比較装置１は、記述言語あるいは表現形式の違いに関わらず、共通の階層的ディレクトリ構造を持って、テストデータごとに生成された複数のテスト情報データベース１０１、１０２、１０３、・・・に対して、比較対照のディレクトリを指定するディレクトリ指定部１１と、指定されたディレクトリのデータを予め定められた標準形式のデータに正規化する正規化部１２と、正規化されたデータを比較する比較部１３と、比較部１３の比較結果からテスト情報データベース１０１、１０２、１０３、・・・間の差分を抽出する差分抽出部１４と、を有する。
【００１３】
テスト情報データベース１０１、１０２、１０３、・・・は、それぞれ、テストプログラム記述言語で記述されたテストデータから、パーサやコンパイラなどにより生成されたデータベースである。元になるテストデータの記述言語あるいは表現形式に違いがあっても、テスト情報データベース１０１、１０２、１０３、・・・は、共通の階層的ディレクトリ構造を持つように生成される。
【００１４】
図２に、各テスト情報データベースの階層的ディレクトリ構造の例を示す。
【００１５】
この例では、各テスト情報データベースは、その上位階層に、ＬＳＩテスターを制御する情報に関連するテスト情報関連ディレクトリ、テストパターンデータに関連するテストパターン関連ディレクトリ、ＬＳＩテスター固有のパラメータに関連する共通利用データ関連ディレクトリ、を有している。
【００１６】
テスト情報関連ディレクトリの下位階層には、フロー情報ディレクトリ、ピン情報ディレクトリ、レベル情報ディレクトリ、波形情報ディレクトリ、パワーシーケンス情報ディレクトリなどが含まれる。
【００１７】
テストパターン関連ディレクトリには、パターンデータディレクトリなどが含まれる。
【００１８】
また、共通利用データ関連ディレクトリには、テスターリソースマッピング情報ディレクトリ、テストメソッドリソース情報ディレクトリ、テストメソッド情報ディレクトリ、テスター制約情報ディレクトリなどが含まれる。
【００１９】
このように、本実施例のテスト情報データベース比較装置１が比較を行うとするテスト情報データベースは、共通の階層的ディレクトリ構造を有しているので、テスト情報データベース比較装置１は、ディレクトリ指定部１１により比較対照のディレクトリを指定し、そのディレクトリのレコードどうしを比較するようにする。
【００２０】
ただし、元のテストデータの記述言語あるいは表現形式が違っていると、同じディレクトリのレコードであっても、テスト情報データベースのレコードの記述形式が異なることがある。
【００２１】
そこで、正規化部１２が、指定されたディレクトリのデータを予め定められた標準形式のデータに正規化し、テスト情報データベースのレコードの記述形式を共通にする。
【００２２】
正規化の形式としては、比較の目的に応じて、テスト実行のタイミングにおけるテストスペックを記述する形式、ＬＳＩテスターのテストユニットに対する入出力情報を時系列に記述する形式、デバイスの信号ピン、電源ピン、グラウンドピンに印加される電気信号の変化点を時系列に記述する形式、などがとられる。
【００２３】
このような記述形式の共通化により、各ディレクトリのレコードの比較が容易になる。
【００２４】
図３〜５に、正規化部１２による正規化の具体的な例の一部を示す。
【００２５】
図３は、正規化の形式として、テスト実行のタイミングにおけるテストスペックを記述する形式をとった例である。
【００２６】
この場合、テスト項目ごとに、そのテストに必要な総てのスペックが一定のフォーマットで書き出される。ＬＳＩテスターの機種により、テスト実行までの設定方式は様々に異なるが、テストされるデバイス側から見たときには、テスト実行時に与えられる信号値はどのテストでも同じ状態となる。そこで、テスト実行時に設定されている信号状態を示すテストスペック形式でテスト情報関連ディレクトリを正規化することにより、テストデータの記述言語あるいは表現形式に違いに関らず、テスト情報関連ディレクトリの記述内容を共通化することができる。
【００２７】
図５は、テスト情報関連ディレクトリの別の正規化の形式として、テスト装置のテストユニットに対する入出力情報を時系列に記述する形式をとった例である。
【００２８】
この場合、テストされるデバイスの総ての外部ピン（信号ピン、電源ピン、グラウンドピン）に対して、使用する測定ユニットに対する設定条件が記述される。
【００２９】
図６は、テストパターン関連ディレクトリの正規化の形式として、デバイスの信号ピン、電源ピン、グラウンドピンに印加される電気信号の変化点を時系列に記述する形式をとった例である。
【００３０】
この場合、図６（ａ）に波形イメージで示すような信号の変化に対して、図６（ｂ）に示すような形式で、対象となるテストの開始時刻を０ｓｅｃとして、電源やグラウンドも含めた各信号の変化が記述される。
【００３１】
比較部１３は、正規化部１２により正規化された状態で、ディレクトリ指定部１１により指定されたディレクトリの記述内容を比較する。
【００３２】
差分抽出部１４は、比較部１３による比較により差違が検出されると、その差違が検出された箇所を、差分結果１１１として出力する。このとき、正規化したデータと元のデータとの対応情報を保持しておくことにより、元のデータ形式で差分結果を出力することもできる。
