光学的情報記録再生装置
【課題】拘束長５のＰＲ等化器を用いたＰＲＭＬ処理による再生方式を用いる場合に、２Ｔを含んだマーク及びスペースの組み合わせのエッジシフト長を求めることができる光学的情報記録再生装置を提供する。
【解決手段】検出したマーク及びスペースの組み合わせに２Ｔが含まれる場合には、交差レベルとして、再生波形と交差し得る２Ｔ交差レベルを選択し、含まれない場合には標準交差レベルを選択する。選択した交差レベルと交差する前後の再生波形情報の振幅値を基にエッジシフト長を算出し、記録ストラテジに反映させることで、最適品質の記録を実現する。
【解決手段】検出したマーク及びスペースの組み合わせに２Ｔが含まれる場合には、交差レベルとして、再生波形と交差し得る２Ｔ交差レベルを選択し、含まれない場合には標準交差レベルを選択する。選択した交差レベルと交差する前後の再生波形情報の振幅値を基にエッジシフト長を算出し、記録ストラテジに反映させることで、最適品質の記録を実現する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光学的情報記録再生装置に関する。特に、情報記録媒体から再生した信号のエッジシフト長を測定し、測定したエッジシフト長を基に記録ストラテジ調整を行う手段を有する光学的情報記録再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク媒体へは、記録すべきデータを各種規定の方式でエンコードし、決められた長さを持った複数のマークとスペースの２値状態にして記録を行っている。例えば、ブルーレイでは１−７ＰＰ変調という方式で、２Ｔから１０Ｔの長さの２値データに変調して記録している。ここで、Ｔは、チャネルクロック周期である。再生時はこの信号を読み取り、マークとスペースの各長さを検出して各種規定の方式でデコードし、元のデータへの復元を行っている。
【０００３】
ここで、再生時に検出するマーク長、スペース長は記録した長さと全く同一であれば、性能的に劣化は生じないが、熱干渉等により所望でない形状のマークが形成され易く、記録時とはエッジ位置がシフトして多少異なった長さになる。つまりジッタが発生する。これが再生性能に影響を与え、ジッタが大きいほど再生データは記録データとは異なり、誤りが発生し易くなる。この実状については特許文献１に記されている。
【０００４】
特許文献１では、再生データ列が、理想信号振幅の中心を交差レベルとして、交差レベルを交差する毎に、ｍＴマーク、ｎＴスペース（ｍ、ｎは２以上の整数、Ｔはチャネルクロック周期）に分類している。更に、そのマーク、スペース毎に、極性反転時の基準レベルとの位相誤差を積算し、その累積値を発生数で除算することによりジッタ量を求めている。そして、ｍＴマークとｎＴスペースの組み合わせに着目し、記録マークの前縁エッジ位置、後縁エッジ位置を調整し、再生時にジッタの少ない最適な記録条件になるエッジシフト長を求め再度記録を行っている。
【０００５】
また、特許文献２では、交差レベルを交差する時の演算方法として、交差する前後のデータ値の傾きからエッジシフト長を求める方法が記されている。
【０００６】
近年の再生処理の主流はＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ Ｒｅｓｐｏｎｓｅ ａｎｄ Ｍａｘｉｍｕｍ Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）である。ＰＲＭＬは、図８に示すように再生信号をＰＲ等化器４でＰＲ特性へ等化した後、ビタビ復号器５でビタビ復号するという２段階のステップから構成されている。元来、符号間干渉は、マークとスペースの識別性能を低下させる要因であるが、ＰＲＭＬでは、符号間干渉を積極的に用いている。図８に示すように、ＰＲ等化器４の出力を符号間干渉のある信号Ｐとし、ビタビ復号器５で復号し、２値化信号Ｖを得ている。このように、ＰＲＭＬは、ＰＲ等化とビタビ復号の組み合わせにより、ＰＲＭＬ全体で、マークとスペースの識別性能を高めることができる利点を持っている。
【０００７】
図８に示すように、例えば、ＰＲ等化器係数が（１２２１）の場合は、ＰＲ等化器４の出力Ｐが符号干渉を持つ１、２、２、１を出力するとき、ビタビ復号はインパルスを出力するように調整される。ＰＲ等化器４は、ＦＩＲフィルタで構成され、フィルタ係数を調整することにより、ＰＲ等化器の出力が、１、２、２、１になるように調整される。
【０００８】
本明細書では、ＰＲ等化係数が（ａｂｂａ）であるＰＲ等化器を、ＰＲ（ａｂｂａ）と表わすことにする。また、ＰＲ等化係数の長さを拘束長と呼ぶ。例えば、ＰＲ（ａｂｂａ）は拘束長４のＰＲ等化、ＰＲ（ａｂｃｂａ）は拘束長５のＰＲ等化である。
【０００９】
図９に、拘束長４のＰＲ（１２２１）の理想波形の例を示す。ここで、図９の記録データ列は、マーク、スペースが周期３Ｔ毎に繰り返すパターンになっている。すなわち２値データで表現すると、記録データ列は０、０、０、１、１、１の繰り返しパターンである。このような記録データ列を本明細書では、Ｓ３Ｔ、Ｍ３Ｔ繰り返しと表現する。この記録データを再生した場合、図８におけるＰＲ等化器４の出力Ｐは、理想的には、記録データ列と、ＰＲ等化係数のコンボリューション演算結果となる。このようにして得られたＰＲ等化器の出力を、ＰＲ理想波形と呼ぶ。ＰＲＭＬでは、実際に記録された光ディスク媒体から再生したＰＲ等化器４の出力信号Ｐは、理想波形に近くなるように、ＰＲ等化器４のＦＩＲフィルタ係数の調整がなされるので、実際のＰＲ等化器の出力信号Ｐは、ＰＲ理想波形と近い波形になる。また、図９の下部に示す信号ＮＲＺＩは、ビタビ復号器の出力Ｖを表しており、図９では、元の記録データ列が、正確に再現できていることを示している。
【００１０】
光学的記録再生装置のジッタは、通常、ＰＲ等化器４の出力信号が、零クロスする点の位置座標を測定することによって行われている。記録データ列において、０と１の頻度が等しいパターンの場合、直流成分は零になるから、ＰＲ理想波形及び実際のＰＲ等化器の出力信号も、直流成分が０になるように信号を正規化する。そのとき、ＰＲ理想波形及び実際のＰＲ等化器の出力信号は、通常、マーク位置では正の値、スペース位置では負の値を持つから、零交差する。よって、交差レベルを零として、その交差レベルとＰＲ等化器の出力信号が交差した点の位置座標から、記録マーク前縁の立ち上がり位置及び記録マーク後縁の立ち下がり位置を測定し、エッジシフト長を算出することができる。
【００１１】
この方法をｍＴマークとｎＴスペースの組み合わせに対して行うことにより、全ての組み合わせのエッジシフト長を算出する。そして、エッジシフト長に応じて、記録ストラテジ調整の補正パラメータを修正することにより、最適記録のための調整がなされる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１２】
【特許文献１】国際公開０２／０８４６５３号
【特許文献２】特開２００６−１２０２０８号公報
【特許文献３】特開２００４−２１３８６２号公報
【特許文献４】特開２００３−００６８６４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
以下の分析は、本発明により与えられる。
【００１４】
図９、図１０、図１１のように、ＰＲ（１２２１）のＰＲ等化器においては、ＰＲ等化器の出力波形は、マーク位置において正の値、スペース位置において負の値を持つ波形となる。図１０において、記録データ列のマーク長は２Ｔ、図１１において、記録データ列のスペース長は２Ｔである。図１０、図１１のＰＲ理想波形は、正の部分と負の部分が非対称にはなるものの、零クロスするという条件は確保できている。
【００１５】
しかしながら、近年、高密度化の要求から、拘束長５のＰＲ等化器が多く採用されるようになってきている。例えば、高密度記録を実現しているＨＤ−ＤＶＤでは、ＰＲ（１２２２１）のＰＲ等化器が採用されている。図１３、図１４に示すように、マーク、スペースのどちらかが、最短仕様の２Ｔである場合、ＰＲ等化器４の出力波形Ｐは、零を中心にして、上下に振幅を持つ波形にならないため、交差レベルを零とした場合、交点の検出ができない。（１２２２１）以外の係数においても、拘束長が５の場合には、マーク、スペースのどちらかが、２Ｔを含む場合には、ＰＲ等化器４の出力波形Ｐは、一般に、零を中心にして上下に振幅を持つ波形にならないため、交差レベルを零とした場合、交点の検出ができない。すなわち、零クロスするという条件が成り立たなくなる場合が多くなる。
【００１６】
ここで、従来の光学的情報記録再生装置の問題点は、ＰＲ（ａｂｃｂａ）の拘束長５のＰＲ等化器において、連続するマーク、スペースのどちらかが、２Ｔを含む場合、エッジシフト長が算出できず、最適記録を行うための記録ストラテジ調整ができないというということである。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
本発明の第１の側面による光学的情報記録再生装置は、情報記録媒体にマークおよびスペースによって２値データを記録および再生する装置であって、前記情報記録媒体のデータを再生した信号を拘束長５でＰＲ等化するＰＲ等化器と、前記ＰＲ等化した信号をビタビ復号して、２値データを復元するビタビ復号器と、Ｔをチャネルクロック周期として、前記ビタビ復号器で復元した連続した前記マーク、スペースの長さがどちらも３Ｔ以上である場合は、所定の標準交差レベルを交差レベルとし、どちらかの長さが２Ｔである場合は、前記所定の標準交差レベルとは異なる２Ｔ交差レベルを交差レベルとする交差レベル選択器と、前記ＰＲ等化器の出力信号が、前記交差レベルと交差する位置に基づいて、エッジシフト長を求めるエッジシフト長算出器と、前記エッジシフト長に基づいて、前記マーク前縁の立ち上がり位置及び前記マーク後縁の立ち下がり位置を調整する記録ストラテジ調整器と、を有する。
【００１８】
本発明の第２の側面による記録ストラテジ調整方法は、情報記録媒体にマークおよびスペースによって２値データを記録および再生する光学的情報記録再生装置の記録ストラテジ調整方法であって、前記情報記録媒体からデータを再生するステップと、前記情報記録媒体からの読み出し信号を拘束長が５でＰＲ等化するステップと、前記ＰＲ等化するステップでＰＲ等化した信号を、ビタビ復号し、前記２値データを復元するステップと、Ｔをチャネルクロック周期として、復元した前記２値データから、連続するマーク、スペースの長さのどちらかが２Ｔを含むかどうかを検出するステップと、前記連続するマーク、スペースの長さがどちらも３Ｔ以上である場合には、所定の標準交差レベルを交差レベルとするステップと、前記連続するマーク、スペースの長さのどちらかが２Ｔである場合には、前記所定の標準交差レベルとは異なる２Ｔ交差レベルを前記交差レベルとするステップと、前記ＰＲ等化した信号が交差レベルと交差する位置に基づいて、エッジシフト長を算出するステップと、前記エッジシフト長に基づいて、前記マーク前縁の立ち上がり位置または前記マーク後縁の立ち下がり位置を調整するステップ、とを含む。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、以下の効果が得られる。第１の効果は、拘束長５のＰＲ等化器を用いた再生方式を用いる場合に、２Ｔを含めた記録ストラテジ調整が可能な高品質の光学的情報記録再生装置を提供することができるということである。その理由は、本発明の光学的情報記録再生装置は、連続したマーク、スペースのどちらかの長さが２Ｔを含んでいる場合であっても、所定の標準交差レベルとは異なる２Ｔ交差レベルを交差レベルとして、ＰＲ等化器の出力信号と交差する点からエッジシフト長を求めることができるようにしたから、２Ｔを含む記録ストラテジ調整が可能になるためである。
