光探知装置及び光探知方法
【課題】強力な妨害レーザを受光したとしても、ＮＤフィルタを保護しながら、赤外線検知素子の飽和及び障害を確実に防止する。
【解決手段】撮像レンズ２を通じて入射した赤外線に応じて赤外線検知信号を取得する赤外線検知素子３と、赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えた場合、赤外線を減光すべく、ＮＤフィルタ５を赤外線検知素子３の受光軸上の減光位置に駆動配置するフィルタ駆動制御部９と、ＮＤフィルタ５の温度を検出する温度センサ１３と、受光軸上の減光位置に配置したＮＤフィルタ５の現在温度を検出し、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、ＮＤフィルタ５及び赤外線検知素子３に対する赤外線を遮光すべく、シャッタ６を遮光位置に駆動配置するシャッタ駆動制御部１２とを有している。
【解決手段】撮像レンズ２を通じて入射した赤外線に応じて赤外線検知信号を取得する赤外線検知素子３と、赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えた場合、赤外線を減光すべく、ＮＤフィルタ５を赤外線検知素子３の受光軸上の減光位置に駆動配置するフィルタ駆動制御部９と、ＮＤフィルタ５の温度を検出する温度センサ１３と、受光軸上の減光位置に配置したＮＤフィルタ５の現在温度を検出し、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、ＮＤフィルタ５及び赤外線検知素子３に対する赤外線を遮光すべく、シャッタ６を遮光位置に駆動配置するシャッタ駆動制御部１２とを有している。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば光学系を通じて入射した赤外線等の光線に応じて赤外線検知信号等の光探知信号を取得する赤外線検知素子等の検知素子を備えた赤外線撮像装置等の光探知装置及び光探知方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、赤外線撮像装置では、光学系を通じて入射した赤外線に応じて赤外線検知信号を取得する赤外線検知素子を備え、赤外線検知素子の受光軸上に、赤外線検知素子に対する赤外線を減光するＮＤ（Ｎｅｕｔｒａｌ Ｄｅｎｓｉｔｙ）フィルタ等の減光フィルタを配置し、ＮＤフィルタを通じて、その赤外線検知素子に入射する赤外線の入射量を調整する技術が知られている。
【０００３】
【特許文献１】国際公開第２００１／２２０６２号パンフレット
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上記従来の赤外線撮像装置によれば、ＮＤフィルタを通じて赤外線検知素子に入射する赤外線の入射量を調整するようにしたが、例えば赤外線検知素子で検知する赤外線波長域と同一波長域の強力な妨害レーザを受光した場合、赤外線検知素子の赤外線検知信号が飽和レベルを超えてしまうことになるため、その後の赤外線検知信号に対応する画像信号から画像を取得することができなくなる。
【０００５】
また、上記従来の赤外線撮像装置によれば、赤外線検知素子を通じて強力な妨害レーザを受光した場合、赤外線検知信号が飽和レベルを超えて赤外線検知素子に障害が発生する虞があるために、赤外線検知素子の受光軸上にＮＤフィルタを配置して赤外線検知素子に入射する赤外線を減光することで、赤外線検知素子の飽和及び障害を防止することも考えられるが、妨害レーザが強力な場合、ＮＤフィルタの温度が上昇することでＮＤフィルタにも障害が発生し、その結果、赤外線検知素子の飽和及び障害が発生してしまうことになる。
【０００６】
尚、ＮＤフィルタには、吸収型の他にも反射型があるが、反射型であっても、強力な妨害レーザを受光した場合にはＮＤフィルタの温度が上昇することでＮＤフィルタに障害が発生する虞がある。
【０００７】
本発明は上記点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、強力な妨害レーザを受光したとしても、減光フィルタ（ＮＤフィルタ）を保護しながら、その結果、光探知素子（赤外線検知素子）の飽和及び障害を防止することができる光探知装置及び光探知方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
開示装置は、光学系を通じて入射した光線に応じて光探知信号を取得する光探知素子と、前記光探知信号が前記光探知素子の飽和レベル閾値を超えた場合、前記光探知素子に対する前記光線を減光すべく、減光部材を前記光探知素子の受光軸上に駆動配置する減光部材駆動部と、前記減光部材の温度を検出する温度検出部と、前記温度検出部にて前記光探知素子の受光軸上に配置した前記減光部材の現在温度を検出し、前記減光部材の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光すべく、遮光部材を駆動配置する遮光部材駆動部とを有することを要件とする。
【０００９】
また、開示方法は、光学系を通じて入射した光線に応じて光探知信号を取得する光探知素子の光探知取得ステップと、前記光探知信号が前記光探知素子の飽和レベル閾値を超えた場合、前記光探知素子に対する前記光線を減光すべく、減光部材を前記光探知素子の受光軸上に駆動配置する減光部材駆動ステップと、前記減光部材の温度を検出する温度検出ステップと、前記光探知素子の受光軸上に配置した前記減光部材の現在温度を検出し、前記減光部材の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光すべく、遮光部材を駆動配置する遮光部材駆動ステップとを含むことを要件とする。
【発明の効果】
【００１０】
開示装置によれば、光探知素子の受光軸上に配置した減光部材の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、前記減光部材及び前記光探知素子に対する光線を遮光すべく、遮光部材を駆動配置するようにした。その結果、開示装置では、例えば強力な妨害レーザの光線を受光したとしても、遮光部材で過剰な光線を遮光することになるため、減光部材を保護し、その結果、光探知素子の飽和及び障害を防止することができるという効果を奏する。
【００１１】
また、開示方法によれば、光探知素子の受光軸上に配置した減光部材の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、前記減光部材及び前記光探知素子に対する光線を遮光すべく、遮光部材を駆動配置するようにした。その結果、開示方法では、例えば強力な妨害レーザの光線を受光したとしても、遮光部材で過剰な光線を遮光することになるため、減光部材を保護し、その結果、光探知素子の飽和及び障害を防止することができるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、図面に基づき本発明の光探知装置及び光探知方法に関わる実施例について詳細に説明する。
【００１３】
まず、最初に本実施例の概要を説明するとすれば、その概要は、赤外線検知素子の受光軸上に配置したＮＤフィルタの現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、ＮＤフィルタ及び赤外線検知素子に対する光線を遮光すべく、遮光部材を駆動配置するようにした。その結果、本実施例では、例えば強力な妨害レーザの光線を受光したとしても、遮光部材で過剰な光線を遮光することになるため、ＮＤフィルタを保護し、その結果、赤外線検知素子の飽和及び障害を防止することができるというものである。
【実施例１】
【００１４】
図１は、実施例１の赤外線撮像装置内部の概略構成を示す説明図である。
【００１５】
図１に示す赤外線撮像装置１は、外界から入射する赤外線を集光する撮像レンズ２と、撮像レンズ２で集光した赤外線に応じて赤外線検知信号を取得する赤外線検知素子３と、赤外線検知素子３にて取得した赤外線検知信号に応じて画像信号を生成する画像生成部４と、画像生成部４にて生成した画像信号をモニタ出力するモニタ表示部４Ａとを有している。
【００１６】
また、赤外線撮像装置１は、撮像レンズ２及び赤外線検知素子３間に配置し、赤外線検知素子３に対する赤外線を減光するＮＤフィルタ５と、撮像レンズ２及び赤外線検知素子３間に配置し、赤外線検知素子３に対する赤外線を遮光するシャッタ６とを有している。
【００１７】
さらに、赤外線撮像装置１は、ＮＤフィルタ５を移動可能に保持するフィルタホイール７と、フィルタホイール７内のＮＤフィルタ５を駆動するフィルタ駆動機構８と、フィルタ駆動機構８を駆動制御するフィルタ駆動制御部９とを有している。
【００１８】
フィルタホイール７は、撮像レンズ２及び赤外線検知素子３間の受光軸上に配置して赤外線検知素子３に対する赤外線を減光するＮＤフィルタ５の減光位置Ｘ１と、撮像レンズ２及び赤外線検知素子３間の減光位置Ｘ１からＮＤフィルタ５を外し、赤外線検知素子３に対する赤外線の入射を許可するＮＤフィルタ５の正常位置Ｘ２とを備え、フィルタ駆動機構８は、フィルタホイール７内の減光位置Ｘ１又は正常位置Ｘ２にＮＤフィルタ５を駆動配置するメカ機構である。
【００１９】
フィルタ駆動制御部９は、画像生成部４経由で赤外線検知素子３からの赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えたか否かを判定する飽和レベル閾値判定部９Ａを有し、飽和レベル閾値判定部９Ａにて赤外線検知素子３の赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えた場合、赤外線検知素子３で受光する赤外線を減光すべく、ＮＤフィルタ５を赤外線検知素子３の受光軸上の減光位置Ｘ１に駆動配置するように、フィルタ駆動機構８を制御するものである。
【００２０】
尚、飽和レベル閾値は、赤外線検知素子３の赤外線検知信号が飽和レベル付近になる閾値に相当するものである。
【００２１】
また、フィルタ駆動制御部９は、飽和レベル閾値判定部９Ａにて赤外線検知素子３の赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えたのでなければ、すなわち、赤外線検知信号が飽和レベル閾値以下の場合、減光位置Ｘ１に配置したＮＤフィルタ５を、赤外線を減光する前の正常位置Ｘ２に駆動配置すべく、フィルタ駆動機構８を駆動制御するものである。
【００２２】
さらに、赤外線撮像装置１は、シャッタ６を移動可能に保持するシャッタ保持部１０と、シャッタ保持部１０内のシャッタ６を駆動するシャッタ駆動機構１１と、シャッタ駆動機構１１を駆動制御するシャッタ駆動制御部１２と、ＮＤフィルタ５の現在温度を検出する温度センサ１３とを有している。