【００３３】
このような本実施例によれば、テスター制御情報を含む複数のテスト情報データベース間の差分を、テストデータの記述言語あるいは表現形式の違いに関らず、容易に抽出することができる。また、目視によらず差分を抽出するので、抽出結果の正確性が増大する。
【実施例２】
【００３４】
本実施例では、複数のテストプログラムの間の差分を検出するテスト情報データベース比較装置の例を示す。
【００３５】
図６は、本発明の実施例２に係るテスト情報データベース比較装置の構成の例を示すブロック図である。
【００３６】
本実施例のテスト情報データベース比較装置２は、図１に示したテスト情報データベース比較装置１に、さらにデータベース生成部２１Ａ、２１Ｂを追加したものである。そこで、図６において、図１に示したブロックと同じ機能を有するブロックについては、図１と同じ符号を付し、ここではその詳細な説明を省略する。
【００３７】
本実施例のテスト情報データベース比較装置２は、例えば、それぞれ固有の記述言語で記述される、Ａ社テスター用テストプログラム２１１とＢ社テスター用テストプログラム２１２との間における差分を抽出し、テスト情報の差分２２１として出力するテスト情報データベース比較装置である。
【００３８】
データベース生成部２１Ａは、Ａ社テスター用テストプログラム２１１を実行するテスターエミュレータあるいはテストプログラムシミュレータを利用して、テスト実行時にＡ社テスターのテストユニットに格納されるスペックやパラメータを抽出し、テスト情報データベース２０１に格納する。
【００３９】
データベース生成部２１Ｂは、Ｂ社テスター用テストプログラム２１２を実行するテスターエミュレータあるいはテストプログラムシミュレータを利用して、テスト実行時にＢ社テスターのテストユニットに格納されるスペックやパラメータを抽出し、テスト情報データベース２０２に格納する。
【００４０】
このテスト情報データベース２０１とテスト情報データベース２０２に対して、ディレクトリ指定部１１、正規化部１２、比較部１３、差分抽出部１４が、実施例１と同様の処理を行い、その差分をテスト情報の差分２２１として出力する。
【００４１】
このような本実施例によれば、それぞれが固有の記述言語で記述されていても、複数のテストプログラムの間の差違を容易に抽出することができる。
【実施例３】
【００４２】
本実施例では、基準テストプログラムと他のテストプログラムとの差分を抽出して、基準テストプログラムと同じテストを実行するように、他のテストプログラムの修正を行うことのできるテスト情報データベース比較装置の例を示す。
【００４３】
図７は、Ｂ社テスター用テストプログラム２１２を基準テストプログラムとしたときの、本発明の実施例３に係るテスト情報データベース比較装置の構成の例を示すブロック図である。
【００４４】
本実施例のテスト情報データベース比較装置３は、図６に示したテスト情報データベース比較装置２に、さらにテスト情報データ修正部３１およびテストデータ生成部３２を追加したものである。そこで、図７において、図６に示したブロックと同じ機能を有するブロックについては、図６と同じ符号を付し、ここではその詳細な説明を省略する。
【００４５】
テスト情報データ修正部３１は、差分抽出部１４により抽出されたテスト情報の差分２２１にもとづいて、その差分が解消するように、テスト情報データベース２０１に格納されているテスト情報データの修正を行なう。
【００４６】
テストデータ生成部３２は、テスト情報データ修正部３１により修正されたテスト情報データベースから、Ａ社テスター用のテストプログラムを生成する。生成されたテストプログラムは、基準テストプログラムであるＢ社テスター用テストプログラム２１２と同じテストを実行する修正版Ａ社テスター用のテストプログラム２１１Ａとなる。
【００４７】
このような本実施例によれば、基準テストプログラムと同じテストが実行できるように行う、他のテストプログラムに対する修正を容易に行うことができる。これにより、例えば、ＬＳＩテスターの機種展開を容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】本発明の実施例１に係るテスト情報データベース比較装置の構成の例を示すブロック図。
【図２】テスト情報データベースの階層的ディレクトリ構成の例を示す図。
【図３】本発明の実施例の正規化部における正規化処理の第１の例を示す図。
【図４】本発明の実施例の正規化部における正規化処理の第２の例を示す図。
【図５】本発明の実施例の正規化部における正規化処理の第３の例を示す図。
【図６】本発明の実施例２に係るテスト情報データベース比較装置の構成の例を示すブロック図。
【図７】本発明の実施例３に係るテスト情報データベース比較装置の構成の例を示すブロック図。
【符号の説明】
【００４９】
１、２、３ テスト情報データベース比較装置
１１ ディレクトリ指定部
１２ 正規化部
１３ 比較部
１４ 差分抽出部
２１Ａ、２１Ｂ データベース生成部
３１ テスト情報データ修正部
３２ テストプログラム生成部