【００２０】
第２の効果は、拘束長５のＰＲ等化器を用いた再生方式において、２Ｔを含めた記録ストラテジ調整方法を提供することができるということである。その理由は、本発明の記録ストラテジ調整方法は、連続したマーク、スペースのどちらかの長さが２Ｔを含んでいる場合であっても、所定の標準交差レベルとは異なる２Ｔ交差レベルを交差レベルとして、ＰＲ等化器の出力信号と交差する点からエッジシフト長を求めることができるようにしたから、２Ｔを含む記録ストラテジ調整が可能になるためである。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明の実施例１による光学的情報記録再生装置を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施例１による光学的情報記録再生装置における記録ストラテジ調整方法を示すフローチャートである。
【図３】本発明の記録ストラテジ調整を説明するための図である。
【図４】本発明の実施例１におけるエッジシフト長算出を説明するための図である。
【図５】本発明の実施例１のエッジシフト長とＰＲＳＮＲとの関係図である。
【図６】本発明の実施例２における２Ｔ交差レベル算出のブロック図である。
【図７】本発明の実施例２におけるＰＲ理想波形生成部を説明するための図である。
【図８】ＰＲ等化及びビタビ復号を説明するための原理図である。
【図９】ＰＲ理想波形を示す図である。
【図１０】ＰＲ理想波形を示す図である。
【図１１】ＰＲ理想波形を示す図である。
【図１２】ＰＲ理想波形を示す図である。
【図１３】ＰＲ理想波形を示す図である。
【図１４】ＰＲ理想波形を示す図である。
【図１５】ＰＲ理想波形を示す図である。
【図１６】ＰＲ理想波形を示す図である。
【図１７】ＰＲ理想波形を示す図である。
【図１８】ＰＲ理想波形を示す図である。
【図１９】ＰＲ理想波形を示す図である。
【図２０】本発明の記録ストラテジ調整の補正テーブルを示す図である。
【図２１】従来の記録ストラテジ調整の補正テーブルを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
本発明の実施形態について、必要に応じて図面を参照して説明する。なお、実施形態の説明において引用する図面及び図面の符号は実施形態の一例として示すものであり、それにより本発明による実施形態のバリエーションを制限するものではない。本発明の実施形態を、図１、図２を必要に応じて参照して説明する。
【００２３】
本発明による第１の実施形態の光学的情報記録再生装置１６は、図１に示すように、情報記録媒体１にマークおよびスペースによって２値データを記録および再生する装置であって、情報記録媒体１のデータを再生した信号を拘束長５でＰＲ等化するＰＲ等化器４と、ＰＲ等化した信号をビタビ復号して、２値データを復元するビタビ復号器５と、Ｔをチャネルクロック周期として、ビタビ復号器５で復元した連続したマーク、スペースの長さがどちらも３Ｔ以上である場合は、所定の標準交差レベルを交差レベルとし、どちらかの長さが２Ｔである場合は、所定の標準交差レベルとは異なる２Ｔ交差レベルを交差レベルとする交差レベル選択器９と、ＰＲ等化器４の出力信号が、交差レベルと交差する位置に基づいて、エッジシフト長を求めるエッジシフト長算出器１１と、エッジシフト長に基づいて、マーク前縁の立ち上がり位置及びマーク後縁の立ち下がり位置を調整する記録ストラテジ調整器１４と、を有する。
【００２４】
本発明による第２の実施形態の記録ストラテジ調整方法は、図２に示すように、情報記録媒体１にマークおよびスペースによって２値データを記録および再生する光学的情報記録再生装置の記録ストラテジ調整方法であって、情報記録媒体１からデータを再生するステップＳ２０と、情報記録媒体１からの読み出し信号を拘束長が５でＰＲ等化するステップＳ２１と、ＰＲ等化するステップＳ２１でＰＲ等化した信号を、ビタビ復号し、２値データを復元するステップＳ２２と、Ｔをチャネルクロック周期として、復元した２値データから、連続するマーク、スペースの長さのどちらかが２Ｔを含むかどうかを検出するステップＳ２３と、連続するマーク、スペースの長さがどちらも３Ｔ以上である場合には、所定の標準交差レベルを交差レベルとするステップＳ２４と、連続するマーク、スペースの長さのどちらかが２Ｔである場合には、所定の標準交差レベルとは異なる２Ｔ交差レベルを交差レベルとするステップＳ２５と、ＰＲ等化した信号が交差レベルと交差する位置に基づいて、エッジシフト長を算出するステップＳ２６と、エッジシフト長に基づいて、マーク前縁の立ち上がり位置またはマーク後縁の立ち下がり位置を調整するステップＳ２７と、を含む。
【００２５】
以下、実施例について、図面を参照して詳しく説明する。
【実施例１】
【００２６】
［実施例１の構成］
図１は本発明の実施例１を示す全体ブロック図である。光ディスクなどの情報記録媒体１から光ヘッド２により再生されたＲＦ波形はＡ／Ｄ変換器３によりサンプリングされディジタル信号に変換される。ディジタル化されたＲＦ信号は、ＰＲ等化器４、ビタビ復号器５で、ＰＲＭＬ処理により、最も確からしい２値データに復号される。
【００２７】
ＰＲ等化器４におけるＰＲ等化係数は、自在に設定可能なように構成され、実施例１では、拘束長５の（１２２２１）が設定されている。また、設定されたＰＲ等化係数に応じて、図８に示すように、所望のＰＲ等化特性が得られるように、ＰＲ等化器４内部のＦＩＲフィルタ係数が調整される。
【００２８】
記録ストラテジ調整のための記録データパターンは、記録データ生成器１３により与えられ、実施例１では、２Ｔのマーク長、２Ｔのスペース長が含まれている。
【００２９】
ビタビ復号された２値データは、２Ｔ検出器６及び３Ｔ以上検出器７に与えられる。まず、２Ｔ検出器６ではビタビ復号された２値データの長さが２Ｔと一致しているかを検出する。３Ｔ以上Ｔ長検出器７では２値データが３Ｔ以上の場合のデータ長を検出する。遅延器８は、ＰＲ等化器４出力を、ビタビ復号器５、２Ｔ検出器６、３Ｔ以上Ｔ長検出器７での演算、検出処理に要する時間分の保持を行っている。交差レベル選択器９では、連続するマーク及びスペースの組み合わせにおいて、２Ｔ検出器６によりどちらかの長さが２Ｔである場合は２Ｔ交差レベルを、両方とも３Ｔ以上である場合は標準交差レベルを、交差レベルとして選択する。その選択値は交差レベル前後点検出器１０での交差レベルになり、遅延器８出力の等化波形が交差レベルを交差する際の前後点を検出する。エッジシフト長算出器１１では、その交差レベル前後点を用いてエッジシフト長を算出する。
【００３０】
ｍＴｎＴ組み合わせ毎の統計処理器１２では、２Ｔ検出器６、３Ｔ以上Ｔ長検出器７の結果を基に、マーク及びスペースのｍＴからｎＴへの遷移の組み合わせを判別し、その際のエッジシフト長を得る。そして、ｍＴｎＴ組み合わせ毎にエッジシフト長を統計処理し、それを記録ストラテジ調整器１４へ反映して、記録データ生成器１３からの記録データに対し記録用の位相調整を行い、光ヘッド２を経由して光ディスクなどの情報記録媒体１への記録を行う。
【００３１】
［実施例１の動作］
図２は、実施例１の記録ストラテジ調整の動作を示すフローチャートである。ステップＳ２０のデータ再生で光ディスクからデータを再生し、ステップＳ２１のＰＲ等化処理で再生データをＰＲ等化処理し、ステップＳ２２のビタビ復号で、ＰＲ等化の出力信号をビタビ復号する。そして、ステップＳ２３において、連続するマーク、スペースのどちらかが２Ｔを含む組み合わせかどうか判別し、Ｙｅｓと判定した場合は、ステップＳ２５で、２Ｔ交差レベルを交差レベルとして選択し、Ｎｏと判定した場合には、ステップＳ２４で、標準交差レベルを交差レベルとして選択する。ステップＳ２４、Ｓ２５の後、ステップＳ２６で、交差レベルが、ＰＲ等化波形を交差する前後点に基づいてエッジシフト長を算出する。ステップＳ２６で使用するＰＲ等化波形は、ステップＳ２１で得られたＰＲ等化の出力信号を使用する。ステップＳ２７において、ステップＳ２６で得られたエッジシフト長に基づいて、マークの立ち上がり位置／立下り位置の調整を行う。以上により、最適品質の記録を行う。
【００３２】
次に、実施例１において、ＰＲ（１２２２１）の拘束長５のＰＲ等化器において、２Ｔを含むＰＲ等化器の出力信号Ｐのエッジシフト長の算出方法について、より詳細に説明する。図１３は、ＰＲ（１２２２１）のＳ３Ｔ、Ｍ２Ｔ繰り返しデータ列に対するＰＲ等化器の理想波形であり、マークに２Ｔ長を含んだ場合である。また、図１４は、ＰＲ（１２２２１）のＳ２Ｔ、Ｍ３Ｔ繰り返しデータ列に対するＰＲ等化器の理想波形であり、スペースに２Ｔ長を含んだ場合である。図１３、図１４のどちらの波形も、零に接していはいるが、交差はしていないため、交差する位置を算出することができない。
【００３３】
従って、本発明では、交差レベルを、マーク長、スペース長の両方が３Ｔ以上の場合には、標準交差レベルを交差レベルとし、マーク長、スペース長のどちらかが２Ｔの場合には、標準交差レベルとは異なる２Ｔ交差レベルを交差レベルとする。ここで、標準交差レベルとしては、零を用いる。特に、０、１の頻度が等しい記録データ列に対して、ＰＲ等化器の出力信号のＤＣ成分が０になるように正規化されている場合には、マーク長、スペース長の両方が３Ｔ以上のＰＲ等化波形は０を中心に上下に振幅を持つので、標準交差レベルを零にすることが望ましい。但し、それに限定されず、マーク長、スペース長の両方が３Ｔ以上のＰＲ等化波形に対して交差する条件を満たす値であればよい。
【００３４】
一方、２Ｔ交差レベルは、例えば、マーク長に２Ｔを含む図１３の場合には、点Ｅと点Ｆの中間、点Ｇと点Ｈの中間である−０．１２５にし、スペース長に２Ｔを含む図１４の場合には、点Ｅ’と点Ｆ’の中間、点Ｇ’と点Ｈ’の中間である０．１２５に設定すると交差する。ここで、２Ｔ交差レベルは、マーク長に２Ｔを含む場合と、スペース長に２Ｔを含む場合では、別の値を設定することが必要になる。
【００３５】
また、２Ｔを含むＰＲ等化波形は、ＰＲ等化係数に依存して変化するので、２Ｔ交差は、設定されているＰＲ等化係数に応じて、設定することが望ましい。例えば、図１５は、ＰＲ（２３３３２）のＳ３Ｔ、Ｍ２Ｔ繰り返しデータ列に対するＰＲ等化器の理想波形であるが、この場合、点Ｉと点Ｊの中間、点Ｋと点Ｌの中間に２Ｔ交差レベルを設定することが望ましい。その場合、最適な２Ｔ交差レベルは、図１３における最適な２Ｔ交差レベル−０．１２５とは異なる値になる。
【００３６】
以上、纏めると、交差レベルとして、標準交差レベル、マーク長に２Ｔを含む場合の２Ｔ交差レベル、スペース長に２Ｔを含む場合の２Ｔ交差レベルの３つを設定することになる。図１の交差選択器には、これらの３つの値が設定されており、２Ｔ検出器６の結果に応じて、交差レベルを切り替えるようにしている。また、図２のフローチャートのステップＳ２５をより詳細に説明すると、マークが２Ｔを含む場合には、マーク長に２Ｔを含む場合の２Ｔ交差レベル、スペースが２Ｔを含む場合には、スペース長に２Ｔを含む場合の２Ｔ交差レベルを選択することになる。
【００３７】
また、ＰＲ等化係数毎の２Ｔ交差レベルは、ＰＲ理想波形に基づいて、予め求めて、交差レベル選択器９に格納しておき、設定したＰＲ等化係数に応じて、参照して使用する。
【００３８】