【００２３】
シャッタ保持部１０は、撮像レンズ２及び赤外線検知素子３間の受光軸上に配置して赤外線検知素子３及びＮＤフィルタ５への赤外線を遮光するシャッタ６の遮光位置Ｘ３と、撮像レンズ２及び赤外線検知素子３間の遮光位置Ｘ３からシャッタ６を外し、赤外線検知素子３及びＮＤフィルタ５に対する赤外線の入射を許可する正常位置Ｘ４とを備え、シャッタ駆動機構１１は、シャッタ保持部１０内の遮光位置Ｘ３又は正常位置Ｘ４にシャッタ６を駆動配置するメカ機構である。
【００２４】
シャッタ駆動制御部１２は、温度センサ１３を通じてＮＤフィルタ５の現在温度を検出すると、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えたか否かを判定する耐熱温度閾値判定部１２Ａを有し、耐熱温度閾値判定部１２ＡにてＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、赤外線検知素子３に対する赤外線を遮光すべく、シャッタ６を遮光位置Ｘ３に駆動配置するように、シャッタ駆動機構１１を制御するものである。尚、ＮＤフィルタ５は、同一赤外線波長の強力な妨害レーザを受光すると、温度上昇することになる。
【００２５】
また、耐熱温度閾値は、ＮＤフィルタ５の耐熱温度直前の温度に相当するものである。
【００２６】
また、シャッタ駆動制御部１２は、耐熱温度閾値判定部１２ＡにてＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えない、すなわち、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値以下の場合、遮光位置Ｘ３に配置したシャッタ６を正常位置Ｘ４に駆動配置すべく、シャッタ駆動機構１１を駆動制御するものである。
【００２７】
次に、実施例１の赤外線撮像装置１の動作について説明する。図２は、赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えた場合の赤外線撮像装置１の動作を端的に示す説明図、図３は、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合の赤外線撮像装置１の動作を端的に示す説明図、図４は、実施例１の第１検知素子保護処理に関わる赤外線撮像装置１の動作を端的に示すフローチャートである。
【００２８】
図４に示す第１検知素子保護処理は、同一赤外線波長域の強力な妨害レーザを受光した場合でも、強力な赤外線に対して赤外線検知素子３及びＮＤフィルタ５を保護できる処理である。
【００２９】
図４において赤外線撮像装置１のフィルタ駆動制御部９は、飽和レベル閾値判定部９Ａを通じて赤外線検知素子３の赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えたか否かを判定する（ステップＳ１１）。
【００３０】
フィルタ駆動制御部９は、赤外線検知素子３の赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えた場合（ステップＳ１１肯定）、図２に示すように、赤外線検知素子３への赤外線を減光すべく、正常位置Ｘ２から、撮像レンズ２及び赤外線検知素子３間の受光軸上の減光位置Ｘ１にＮＤフィルタ５を駆動配置する（ステップＳ１２）。この結果、ＮＤフィルタ５は、赤外線検知素子３に対する赤外線を減光することになる。
【００３１】
赤外線撮像装置１のシャッタ駆動制御部１２は、耐熱温度閾値判定部１２Ａを通じてＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えたか否かを判定する（ステップＳ１３）。
【００３２】
シャッタ駆動制御部１２は、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合（ステップＳ１３肯定）、図３に示すように、赤外線検知素子３及びＮＤフィルタ５への赤外線を遮光すべく、正常位置Ｘ４から、撮像レンズ２及び赤外線検知素子３間の受光軸上の遮光位置Ｘ３にシャッタ６を駆動配置する（ステップＳ１４）。この結果、シャッタ６は、赤外線検知素子３及びＮＤフィルタ５に対する赤外線を遮光することになる。
【００３３】
さらに、シャッタ駆動制御部１２は、耐熱温度閾値判定部１２Ａの判定結果に基づき、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値以下であるか否かを判定する（ステップＳ１５）。
【００３４】
シャッタ駆動制御部１２は、例えばシャッタ６の遮光でＮＤフィルタ５の温度が低下し、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値以下の場合（ステップＳ１５肯定）、図２に示すように、ステップＳ１４にて遮光位置Ｘ３に配置したシャッタ６を正常位置Ｘ４に駆動配置する（ステップＳ１６）。この結果、シャッタ６は、遮光位置Ｘ３から元の正常位置Ｘ４に戻ることになる。
【００３５】
フィルタ駆動制御部９は、飽和レベル閾値判定部９Ａの判定結果に基づき、赤外線検知信号が飽和レベル閾値以下であるか否かを判定する（ステップＳ１７）。
【００３６】
フィルタ駆動制御部９は、赤外線検知信号が飽和レベル閾値以下の場合（ステップＳ１７肯定）、図１に示すように、減光位置Ｘ１に配置したＮＤフィルタ５を正常位置Ｘ２に駆動配置し（ステップＳ１８）、赤外線検知素子３の赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えたか否かを判定すべく、ステップＳ１１に移行する。この結果、ＮＤフィルタ５は、減光位置Ｘ１から元の正常位置Ｘ２に戻ることになる。
【００３７】
また、フィルタ駆動制御部９は、赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えたのでない場合（ステップＳ１１否定）、ステップＳ１１に移行する。
【００３８】
また、シャッタ駆動制御部１２は、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えなかった場合（ステップＳ１３否定）、赤外線検知信号が飽和レベル閾値以下であるか否かを判定すべく、ステップＳ１７に移行する。
【００３９】
また、シャッタ駆動制御部１２は、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値以下でない場合（ステップＳ１５否定）、ステップＳ１５に移行する。
【００４０】
また、フィルタ駆動制御部９は、赤外線検知信号が飽和レベル閾値以下でない場合（ステップＳ１７否定）、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えたか否かを判定すべく、ステップＳ１３に移行する。
【００４１】
図４に示す第１検知素子保護処理では、赤外線検知素子３の赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えた場合、ＮＤフィルタ５を正常位置Ｘ２から減光位置Ｘ１に配置するようにしたので、ＮＤフィルタ５を通じて赤外線検知素子３への赤外線を減光することで赤外線検知素子３を保護することができる。
【００４２】
第１検知素子保護処理では、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、シャッタ６を正常位置Ｘ４から遮光位置Ｘ３に配置するようにしたので、シャッタ６を通じてＮＤフィルタ５及び赤外線検知素子３への赤外線を遮光することでＮＤフィルタ５及び赤外線検知素子３を保護することができる。
【００４３】
第１検知素子保護処理では、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値以下の場合、遮光位置Ｘ３に配置したシャッタ６を正常位置Ｘ４に戻すようにしたので、シャッタ６を元の正常位置Ｘ４に戻すことができる。
【００４４】
第１検知素子保護処理では、赤外線検知素子３の赤外線検知信号が飽和レベル閾値以下の場合、減光位置Ｘ１に配置したＮＤフィルタ５を正常位置Ｘ２に戻すようにしたので、ＮＤフィルタ５を元の正常位置Ｘ２に戻すことができる。
【００４５】
実施例１では、赤外線検知素子３の受光軸上に配置したＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、ＮＤフィルタ５及び赤外線検知素子３に対する光線を遮光すべく、正常位置Ｘ４から遮光位置Ｘ３にシャッタ６を駆動配置するようにした。その結果、実施例１では、強力な妨害レーザの光線を受光したとしても、シャッタ６で過剰な光線を遮光することになるため、ＮＤフィルタ５を保護し、その結果、赤外線検知素子３の飽和及び障害を防止することができる。
【００４６】
尚、上記実施例１では、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、赤外線検知素子３及びＮＤフィルタ５に対する赤外線を遮光すべく、シャッタ６を遮光位置Ｘ３に駆動配置するようにしたが、赤外線検知素子３及びＮＤフィルタ５に対する赤外線を遮光する方法として、別の方法も考えられるため、実施例２として説明する。
【実施例２】
【００４７】
図５は、実施例２の赤外線撮像装置１Ａ内部の概略構成を示す説明図である。尚、実施例１に示す赤外線撮像装置１と同一の構成については同一符号を付すことで、その重複する構成及び動作の説明については省略する。
【００４８】
図５に示す赤外線撮像装置１Ａと図１に示す赤外線撮像装置１とが異なるところは、撮像レンズ２の他に、撮像レンズ２で集光した赤外線を赤外線検知素子３に集光する集光レンズ２１を移動可能に駆動配置し、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、赤外線検知素子３及びＮＤフィルタ５への赤外線を遮光すべく、集光レンズ２１を受光軸から外した点にある。
【００４９】
図５に示す赤外線撮像装置１Ａは、集光レンズ２１を移動可能に保持するレンズ保持部２２と、このレンズ保持部２２内の集光レンズ２１を駆動するレンズ駆動機構２３と、レンズ駆動機構２３を駆動制御するレンズ駆動制御部２４とを有している。
【００５０】
レンズ保持部２２は、撮像レンズ２及び赤外線検知素子３間の受光軸上に配置して撮像レンズ２経由で赤外線を赤外線検知素子３に集光する集光レンズ２１の正常位置（集光位置）Ｘ５と、撮像レンズ２及び赤外線検知素子３間の正常位置Ｘ５から集光レンズ２１を外し、赤外線検知素子３及びＮＤフィルタ５への赤外線を分散遮光する集光レンズ２１の遮光位置Ｘ６とを備え、レンズ駆動機構２３は、レンズ保持部２２内の遮光位置Ｘ６又は正常位置Ｘ５に集光レンズ２１を駆動配置するメカ機構である。