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記述言語あるいは表現形式の違いに関わらず、共通の階層的ディレクトリ構造を持って、テストデータごとに生成された複数のテスト情報データベースに対して、
比較対照のディレクトリを指定するディレクトリ指定手段と、
指定されたディレクトリのデータを予め定められた標準形式のデータに正規化する正規化手段と、
正規化されたデータを比較する比較手段と、
前記比較手段の比較結果から前記複数のテスト情報データベース間の差分を抽出する差分抽出手段と
を有することを特徴とするテスト情報データベース比較装置。
【請求項２】
前記階層的ディレクトリのディレクトリに、
ＬＳＩテスターを制御する情報に関連するテスト情報関連ディレクトリと、
テストパターンデータに関連するテストパターン関連ディレクトリと、
ＬＳＩテスター固有のパラメータに関連する共通利用データ関連ディレクトリと
が含まれることを特徴とする請求項１に記載のテスト情報データベース比較装置。
【請求項３】
前記正規化手段が、
前記テスト情報関連ディレクトリのデータを正規化するときに、テスト対象の半導体製品に対するテストスペックを生成する
ことを特徴とする請求項２に記載のテスト情報データベース比較装置。
【請求項４】
半導体製品のテストプログラムから前記テスト情報データベースを生成するデータベース生成手段をさらに有し、
前記差分抽出手段が、
複数のテストプログラム間の差分を、前記複数のテスト情報データベース間の差分として抽出する
ことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載のテスト情報データベース比較装置。
【請求項５】
前記差分抽出手段により抽出された、基準テストプログラムと他のテストプログラムとの差分にもとづいて、
前記他のテストプログラムを前記基準テストプログラムと同じテストを実行するように修正するプログラム修正手段をさらに備える
ことを特徴とする請求項４に記載のテスト情報データベース比較装置。
【請求項１】
記述言語あるいは表現形式の違いに関わらず、共通の階層的ディレクトリ構造を持って、テストデータごとに生成された複数のテスト情報データベースに対して、
比較対照のディレクトリを指定するディレクトリ指定手段と、
指定されたディレクトリのデータを予め定められた標準形式のデータに正規化する正規化手段と、
正規化されたデータを比較する比較手段と、
前記比較手段の比較結果から前記複数のテスト情報データベース間の差分を抽出する差分抽出手段と
を有することを特徴とするテスト情報データベース比較装置。
【請求項２】
前記階層的ディレクトリのディレクトリに、
ＬＳＩテスターを制御する情報に関連するテスト情報関連ディレクトリと、
テストパターンデータに関連するテストパターン関連ディレクトリと、
ＬＳＩテスター固有のパラメータに関連する共通利用データ関連ディレクトリと
が含まれることを特徴とする請求項１に記載のテスト情報データベース比較装置。
【請求項３】
前記正規化手段が、
前記テスト情報関連ディレクトリのデータを正規化するときに、テスト対象の半導体製品に対するテストスペックを生成する
ことを特徴とする請求項２に記載のテスト情報データベース比較装置。
【請求項４】
半導体製品のテストプログラムから前記テスト情報データベースを生成するデータベース生成手段をさらに有し、
前記差分抽出手段が、
複数のテストプログラム間の差分を、前記複数のテスト情報データベース間の差分として抽出する
ことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載のテスト情報データベース比較装置。
【請求項５】
前記差分抽出手段により抽出された、基準テストプログラムと他のテストプログラムとの差分にもとづいて、
前記他のテストプログラムを前記基準テストプログラムと同じテストを実行するように修正するプログラム修正手段をさらに備える
ことを特徴とする請求項４に記載のテスト情報データベース比較装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【公開番号】特開２００９−１８０５６４（Ｐ２００９−１８０５６４Ａ）
【公開日】平成２１年８月１３日（２００９．８．１３）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００８−１８２３７（Ｐ２００８−１８２３７）
【出願日】平成２０年１月２９日（２００８．１．２９）
【出願人】（０００００３０７８）株式会社東芝 (54,554)
【出願人】（０００２２１１９９）東芝マイクロエレクトロニクス株式会社 (376)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２１年８月１３日（２００９．８．１３）
【国際特許分類】
【出願日】平成２０年１月２９日（２００８．１．２９）
【出願人】（０００００３０７８）株式会社東芝 (54,554)
【出願人】（０００２２１１９９）東芝マイクロエレクトロニクス株式会社 (376)
【Ｆターム（参考）】
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