次に、交差レベル前後点検出器１０が、交差レベル選択器９によって選択された交差レベルに基づいて、ＰＲ等化出力信号と交差レベルが交差する位置の前後点を検出する。図１２において、立ち上がりエッジにおける前後点は、点Ａと点Ｂであり、立ち下がりエッジにおける前後点は、点Ｃと点Ｄである。また、図１３において、立ち上がりエッジにおける前後点は、点Ｅと点Ｆであり、立ち下がりエッジにおける前後点は、点Ｇと点Ｈである。また、図１４において、立ち上がりエッジにおける前後点は、点Ｅ’と点Ｆ'であり、立ち下がりエッジにおける前後点は、点Ｇ’と点Ｈ’である。
【００３９】
次に、エッジシフト長算出器１１で行われるエッジシフト長の算出について説明する。図４は、図１２における点Ａと点Ｂの部分を拡大した図である。図４の下部には、対応する記録されたマーク位置を示している。ここで、記録されたマークが適正位置にある場合を実線で示し、適正位置から左方向にシフトした場合を破線で示し、適正位置から右方向にシフトした場合を一点鎖線で示す。また、適正位置から左にシフトした場合のＰＲ等化波形は、破線で示す線分Ａ’Ｂ’になり、適正位置から右にシフトした場合のＰＲ等化波形は、一点鎖線Ａ”Ｂ”になる。
【００４０】
エッジシフト長の算出には、幾つかの方法がある。第１の方法は、ＰＲ等化波形と交差レベルとの交点の座標を算出することである。点Ａの座標を（ＸＡ、ＹＡ）、点Ｂの座標を（ＸＡ＋ΔＸ、ＹＢ）、点Ａ’の座標を（ＸＡ、ＹＡ’）、点Ｂ’の座標を（ＸＡ＋ΔＸ、ＹＢ’）、点Ａ”の座標を（ＸＡ、ＹＡ”）、点Ｂ”の座標を（ＸＡ＋ΔＸ、ＹＢ”）、線分ＡＢが、交差レベルと交差する点を（ＸＰ、０）、線分Ａ’Ｂ’が交差レベルと交差する点を（ＸＰ’、０）、線分Ａ”Ｂ”が交差レベルと交差する点を（ＸＰ”、０）とすると、まず、線分ＡＢ、Ａ’Ｂ’、Ａ”Ｂ”の傾きは、各々、式（１）、式（２）、式（３）となる。
ｍ＝（ＹＢ−ＹＡ）／ΔＸ 式（１）
ｍ’＝（ＹＢ’−ＹＡ’）／ΔＸ 式（２）
ｍ”＝（ＹＢ”−ＹＡ”）／ΔＸ 式（３）
線分ＡＢ、Ａ’Ｂ’、Ａ”Ｂ”が交差レベルと交差する位置の座標は、各々、式（４）、式（５）、式（６）となる。
ＸＰ ＝ ＸＡ＋ΔＸ／２ 式（４）
ＸＰ’＝ ＸＡ−ＹＡ’／ｍ’ 式（５）
ＸＰ”＝ ＸＡ−ＹＡ”／ｍ” 式（６）
ＸＰを基準としたＸＰ’のエッジシフト長は、式（７）、ＸＰを基準としたＸＰ”のエッジシフト長は、式（８）となる。
ＥＳ１’＝ ＸＰ’ − ＸＰ 式（７）
ＥＳ１”＝ ＸＰ” − ＸＰ 式（８）
式（７）に、式（４）、式（５）を代入して、式（９）が得られる。また、式（８）に式（４）、式（６）を代入して、式（１０）が得られる。
ＥＳ１’＝ −１／２（（ＹＡ’＋ＹＢ’）／（ＹＢ’−ＹＡ’））
式（９）
ＥＳ１”＝ −１／２（（ＹＡ”＋ＹＢ”）／（ＹＢ”−ＹＡ”））
式（１０）
式（９）、式（１０）は、ＰＲ等化器の出力信号と交差レベルが交差する前後のＰＲ等化器の出力信号から、ＰＲ等化器の出力信号と交差レベルの交点を算出し、ＰＲ等化器の理想波形と交差レベルとの交点の差分により算出したエッジシフト長を表している。ここで、図４から、ＹＡ’＋ＹＢ’＞０、ＹＡ”＋ＹＢ”＜０となるので、ＥＳ１’＜０、ＥＳ１”＞０となる。換言すると、ＰＲ等化波形が、適正位置よりも振幅軸上で上にある場合、立ち上がりエッジは左にシフトし、エッジシフト長は負値となり、ＰＲ等化波形が、適正位置よりも振幅軸上で下にある場合、立ち上がりエッジは右にシフトし、エッジシフト長は正値となる。
【００４１】
図４において、交差レベルが標準交差レベルの零の場合について説明したが、交差レベルが２Ｔ交差レベルの場合は、まず、点Ａ、点Ｂ、点Ａ’、点Ｂ’、点Ａ”、点Ｂ”のＹ座標から、交差レベルの値を差し引く。その後、同様に、式（９）、式（１０）を用いて、エッジシフト長の算出を行えばよい。
【００４２】
次に、エッジシフト長の第２の算出方法について、同様に図４を参照し、説明する。第２のエッジシフト長は、式（１１）、式（１２）、式（１３）で定義される。
ＥＳ２ ＝ ＹＢ／（ＹＢ−ＹＡ） 式（１１）
ＥＳ２’ ＝ ＹＢ’／（ＹＢ’−ＹＡ’） 式（１２）
ＥＳ２” ＝ ＹＢ”／（ＹＢ”−ＹＡ”） 式（１３）
ここで、図４における各点のＹ座標をＹＡ＝−０．２５、ＹＢ＝０．２５、ＹＡ’＝−０．２０、ＹＢ’＝０．３０、ＹＡ”＝−０．３０、ＹＢ”＝０．２０として代入すると、ＥＳ２＝０．５、ＥＳ２’＝０．６、ＥＳ２”＝０．４が得られる。適正位置に対して、立ち上がりエッジが左にシフトしている場合は、適正位置よりもエッジシフト長は大きな値となり、適正位置に対して、立ち上がりエッジが右にシフトしている場合は、適正位置よりもエッジシフト長は小さな値となる。図４において、交差レベルは零であるが、２Ｔ交差レベルの場合には、予め、各点のＹ座標から、２Ｔ交差レベルの値を差し引いた後、式（１１）、式（１２）、式（１３）による演算を行えばよい。
【００４３】
次に、エッジシフト長の第３の算出方法について、同様に図４を参照し、説明する。第３のエッジシフト長は、式（１４）、式（１５）で表される。
ＥＳ３’ ＝ （ＹＡ’＋ＹＢ’）−（ＹＡ＋ＹＢ） 式（１４）
ＥＳ３” ＝ （ＹＡ”＋ＹＢ”）−（ＹＡ＋ＹＢ） 式（１５）
式（１４）、式（１５）は、ＰＲ等化器の出力信号と交差レベルが交差する前後のＰＲ等化器の出力信号の加算値と、ＰＲ等化器の理想波形と交差レベルが交差する前後のＰＲ等化器の理想波形の加算値の差分により、エッジシフト長を算出している。式（１４）、式（１５）に図４における各点のＹ座標を代入すると、ＥＳ３’＝０．１、ＥＳ３”＝−０．１となる。このエッジシフト長は、立ち上がりエッジが左にシフトしている場合は、負値となり、立ち上がりエッジが右にシフトしている場合は正値となる。図４は、交差レベルが、零であるが、２Ｔ交差レベルの場合でも、式（１４）、式（１５）は、そのまま適用可能である。
【００４４】
以上、３通りのエッジシフト長について、図４の立ち上がりエッジについて考察したが、立ち下がりエッジに関しても同様な算出方法が適用可能である。
【００４５】
次に、図１２、図１３、図１４、図１５以外のＰＲ等化係数、記録データ列に対するＰＲ理想波形の例を、図１６、図１７、図１８、図１９に示す。
【００４６】
図１６にＰＲ（１２３２１）のＳ３Ｔ、Ｍ２Ｔ繰り返し理想波形を示す。この場合、マーク２Ｔは零を超えた正値の振幅を持つが、交差レベルを標準交差レベルの零とすると、理想波形の交差前後点は上下対称位置ではないので、ＰＲ１２２２１、ＰＲ２３３３２と同様、理想信号値の中点、或いは、それに近い値の方が適切である。よって、２Ｔを含むマーク及びスペースの組み合わせが検出された際は、ＰＲ（１２３２１）に対し最適な２Ｔ交差レベルを交差レベルとすることが望ましい。
【００４７】
図１７にＰＲ（１２２２１）の３Ｔ、２Ｔ、２Ｔ繰り返し理想波形を示す。ＰＲ（１２２２１）ではＭ２Ｔ、Ｓ２ＴあるいはＳ２Ｔ、Ｍ２Ｔのように、２Ｔが連続すると、マーク、スペース共その振幅値は零となり、振幅を持たず差もないことになる。３Ｔと２Ｔの組み合わせ、２Ｔと３Ｔの組み合わせにおいて２Ｔ交差レベルを用いることで交差前後点を検出できたが、２Ｔと２Ｔの組み合わせでは交差前後点を検出できず、エッジシフト長を検出できない。よって、この場合には、調整できないことになる。
【００４８】
図１８に、ＰＲ（２３３３２）の３Ｔ、２Ｔ、２Ｔ繰り返し理想波形を示す。この場合、２Ｔが２つ連続すると、ＰＲ（１２２２１）とは異なり、マーク、スペースで異なった振幅を示す。しかし、３Ｔ以上の振幅とは異なり、本来期待する極性の振幅量は持てていないが、この場合は２Ｔ交差レベルを零とすればエッジシフト長は算出することはできる。このようにＰＲ（１２２２１）とＰＲ（２３３３２）では２Ｔと２Ｔの組み合わせ時の扱いが異なるが、これはＰＲクラスで決まることなので、用いるＰＲ等化係数に応じて２Ｔと２Ｔの組み合わせ時の扱いをどうするか規定すれば良い。
【００４９】
図１９に、２Ｔを含む、２Ｔを含まない組み合わせでの実際の交差レベル選択動作例を示す。（１）のスペース３Ｔとマーク３Ｔの組み合わせ、（２）のマーク３Ｔとスペース３Ｔの組み合わせでは２Ｔを含まないので標準交差レベルの零を交差レベルとし、その前後点からそれぞれのエッジシフト長を求める。（３）のスペース３Ｔとマーク２Ｔの組み合わせ、（４）のマーク２Ｔとスペース３Ｔの組み合わせでは２Ｔを含むので２Ｔ交差レベルを交差レベルとし、その前後点からそれぞれのエッジシフト長を求める。尚、マーク２Ｔの場合は、２Ｔ交差レベルはマイナス値になる。（５）のスペース３Ｔとマーク３Ｔの組み合わせでは２Ｔを含まないでの標準交差レベルの零を交差レベルとし、その前後点からエッジシフト長を求める。（６）のマーク３Ｔとスペース２Ｔの組み合わせ、（７）のスペース２Ｔとマーク３Ｔの組み合わせでは２Ｔを含むので２Ｔ交差レベルを交差レベルとし、その前後点からそれぞれのエッジシフト長を求める。尚、スペース２Ｔの場合は、２Ｔ交差レベルはプラス値になる。このように２Ｔを含んだ組み合わせかどうかにより、交差レベルを適宜切り替えることにより、その前後点からエッジシフト長を求めることができる。
【００５０】
このようにして得られたエッジシフト長をマーク及びスペースのｍＴとｎＴの組み合わせ毎に分類し、統計処理を行う。すなわち、記録データ生成器１３で、マーク及びスペースのｍＴとｎＴの組み合わせからなる記録データ列によって記録と再生を何回か繰り返し、得られたエッジシフト長のデータを保存しておき、マーク及びスペースのｍＴとｎＴの組み合わせ毎に、平均、分散値などを求める。ここで、分散値は、エッジシフト長のばらつきを評価するための評価値として用いられる。また、エッジシフト長の平均をストラテジ調整に使用するが、全データの平均長を用いてもよいし、長さ情報が得られるものならよく、種々の統計処理方法が考えられる。
【００５１】
次に、記録ストラテジ調整器１３について、説明する。図３は、記録ストラテジ調整を説明するための図である。図３は、特許文献４の図２２を引用している。光ヘッド２における記録パルスは、図３の（ｂ）のように、マルチパルスからなっている。ここで、ファーストパルス幅及びラストパルス幅が調整可能に構成されている。マーク前縁の立ち上がり位置は、ファーストパルス幅で調整される。例えば、ファーストパルス幅を広くすると、マーク前縁の立ち上がり位置は、左にシフトし、ファーストパルス幅を狭くすると、マーク前縁の立ち上がり位置は、右にシフトする。一方、マーク後縁の立ち下がり位置は、ラストパルス幅で調整される。例えば、ラストパルス幅を広くすると、マーク後縁の立ち下がり位置は、右にシフトし、ラストトパルス幅を狭くすると、マーク後縁の立ち下がり位置は、左にシフトする。
【００５２】
記録ストラテジ調整器１３において、ｍＴｎＴ組み合わせ毎の統計処理器１２で得られたエッジシフト長に基づいて、ｍＴｎＴ組み合わせ毎のマーク前縁の立ち上がり位置、マーク後縁の立ち下がり位置を適正にするためのファーストパルス幅と、ラストパルス幅の補正量を求め、図２０に示す補正テーブルを更新する。図２０の（ａ）は、マーク前縁の立ち上がり位置を調整するためのファーストパルスの補正量テーブルであり、図２０の（ｂ）は、マーク後縁の立ち下がり位置を調整するためのラストパルスの補正量テーブルである。実施例１では、連続するマーク、スペースのうちのどちらかが、２Ｔの場合の記録ストラテジ調整が可能になったので、２Ｔの行と列が、加わっている。連続するマーク、スペースの両方が２Ｔの場合には、ＰＲ出力波形において、交差点を算出するためのコントラストは得られないので、エッジシフト長を算出できないため、テーブルに斜線を引いて除外してある。但し、記録データ列とＰＲ等化係数によっては、図１８のように、２Ｔ２Ｔの組み合わせでも検出できる場合もあり、その場合は、補正テーブルの２Ｔ２Ｔ組み合わせに補正データを入れるようにしてもよい。一方、図２１は、従来の記録ストラテジ調整の補正テーブルである。従来技術の補正テーブルである図２１では、ＰＲ（ａｂｃｂａ）の拘束長５の場合、２Ｔを含むエッジシフト長の算出はできないので、２Ｔの行、列は補正テーブルには含まれていない。ここで、図２１は、特許文献４の図２３を引用している。以上のようにして、実施例１では、ＰＲ（ａｂｃｂａ）の拘束長５のＰＲ等化器を使用した場合で、連続するマーク、スペースのうち、どちらかが２Ｔ長であった場合においても、記録ストラテジ調整が可能になり、最適記録が可能な光学的情報記録再生装置を実現することができる。