【００５１】
レンズ駆動制御部２４は、温度センサ１３を通じてＮＤフィルタ５の現在温度を検出すると、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えたか否かを判定する耐熱温度閾値判定部２４Ａを有し、耐熱温度閾値判定部２４ＡにてＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、赤外線検知素子３に対する赤外線を遮光すべく、集光レンズ２１を遮光位置Ｘ６に駆動配置するように、レンズ駆動機構２３を制御するものである。
【００５２】
尚、耐熱温度閾値は、ＮＤフィルタ５の耐熱温度直前の温度に相当するものである。
【００５３】
また、レンズ駆動制御部２４は、耐熱温度閾値判定部２４ＡにてＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えない、すなわち、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値以下の場合、遮光位置Ｘ６に配置した集光レンズ２１を正常位置Ｘ５に駆動配置すべく、レンズ駆動機構２３を駆動制御するものである。
【００５４】
次に、実施例２の赤外線撮像装置１Ａの動作について説明する。図６は、赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えた場合の赤外線撮像装置１Ａの動作を端的に示す説明図、図７は、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合の赤外線撮像装置１Ａの動作を端的に示す説明図、図８は、実施例２の第２検知素子保護処理に関わる赤外線撮像装置１Ａの動作を端的に示すフローチャートである。
【００５５】
図８に示す第２検知素子保護処理は、同一赤外線波長域の強力な妨害レーザを受光した場合でも、強力な赤外線に対して赤外線検知素子３及びＮＤフィルタ５を保護できる処理である。
【００５６】
図８において赤外線撮像装置１Ａのフィルタ駆動制御部９は、飽和レベル閾値判定部９Ａを通じて赤外線検知素子３の赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えたか否かを判定する（ステップＳ２１）。
【００５７】
フィルタ駆動制御部９は、赤外線検知素子３の赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えた場合（ステップＳ２１肯定）、図６に示すように、赤外線検知素子３への赤外線を減光すべく、正常位置Ｘ２から、撮像レンズ２及び赤外線検知素子３間の受光軸上の減光位置Ｘ１にＮＤフィルタ５を駆動配置する（ステップＳ２２）。この結果、ＮＤフィルタ５は、赤外線検知素子３に対する赤外線を減光することになる。
【００５８】
赤外線撮像装置１Ａのレンズ駆動制御部２４は、耐熱温度閾値判定部２４Ａを通じてＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えたか否かを判定する（ステップＳ２３）。
【００５９】
レンズ駆動制御部２４は、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合（ステップＳ２３肯定）、図７に示すように、赤外線検知素子３及びＮＤフィルタ５への赤外線を遮光すべく、正常位置Ｘ５から遮光位置Ｘ６に集光レンズ２１を駆動配置する（ステップＳ２４）。この結果、集光レンズ２１は、遮光位置Ｘ６に配置することで、赤外線検知素子３及びＮＤフィルタ５に対する赤外線を遮光することになる。
【００６０】
さらに、レンズ駆動制御部２４は、耐熱温度閾値判定部２４Ａの判定結果に基づき、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値以下であるか否かを判定する（ステップＳ２５）。
【００６１】
レンズ駆動制御部２４は、例えば集光レンズ２１の遮光位置Ｘ６の配置でＮＤフィルタ５の温度が低下し、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値以下の場合（ステップＳ２５肯定）、図６に示すように、ステップＳ２４にて遮光位置Ｘ６に配置した集光レンズ２１を正常位置Ｘ５に駆動配置する（ステップＳ２６）。この結果、集光レンズ２１は、遮光位置Ｘ６から元の正常位置Ｘ５に戻ることになる。
【００６２】
フィルタ駆動制御部９は、飽和レベル閾値判定部９Ａの判定結果に基づき、赤外線検知信号が飽和レベル閾値以下であるか否かを判定する（ステップＳ２７）。
【００６３】
フィルタ駆動制御部９は、赤外線検知信号が飽和レベル閾値以下の場合（ステップＳ２７肯定）、図５に示すように、減光位置Ｘ１に配置したＮＤフィルタ５を正常位置Ｘ２に駆動配置し（ステップＳ２８）、赤外線検知素子３の赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えたか否かを判定すべく、ステップＳ２１に移行する。この結果、ＮＤフィルタ５は、減光位置Ｘ１から元の正常位置Ｘ２に戻ることになる。
【００６４】
また、フィルタ駆動制御部９は、赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えたのでない場合（ステップＳ２１否定）、ステップＳ２１に移行する。
【００６５】
また、レンズ駆動制御部２４は、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えなかった場合（ステップＳ２３否定）、赤外線検知信号が飽和レベル閾値以下であるか否かを判定すべく、ステップＳ２７に移行する。
【００６６】
また、レンズ駆動制御部２４は、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値以下でない場合（ステップＳ２５否定）、ステップＳ２５に移行する。
【００６７】
また、フィルタ駆動制御部９は、赤外線検知信号が飽和レベル閾値以下でない場合（ステップＳ２７否定）、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えたか否かを判定すべく、ステップＳ２３に移行する。
【００６８】
図８に示す第２検知素子保護処理では、赤外線検知素子３の赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えた場合、ＮＤフィルタ５を正常位置Ｘ２から減光位置Ｘ１に配置するようにしたので、ＮＤフィルタ５を通じて赤外線検知素子３への赤外線を減光することで赤外線検知素子３を保護することができる。
【００６９】
第２検知素子保護処理では、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、集光レンズ２１を正常位置Ｘ５から遮光位置Ｘ６に配置するようにしたので、赤外線検知素子３に対する受光軸上から集光レンズ２１を外してＮＤフィルタ５及び赤外線検知素子３への赤外線を遮光することでＮＤフィルタ５及び赤外線検知素子３を保護することができる。
【００７０】
第２検知素子保護処理では、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値以下の場合、遮光位置Ｘ６に配置した集光レンズ２１を正常位置Ｘ５に戻すようにしたので、集光レンズ２１を元の正常位置Ｘ５に戻すことができる。
【００７１】
第２検知素子保護処理では、赤外線検知素子３の赤外線検知信号が飽和レベル閾値以下の場合、減光位置Ｘ１に配置したＮＤフィルタ５を正常位置Ｘ２に戻すようにしたので、ＮＤフィルタ５を元の正常位置Ｘ２に戻すことができる。
【００７２】
実施例２では、赤外線検知素子３の受光軸上に配置したＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、ＮＤフィルタ５及び赤外線検知素子３に対する光線を遮光すべく、正常位置Ｘ５から遮光位置Ｘ６に集光レンズ２１を駆動配置するようにした。その結果、実施例１では、強力な妨害レーザの光線を受光したとしても、集光レンズ２１を受光軸から外して過剰な光線を遮光することになるため、ＮＤフィルタ５を保護し、その結果、赤外線検知素子３の飽和及び障害を防止することができる。
【００７３】
尚、上記実施例では、フィルタホイール７内に一枚のＮＤフィルタ５を配置するようにしたが、透過率の異なる複数枚のＮＤフィルタ５を搭載するようにしても良く、この場合、フィルタ駆動制御部９は、赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えた場合、複数枚のＮＤフィルタ５の内、透過率の低いＮＤフィルタ５を順次選択して赤外線検知信号が飽和レベル閾値以下になるまで順次交換するようにしても、同様の効果が得られることは言うまでもない。
【００７４】
また、上記実施例では、撮像レンズ２及び赤外線検知素子３間に、ＮＤフィルタ５を保持したフィルタホイール７を配置するようにしたが、撮像レンズ２及び赤外線検知素子３間にフィルタホイール７を複数配置するようにしても良く、この場合、フィルタ駆動制御部９は、赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えた場合、複数のフィルタホイール７の内、任意のフィルタホイール７を順次選択し、順次選択したフィルタホイール７のＮＤフィルタ５を減光位置に順次配置し、順次配置したＮＤフィルタ５を通じて、赤外線検知信号が飽和レベル閾値以下になるまでフィルタホイール７及びＮＤフィルタ５を順次選択するようにしても、同様の効果が得られることは言うまでもない。
【００７５】
以上、本発明の実施例について説明したが、本実施例によって本発明の技術的思想の範囲が限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載した技術的思想の範囲を逸脱しない限り、各種様々な実施例が実施可能であることは言うまでもない。また、本実施例に記載した効果は、これに限定されるものではない。
【００７６】
また、本実施例で説明した各種処理の内、自動的に行われるものとして説明した処理の全部又は一部を手動で行うことも可能であることは勿論のこと、その逆に、手動で行われるものとして説明した処理の全部又は一部を自動で行うことも可能であることは言うまでもない。また、本実施例で説明した処理手順、制御手順、具体的名称、各種データやパラメータを含む情報についても、特記した場合を除き、適宜変更可能であることは言うまでもない。
【００７７】
また、図示した各装置の各構成要素は機能概念的に記載したものであって、必ずしも物理的に図示のように構成されるものではなく、その各装置の具体的な態様は図示のものに限縮されるものでは到底ないことは言うまでもない。
