説明

光画像計測装置及びそれを制御するプログラム

【課題】被測定物体の注目部位の高精度の画像を迅速に取得できる光画像計測装置を提供する。
【解決手段】眼底観察装置1は、低コヒーレンス光L0を信号光LSと参照光LRに分割し、眼底Efを経由した信号光LSと参照ミラー174を経由した参照光LRを重畳させて干渉光LCを生成して検出し、その検出結果を基に眼底EfのOCT画像を形成する光画像計測装置である。眼底観察装置1は、眼底Efに対して信号光LSを走査する走査ユニット141と、信号光LSの一連の走査を行うときに、走査ユニット141を制御して走査間隔を変更させつつ信号光LSを走査させる制御部210とを備えている。それにより、注目部位については小さな走査間隔で高精度の画像を取得でき、他の部位については大きな走査間隔で走査時間を短縮できる。したがって、眼底Efの注目部位の高精度の画像を迅速に取得できる。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
この発明は、被測定物体を光ビームで走査し、その反射光を用いて被測定物体の画像を形成する光画像計測装置及びそれを制御するプログラムに関する。
【背景技術】
【0002】
近年、レーザ光源等からの光ビームを用いて被測定物体の表面形態や内部形態を表す画像を形成する光画像計測技術が注目を集めている。この光画像計測技術は、X線CT装置のような人体に対する侵襲性を持たないことから、特に医療分野における応用の展開が期待されている。
【0003】
特許文献1には、測定腕が回転式転向鏡(ガルバノミラー)により物体を走査し、参照腕に参照ミラーが設置されており、さらにその出口では、計測腕及び参照腕からの光束の干渉によって現れる光の強度が分光器で分析もされるという干渉器が利用されていて、参照腕には参照光光束位相を不連続な値で段階的に変える装置が設けられた構成の光画像計測装置が開示されている。
【0004】
特許文献1の光画像計測装置は、いわゆる「フーリエドメインOCT(Fourier Domain Optical Coherence Tomography)」の手法を用いるものである。すなわち、被測定物体に対して低コヒーレンス光のビームを照射し、その反射光のスペクトル強度分布を取得し、それをフーリエ変換することにより、被測定物体の深度方向(z方向)の形態を画像化するものである。
【0005】
更に、特許文献1に記載の光画像計測装置は、光ビーム(信号光)を走査するガルバノミラーを備え、それにより被測定物体の所望の測定対象領域の画像を形成できるようになっている。なお、この光画像計測装置においては、z方向に直交する1方向(x方向)にのみ光ビームを走査するようになっているので、形成される画像は、光ビームの走査方向(x方向)に沿った深度方向(z方向)の2次元断層画像となる。
【0006】
また、特許文献2には、信号光を水平方向及び垂直方向に走査することにより水平方向の2次元断層画像を複数形成し、これら複数の断層画像に基づいて測定範囲の3次元の断層情報を取得して画像化する技術が開示されている。この3次元画像化としては、たとえば、複数の断層画像を垂直方向に並べて表示させる方法や(スタックデータなどと呼ばれる)、複数の断層画像にレンダリング処理を施して3次元画像を形成する方法などが考えられる。
【0007】
また、特許文献3には、このような光画像計測装置を眼科分野に適用した構成が開示されている。
【0008】
【特許文献1】特開平11−325849号公報
【特許文献2】特開2002−139421号公報
【特許文献3】特開2003−543号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0009】
一般に、観察者は、被測定物体の注目部位の状態を観察するために光画像計測装置を使用する。たとえば眼科分野においては、眼底の視神経乳頭や黄斑部、更には病変部や治療部位などが主な注目部位である。
【0010】
従来の光画像計測装置は、注目部位もその他の部位も同じ精度(分解能)で計測を行っていたため、次のような問題が生じることがあった。まず、注目部位の状態を詳しく観察するためには精度を高く設定する必要があるが、そうすると、その他の部位についても高精度で計測を実行することになり、結果として計測に長い時間が掛かってしまい、患者への身体的、肉体的な負担が大きかった。一方、その他の部位の精度に合わせて計測を行うと、注目部位の精度が不十分となり、注目部位の状態を詳細に把握できないことがあった。
【0011】
この発明は、このような問題を解決するためになされたもので、被測定物体の注目部位の高精度の画像を迅速に取得することが可能な光画像計測装置及びそれを制御するプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0012】