【００５３】
次に、エッジシフト長と信号品質の関係について、以下に説明する。エッジシフトを発生させるために、意図的にＳ３Ｔ、Ｓ２Ｔの組み合わせ発生時に、Ｎ点のＰＲ波形の振幅データにある値を加減算する。そのＰＲ波形データに対して、２Ｔ交差レベルを−０．１２５として得られたエッジシフト長とＰＲＳＮＲとの関係を、図５に示す。ＰＲＳＮＲは、ＰＲＭＬ用の信号評価指数であり、詳細は特許文献３に示されている。ここで、Ｎ点の振幅に対して−３α、−２α、−α、０、α、２α、３αの加算を行っている。図５はその際に得られたマーク２Ｔのリーディングエッジシフト長とＰＲＳＮＲである。ここで、リーディングエッジとは、立ち上がりエッジを意味する。また、エッジシフト長は、式（１４）、式（１５）で示した第３の方法を用いており、エッジシフト長は、加減算した振幅に比例して大きくなる。図５によると、マーク２Ｔのリーディングエッジシフト長に応じてＰＲＳＮＲが山なりの波形を描いている。ＰＲＳＮＲは値が高いほど信号品質が良いことを示しており、マーク２Ｔリーディングエッジシフト長が適切であれば記録信号品質を良くすることができる。従って、エッジシフト長を算出した結果に基づいて、エッジシフト長が理想より少なければ増やす方向へ記録ストラテジを適量だけ調整し、理想より多ければ減らす方向へ記録ストラテジを適量だけ調整することで、記録信号品質を良くすることができることを示している。
【実施例２】
【００５４】
次に、実施例２について説明する。実施例２は、図１の実施例１に対して、さらに、図６のＰＲ理想波形生成部２０、２Ｔ交差レベル算出部２１を含んだ構成になっている。ここで、ＰＲ理想波形生成部２０は、記録データ生成器１３で生成された記録データ列とＰＲ等化係数に基づいて、ＰＲ理想波形を出力する。図７に、ＰＲ理想波形生成部２０が行う処理内容を示す。図７は、記録データ列が、Ｓ３Ｔ、Ｍ３Ｔ繰り返しで、ＰＲ等化係数が１２２１の場合を示している。図７に示すように、記録データ列とＰＲ等化係数のコンボリューション演算を行うことにより、ＰＲ理想波形（正規化前）のデータが得られる。次に、ＰＲ理想波形の正規化ｙ＝ａｘ＋ｂを行い、ＰＲ理想波形（正規化後）を得る。本明細書の図９〜図１９のＰＲ理想波形の算出は、図７に示した方法で算出したものである。
【００５５】
その後、２Ｔ交差レベル算出部２１は、例えば、ＰＲ(１２２２１）の場合には、図１３のＰＲ理想波形から、最適な２Ｔ交差レベルを自動的に算出する。例えば、図１３の場合、２Ｔマークにおける点Ｆ、点Ｇを求め、次に、各々が隣接する点Ｅ、点Ｈを求め、点Ｅと点Ｆの中点、あるいは、点Ｇと点Ｈの中点から２Ｔ交差レベルを算出するようにすればよい。このようにして２Ｔ交差レベル算出部２１で算出された２つの交差レベルである２Ｔがマークの交差レベル、２Ｔがスペースの交差レベルを、交差レベル選択器９に供給する。実施例２では、予め、最適な２Ｔ交差レベルが得られていないＰＲ等化係数などに対しても、自動的に最適な２Ｔ交差レベルを算出し、設定可能であるという利点が得られる。
【産業上の利用可能性】
【００５６】
本発明は、高密度、大容量の光学的記録媒体を用いた記録再生装置に用いられる。
【００５７】
なお、本発明の全開示（請求の範囲を含む）の枠内において、さらにその基本的技術思想に基づいて、実施形態ないし実施例の変更・調整が可能である。また、本発明の請求の範囲の枠内において種々の開示要素の多様な組み合わせないし選択が可能である。すなわち、本発明は、請求の範囲を含む全開示、技術的思想にしたがって当業者であればなし得るであろう各種変形、修正を含むことは勿論である。
【符号の説明】
【００５８】
１ 情報記録媒体
２ 光ヘッド
３ Ａ／Ｄ変換器
４ ＰＲ等化器
５ ビタビ復号器
６ ２Ｔ検出器
７ ３Ｔ以上Ｔ長検出器
８ 遅延器
９ 交差レベル選択器
１０ 交差レベル前後点検出器
１１ エッジシフト長算出器
１２ ｍＴｎＴ組み合わせ毎の統計処理器
１３ 記録データ生成器
１４ 記録ストラテジ調整器
１５ Ｔ長検出器
１６、１７ 光学的情報記録再生装置
１８ ＰＲＳＮＲ
１９ マーク２Ｔリーディングエッジシフト長
２０ ＰＲ理想波形生成部
２１ ２Ｔ交差レベル算出部
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光学的情報記録再生装置に関する。特に、情報記録媒体から再生した信号のエッジシフト長を測定し、測定したエッジシフト長を基に記録ストラテジ調整を行う手段を有する光学的情報記録再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク媒体へは、記録すべきデータを各種規定の方式でエンコードし、決められた長さを持った複数のマークとスペースの２値状態にして記録を行っている。例えば、ブルーレイでは１−７ＰＰ変調という方式で、２Ｔから１０Ｔの長さの２値データに変調して記録している。ここで、Ｔは、チャネルクロック周期である。再生時はこの信号を読み取り、マークとスペースの各長さを検出して各種規定の方式でデコードし、元のデータへの復元を行っている。
【０００３】
ここで、再生時に検出するマーク長、スペース長は記録した長さと全く同一であれば、性能的に劣化は生じないが、熱干渉等により所望でない形状のマークが形成され易く、記録時とはエッジ位置がシフトして多少異なった長さになる。つまりジッタが発生する。これが再生性能に影響を与え、ジッタが大きいほど再生データは記録データとは異なり、誤りが発生し易くなる。この実状については特許文献１に記されている。
【０００４】
特許文献１では、再生データ列が、理想信号振幅の中心を交差レベルとして、交差レベルを交差する毎に、ｍＴマーク、ｎＴスペース（ｍ、ｎは２以上の整数、Ｔはチャネルクロック周期）に分類している。更に、そのマーク、スペース毎に、極性反転時の基準レベルとの位相誤差を積算し、その累積値を発生数で除算することによりジッタ量を求めている。そして、ｍＴマークとｎＴスペースの組み合わせに着目し、記録マークの前縁エッジ位置、後縁エッジ位置を調整し、再生時にジッタの少ない最適な記録条件になるエッジシフト長を求め再度記録を行っている。
【０００５】
また、特許文献２では、交差レベルを交差する時の演算方法として、交差する前後のデータ値の傾きからエッジシフト長を求める方法が記されている。
【０００６】
近年の再生処理の主流はＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ Ｒｅｓｐｏｎｓｅ ａｎｄ Ｍａｘｉｍｕｍ Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）である。ＰＲＭＬは、図８に示すように再生信号をＰＲ等化器４でＰＲ特性へ等化した後、ビタビ復号器５でビタビ復号するという２段階のステップから構成されている。元来、符号間干渉は、マークとスペースの識別性能を低下させる要因であるが、ＰＲＭＬでは、符号間干渉を積極的に用いている。図８に示すように、ＰＲ等化器４の出力を符号間干渉のある信号Ｐとし、ビタビ復号器５で復号し、２値化信号Ｖを得ている。このように、ＰＲＭＬは、ＰＲ等化とビタビ復号の組み合わせにより、ＰＲＭＬ全体で、マークとスペースの識別性能を高めることができる利点を持っている。
【０００７】
図８に示すように、例えば、ＰＲ等化器係数が（１２２１）の場合は、ＰＲ等化器４の出力Ｐが符号干渉を持つ１、２、２、１を出力するとき、ビタビ復号はインパルスを出力するように調整される。ＰＲ等化器４は、ＦＩＲフィルタで構成され、フィルタ係数を調整することにより、ＰＲ等化器の出力が、１、２、２、１になるように調整される。
【０００８】
本明細書では、ＰＲ等化係数が（ａｂｂａ）であるＰＲ等化器を、ＰＲ（ａｂｂａ）と表わすことにする。また、ＰＲ等化係数の長さを拘束長と呼ぶ。例えば、ＰＲ（ａｂｂａ）は拘束長４のＰＲ等化、ＰＲ（ａｂｃｂａ）は拘束長５のＰＲ等化である。
【０００９】
図９に、拘束長４のＰＲ（１２２１）の理想波形の例を示す。ここで、図９の記録データ列は、マーク、スペースが周期３Ｔ毎に繰り返すパターンになっている。すなわち２値データで表現すると、記録データ列は０、０、０、１、１、１の繰り返しパターンである。このような記録データ列を本明細書では、Ｓ３Ｔ、Ｍ３Ｔ繰り返しと表現する。この記録データを再生した場合、図８におけるＰＲ等化器４の出力Ｐは、理想的には、記録データ列と、ＰＲ等化係数のコンボリューション演算結果となる。このようにして得られたＰＲ等化器の出力を、ＰＲ理想波形と呼ぶ。ＰＲＭＬでは、実際に記録された光ディスク媒体から再生したＰＲ等化器４の出力信号Ｐは、理想波形に近くなるように、ＰＲ等化器４のＦＩＲフィルタ係数の調整がなされるので、実際のＰＲ等化器の出力信号Ｐは、ＰＲ理想波形と近い波形になる。また、図９の下部に示す信号ＮＲＺＩは、ビタビ復号器の出力Ｖを表しており、図９では、元の記録データ列が、正確に再現できていることを示している。
【００１０】
光学的記録再生装置のジッタは、通常、ＰＲ等化器４の出力信号が、零クロスする点の位置座標を測定することによって行われている。記録データ列において、０と１の頻度が等しいパターンの場合、直流成分は零になるから、ＰＲ理想波形及び実際のＰＲ等化器の出力信号も、直流成分が０になるように信号を正規化する。そのとき、ＰＲ理想波形及び実際のＰＲ等化器の出力信号は、通常、マーク位置では正の値、スペース位置では負の値を持つから、零交差する。よって、交差レベルを零として、その交差レベルとＰＲ等化器の出力信号が交差した点の位置座標から、記録マーク前縁の立ち上がり位置及び記録マーク後縁の立ち下がり位置を測定し、エッジシフト長を算出することができる。
【００１１】
この方法をｍＴマークとｎＴスペースの組み合わせに対して行うことにより、全ての組み合わせのエッジシフト長を算出する。そして、エッジシフト長に応じて、記録ストラテジ調整の補正パラメータを修正することにより、最適記録のための調整がなされる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１２】
【特許文献１】国際公開０２／０８４６５３号
【特許文献２】特開２００６−１２０２０８号公報
【特許文献３】特開２００４−２１３８６２号公報
【特許文献４】特開２００３−００６８６４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
以下の分析は、本発明により与えられる。
【００１４】
図９、図１０、図１１のように、ＰＲ（１２２１）のＰＲ等化器においては、ＰＲ等化器の出力波形は、マーク位置において正の値、スペース位置において負の値を持つ波形となる。図１０において、記録データ列のマーク長は２Ｔ、図１１において、記録データ列のスペース長は２Ｔである。図１０、図１１のＰＲ理想波形は、正の部分と負の部分が非対称にはなるものの、零クロスするという条件は確保できている。