【００７８】
さらに、各装置で行われる各種処理機能は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）（又はＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＭＣＵ（Ｍｉｃｒｏ Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ Ｕｎｉｔ）等のマイクロ・コンピュータ）上、又は同ＣＰＵ（又はＭＰＵ、ＭＣＵ等のマイクロ・コンピュータ）で解析実行するプログラム上、又はワイヤードロジックによるハードウェア上で、その全部又は任意の一部を実行するようにしても良いことは言うまでもない。
【００７９】
以上、本実施例を含む実施の形態に関し、更に以下の付記を開示する。
【００８０】
（付記１）光学系を通じて入射した光線に応じて光探知信号を取得する光探知素子と、
前記光探知信号が前記光探知素子の飽和レベル閾値を超えた場合、前記光探知素子に対する前記光線を減光すべく、減光部材を前記光探知素子の受光軸上に駆動配置する減光部材駆動部と、
前記減光部材の温度を検出する温度検出部と、
前記温度検出部にて前記光探知素子の受光軸上に配置した前記減光部材の現在温度を検出し、前記減光部材の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光すべく、遮光部材を駆動配置する遮光部材駆動部と
を有することを特徴とする光探知装置。
【００８１】
（付記２）前記遮光部材駆動部は、
前記光探知素子の受光軸上に配置した前記減光部材の現在温度が前記耐熱温度閾値以下の場合、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光するように配置した前記遮光部材を、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線遮光前の位置に駆動配置することを特徴とする付記１記載の光探知装置。
【００８２】
（付記３）前記減光部材駆動部は、
前記光探知信号が前記光探知素子の前記飽和レベル閾値以下の場合、前記光線の入射を減光するように配置した前記減光部材を、前記光線を減光する前の位置に駆動配置することを特徴とする付記１又は２記載の光探知装置。
【００８３】
（付記４）前記遮光部材は、
前記光探知素子に対する前記光線を遮光するシャッタで構成し、
前記遮光部材駆動部は、
前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光する遮光位置に前記シャッタを駆動配置することを特徴とする付記１，２又は３の何れか一に記載の光探知装置。
【００８４】
（付記５）前記遮光部材は、
前記光探知素子に対する前記光線を集光する集光レンズで構成し、
前記遮光部材駆動部は、
前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光すべく、前記集光レンズの集光位置から外れた遮光位置に前記集光レンズを駆動配置することを特徴とする付記１，２又は３の何れか一に記載の光探知装置。
【００８５】
（付記６）光学系を通じて入射した光線に応じて光探知信号を取得する光探知素子の光探知取得ステップと、
前記光探知信号が前記光探知素子の飽和レベル閾値を超えた場合、前記光探知素子に対する前記光線を減光すべく、減光部材を前記光探知素子の受光軸上に駆動配置する減光部材駆動ステップと、
前記減光部材の温度を検出する温度検出ステップと、
前記光探知素子の受光軸上に配置した前記減光部材の現在温度を検出し、前記減光部材の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光すべく、遮光部材を駆動配置する遮光部材駆動ステップと
を含むことを特徴とする光探知方法。
【００８６】
（付記７）前記遮光部材駆動ステップは、
前記光探知素子の受光軸上に配置した前記減光部材の現在温度が前記耐熱温度閾値以下の場合、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光するように配置した前記遮光部材を、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線遮光前の位置に駆動配置することを特徴とする付記６記載の光探知方法。
【００８７】
（付記８）前記減光部材駆動ステップは、
前記光探知信号が前記光探知素子の前記飽和レベル閾値以下の場合、前記光線の入射を減光するように配置した前記減光部材を、前記光線を減光する前の位置に駆動配置することを特徴とする付記６又は７記載の光探知方法。
【００８８】
（付記９）前記遮光部材は、
前記光探知素子に対する前記光線を遮光するシャッタで構成し、
前記遮光部材駆動ステップは、
前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光する遮光位置に前記シャッタを駆動配置することを特徴とする付記６，７又は８の何れか一に記載の光探知方法。
【００８９】
（付記１０）前記遮光部材は、
前記光探知素子に対する前記光線を集光する集光レンズで構成し、
前記遮光部材駆動ステップは、
前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光すべく、前記集光レンズの集光位置から外れた遮光位置に前記集光レンズを駆動配置することを特徴とする付記６，７又は８の何れか一に記載の光探知方法。
【図面の簡単な説明】
【００９０】
【図１】実施例１の赤外線撮像装置内部の概略構成を示す説明図である。
【図２】赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えた場合の赤外線撮像装置の動作を端的に示す説明図である。
【図３】ＮＤフィルタの現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合の赤外線撮像装置の動作を端的に示す説明図である。
【図４】実施例１の第１検知素子保護処理に関わる赤外線撮像装置の動作を端的に示すフローチャートである。
【図５】実施例２の赤外線撮像装置内部の概略構成を示す説明図である。
【図６】赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えた場合の赤外線撮像装置の動作を端的に示す説明図である。
【図７】ＮＤフィルタの現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合の赤外線撮像装置の動作を端的に示す説明図である。
【図８】実施例２の第２検知素子保護処理に関わる赤外線撮像装置の動作を端的に示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００９１】
１ 赤外線撮像装置
１Ａ 赤外線撮像装置
２ 撮像レンズ
３ 赤外線検知素子
５ ＮＤフィルタ
６ シャッタ
９ フィルタ駆動制御部
９Ａ 飽和レベル閾値判定部
１２ シャッタ駆動制御部
１２Ａ 耐熱温度閾値判定部
２１ 集光レンズ
２４ レンズ駆動制御部
２４Ａ 耐熱温度閾値判定部
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば光学系を通じて入射した赤外線等の光線に応じて赤外線検知信号等の光探知信号を取得する赤外線検知素子等の検知素子を備えた赤外線撮像装置等の光探知装置及び光探知方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、赤外線撮像装置では、光学系を通じて入射した赤外線に応じて赤外線検知信号を取得する赤外線検知素子を備え、赤外線検知素子の受光軸上に、赤外線検知素子に対する赤外線を減光するＮＤ（Ｎｅｕｔｒａｌ Ｄｅｎｓｉｔｙ）フィルタ等の減光フィルタを配置し、ＮＤフィルタを通じて、その赤外線検知素子に入射する赤外線の入射量を調整する技術が知られている。
【０００３】
【特許文献１】国際公開第２００１／２２０６２号パンフレット
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上記従来の赤外線撮像装置によれば、ＮＤフィルタを通じて赤外線検知素子に入射する赤外線の入射量を調整するようにしたが、例えば赤外線検知素子で検知する赤外線波長域と同一波長域の強力な妨害レーザを受光した場合、赤外線検知素子の赤外線検知信号が飽和レベルを超えてしまうことになるため、その後の赤外線検知信号に対応する画像信号から画像を取得することができなくなる。
【０００５】
また、上記従来の赤外線撮像装置によれば、赤外線検知素子を通じて強力な妨害レーザを受光した場合、赤外線検知信号が飽和レベルを超えて赤外線検知素子に障害が発生する虞があるために、赤外線検知素子の受光軸上にＮＤフィルタを配置して赤外線検知素子に入射する赤外線を減光することで、赤外線検知素子の飽和及び障害を防止することも考えられるが、妨害レーザが強力な場合、ＮＤフィルタの温度が上昇することでＮＤフィルタにも障害が発生し、その結果、赤外線検知素子の飽和及び障害が発生してしまうことになる。
【０００６】
尚、ＮＤフィルタには、吸収型の他にも反射型があるが、反射型であっても、強力な妨害レーザを受光した場合にはＮＤフィルタの温度が上昇することでＮＤフィルタに障害が発生する虞がある。
【０００７】
本発明は上記点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、強力な妨害レーザを受光したとしても、減光フィルタ（ＮＤフィルタ）を保護しながら、その結果、光探知素子（赤外線検知素子）の飽和及び障害を防止することができる光探知装置及び光探知方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
開示装置は、光学系を通じて入射した光線に応じて光探知信号を取得する光探知素子と、前記光探知信号が前記光探知素子の飽和レベル閾値を超えた場合、前記光探知素子に対する前記光線を減光すべく、減光部材を前記光探知素子の受光軸上に駆動配置する減光部材駆動部と、前記減光部材の温度を検出する温度検出部と、前記温度検出部にて前記光探知素子の受光軸上に配置した前記減光部材の現在温度を検出し、前記減光部材の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光すべく、遮光部材を駆動配置する遮光部材駆動部とを有することを要件とする。
【０００９】