上記目的を達成するために、請求項1に記載の発明は、低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した前記信号光と参照物体を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、前記生成された干渉光を検出する検出手段と、前記検出手段による検出結果に基づいて前記被測定物体の画像を形成する画像形成手段と、を有する光画像計測装置であって、前記被測定物体に対して信号光を走査する走査手段と、信号光の一連の走査を行うときに、前記走査手段を制御し、走査間隔を変更させつつ信号光を走査させる制御手段と、を備えることを特徴とする。
【0013】
また、請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の光画像計測装置であって、前記被測定物体の画像中の注目領域を指定するための指定手段を更に備え、前記制御手段は、前記指定された注目領域に対応する注目部位を含む前記被測定物体の部分領域に対する走査間隔が、前記部分領域以外の領域に対する走査間隔よりも小さくなるように、前記信号光を走査させる、ことを特徴とする。
【0014】
また、請求項3に記載の発明は、請求項2に記載の光画像計測装置であって、前記指定手段は、前記被測定物体の画像を解析して前記注目領域を抽出する抽出手段を含む、ことを特徴とする。
【0015】
また、請求項4に記載の発明は、請求項3に記載の光画像計測装置であって、前記被測定物体は眼底であり、前記抽出手段は、前記眼底の視神経乳頭に対応する画像位置から所定距離だけ離れた画像領域を前記注目領域として抽出する、ことを特徴とする。
【0016】
また、請求項5に記載の発明は、請求項3に記載の光画像計測装置であって、前記被測定物体は眼底であり、前記抽出手段は、前記眼底の黄斑部に対応する画像位置から所定距離だけ離れた画像領域を前記注目領域として抽出する、ことを特徴とする。
【0017】
また、請求項6に記載の発明は、請求項4又は請求項5に記載の光画像計測装置であって、前記抽出手段は、前記眼底の画像を解析して前記画像位置を特定し、前記特定された画像位置から前記所定距離だけ離れた画像領域を前記注目領域として抽出する、ことを特徴とする。
【0018】
また、請求項7に記載の発明は、請求項4又は請求項5に記載の光画像計測装置であって、前記指定手段は、前記眼底の画像中の前記画像位置を指定するための操作手段を含み、前記抽出手段は、該指定された前記画像位置から前記所定距離だけ離れた画像領域を前記注目領域として抽出する、ことを特徴とする。
【0019】
また、請求項8に記載の発明は、請求項6又は請求項7に記載の光画像計測装置であって、前記指定手段は、前記眼底の表面の2次元画像を前記眼底の画像として撮影する撮影手段を含む、ことを特徴とする。
【0020】
また、請求項9に記載の発明は、請求項2に記載の光画像計測装置であって、前記被測定物体は被検眼であり、2以上の固視位置のうちのいずれかに固視させるための固視標を前記被検眼に投影する投影手段と、前記被検眼に対する前記信号光の走査パターンを指定するための走査指定手段と、を更に備え、前記指定手段は、前記投影手段による固視位置と該指定された走査パターンとに基づいて前記注目領域を指定する、ことを特徴とする。
【0021】
また、請求項10に記載の発明は、請求項2に記載の光画像計測装置であって、前記指定手段は、前記注目領域を指定するための操作手段を含む、ことを特徴とする。
【0022】
また、請求項11に記載の発明は、請求項10に記載の光画像計測装置であって、前記指定手段は、前記被測定物体の表面の2次元画像を前記被測定物体の画像として撮影する撮影手段と、前記撮影された2次元画像を表示する表示手段とを含み、前記操作手段は、前記表示された2次元画像中に前記注目領域を指定するために用いられる、ことを特徴とする。
【0023】
また、請求項12に記載の発明は、請求項1に記載の光画像計測装置であって、前記制御手段は、前記一連の走査における信号光の走査間隔を表す情報を記憶する記憶手段を含み、信号光の一連の走査を新たに行うときに、前記記憶された情報に基づいて信号光を走査させる、ことを特徴とする。
【0024】
また、請求項13に記載の発明は、請求項1に記載の光画像計測装置であって、前記制御手段は、前記一連の走査における信号光の走査間隔を表す情報を記憶する記憶手段を含み、前記画像形成手段は、前記記憶された情報に基づいて前記被測定物体の3次元画像を形成する、ことを特徴とする。
【0025】
また、請求項14に記載の発明は、低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した前記信号光と参照物体を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、前記生成された干渉光を検出する検出手段と、前記被測定物体に対して信号光を走査する走査手段と、コンピュータと、を有し、前記検出手段による検出結果に基づいて前記被測定物体の画像を形成する光画像計測装置を制御するプログラムであって、信号光の一連の走査を行うときに、前記走査手段を制御し、走査間隔を変更させつつ信号光を走査させる制御手段として前記コンピュータを機能させる、ことを特徴とする。