【００１５】
しかしながら、近年、高密度化の要求から、拘束長５のＰＲ等化器が多く採用されるようになってきている。例えば、高密度記録を実現しているＨＤ−ＤＶＤでは、ＰＲ（１２２２１）のＰＲ等化器が採用されている。図１３、図１４に示すように、マーク、スペースのどちらかが、最短仕様の２Ｔである場合、ＰＲ等化器４の出力波形Ｐは、零を中心にして、上下に振幅を持つ波形にならないため、交差レベルを零とした場合、交点の検出ができない。（１２２２１）以外の係数においても、拘束長が５の場合には、マーク、スペースのどちらかが、２Ｔを含む場合には、ＰＲ等化器４の出力波形Ｐは、一般に、零を中心にして上下に振幅を持つ波形にならないため、交差レベルを零とした場合、交点の検出ができない。すなわち、零クロスするという条件が成り立たなくなる場合が多くなる。
【００１６】
ここで、従来の光学的情報記録再生装置の問題点は、ＰＲ（ａｂｃｂａ）の拘束長５のＰＲ等化器において、連続するマーク、スペースのどちらかが、２Ｔを含む場合、エッジシフト長が算出できず、最適記録を行うための記録ストラテジ調整ができないというということである。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
本発明の第１の側面による光学的情報記録再生装置は、情報記録媒体にマークおよびスペースによって２値データを記録および再生する装置であって、前記情報記録媒体のデータを再生した信号を拘束長５でＰＲ等化するＰＲ等化器と、前記ＰＲ等化した信号をビタビ復号して、２値データを復元するビタビ復号器と、Ｔをチャネルクロック周期として、前記ビタビ復号器で復元した連続した前記マーク、スペースの長さがどちらも３Ｔ以上である場合は、所定の標準交差レベルを交差レベルとし、どちらかの長さが２Ｔである場合は、前記所定の標準交差レベルとは異なる２Ｔ交差レベルを交差レベルとする交差レベル選択器と、前記ＰＲ等化器の出力信号が、前記交差レベルと交差する位置に基づいて、エッジシフト長を求めるエッジシフト長算出器と、前記エッジシフト長に基づいて、前記マーク前縁の立ち上がり位置及び前記マーク後縁の立ち下がり位置を調整する記録ストラテジ調整器と、を有する。
【００１８】
本発明の第２の側面による記録ストラテジ調整方法は、情報記録媒体にマークおよびスペースによって２値データを記録および再生する光学的情報記録再生装置の記録ストラテジ調整方法であって、前記情報記録媒体からデータを再生するステップと、前記情報記録媒体からの読み出し信号を拘束長が５でＰＲ等化するステップと、前記ＰＲ等化するステップでＰＲ等化した信号を、ビタビ復号し、前記２値データを復元するステップと、Ｔをチャネルクロック周期として、復元した前記２値データから、連続するマーク、スペースの長さのどちらかが２Ｔを含むかどうかを検出するステップと、前記連続するマーク、スペースの長さがどちらも３Ｔ以上である場合には、所定の標準交差レベルを交差レベルとするステップと、前記連続するマーク、スペースの長さのどちらかが２Ｔである場合には、前記所定の標準交差レベルとは異なる２Ｔ交差レベルを前記交差レベルとするステップと、前記ＰＲ等化した信号が交差レベルと交差する位置に基づいて、エッジシフト長を算出するステップと、前記エッジシフト長に基づいて、前記マーク前縁の立ち上がり位置または前記マーク後縁の立ち下がり位置を調整するステップ、とを含む。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、以下の効果が得られる。第１の効果は、拘束長５のＰＲ等化器を用いた再生方式を用いる場合に、２Ｔを含めた記録ストラテジ調整が可能な高品質の光学的情報記録再生装置を提供することができるということである。その理由は、本発明の光学的情報記録再生装置は、連続したマーク、スペースのどちらかの長さが２Ｔを含んでいる場合であっても、所定の標準交差レベルとは異なる２Ｔ交差レベルを交差レベルとして、ＰＲ等化器の出力信号と交差する点からエッジシフト長を求めることができるようにしたから、２Ｔを含む記録ストラテジ調整が可能になるためである。
【００２０】
第２の効果は、拘束長５のＰＲ等化器を用いた再生方式において、２Ｔを含めた記録ストラテジ調整方法を提供することができるということである。その理由は、本発明の記録ストラテジ調整方法は、連続したマーク、スペースのどちらかの長さが２Ｔを含んでいる場合であっても、所定の標準交差レベルとは異なる２Ｔ交差レベルを交差レベルとして、ＰＲ等化器の出力信号と交差する点からエッジシフト長を求めることができるようにしたから、２Ｔを含む記録ストラテジ調整が可能になるためである。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明の実施例１による光学的情報記録再生装置を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施例１による光学的情報記録再生装置における記録ストラテジ調整方法を示すフローチャートである。
【図３】本発明の記録ストラテジ調整を説明するための図である。
【図４】本発明の実施例１におけるエッジシフト長算出を説明するための図である。
【図５】本発明の実施例１のエッジシフト長とＰＲＳＮＲとの関係図である。
【図６】本発明の実施例２における２Ｔ交差レベル算出のブロック図である。
【図７】本発明の実施例２におけるＰＲ理想波形生成部を説明するための図である。
【図８】ＰＲ等化及びビタビ復号を説明するための原理図である。
【図９】ＰＲ理想波形を示す図である。
【図１０】ＰＲ理想波形を示す図である。
【図１１】ＰＲ理想波形を示す図である。
【図１２】ＰＲ理想波形を示す図である。
【図１３】ＰＲ理想波形を示す図である。
【図１４】ＰＲ理想波形を示す図である。
【図１５】ＰＲ理想波形を示す図である。
【図１６】ＰＲ理想波形を示す図である。
【図１７】ＰＲ理想波形を示す図である。
【図１８】ＰＲ理想波形を示す図である。
【図１９】ＰＲ理想波形を示す図である。
【図２０】本発明の記録ストラテジ調整の補正テーブルを示す図である。
【図２１】従来の記録ストラテジ調整の補正テーブルを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
本発明の実施形態について、必要に応じて図面を参照して説明する。なお、実施形態の説明において引用する図面及び図面の符号は実施形態の一例として示すものであり、それにより本発明による実施形態のバリエーションを制限するものではない。本発明の実施形態を、図１、図２を必要に応じて参照して説明する。
【００２３】
本発明による第１の実施形態の光学的情報記録再生装置１６は、図１に示すように、情報記録媒体１にマークおよびスペースによって２値データを記録および再生する装置であって、情報記録媒体１のデータを再生した信号を拘束長５でＰＲ等化するＰＲ等化器４と、ＰＲ等化した信号をビタビ復号して、２値データを復元するビタビ復号器５と、Ｔをチャネルクロック周期として、ビタビ復号器５で復元した連続したマーク、スペースの長さがどちらも３Ｔ以上である場合は、所定の標準交差レベルを交差レベルとし、どちらかの長さが２Ｔである場合は、所定の標準交差レベルとは異なる２Ｔ交差レベルを交差レベルとする交差レベル選択器９と、ＰＲ等化器４の出力信号が、交差レベルと交差する位置に基づいて、エッジシフト長を求めるエッジシフト長算出器１１と、エッジシフト長に基づいて、マーク前縁の立ち上がり位置及びマーク後縁の立ち下がり位置を調整する記録ストラテジ調整器１４と、を有する。
【００２４】
本発明による第２の実施形態の記録ストラテジ調整方法は、図２に示すように、情報記録媒体１にマークおよびスペースによって２値データを記録および再生する光学的情報記録再生装置の記録ストラテジ調整方法であって、情報記録媒体１からデータを再生するステップＳ２０と、情報記録媒体１からの読み出し信号を拘束長が５でＰＲ等化するステップＳ２１と、ＰＲ等化するステップＳ２１でＰＲ等化した信号を、ビタビ復号し、２値データを復元するステップＳ２２と、Ｔをチャネルクロック周期として、復元した２値データから、連続するマーク、スペースの長さのどちらかが２Ｔを含むかどうかを検出するステップＳ２３と、連続するマーク、スペースの長さがどちらも３Ｔ以上である場合には、所定の標準交差レベルを交差レベルとするステップＳ２４と、連続するマーク、スペースの長さのどちらかが２Ｔである場合には、所定の標準交差レベルとは異なる２Ｔ交差レベルを交差レベルとするステップＳ２５と、ＰＲ等化した信号が交差レベルと交差する位置に基づいて、エッジシフト長を算出するステップＳ２６と、エッジシフト長に基づいて、マーク前縁の立ち上がり位置またはマーク後縁の立ち下がり位置を調整するステップＳ２７と、を含む。
【００２５】
以下、実施例について、図面を参照して詳しく説明する。
【実施例１】
【００２６】
［実施例１の構成］
図１は本発明の実施例１を示す全体ブロック図である。光ディスクなどの情報記録媒体１から光ヘッド２により再生されたＲＦ波形はＡ／Ｄ変換器３によりサンプリングされディジタル信号に変換される。ディジタル化されたＲＦ信号は、ＰＲ等化器４、ビタビ復号器５で、ＰＲＭＬ処理により、最も確からしい２値データに復号される。
【００２７】
ＰＲ等化器４におけるＰＲ等化係数は、自在に設定可能なように構成され、実施例１では、拘束長５の（１２２２１）が設定されている。また、設定されたＰＲ等化係数に応じて、図８に示すように、所望のＰＲ等化特性が得られるように、ＰＲ等化器４内部のＦＩＲフィルタ係数が調整される。
【００２８】
記録ストラテジ調整のための記録データパターンは、記録データ生成器１３により与えられ、実施例１では、２Ｔのマーク長、２Ｔのスペース長が含まれている。
【００２９】
ビタビ復号された２値データは、２Ｔ検出器６及び３Ｔ以上検出器７に与えられる。まず、２Ｔ検出器６ではビタビ復号された２値データの長さが２Ｔと一致しているかを検出する。３Ｔ以上Ｔ長検出器７では２値データが３Ｔ以上の場合のデータ長を検出する。遅延器８は、ＰＲ等化器４出力を、ビタビ復号器５、２Ｔ検出器６、３Ｔ以上Ｔ長検出器７での演算、検出処理に要する時間分の保持を行っている。交差レベル選択器９では、連続するマーク及びスペースの組み合わせにおいて、２Ｔ検出器６によりどちらかの長さが２Ｔである場合は２Ｔ交差レベルを、両方とも３Ｔ以上である場合は標準交差レベルを、交差レベルとして選択する。その選択値は交差レベル前後点検出器１０での交差レベルになり、遅延器８出力の等化波形が交差レベルを交差する際の前後点を検出する。エッジシフト長算出器１１では、その交差レベル前後点を用いてエッジシフト長を算出する。
【００３０】
ｍＴｎＴ組み合わせ毎の統計処理器１２では、２Ｔ検出器６、３Ｔ以上Ｔ長検出器７の結果を基に、マーク及びスペースのｍＴからｎＴへの遷移の組み合わせを判別し、その際のエッジシフト長を得る。そして、ｍＴｎＴ組み合わせ毎にエッジシフト長を統計処理し、それを記録ストラテジ調整器１４へ反映して、記録データ生成器１３からの記録データに対し記録用の位相調整を行い、光ヘッド２を経由して光ディスクなどの情報記録媒体１への記録を行う。
【００３１】
［実施例１の動作］