また、開示方法は、光学系を通じて入射した光線に応じて光探知信号を取得する光探知素子の光探知取得ステップと、前記光探知信号が前記光探知素子の飽和レベル閾値を超えた場合、前記光探知素子に対する前記光線を減光すべく、減光部材を前記光探知素子の受光軸上に駆動配置する減光部材駆動ステップと、前記減光部材の温度を検出する温度検出ステップと、前記光探知素子の受光軸上に配置した前記減光部材の現在温度を検出し、前記減光部材の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光すべく、遮光部材を駆動配置する遮光部材駆動ステップとを含むことを要件とする。
【発明の効果】
【００１０】
開示装置によれば、光探知素子の受光軸上に配置した減光部材の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、前記減光部材及び前記光探知素子に対する光線を遮光すべく、遮光部材を駆動配置するようにした。その結果、開示装置では、例えば強力な妨害レーザの光線を受光したとしても、遮光部材で過剰な光線を遮光することになるため、減光部材を保護し、その結果、光探知素子の飽和及び障害を防止することができるという効果を奏する。
【００１１】
また、開示方法によれば、光探知素子の受光軸上に配置した減光部材の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、前記減光部材及び前記光探知素子に対する光線を遮光すべく、遮光部材を駆動配置するようにした。その結果、開示方法では、例えば強力な妨害レーザの光線を受光したとしても、遮光部材で過剰な光線を遮光することになるため、減光部材を保護し、その結果、光探知素子の飽和及び障害を防止することができるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、図面に基づき本発明の光探知装置及び光探知方法に関わる実施例について詳細に説明する。
【００１３】
まず、最初に本実施例の概要を説明するとすれば、その概要は、赤外線検知素子の受光軸上に配置したＮＤフィルタの現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、ＮＤフィルタ及び赤外線検知素子に対する光線を遮光すべく、遮光部材を駆動配置するようにした。その結果、本実施例では、例えば強力な妨害レーザの光線を受光したとしても、遮光部材で過剰な光線を遮光することになるため、ＮＤフィルタを保護し、その結果、赤外線検知素子の飽和及び障害を防止することができるというものである。
【実施例１】
【００１４】
図１は、実施例１の赤外線撮像装置内部の概略構成を示す説明図である。
【００１５】
図１に示す赤外線撮像装置１は、外界から入射する赤外線を集光する撮像レンズ２と、撮像レンズ２で集光した赤外線に応じて赤外線検知信号を取得する赤外線検知素子３と、赤外線検知素子３にて取得した赤外線検知信号に応じて画像信号を生成する画像生成部４と、画像生成部４にて生成した画像信号をモニタ出力するモニタ表示部４Ａとを有している。
【００１６】
また、赤外線撮像装置１は、撮像レンズ２及び赤外線検知素子３間に配置し、赤外線検知素子３に対する赤外線を減光するＮＤフィルタ５と、撮像レンズ２及び赤外線検知素子３間に配置し、赤外線検知素子３に対する赤外線を遮光するシャッタ６とを有している。
【００１７】
さらに、赤外線撮像装置１は、ＮＤフィルタ５を移動可能に保持するフィルタホイール７と、フィルタホイール７内のＮＤフィルタ５を駆動するフィルタ駆動機構８と、フィルタ駆動機構８を駆動制御するフィルタ駆動制御部９とを有している。
【００１８】
フィルタホイール７は、撮像レンズ２及び赤外線検知素子３間の受光軸上に配置して赤外線検知素子３に対する赤外線を減光するＮＤフィルタ５の減光位置Ｘ１と、撮像レンズ２及び赤外線検知素子３間の減光位置Ｘ１からＮＤフィルタ５を外し、赤外線検知素子３に対する赤外線の入射を許可するＮＤフィルタ５の正常位置Ｘ２とを備え、フィルタ駆動機構８は、フィルタホイール７内の減光位置Ｘ１又は正常位置Ｘ２にＮＤフィルタ５を駆動配置するメカ機構である。
【００１９】
フィルタ駆動制御部９は、画像生成部４経由で赤外線検知素子３からの赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えたか否かを判定する飽和レベル閾値判定部９Ａを有し、飽和レベル閾値判定部９Ａにて赤外線検知素子３の赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えた場合、赤外線検知素子３で受光する赤外線を減光すべく、ＮＤフィルタ５を赤外線検知素子３の受光軸上の減光位置Ｘ１に駆動配置するように、フィルタ駆動機構８を制御するものである。
【００２０】
尚、飽和レベル閾値は、赤外線検知素子３の赤外線検知信号が飽和レベル付近になる閾値に相当するものである。
【００２１】
また、フィルタ駆動制御部９は、飽和レベル閾値判定部９Ａにて赤外線検知素子３の赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えたのでなければ、すなわち、赤外線検知信号が飽和レベル閾値以下の場合、減光位置Ｘ１に配置したＮＤフィルタ５を、赤外線を減光する前の正常位置Ｘ２に駆動配置すべく、フィルタ駆動機構８を駆動制御するものである。
【００２２】
さらに、赤外線撮像装置１は、シャッタ６を移動可能に保持するシャッタ保持部１０と、シャッタ保持部１０内のシャッタ６を駆動するシャッタ駆動機構１１と、シャッタ駆動機構１１を駆動制御するシャッタ駆動制御部１２と、ＮＤフィルタ５の現在温度を検出する温度センサ１３とを有している。
【００２３】
シャッタ保持部１０は、撮像レンズ２及び赤外線検知素子３間の受光軸上に配置して赤外線検知素子３及びＮＤフィルタ５への赤外線を遮光するシャッタ６の遮光位置Ｘ３と、撮像レンズ２及び赤外線検知素子３間の遮光位置Ｘ３からシャッタ６を外し、赤外線検知素子３及びＮＤフィルタ５に対する赤外線の入射を許可する正常位置Ｘ４とを備え、シャッタ駆動機構１１は、シャッタ保持部１０内の遮光位置Ｘ３又は正常位置Ｘ４にシャッタ６を駆動配置するメカ機構である。
【００２４】
シャッタ駆動制御部１２は、温度センサ１３を通じてＮＤフィルタ５の現在温度を検出すると、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えたか否かを判定する耐熱温度閾値判定部１２Ａを有し、耐熱温度閾値判定部１２ＡにてＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、赤外線検知素子３に対する赤外線を遮光すべく、シャッタ６を遮光位置Ｘ３に駆動配置するように、シャッタ駆動機構１１を制御するものである。尚、ＮＤフィルタ５は、同一赤外線波長の強力な妨害レーザを受光すると、温度上昇することになる。
【００２５】
また、耐熱温度閾値は、ＮＤフィルタ５の耐熱温度直前の温度に相当するものである。
【００２６】
また、シャッタ駆動制御部１２は、耐熱温度閾値判定部１２ＡにてＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えない、すなわち、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値以下の場合、遮光位置Ｘ３に配置したシャッタ６を正常位置Ｘ４に駆動配置すべく、シャッタ駆動機構１１を駆動制御するものである。
【００２７】
次に、実施例１の赤外線撮像装置１の動作について説明する。図２は、赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えた場合の赤外線撮像装置１の動作を端的に示す説明図、図３は、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合の赤外線撮像装置１の動作を端的に示す説明図、図４は、実施例１の第１検知素子保護処理に関わる赤外線撮像装置１の動作を端的に示すフローチャートである。
【００２８】
図４に示す第１検知素子保護処理は、同一赤外線波長域の強力な妨害レーザを受光した場合でも、強力な赤外線に対して赤外線検知素子３及びＮＤフィルタ５を保護できる処理である。
【００２９】
図４において赤外線撮像装置１のフィルタ駆動制御部９は、飽和レベル閾値判定部９Ａを通じて赤外線検知素子３の赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えたか否かを判定する（ステップＳ１１）。
【００３０】
フィルタ駆動制御部９は、赤外線検知素子３の赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えた場合（ステップＳ１１肯定）、図２に示すように、赤外線検知素子３への赤外線を減光すべく、正常位置Ｘ２から、撮像レンズ２及び赤外線検知素子３間の受光軸上の減光位置Ｘ１にＮＤフィルタ５を駆動配置する（ステップＳ１２）。この結果、ＮＤフィルタ５は、赤外線検知素子３に対する赤外線を減光することになる。
【００３１】
赤外線撮像装置１のシャッタ駆動制御部１２は、耐熱温度閾値判定部１２Ａを通じてＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えたか否かを判定する（ステップＳ１３）。
【００３２】
シャッタ駆動制御部１２は、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合（ステップＳ１３肯定）、図３に示すように、赤外線検知素子３及びＮＤフィルタ５への赤外線を遮光すべく、正常位置Ｘ４から、撮像レンズ２及び赤外線検知素子３間の受光軸上の遮光位置Ｘ３にシャッタ６を駆動配置する（ステップＳ１４）。この結果、シャッタ６は、赤外線検知素子３及びＮＤフィルタ５に対する赤外線を遮光することになる。
【００３３】
さらに、シャッタ駆動制御部１２は、耐熱温度閾値判定部１２Ａの判定結果に基づき、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値以下であるか否かを判定する（ステップＳ１５）。
【００３４】
シャッタ駆動制御部１２は、例えばシャッタ６の遮光でＮＤフィルタ５の温度が低下し、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値以下の場合（ステップＳ１５肯定）、図２に示すように、ステップＳ１４にて遮光位置Ｘ３に配置したシャッタ６を正常位置Ｘ４に駆動配置する（ステップＳ１６）。この結果、シャッタ６は、遮光位置Ｘ３から元の正常位置Ｘ４に戻ることになる。
【００３５】
フィルタ駆動制御部９は、飽和レベル閾値判定部９Ａの判定結果に基づき、赤外線検知信号が飽和レベル閾値以下であるか否かを判定する（ステップＳ１７）。
【００３６】