図２は、実施例１の記録ストラテジ調整の動作を示すフローチャートである。ステップＳ２０のデータ再生で光ディスクからデータを再生し、ステップＳ２１のＰＲ等化処理で再生データをＰＲ等化処理し、ステップＳ２２のビタビ復号で、ＰＲ等化の出力信号をビタビ復号する。そして、ステップＳ２３において、連続するマーク、スペースのどちらかが２Ｔを含む組み合わせかどうか判別し、Ｙｅｓと判定した場合は、ステップＳ２５で、２Ｔ交差レベルを交差レベルとして選択し、Ｎｏと判定した場合には、ステップＳ２４で、標準交差レベルを交差レベルとして選択する。ステップＳ２４、Ｓ２５の後、ステップＳ２６で、交差レベルが、ＰＲ等化波形を交差する前後点に基づいてエッジシフト長を算出する。ステップＳ２６で使用するＰＲ等化波形は、ステップＳ２１で得られたＰＲ等化の出力信号を使用する。ステップＳ２７において、ステップＳ２６で得られたエッジシフト長に基づいて、マークの立ち上がり位置／立下り位置の調整を行う。以上により、最適品質の記録を行う。
【００３２】
次に、実施例１において、ＰＲ（１２２２１）の拘束長５のＰＲ等化器において、２Ｔを含むＰＲ等化器の出力信号Ｐのエッジシフト長の算出方法について、より詳細に説明する。図１３は、ＰＲ（１２２２１）のＳ３Ｔ、Ｍ２Ｔ繰り返しデータ列に対するＰＲ等化器の理想波形であり、マークに２Ｔ長を含んだ場合である。また、図１４は、ＰＲ（１２２２１）のＳ２Ｔ、Ｍ３Ｔ繰り返しデータ列に対するＰＲ等化器の理想波形であり、スペースに２Ｔ長を含んだ場合である。図１３、図１４のどちらの波形も、零に接していはいるが、交差はしていないため、交差する位置を算出することができない。
【００３３】
従って、本発明では、交差レベルを、マーク長、スペース長の両方が３Ｔ以上の場合には、標準交差レベルを交差レベルとし、マーク長、スペース長のどちらかが２Ｔの場合には、標準交差レベルとは異なる２Ｔ交差レベルを交差レベルとする。ここで、標準交差レベルとしては、零を用いる。特に、０、１の頻度が等しい記録データ列に対して、ＰＲ等化器の出力信号のＤＣ成分が０になるように正規化されている場合には、マーク長、スペース長の両方が３Ｔ以上のＰＲ等化波形は０を中心に上下に振幅を持つので、標準交差レベルを零にすることが望ましい。但し、それに限定されず、マーク長、スペース長の両方が３Ｔ以上のＰＲ等化波形に対して交差する条件を満たす値であればよい。
【００３４】
一方、２Ｔ交差レベルは、例えば、マーク長に２Ｔを含む図１３の場合には、点Ｅと点Ｆの中間、点Ｇと点Ｈの中間である−０．１２５にし、スペース長に２Ｔを含む図１４の場合には、点Ｅ’と点Ｆ’の中間、点Ｇ’と点Ｈ’の中間である０．１２５に設定すると交差する。ここで、２Ｔ交差レベルは、マーク長に２Ｔを含む場合と、スペース長に２Ｔを含む場合では、別の値を設定することが必要になる。
【００３５】
また、２Ｔを含むＰＲ等化波形は、ＰＲ等化係数に依存して変化するので、２Ｔ交差は、設定されているＰＲ等化係数に応じて、設定することが望ましい。例えば、図１５は、ＰＲ（２３３３２）のＳ３Ｔ、Ｍ２Ｔ繰り返しデータ列に対するＰＲ等化器の理想波形であるが、この場合、点Ｉと点Ｊの中間、点Ｋと点Ｌの中間に２Ｔ交差レベルを設定することが望ましい。その場合、最適な２Ｔ交差レベルは、図１３における最適な２Ｔ交差レベル−０．１２５とは異なる値になる。
【００３６】
以上、纏めると、交差レベルとして、標準交差レベル、マーク長に２Ｔを含む場合の２Ｔ交差レベル、スペース長に２Ｔを含む場合の２Ｔ交差レベルの３つを設定することになる。図１の交差選択器には、これらの３つの値が設定されており、２Ｔ検出器６の結果に応じて、交差レベルを切り替えるようにしている。また、図２のフローチャートのステップＳ２５をより詳細に説明すると、マークが２Ｔを含む場合には、マーク長に２Ｔを含む場合の２Ｔ交差レベル、スペースが２Ｔを含む場合には、スペース長に２Ｔを含む場合の２Ｔ交差レベルを選択することになる。
【００３７】
また、ＰＲ等化係数毎の２Ｔ交差レベルは、ＰＲ理想波形に基づいて、予め求めて、交差レベル選択器９に格納しておき、設定したＰＲ等化係数に応じて、参照して使用する。
【００３８】
次に、交差レベル前後点検出器１０が、交差レベル選択器９によって選択された交差レベルに基づいて、ＰＲ等化出力信号と交差レベルが交差する位置の前後点を検出する。図１２において、立ち上がりエッジにおける前後点は、点Ａと点Ｂであり、立ち下がりエッジにおける前後点は、点Ｃと点Ｄである。また、図１３において、立ち上がりエッジにおける前後点は、点Ｅと点Ｆであり、立ち下がりエッジにおける前後点は、点Ｇと点Ｈである。また、図１４において、立ち上がりエッジにおける前後点は、点Ｅ’と点Ｆ'であり、立ち下がりエッジにおける前後点は、点Ｇ’と点Ｈ’である。
【００３９】
次に、エッジシフト長算出器１１で行われるエッジシフト長の算出について説明する。図４は、図１２における点Ａと点Ｂの部分を拡大した図である。図４の下部には、対応する記録されたマーク位置を示している。ここで、記録されたマークが適正位置にある場合を実線で示し、適正位置から左方向にシフトした場合を破線で示し、適正位置から右方向にシフトした場合を一点鎖線で示す。また、適正位置から左にシフトした場合のＰＲ等化波形は、破線で示す線分Ａ’Ｂ’になり、適正位置から右にシフトした場合のＰＲ等化波形は、一点鎖線Ａ”Ｂ”になる。
【００４０】
エッジシフト長の算出には、幾つかの方法がある。第１の方法は、ＰＲ等化波形と交差レベルとの交点の座標を算出することである。点Ａの座標を（ＸＡ、ＹＡ）、点Ｂの座標を（ＸＡ＋ΔＸ、ＹＢ）、点Ａ’の座標を（ＸＡ、ＹＡ’）、点Ｂ’の座標を（ＸＡ＋ΔＸ、ＹＢ’）、点Ａ”の座標を（ＸＡ、ＹＡ”）、点Ｂ”の座標を（ＸＡ＋ΔＸ、ＹＢ”）、線分ＡＢが、交差レベルと交差する点を（ＸＰ、０）、線分Ａ’Ｂ’が交差レベルと交差する点を（ＸＰ’、０）、線分Ａ”Ｂ”が交差レベルと交差する点を（ＸＰ”、０）とすると、まず、線分ＡＢ、Ａ’Ｂ’、Ａ”Ｂ”の傾きは、各々、式（１）、式（２）、式（３）となる。
ｍ＝（ＹＢ−ＹＡ）／ΔＸ 式（１）
ｍ’＝（ＹＢ’−ＹＡ’）／ΔＸ 式（２）
ｍ”＝（ＹＢ”−ＹＡ”）／ΔＸ 式（３）
線分ＡＢ、Ａ’Ｂ’、Ａ”Ｂ”が交差レベルと交差する位置の座標は、各々、式（４）、式（５）、式（６）となる。
ＸＰ ＝ ＸＡ＋ΔＸ／２ 式（４）
ＸＰ’＝ ＸＡ−ＹＡ’／ｍ’ 式（５）
ＸＰ”＝ ＸＡ−ＹＡ”／ｍ” 式（６）
ＸＰを基準としたＸＰ’のエッジシフト長は、式（７）、ＸＰを基準としたＸＰ”のエッジシフト長は、式（８）となる。
ＥＳ１’＝ ＸＰ’ − ＸＰ 式（７）
ＥＳ１”＝ ＸＰ” − ＸＰ 式（８）
式（７）に、式（４）、式（５）を代入して、式（９）が得られる。また、式（８）に式（４）、式（６）を代入して、式（１０）が得られる。
ＥＳ１’＝ −１／２（（ＹＡ’＋ＹＢ’）／（ＹＢ’−ＹＡ’））
式（９）
ＥＳ１”＝ −１／２（（ＹＡ”＋ＹＢ”）／（ＹＢ”−ＹＡ”））
式（１０）
式（９）、式（１０）は、ＰＲ等化器の出力信号と交差レベルが交差する前後のＰＲ等化器の出力信号から、ＰＲ等化器の出力信号と交差レベルの交点を算出し、ＰＲ等化器の理想波形と交差レベルとの交点の差分により算出したエッジシフト長を表している。ここで、図４から、ＹＡ’＋ＹＢ’＞０、ＹＡ”＋ＹＢ”＜０となるので、ＥＳ１’＜０、ＥＳ１”＞０となる。換言すると、ＰＲ等化波形が、適正位置よりも振幅軸上で上にある場合、立ち上がりエッジは左にシフトし、エッジシフト長は負値となり、ＰＲ等化波形が、適正位置よりも振幅軸上で下にある場合、立ち上がりエッジは右にシフトし、エッジシフト長は正値となる。
【００４１】
図４において、交差レベルが標準交差レベルの零の場合について説明したが、交差レベルが２Ｔ交差レベルの場合は、まず、点Ａ、点Ｂ、点Ａ’、点Ｂ’、点Ａ”、点Ｂ”のＹ座標から、交差レベルの値を差し引く。その後、同様に、式（９）、式（１０）を用いて、エッジシフト長の算出を行えばよい。
【００４２】
次に、エッジシフト長の第２の算出方法について、同様に図４を参照し、説明する。第２のエッジシフト長は、式（１１）、式（１２）、式（１３）で定義される。
ＥＳ２ ＝ ＹＢ／（ＹＢ−ＹＡ） 式（１１）
ＥＳ２’ ＝ ＹＢ’／（ＹＢ’−ＹＡ’） 式（１２）
ＥＳ２” ＝ ＹＢ”／（ＹＢ”−ＹＡ”） 式（１３）
ここで、図４における各点のＹ座標をＹＡ＝−０．２５、ＹＢ＝０．２５、ＹＡ’＝−０．２０、ＹＢ’＝０．３０、ＹＡ”＝−０．３０、ＹＢ”＝０．２０として代入すると、ＥＳ２＝０．５、ＥＳ２’＝０．６、ＥＳ２”＝０．４が得られる。適正位置に対して、立ち上がりエッジが左にシフトしている場合は、適正位置よりもエッジシフト長は大きな値となり、適正位置に対して、立ち上がりエッジが右にシフトしている場合は、適正位置よりもエッジシフト長は小さな値となる。図４において、交差レベルは零であるが、２Ｔ交差レベルの場合には、予め、各点のＹ座標から、２Ｔ交差レベルの値を差し引いた後、式（１１）、式（１２）、式（１３）による演算を行えばよい。
【００４３】
次に、エッジシフト長の第３の算出方法について、同様に図４を参照し、説明する。第３のエッジシフト長は、式（１４）、式（１５）で表される。
ＥＳ３’ ＝ （ＹＡ’＋ＹＢ’）−（ＹＡ＋ＹＢ） 式（１４）
ＥＳ３” ＝ （ＹＡ”＋ＹＢ”）−（ＹＡ＋ＹＢ） 式（１５）
式（１４）、式（１５）は、ＰＲ等化器の出力信号と交差レベルが交差する前後のＰＲ等化器の出力信号の加算値と、ＰＲ等化器の理想波形と交差レベルが交差する前後のＰＲ等化器の理想波形の加算値の差分により、エッジシフト長を算出している。式（１４）、式（１５）に図４における各点のＹ座標を代入すると、ＥＳ３’＝０．１、ＥＳ３”＝−０．１となる。このエッジシフト長は、立ち上がりエッジが左にシフトしている場合は、負値となり、立ち上がりエッジが右にシフトしている場合は正値となる。図４は、交差レベルが、零であるが、２Ｔ交差レベルの場合でも、式（１４）、式（１５）は、そのまま適用可能である。
【００４４】
以上、３通りのエッジシフト長について、図４の立ち上がりエッジについて考察したが、立ち下がりエッジに関しても同様な算出方法が適用可能である。
【００４５】
次に、図１２、図１３、図１４、図１５以外のＰＲ等化係数、記録データ列に対するＰＲ理想波形の例を、図１６、図１７、図１８、図１９に示す。
【００４６】
図１６にＰＲ（１２３２１）のＳ３Ｔ、Ｍ２Ｔ繰り返し理想波形を示す。この場合、マーク２Ｔは零を超えた正値の振幅を持つが、交差レベルを標準交差レベルの零とすると、理想波形の交差前後点は上下対称位置ではないので、ＰＲ１２２２１、ＰＲ２３３３２と同様、理想信号値の中点、或いは、それに近い値の方が適切である。よって、２Ｔを含むマーク及びスペースの組み合わせが検出された際は、ＰＲ（１２３２１）に対し最適な２Ｔ交差レベルを交差レベルとすることが望ましい。
【００４７】
図１７にＰＲ（１２２２１）の３Ｔ、２Ｔ、２Ｔ繰り返し理想波形を示す。ＰＲ（１２２２１）ではＭ２Ｔ、Ｓ２ＴあるいはＳ２Ｔ、Ｍ２Ｔのように、２Ｔが連続すると、マーク、スペース共その振幅値は零となり、振幅を持たず差もないことになる。３Ｔと２Ｔの組み合わせ、２Ｔと３Ｔの組み合わせにおいて２Ｔ交差レベルを用いることで交差前後点を検出できたが、２Ｔと２Ｔの組み合わせでは交差前後点を検出できず、エッジシフト長を検出できない。よって、この場合には、調整できないことになる。
【００４８】
図１８に、ＰＲ（２３３３２）の３Ｔ、２Ｔ、２Ｔ繰り返し理想波形を示す。この場合、２Ｔが２つ連続すると、ＰＲ（１２２２１）とは異なり、マーク、スペースで異なった振幅を示す。しかし、３Ｔ以上の振幅とは異なり、本来期待する極性の振幅量は持てていないが、この場合は２Ｔ交差レベルを零とすればエッジシフト長は算出することはできる。このようにＰＲ（１２２２１）とＰＲ（２３３３２）では２Ｔと２Ｔの組み合わせ時の扱いが異なるが、これはＰＲクラスで決まることなので、用いるＰＲ等化係数に応じて２Ｔと２Ｔの組み合わせ時の扱いをどうするか規定すれば良い。