フィルタ駆動制御部９は、赤外線検知信号が飽和レベル閾値以下の場合（ステップＳ１７肯定）、図１に示すように、減光位置Ｘ１に配置したＮＤフィルタ５を正常位置Ｘ２に駆動配置し（ステップＳ１８）、赤外線検知素子３の赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えたか否かを判定すべく、ステップＳ１１に移行する。この結果、ＮＤフィルタ５は、減光位置Ｘ１から元の正常位置Ｘ２に戻ることになる。
【００３７】
また、フィルタ駆動制御部９は、赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えたのでない場合（ステップＳ１１否定）、ステップＳ１１に移行する。
【００３８】
また、シャッタ駆動制御部１２は、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えなかった場合（ステップＳ１３否定）、赤外線検知信号が飽和レベル閾値以下であるか否かを判定すべく、ステップＳ１７に移行する。
【００３９】
また、シャッタ駆動制御部１２は、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値以下でない場合（ステップＳ１５否定）、ステップＳ１５に移行する。
【００４０】
また、フィルタ駆動制御部９は、赤外線検知信号が飽和レベル閾値以下でない場合（ステップＳ１７否定）、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えたか否かを判定すべく、ステップＳ１３に移行する。
【００４１】
図４に示す第１検知素子保護処理では、赤外線検知素子３の赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えた場合、ＮＤフィルタ５を正常位置Ｘ２から減光位置Ｘ１に配置するようにしたので、ＮＤフィルタ５を通じて赤外線検知素子３への赤外線を減光することで赤外線検知素子３を保護することができる。
【００４２】
第１検知素子保護処理では、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、シャッタ６を正常位置Ｘ４から遮光位置Ｘ３に配置するようにしたので、シャッタ６を通じてＮＤフィルタ５及び赤外線検知素子３への赤外線を遮光することでＮＤフィルタ５及び赤外線検知素子３を保護することができる。
【００４３】
第１検知素子保護処理では、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値以下の場合、遮光位置Ｘ３に配置したシャッタ６を正常位置Ｘ４に戻すようにしたので、シャッタ６を元の正常位置Ｘ４に戻すことができる。
【００４４】
第１検知素子保護処理では、赤外線検知素子３の赤外線検知信号が飽和レベル閾値以下の場合、減光位置Ｘ１に配置したＮＤフィルタ５を正常位置Ｘ２に戻すようにしたので、ＮＤフィルタ５を元の正常位置Ｘ２に戻すことができる。
【００４５】
実施例１では、赤外線検知素子３の受光軸上に配置したＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、ＮＤフィルタ５及び赤外線検知素子３に対する光線を遮光すべく、正常位置Ｘ４から遮光位置Ｘ３にシャッタ６を駆動配置するようにした。その結果、実施例１では、強力な妨害レーザの光線を受光したとしても、シャッタ６で過剰な光線を遮光することになるため、ＮＤフィルタ５を保護し、その結果、赤外線検知素子３の飽和及び障害を防止することができる。
【００４６】
尚、上記実施例１では、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、赤外線検知素子３及びＮＤフィルタ５に対する赤外線を遮光すべく、シャッタ６を遮光位置Ｘ３に駆動配置するようにしたが、赤外線検知素子３及びＮＤフィルタ５に対する赤外線を遮光する方法として、別の方法も考えられるため、実施例２として説明する。
【実施例２】
【００４７】
図５は、実施例２の赤外線撮像装置１Ａ内部の概略構成を示す説明図である。尚、実施例１に示す赤外線撮像装置１と同一の構成については同一符号を付すことで、その重複する構成及び動作の説明については省略する。
【００４８】
図５に示す赤外線撮像装置１Ａと図１に示す赤外線撮像装置１とが異なるところは、撮像レンズ２の他に、撮像レンズ２で集光した赤外線を赤外線検知素子３に集光する集光レンズ２１を移動可能に駆動配置し、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、赤外線検知素子３及びＮＤフィルタ５への赤外線を遮光すべく、集光レンズ２１を受光軸から外した点にある。
【００４９】
図５に示す赤外線撮像装置１Ａは、集光レンズ２１を移動可能に保持するレンズ保持部２２と、このレンズ保持部２２内の集光レンズ２１を駆動するレンズ駆動機構２３と、レンズ駆動機構２３を駆動制御するレンズ駆動制御部２４とを有している。
【００５０】
レンズ保持部２２は、撮像レンズ２及び赤外線検知素子３間の受光軸上に配置して撮像レンズ２経由で赤外線を赤外線検知素子３に集光する集光レンズ２１の正常位置（集光位置）Ｘ５と、撮像レンズ２及び赤外線検知素子３間の正常位置Ｘ５から集光レンズ２１を外し、赤外線検知素子３及びＮＤフィルタ５への赤外線を分散遮光する集光レンズ２１の遮光位置Ｘ６とを備え、レンズ駆動機構２３は、レンズ保持部２２内の遮光位置Ｘ６又は正常位置Ｘ５に集光レンズ２１を駆動配置するメカ機構である。
【００５１】
レンズ駆動制御部２４は、温度センサ１３を通じてＮＤフィルタ５の現在温度を検出すると、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えたか否かを判定する耐熱温度閾値判定部２４Ａを有し、耐熱温度閾値判定部２４ＡにてＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、赤外線検知素子３に対する赤外線を遮光すべく、集光レンズ２１を遮光位置Ｘ６に駆動配置するように、レンズ駆動機構２３を制御するものである。
【００５２】
尚、耐熱温度閾値は、ＮＤフィルタ５の耐熱温度直前の温度に相当するものである。
【００５３】
また、レンズ駆動制御部２４は、耐熱温度閾値判定部２４ＡにてＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えない、すなわち、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値以下の場合、遮光位置Ｘ６に配置した集光レンズ２１を正常位置Ｘ５に駆動配置すべく、レンズ駆動機構２３を駆動制御するものである。
【００５４】
次に、実施例２の赤外線撮像装置１Ａの動作について説明する。図６は、赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えた場合の赤外線撮像装置１Ａの動作を端的に示す説明図、図７は、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合の赤外線撮像装置１Ａの動作を端的に示す説明図、図８は、実施例２の第２検知素子保護処理に関わる赤外線撮像装置１Ａの動作を端的に示すフローチャートである。
【００５５】
図８に示す第２検知素子保護処理は、同一赤外線波長域の強力な妨害レーザを受光した場合でも、強力な赤外線に対して赤外線検知素子３及びＮＤフィルタ５を保護できる処理である。
【００５６】
図８において赤外線撮像装置１Ａのフィルタ駆動制御部９は、飽和レベル閾値判定部９Ａを通じて赤外線検知素子３の赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えたか否かを判定する（ステップＳ２１）。
【００５７】
フィルタ駆動制御部９は、赤外線検知素子３の赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えた場合（ステップＳ２１肯定）、図６に示すように、赤外線検知素子３への赤外線を減光すべく、正常位置Ｘ２から、撮像レンズ２及び赤外線検知素子３間の受光軸上の減光位置Ｘ１にＮＤフィルタ５を駆動配置する（ステップＳ２２）。この結果、ＮＤフィルタ５は、赤外線検知素子３に対する赤外線を減光することになる。
【００５８】
赤外線撮像装置１Ａのレンズ駆動制御部２４は、耐熱温度閾値判定部２４Ａを通じてＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えたか否かを判定する（ステップＳ２３）。
【００５９】
レンズ駆動制御部２４は、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合（ステップＳ２３肯定）、図７に示すように、赤外線検知素子３及びＮＤフィルタ５への赤外線を遮光すべく、正常位置Ｘ５から遮光位置Ｘ６に集光レンズ２１を駆動配置する（ステップＳ２４）。この結果、集光レンズ２１は、遮光位置Ｘ６に配置することで、赤外線検知素子３及びＮＤフィルタ５に対する赤外線を遮光することになる。
【００６０】
さらに、レンズ駆動制御部２４は、耐熱温度閾値判定部２４Ａの判定結果に基づき、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値以下であるか否かを判定する（ステップＳ２５）。
【００６１】
レンズ駆動制御部２４は、例えば集光レンズ２１の遮光位置Ｘ６の配置でＮＤフィルタ５の温度が低下し、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値以下の場合（ステップＳ２５肯定）、図６に示すように、ステップＳ２４にて遮光位置Ｘ６に配置した集光レンズ２１を正常位置Ｘ５に駆動配置する（ステップＳ２６）。この結果、集光レンズ２１は、遮光位置Ｘ６から元の正常位置Ｘ５に戻ることになる。
【００６２】
フィルタ駆動制御部９は、飽和レベル閾値判定部９Ａの判定結果に基づき、赤外線検知信号が飽和レベル閾値以下であるか否かを判定する（ステップＳ２７）。
【００６３】
フィルタ駆動制御部９は、赤外線検知信号が飽和レベル閾値以下の場合（ステップＳ２７肯定）、図５に示すように、減光位置Ｘ１に配置したＮＤフィルタ５を正常位置Ｘ２に駆動配置し（ステップＳ２８）、赤外線検知素子３の赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えたか否かを判定すべく、ステップＳ２１に移行する。この結果、ＮＤフィルタ５は、減光位置Ｘ１から元の正常位置Ｘ２に戻ることになる。
【００６４】
また、フィルタ駆動制御部９は、赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えたのでない場合（ステップＳ２１否定）、ステップＳ２１に移行する。