【００４９】
図１９に、２Ｔを含む、２Ｔを含まない組み合わせでの実際の交差レベル選択動作例を示す。（１）のスペース３Ｔとマーク３Ｔの組み合わせ、（２）のマーク３Ｔとスペース３Ｔの組み合わせでは２Ｔを含まないので標準交差レベルの零を交差レベルとし、その前後点からそれぞれのエッジシフト長を求める。（３）のスペース３Ｔとマーク２Ｔの組み合わせ、（４）のマーク２Ｔとスペース３Ｔの組み合わせでは２Ｔを含むので２Ｔ交差レベルを交差レベルとし、その前後点からそれぞれのエッジシフト長を求める。尚、マーク２Ｔの場合は、２Ｔ交差レベルはマイナス値になる。（５）のスペース３Ｔとマーク３Ｔの組み合わせでは２Ｔを含まないでの標準交差レベルの零を交差レベルとし、その前後点からエッジシフト長を求める。（６）のマーク３Ｔとスペース２Ｔの組み合わせ、（７）のスペース２Ｔとマーク３Ｔの組み合わせでは２Ｔを含むので２Ｔ交差レベルを交差レベルとし、その前後点からそれぞれのエッジシフト長を求める。尚、スペース２Ｔの場合は、２Ｔ交差レベルはプラス値になる。このように２Ｔを含んだ組み合わせかどうかにより、交差レベルを適宜切り替えることにより、その前後点からエッジシフト長を求めることができる。
【００５０】
このようにして得られたエッジシフト長をマーク及びスペースのｍＴとｎＴの組み合わせ毎に分類し、統計処理を行う。すなわち、記録データ生成器１３で、マーク及びスペースのｍＴとｎＴの組み合わせからなる記録データ列によって記録と再生を何回か繰り返し、得られたエッジシフト長のデータを保存しておき、マーク及びスペースのｍＴとｎＴの組み合わせ毎に、平均、分散値などを求める。ここで、分散値は、エッジシフト長のばらつきを評価するための評価値として用いられる。また、エッジシフト長の平均をストラテジ調整に使用するが、全データの平均長を用いてもよいし、長さ情報が得られるものならよく、種々の統計処理方法が考えられる。
【００５１】
次に、記録ストラテジ調整器１３について、説明する。図３は、記録ストラテジ調整を説明するための図である。図３は、特許文献４の図２２を引用している。光ヘッド２における記録パルスは、図３の（ｂ）のように、マルチパルスからなっている。ここで、ファーストパルス幅及びラストパルス幅が調整可能に構成されている。マーク前縁の立ち上がり位置は、ファーストパルス幅で調整される。例えば、ファーストパルス幅を広くすると、マーク前縁の立ち上がり位置は、左にシフトし、ファーストパルス幅を狭くすると、マーク前縁の立ち上がり位置は、右にシフトする。一方、マーク後縁の立ち下がり位置は、ラストパルス幅で調整される。例えば、ラストパルス幅を広くすると、マーク後縁の立ち下がり位置は、右にシフトし、ラストトパルス幅を狭くすると、マーク後縁の立ち下がり位置は、左にシフトする。
【００５２】
記録ストラテジ調整器１３において、ｍＴｎＴ組み合わせ毎の統計処理器１２で得られたエッジシフト長に基づいて、ｍＴｎＴ組み合わせ毎のマーク前縁の立ち上がり位置、マーク後縁の立ち下がり位置を適正にするためのファーストパルス幅と、ラストパルス幅の補正量を求め、図２０に示す補正テーブルを更新する。図２０の（ａ）は、マーク前縁の立ち上がり位置を調整するためのファーストパルスの補正量テーブルであり、図２０の（ｂ）は、マーク後縁の立ち下がり位置を調整するためのラストパルスの補正量テーブルである。実施例１では、連続するマーク、スペースのうちのどちらかが、２Ｔの場合の記録ストラテジ調整が可能になったので、２Ｔの行と列が、加わっている。連続するマーク、スペースの両方が２Ｔの場合には、ＰＲ出力波形において、交差点を算出するためのコントラストは得られないので、エッジシフト長を算出できないため、テーブルに斜線を引いて除外してある。但し、記録データ列とＰＲ等化係数によっては、図１８のように、２Ｔ２Ｔの組み合わせでも検出できる場合もあり、その場合は、補正テーブルの２Ｔ２Ｔ組み合わせに補正データを入れるようにしてもよい。一方、図２１は、従来の記録ストラテジ調整の補正テーブルである。従来技術の補正テーブルである図２１では、ＰＲ（ａｂｃｂａ）の拘束長５の場合、２Ｔを含むエッジシフト長の算出はできないので、２Ｔの行、列は補正テーブルには含まれていない。ここで、図２１は、特許文献４の図２３を引用している。以上のようにして、実施例１では、ＰＲ（ａｂｃｂａ）の拘束長５のＰＲ等化器を使用した場合で、連続するマーク、スペースのうち、どちらかが２Ｔ長であった場合においても、記録ストラテジ調整が可能になり、最適記録が可能な光学的情報記録再生装置を実現することができる。
【００５３】
次に、エッジシフト長と信号品質の関係について、以下に説明する。エッジシフトを発生させるために、意図的にＳ３Ｔ、Ｓ２Ｔの組み合わせ発生時に、Ｎ点のＰＲ波形の振幅データにある値を加減算する。そのＰＲ波形データに対して、２Ｔ交差レベルを−０．１２５として得られたエッジシフト長とＰＲＳＮＲとの関係を、図５に示す。ＰＲＳＮＲは、ＰＲＭＬ用の信号評価指数であり、詳細は特許文献３に示されている。ここで、Ｎ点の振幅に対して−３α、−２α、−α、０、α、２α、３αの加算を行っている。図５はその際に得られたマーク２Ｔのリーディングエッジシフト長とＰＲＳＮＲである。ここで、リーディングエッジとは、立ち上がりエッジを意味する。また、エッジシフト長は、式（１４）、式（１５）で示した第３の方法を用いており、エッジシフト長は、加減算した振幅に比例して大きくなる。図５によると、マーク２Ｔのリーディングエッジシフト長に応じてＰＲＳＮＲが山なりの波形を描いている。ＰＲＳＮＲは値が高いほど信号品質が良いことを示しており、マーク２Ｔリーディングエッジシフト長が適切であれば記録信号品質を良くすることができる。従って、エッジシフト長を算出した結果に基づいて、エッジシフト長が理想より少なければ増やす方向へ記録ストラテジを適量だけ調整し、理想より多ければ減らす方向へ記録ストラテジを適量だけ調整することで、記録信号品質を良くすることができることを示している。
【実施例２】
【００５４】
次に、実施例２について説明する。実施例２は、図１の実施例１に対して、さらに、図６のＰＲ理想波形生成部２０、２Ｔ交差レベル算出部２１を含んだ構成になっている。ここで、ＰＲ理想波形生成部２０は、記録データ生成器１３で生成された記録データ列とＰＲ等化係数に基づいて、ＰＲ理想波形を出力する。図７に、ＰＲ理想波形生成部２０が行う処理内容を示す。図７は、記録データ列が、Ｓ３Ｔ、Ｍ３Ｔ繰り返しで、ＰＲ等化係数が１２２１の場合を示している。図７に示すように、記録データ列とＰＲ等化係数のコンボリューション演算を行うことにより、ＰＲ理想波形（正規化前）のデータが得られる。次に、ＰＲ理想波形の正規化ｙ＝ａｘ＋ｂを行い、ＰＲ理想波形（正規化後）を得る。本明細書の図９〜図１９のＰＲ理想波形の算出は、図７に示した方法で算出したものである。
【００５５】
その後、２Ｔ交差レベル算出部２１は、例えば、ＰＲ(１２２２１）の場合には、図１３のＰＲ理想波形から、最適な２Ｔ交差レベルを自動的に算出する。例えば、図１３の場合、２Ｔマークにおける点Ｆ、点Ｇを求め、次に、各々が隣接する点Ｅ、点Ｈを求め、点Ｅと点Ｆの中点、あるいは、点Ｇと点Ｈの中点から２Ｔ交差レベルを算出するようにすればよい。このようにして２Ｔ交差レベル算出部２１で算出された２つの交差レベルである２Ｔがマークの交差レベル、２Ｔがスペースの交差レベルを、交差レベル選択器９に供給する。実施例２では、予め、最適な２Ｔ交差レベルが得られていないＰＲ等化係数などに対しても、自動的に最適な２Ｔ交差レベルを算出し、設定可能であるという利点が得られる。
【産業上の利用可能性】
【００５６】
本発明は、高密度、大容量の光学的記録媒体を用いた記録再生装置に用いられる。
【００５７】
なお、本発明の全開示（請求の範囲を含む）の枠内において、さらにその基本的技術思想に基づいて、実施形態ないし実施例の変更・調整が可能である。また、本発明の請求の範囲の枠内において種々の開示要素の多様な組み合わせないし選択が可能である。すなわち、本発明は、請求の範囲を含む全開示、技術的思想にしたがって当業者であればなし得るであろう各種変形、修正を含むことは勿論である。
【符号の説明】
【００５８】
１ 情報記録媒体
２ 光ヘッド
３ Ａ／Ｄ変換器
４ ＰＲ等化器
５ ビタビ復号器
６ ２Ｔ検出器
７ ３Ｔ以上Ｔ長検出器
８ 遅延器
９ 交差レベル選択器
１０ 交差レベル前後点検出器
１１ エッジシフト長算出器
１２ ｍＴｎＴ組み合わせ毎の統計処理器
１３ 記録データ生成器
１４ 記録ストラテジ調整器
１５ Ｔ長検出器
１６、１７ 光学的情報記録再生装置
１８ ＰＲＳＮＲ
１９ マーク２Ｔリーディングエッジシフト長
２０ ＰＲ理想波形生成部
２１ ２Ｔ交差レベル算出部
【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報記録媒体にマークおよびスペースによって２値データを記録および再生する装置であって、
前記情報記録媒体のデータを再生した信号を拘束長５でＰＲ等化するＰＲ等化器と、
前記ＰＲ等化した信号をビタビ復号して、２値データを復元するビタビ復号器と、
Ｔをチャネルクロック周期として、前記ビタビ復号器で復元した連続した前記マーク、スペースの長さがどちらも３Ｔ以上である場合は、所定の標準交差レベルを交差レベルとし、どちらかの長さが２Ｔである場合は、前記所定の標準交差レベルとは異なる２Ｔ交差レベルを交差レベルとする交差レベル選択器と、
前記ＰＲ等化器の出力信号が、前記交差レベルと交差する位置に基づいて、エッジシフト長を求めるエッジシフト長算出器と、
前記エッジシフト長に基づいて、前記マーク前縁の立ち上がり位置及び前記マーク後縁の立ち下がり位置を調整する記録ストラテジ調整器と、を有することを特徴とする光学的情報記録再生装置。
【請求項２】
前記２Ｔ交差レベルは、前記連続したマーク、スペースのうち、マークの長さが２Ｔの場合とスペースの長さが２Ｔの場合とで、異なる値を設定することを特徴とする請求項１に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項３】
前記２Ｔ交差レベルは、前記ＰＲ等化器の理想波形と交差することが可能な条件に基づいて設定することを特徴とする請求項１または２に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項４】
前記エッジシフト長算出器において、前記ＰＲ等化器の出力信号と前記交差レベルが交差する位置の前後の前記ＰＲ等化器の出力信号から、前記エッジシフト長を算出することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項５】
前記エッジシフト長算出器において、前記ＰＲ等化器の出力信号と前記交差レベルが交差する位置の前後の前記ＰＲ等化器の出力信号から、前記ＰＲ等化器の出力信号と前記交差レベルの交点を算出し、前記ＰＲ等化器の出力信号と前記交差レベルの交点と、前記ＰＲ等化器の理想波形と前記交差レベルの交点との差分により、前記エッジシフト長を算出することを特徴とする請求項４に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項６】
前記エッジシフト長算出器において、前記ＰＲ等化器の出力信号と前記交差レベルが交差する位置の前後の前記ＰＲ等化器の出力信号を加算して第１の加算値を得て、