【００６５】
また、レンズ駆動制御部２４は、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えなかった場合（ステップＳ２３否定）、赤外線検知信号が飽和レベル閾値以下であるか否かを判定すべく、ステップＳ２７に移行する。
【００６６】
また、レンズ駆動制御部２４は、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値以下でない場合（ステップＳ２５否定）、ステップＳ２５に移行する。
【００６７】
また、フィルタ駆動制御部９は、赤外線検知信号が飽和レベル閾値以下でない場合（ステップＳ２７否定）、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えたか否かを判定すべく、ステップＳ２３に移行する。
【００６８】
図８に示す第２検知素子保護処理では、赤外線検知素子３の赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えた場合、ＮＤフィルタ５を正常位置Ｘ２から減光位置Ｘ１に配置するようにしたので、ＮＤフィルタ５を通じて赤外線検知素子３への赤外線を減光することで赤外線検知素子３を保護することができる。
【００６９】
第２検知素子保護処理では、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、集光レンズ２１を正常位置Ｘ５から遮光位置Ｘ６に配置するようにしたので、赤外線検知素子３に対する受光軸上から集光レンズ２１を外してＮＤフィルタ５及び赤外線検知素子３への赤外線を遮光することでＮＤフィルタ５及び赤外線検知素子３を保護することができる。
【００７０】
第２検知素子保護処理では、ＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値以下の場合、遮光位置Ｘ６に配置した集光レンズ２１を正常位置Ｘ５に戻すようにしたので、集光レンズ２１を元の正常位置Ｘ５に戻すことができる。
【００７１】
第２検知素子保護処理では、赤外線検知素子３の赤外線検知信号が飽和レベル閾値以下の場合、減光位置Ｘ１に配置したＮＤフィルタ５を正常位置Ｘ２に戻すようにしたので、ＮＤフィルタ５を元の正常位置Ｘ２に戻すことができる。
【００７２】
実施例２では、赤外線検知素子３の受光軸上に配置したＮＤフィルタ５の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、ＮＤフィルタ５及び赤外線検知素子３に対する光線を遮光すべく、正常位置Ｘ５から遮光位置Ｘ６に集光レンズ２１を駆動配置するようにした。その結果、実施例１では、強力な妨害レーザの光線を受光したとしても、集光レンズ２１を受光軸から外して過剰な光線を遮光することになるため、ＮＤフィルタ５を保護し、その結果、赤外線検知素子３の飽和及び障害を防止することができる。
【００７３】
尚、上記実施例では、フィルタホイール７内に一枚のＮＤフィルタ５を配置するようにしたが、透過率の異なる複数枚のＮＤフィルタ５を搭載するようにしても良く、この場合、フィルタ駆動制御部９は、赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えた場合、複数枚のＮＤフィルタ５の内、透過率の低いＮＤフィルタ５を順次選択して赤外線検知信号が飽和レベル閾値以下になるまで順次交換するようにしても、同様の効果が得られることは言うまでもない。
【００７４】
また、上記実施例では、撮像レンズ２及び赤外線検知素子３間に、ＮＤフィルタ５を保持したフィルタホイール７を配置するようにしたが、撮像レンズ２及び赤外線検知素子３間にフィルタホイール７を複数配置するようにしても良く、この場合、フィルタ駆動制御部９は、赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えた場合、複数のフィルタホイール７の内、任意のフィルタホイール７を順次選択し、順次選択したフィルタホイール７のＮＤフィルタ５を減光位置に順次配置し、順次配置したＮＤフィルタ５を通じて、赤外線検知信号が飽和レベル閾値以下になるまでフィルタホイール７及びＮＤフィルタ５を順次選択するようにしても、同様の効果が得られることは言うまでもない。
【００７５】
以上、本発明の実施例について説明したが、本実施例によって本発明の技術的思想の範囲が限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載した技術的思想の範囲を逸脱しない限り、各種様々な実施例が実施可能であることは言うまでもない。また、本実施例に記載した効果は、これに限定されるものではない。
【００７６】
また、本実施例で説明した各種処理の内、自動的に行われるものとして説明した処理の全部又は一部を手動で行うことも可能であることは勿論のこと、その逆に、手動で行われるものとして説明した処理の全部又は一部を自動で行うことも可能であることは言うまでもない。また、本実施例で説明した処理手順、制御手順、具体的名称、各種データやパラメータを含む情報についても、特記した場合を除き、適宜変更可能であることは言うまでもない。
【００７７】
また、図示した各装置の各構成要素は機能概念的に記載したものであって、必ずしも物理的に図示のように構成されるものではなく、その各装置の具体的な態様は図示のものに限縮されるものでは到底ないことは言うまでもない。
【００７８】
さらに、各装置で行われる各種処理機能は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）（又はＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＭＣＵ（Ｍｉｃｒｏ Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ Ｕｎｉｔ）等のマイクロ・コンピュータ）上、又は同ＣＰＵ（又はＭＰＵ、ＭＣＵ等のマイクロ・コンピュータ）で解析実行するプログラム上、又はワイヤードロジックによるハードウェア上で、その全部又は任意の一部を実行するようにしても良いことは言うまでもない。
【００７９】
以上、本実施例を含む実施の形態に関し、更に以下の付記を開示する。
【００８０】
（付記１）光学系を通じて入射した光線に応じて光探知信号を取得する光探知素子と、
前記光探知信号が前記光探知素子の飽和レベル閾値を超えた場合、前記光探知素子に対する前記光線を減光すべく、減光部材を前記光探知素子の受光軸上に駆動配置する減光部材駆動部と、
前記減光部材の温度を検出する温度検出部と、
前記温度検出部にて前記光探知素子の受光軸上に配置した前記減光部材の現在温度を検出し、前記減光部材の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光すべく、遮光部材を駆動配置する遮光部材駆動部と
を有することを特徴とする光探知装置。
【００８１】
（付記２）前記遮光部材駆動部は、
前記光探知素子の受光軸上に配置した前記減光部材の現在温度が前記耐熱温度閾値以下の場合、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光するように配置した前記遮光部材を、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線遮光前の位置に駆動配置することを特徴とする付記１記載の光探知装置。
【００８２】
（付記３）前記減光部材駆動部は、
前記光探知信号が前記光探知素子の前記飽和レベル閾値以下の場合、前記光線の入射を減光するように配置した前記減光部材を、前記光線を減光する前の位置に駆動配置することを特徴とする付記１又は２記載の光探知装置。
【００８３】
（付記４）前記遮光部材は、
前記光探知素子に対する前記光線を遮光するシャッタで構成し、
前記遮光部材駆動部は、
前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光する遮光位置に前記シャッタを駆動配置することを特徴とする付記１，２又は３の何れか一に記載の光探知装置。
【００８４】
（付記５）前記遮光部材は、
前記光探知素子に対する前記光線を集光する集光レンズで構成し、
前記遮光部材駆動部は、
前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光すべく、前記集光レンズの集光位置から外れた遮光位置に前記集光レンズを駆動配置することを特徴とする付記１，２又は３の何れか一に記載の光探知装置。
【００８５】
（付記６）光学系を通じて入射した光線に応じて光探知信号を取得する光探知素子の光探知取得ステップと、
前記光探知信号が前記光探知素子の飽和レベル閾値を超えた場合、前記光探知素子に対する前記光線を減光すべく、減光部材を前記光探知素子の受光軸上に駆動配置する減光部材駆動ステップと、
前記減光部材の温度を検出する温度検出ステップと、
前記光探知素子の受光軸上に配置した前記減光部材の現在温度を検出し、前記減光部材の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光すべく、遮光部材を駆動配置する遮光部材駆動ステップと
を含むことを特徴とする光探知方法。
【００８６】
（付記７）前記遮光部材駆動ステップは、
前記光探知素子の受光軸上に配置した前記減光部材の現在温度が前記耐熱温度閾値以下の場合、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光するように配置した前記遮光部材を、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線遮光前の位置に駆動配置することを特徴とする付記６記載の光探知方法。
【００８７】
（付記８）前記減光部材駆動ステップは、
前記光探知信号が前記光探知素子の前記飽和レベル閾値以下の場合、前記光線の入射を減光するように配置した前記減光部材を、前記光線を減光する前の位置に駆動配置することを特徴とする付記６又は７記載の光探知方法。
【００８８】
（付記９）前記遮光部材は、
前記光探知素子に対する前記光線を遮光するシャッタで構成し、
前記遮光部材駆動ステップは、
前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光する遮光位置に前記シャッタを駆動配置することを特徴とする付記６，７又は８の何れか一に記載の光探知方法。
【００８９】
（付記１０）前記遮光部材は、
前記光探知素子に対する前記光線を集光する集光レンズで構成し、
前記遮光部材駆動ステップは、