前記ＰＲ等化器の理想波形と前記交差レベルが交差する位置の前後の前記ＰＲ等化器の理想波形の信号を加算して第２の加算値を得て、
前記第１の加算値と前記第２の加算値との差分により、前記エッジシフト長を算出することを特徴とする請求項４に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項７】
前記エッジシフト長算出器で算出された前記エッジシフト長に対し、マーク長とスペース長の組み合わせ毎に平均、分散の統計処理を行うことにより前記記録ストラテジ調整器で用いるエッジシフト長を算出することを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項８】
情報記録媒体にマークおよびスペースによって２値データを記録および再生する光学的情報記録再生装置の記録ストラテジ調整方法であって、
前記情報記録媒体からデータを再生するステップと、
前記情報記録媒体からの読み出し信号を拘束長が５でＰＲ等化するステップと、
前記ＰＲ等化するステップでＰＲ等化した信号を、ビタビ復号し、前記２値データを復元するステップと、
Ｔをチャネルクロック周期として、復元した前記２値データから、連続するマーク、スペースの長さのどちらかが２Ｔを含むかどうかを検出するステップと、
前記連続するマーク、スペースの長さがどちらも３Ｔ以上である場合には、所定の標準交差レベルを交差レベルとするステップと、
前記連続するマーク、スペースの長さのどちらかが２Ｔである場合には、前記所定の標準交差レベルとは異なる２Ｔ交差レベルを前記交差レベルとするステップと、
前記ＰＲ等化した信号が交差レベルと交差する位置に基づいて、エッジシフト長を算出するステップと、
前記エッジシフト長に基づいて、前記マーク前縁の立ち上がり位置または前記マーク後縁の立ち下がり位置を調整するステップと、
を含むことを特徴とする記録ストラテジ調整方法。
【請求項９】
前記交差レベル選択器が選択する２Ｔ交差レベルは、前記連続したマーク、スペースのうち、マークの長さが２Ｔの場合とスペースの長さが２Ｔの場合とで、異なる値を設定することを特徴とする請求項８に記載の記録ストラテジ調整方法。
【請求項１０】
前記２Ｔ交差レベルは、前記ＰＲ等化の理想波形と交差することが可能な条件に基づいて設定することを特徴とする請求項８または９に記載の記録ストラテジ調整方法。
【請求項１１】
前記エッジシフト長を算出するステップは、前記ＰＲ等化した信号と前記交差レベルが交差する位置の前後の前記ＰＲ等化した信号から前記エッジシフト長を算出することを特徴とする請求項８乃至１０のいずれか１項に記載の記録ストラテジ調整方法。
【請求項１２】
前記エッジシフト長を算出するステップは、前記ＰＲ等化した信号と前記交差レベルが交差する位置の前後の前記ＰＲ等化した信号から、前記ＰＲ等化した信号と前記交差レベルとの交点を算出し、前記ＰＲ等化の理想波形と前記交差レベルの交点との差分により、前記エッジシフト長を算出することを特徴とする請求項１１に記載の記録ストラテジ調整方法。
【請求項１３】
前記エッジシフト長を算出するステップは、前記ＰＲ等化した信号と前記交差レベルが交差する位置の前後の前記ＰＲ等化した信号を加算して第１の加算値を得て、
前記ＰＲ等化の理想波形と前記交差レベルが交差する位置の前後の前記ＰＲ等化の理想波形の信号を加算して第２の加算値を得て、
第１の加算値と第２の加算値との差分により、前記エッジシフト長を算出することを特徴とする請求項１１に記載の記録ストラテジ調整方法。
【請求項１４】
前記エッジシフト長を算出するステップで算出されたエッジシフト長に対し、マーク長とスペース長の組み合わせ毎に平均、分散などの統計処理を行うことにより前記マーク前縁の立ち上がり位置または前記マーク後縁の立ち下がり位置を調整するステップで用いるエッジシフト長を算出することを特徴とする請求項８乃至１３のいずれか１項に記載の記録ストラテジ調整方法。
【請求項１】
情報記録媒体にマークおよびスペースによって２値データを記録および再生する装置であって、
前記情報記録媒体のデータを再生した信号を拘束長５でＰＲ等化するＰＲ等化器と、
前記ＰＲ等化した信号をビタビ復号して、２値データを復元するビタビ復号器と、
Ｔをチャネルクロック周期として、前記ビタビ復号器で復元した連続した前記マーク、スペースの長さがどちらも３Ｔ以上である場合は、所定の標準交差レベルを交差レベルとし、どちらかの長さが２Ｔである場合は、前記所定の標準交差レベルとは異なる２Ｔ交差レベルを交差レベルとする交差レベル選択器と、
前記ＰＲ等化器の出力信号が、前記交差レベルと交差する位置に基づいて、エッジシフト長を求めるエッジシフト長算出器と、
前記エッジシフト長に基づいて、前記マーク前縁の立ち上がり位置及び前記マーク後縁の立ち下がり位置を調整する記録ストラテジ調整器と、を有することを特徴とする光学的情報記録再生装置。
【請求項２】
前記２Ｔ交差レベルは、前記連続したマーク、スペースのうち、マークの長さが２Ｔの場合とスペースの長さが２Ｔの場合とで、異なる値を設定することを特徴とする請求項１に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項３】
前記２Ｔ交差レベルは、前記ＰＲ等化器の理想波形と交差することが可能な条件に基づいて設定することを特徴とする請求項１または２に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項４】
前記エッジシフト長算出器において、前記ＰＲ等化器の出力信号と前記交差レベルが交差する位置の前後の前記ＰＲ等化器の出力信号から、前記エッジシフト長を算出することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項５】
前記エッジシフト長算出器において、前記ＰＲ等化器の出力信号と前記交差レベルが交差する位置の前後の前記ＰＲ等化器の出力信号から、前記ＰＲ等化器の出力信号と前記交差レベルの交点を算出し、前記ＰＲ等化器の出力信号と前記交差レベルの交点と、前記ＰＲ等化器の理想波形と前記交差レベルの交点との差分により、前記エッジシフト長を算出することを特徴とする請求項４に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項６】
前記エッジシフト長算出器において、前記ＰＲ等化器の出力信号と前記交差レベルが交差する位置の前後の前記ＰＲ等化器の出力信号を加算して第１の加算値を得て、
前記ＰＲ等化器の理想波形と前記交差レベルが交差する位置の前後の前記ＰＲ等化器の理想波形の信号を加算して第２の加算値を得て、
前記第１の加算値と前記第２の加算値との差分により、前記エッジシフト長を算出することを特徴とする請求項４に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項７】
前記エッジシフト長算出器で算出された前記エッジシフト長に対し、マーク長とスペース長の組み合わせ毎に平均、分散の統計処理を行うことにより前記記録ストラテジ調整器で用いるエッジシフト長を算出することを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項８】
情報記録媒体にマークおよびスペースによって２値データを記録および再生する光学的情報記録再生装置の記録ストラテジ調整方法であって、
前記情報記録媒体からデータを再生するステップと、
前記情報記録媒体からの読み出し信号を拘束長が５でＰＲ等化するステップと、
前記ＰＲ等化するステップでＰＲ等化した信号を、ビタビ復号し、前記２値データを復元するステップと、
Ｔをチャネルクロック周期として、復元した前記２値データから、連続するマーク、スペースの長さのどちらかが２Ｔを含むかどうかを検出するステップと、
前記連続するマーク、スペースの長さがどちらも３Ｔ以上である場合には、所定の標準交差レベルを交差レベルとするステップと、
前記連続するマーク、スペースの長さのどちらかが２Ｔである場合には、前記所定の標準交差レベルとは異なる２Ｔ交差レベルを前記交差レベルとするステップと、
前記ＰＲ等化した信号が交差レベルと交差する位置に基づいて、エッジシフト長を算出するステップと、
前記エッジシフト長に基づいて、前記マーク前縁の立ち上がり位置または前記マーク後縁の立ち下がり位置を調整するステップと、
を含むことを特徴とする記録ストラテジ調整方法。
【請求項９】
前記交差レベル選択器が選択する２Ｔ交差レベルは、前記連続したマーク、スペースのうち、マークの長さが２Ｔの場合とスペースの長さが２Ｔの場合とで、異なる値を設定することを特徴とする請求項８に記載の記録ストラテジ調整方法。
【請求項１０】
前記２Ｔ交差レベルは、前記ＰＲ等化の理想波形と交差することが可能な条件に基づいて設定することを特徴とする請求項８または９に記載の記録ストラテジ調整方法。
【請求項１１】
前記エッジシフト長を算出するステップは、前記ＰＲ等化した信号と前記交差レベルが交差する位置の前後の前記ＰＲ等化した信号から前記エッジシフト長を算出することを特徴とする請求項８乃至１０のいずれか１項に記載の記録ストラテジ調整方法。
【請求項１２】
前記エッジシフト長を算出するステップは、前記ＰＲ等化した信号と前記交差レベルが交差する位置の前後の前記ＰＲ等化した信号から、前記ＰＲ等化した信号と前記交差レベルとの交点を算出し、前記ＰＲ等化の理想波形と前記交差レベルの交点との差分により、前記エッジシフト長を算出することを特徴とする請求項１１に記載の記録ストラテジ調整方法。
【請求項１３】
前記エッジシフト長を算出するステップは、前記ＰＲ等化した信号と前記交差レベルが交差する位置の前後の前記ＰＲ等化した信号を加算して第１の加算値を得て、
前記ＰＲ等化の理想波形と前記交差レベルが交差する位置の前後の前記ＰＲ等化の理想波形の信号を加算して第２の加算値を得て、
第１の加算値と第２の加算値との差分により、前記エッジシフト長を算出することを特徴とする請求項１１に記載の記録ストラテジ調整方法。
【請求項１４】
前記エッジシフト長を算出するステップで算出されたエッジシフト長に対し、マーク長とスペース長の組み合わせ毎に平均、分散などの統計処理を行うことにより前記マーク前縁の立ち上がり位置または前記マーク後縁の立ち下がり位置を調整するステップで用いるエッジシフト長を算出することを特徴とする請求項８乃至１３のいずれか１項に記載の記録ストラテジ調整方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【公開番号】特開２０１１−２５３６０４（Ｐ２０１１−２５３６０４Ａ）
【公開日】平成２３年１２月１５日（２０１１．１２．１５）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−１２８９０８（Ｐ２０１０−１２８９０８）
【出願日】平成２２年６月４日（２０１０．６．４）
【出願人】（３０２０６２９３１）ルネサスエレクトロニクス株式会社 (8,021)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２３年１２月１５日（２０１１．１２．１５）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年６月４日（２０１０．６．４）
【出願人】（３０２０６２９３１）ルネサスエレクトロニクス株式会社 (8,021)
【Ｆターム（参考）】
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