前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光すべく、前記集光レンズの集光位置から外れた遮光位置に前記集光レンズを駆動配置することを特徴とする付記６，７又は８の何れか一に記載の光探知方法。
【図面の簡単な説明】
【００９０】
【図１】実施例１の赤外線撮像装置内部の概略構成を示す説明図である。
【図２】赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えた場合の赤外線撮像装置の動作を端的に示す説明図である。
【図３】ＮＤフィルタの現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合の赤外線撮像装置の動作を端的に示す説明図である。
【図４】実施例１の第１検知素子保護処理に関わる赤外線撮像装置の動作を端的に示すフローチャートである。
【図５】実施例２の赤外線撮像装置内部の概略構成を示す説明図である。
【図６】赤外線検知信号が飽和レベル閾値を超えた場合の赤外線撮像装置の動作を端的に示す説明図である。
【図７】ＮＤフィルタの現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合の赤外線撮像装置の動作を端的に示す説明図である。
【図８】実施例２の第２検知素子保護処理に関わる赤外線撮像装置の動作を端的に示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００９１】
１ 赤外線撮像装置
１Ａ 赤外線撮像装置
２ 撮像レンズ
３ 赤外線検知素子
５ ＮＤフィルタ
６ シャッタ
９ フィルタ駆動制御部
９Ａ 飽和レベル閾値判定部
１２ シャッタ駆動制御部
１２Ａ 耐熱温度閾値判定部
２１ 集光レンズ
２４ レンズ駆動制御部
２４Ａ 耐熱温度閾値判定部
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学系を通じて入射した光線に応じて光探知信号を取得する光探知素子と、
前記光探知信号が前記光探知素子の飽和レベル閾値を超えた場合、前記光探知素子に対する前記光線を減光すべく、減光部材を前記光探知素子の受光軸上に駆動配置する減光部材駆動部と、
前記減光部材の温度を検出する温度検出部と、
前記温度検出部にて前記光探知素子の受光軸上に配置した前記減光部材の現在温度を検出し、前記減光部材の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光すべく、遮光部材を駆動配置する遮光部材駆動部と
を有することを特徴とする光探知装置。
【請求項２】
前記遮光部材駆動部は、
前記光探知素子の受光軸上に配置した前記減光部材の現在温度が前記耐熱温度閾値以下の場合、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光するように配置した前記遮光部材を、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線遮光前の位置に駆動配置することを特徴とする請求項１記載の光探知装置。
【請求項３】
前記遮光部材は、
前記光探知素子に対する前記光線を遮光するシャッタで構成し、
前記遮光部材駆動部は、
前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光する遮光位置に前記シャッタを駆動配置することを特徴とする請求項１又は２記載の光探知装置。
【請求項４】
前記遮光部材は、
前記光探知素子に対する前記光線を集光する集光レンズで構成し、
前記遮光部材駆動部は、
前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光すべく、前記集光レンズの集光位置から外れた遮光位置に前記集光レンズを駆動配置することを特徴とする請求項１又は２記載の光探知装置。
【請求項５】
光学系を通じて入射した光線に応じて光探知信号を取得する光探知素子の光探知取得ステップと、
前記光探知信号が前記光探知素子の飽和レベル閾値を超えた場合、前記光探知素子に対する前記光線を減光すべく、減光部材を前記光探知素子の受光軸上に駆動配置する減光部材駆動ステップと、
前記減光部材の温度を検出する温度検出ステップと、
前記光探知素子の受光軸上に配置した前記減光部材の現在温度を検出し、前記減光部材の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光すべく、遮光部材を駆動配置する遮光部材駆動ステップと
を含むことを特徴とする光探知方法。
【請求項６】
前記遮光部材駆動ステップは、
前記光探知素子の受光軸上に配置した前記減光部材の現在温度が前記耐熱温度閾値以下の場合、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光するように配置した前記遮光部材を、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線遮光前の位置に駆動配置することを特徴とする請求項５記載の光探知方法。
【請求項７】
前記遮光部材は、
前記光探知素子に対する前記光線を遮光するシャッタで構成し、
前記遮光部材駆動ステップは、
前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光する遮光位置に前記シャッタを駆動配置することを特徴とする請求項５又は６記載の光探知方法。
【請求項８】
前記遮光部材は、
前記光探知素子に対する前記光線を集光する集光レンズで構成し、
前記遮光部材駆動ステップは、
前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光すべく、前記集光レンズの集光位置から外れた遮光位置に前記集光レンズを駆動配置することを特徴とする請求項５又は６記載の光探知方法。
【請求項１】
光学系を通じて入射した光線に応じて光探知信号を取得する光探知素子と、
前記光探知信号が前記光探知素子の飽和レベル閾値を超えた場合、前記光探知素子に対する前記光線を減光すべく、減光部材を前記光探知素子の受光軸上に駆動配置する減光部材駆動部と、
前記減光部材の温度を検出する温度検出部と、
前記温度検出部にて前記光探知素子の受光軸上に配置した前記減光部材の現在温度を検出し、前記減光部材の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光すべく、遮光部材を駆動配置する遮光部材駆動部と
を有することを特徴とする光探知装置。
【請求項２】
前記遮光部材駆動部は、
前記光探知素子の受光軸上に配置した前記減光部材の現在温度が前記耐熱温度閾値以下の場合、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光するように配置した前記遮光部材を、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線遮光前の位置に駆動配置することを特徴とする請求項１記載の光探知装置。
【請求項３】
前記遮光部材は、
前記光探知素子に対する前記光線を遮光するシャッタで構成し、
前記遮光部材駆動部は、
前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光する遮光位置に前記シャッタを駆動配置することを特徴とする請求項１又は２記載の光探知装置。
【請求項４】
前記遮光部材は、
前記光探知素子に対する前記光線を集光する集光レンズで構成し、
前記遮光部材駆動部は、
前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光すべく、前記集光レンズの集光位置から外れた遮光位置に前記集光レンズを駆動配置することを特徴とする請求項１又は２記載の光探知装置。
【請求項５】
光学系を通じて入射した光線に応じて光探知信号を取得する光探知素子の光探知取得ステップと、
前記光探知信号が前記光探知素子の飽和レベル閾値を超えた場合、前記光探知素子に対する前記光線を減光すべく、減光部材を前記光探知素子の受光軸上に駆動配置する減光部材駆動ステップと、
前記減光部材の温度を検出する温度検出ステップと、
前記光探知素子の受光軸上に配置した前記減光部材の現在温度を検出し、前記減光部材の現在温度が耐熱温度閾値を超えた場合、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光すべく、遮光部材を駆動配置する遮光部材駆動ステップと
を含むことを特徴とする光探知方法。
【請求項６】
前記遮光部材駆動ステップは、
前記光探知素子の受光軸上に配置した前記減光部材の現在温度が前記耐熱温度閾値以下の場合、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光するように配置した前記遮光部材を、前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線遮光前の位置に駆動配置することを特徴とする請求項５記載の光探知方法。
【請求項７】
前記遮光部材は、
前記光探知素子に対する前記光線を遮光するシャッタで構成し、
前記遮光部材駆動ステップは、
前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光する遮光位置に前記シャッタを駆動配置することを特徴とする請求項５又は６記載の光探知方法。
【請求項８】
前記遮光部材は、
前記光探知素子に対する前記光線を集光する集光レンズで構成し、
前記遮光部材駆動ステップは、
前記減光部材及び前記光探知素子に対する前記光線を遮光すべく、前記集光レンズの集光位置から外れた遮光位置に前記集光レンズを駆動配置することを特徴とする請求項５又は６記載の光探知方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【公開番号】特開２００９−２８８１９７（Ｐ２００９−２８８１９７Ａ）
【公開日】平成２１年１２月１０日（２００９．１２．１０）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００８−１４３７４６（Ｐ２００８−１４３７４６）
【出願日】平成２０年５月３０日（２００８．５．３０）
【出願人】（０００００５２２３）富士通株式会社 (25,993)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２１年１２月１０日（２００９．１２．１０）
【国際特許分類】
【出願日】平成２０年５月３０日（２００８．５．３０）
【出願人】（０００００５２２３）富士通株式会社 (25,993)
【Ｆターム（参考）】
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