【発明の効果】
【0026】
この発明によれば、走査間隔を変更させながら信号光の一連の走査を実行できる。したがって、被測定物体の注目部位(及びこれを含む部分領域)に対する走査間隔を、それ以外の領域に対する走査間隔よりも小さくする設定することができ、それにより、注目部位の高精度の画像を迅速に取得することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0027】
この発明に係る光画像計測装置及びそれを制御するプログラムの実施形態の一例について、図面を参照しながら詳細に説明する。
【0028】
この発明は、被測定物体を経由した光と参照物体を経由した光とを重畳して得られる干渉光に基づいて画像を形成するOCT技術に関連し、特に、被測定物体に対して光を走査させて計測を行うフーリエドメインOCTやスウェプトソースOCTに対して好適に利用されるものである。
【0029】
[装置構成]
まず、この発明に係る光画像計測装置の実施形態の構成について図1〜図6を参照しながら説明する。この実施形態に係る光画像計測装置は、眼科分野において使用されるものである。図1は、この発明に係る光画像計測装置としての機能を有する眼底観察装置1の全体構成の一例を表している。図2は、眼底カメラユニット1A内の走査ユニット141の構成の一例を表している。図3は、OCTユニット150の構成の一例を表している。図4は、演算制御装置200のハードウェア構成の一例を表している。図5及び図6は、眼底観察装置1の制御系の構成の一例を表している。
【0030】
[全体構成]
眼底観察装置1は、図1に示すように、眼底カメラユニット1A、OCTユニット150及び演算制御装置200を含んで構成される。眼底カメラユニット1Aは、眼底表面の2次元画像を撮影する従来の眼底カメラとほぼ同様の光学系を有している。OCTユニット150は、光画像計測装置として機能する光学系を格納している。演算制御装置200は、各種の演算処理や制御処理等を実行するコンピュータを具備している。
【0031】
OCTユニット150には、接続線152の一端が取り付けられている。接続線152の他端には、接続線152を眼底カメラユニット1Aに接続するコネクタ部151が取り付けられている。接続線152の内部には光ファイバが導通されている。このように、OCTユニット150と眼底カメラユニット1Aは、接続線152を介して光学的に接続されている。
【0032】
〔眼底カメラユニットの構成〕
眼底カメラユニット1Aは、光学的に取得されるデータ(撮像装置10、12により検出されるデータ)に基づいて被検眼の眼底の表面の2次元画像を形成するために用いられる。ここで、眼底の表面の2次元画像とは、眼底の表面を撮影したカラー画像やモノクロ画像、更には蛍光画像(フルオレセイン蛍光画像、インドシアニングリーン蛍光画像等)などを表す。眼底カメラユニット1Aは、従来の眼底カメラと同様に、眼底Efを照明する照明光学系100と、この照明光の眼底反射光を撮像装置10に導く撮影光学系120とを備えている。
【0033】
なお、詳細は後述するが、撮影光学系120における撮像装置10は、近赤外領域の波長を有する照明光を検出する。また、撮影光学系120には、可視領域の波長を有する照明光を検出する撮像装置12が別途設けられている。更に、撮影光学系120は、OCTユニット150からの信号光を眼底Efに導くとともに、眼底Efを経由した信号光をOCTユニット150に導くように作用する。
【0034】
照明光学系100は、観察光源101、コンデンサレンズ102、撮影光源103、コンデンサレンズ104、エキサイタフィルタ105及び106、リング透光板107、ミラー108、LCD(Liquid Crystal Display)109、照明絞り110、リレーレンズ111、孔開きミラー112、対物レンズ113を含んで構成される。
【0035】
観察光源101は、たとえば約400nm〜700nmの範囲に含まれる可視領域の波長の照明光を出力する。また、撮影光源103は、たとえば約700nm〜800nmの範囲に含まれる近赤外領域の波長の照明光を出力する。撮影光源103から出力される近赤外光は、OCTユニット150で使用する光の波長よりも短く設定されている(後述)。
【0036】
また、撮影光学系120は、対物レンズ113、孔開きミラー112(の孔部112a)、撮影絞り121、バリアフィルタ122及び123、変倍レンズ124、リレーレンズ125、撮影レンズ126、ダイクロイックミラー134、フィールドレンズ(視野レンズ)128、ハーフミラー135、リレーレンズ131、ダイクロイックミラー136、撮影レンズ133、撮像装置10(撮像素子10a)、反射ミラー137、撮影レンズ138、撮像装置12(撮像素子12a)、レンズ139及びLCD140を含んで構成される。
【0037】
更に、撮影光学系120には、ダイクロイックミラー134、ハーフミラー135、ダイクロイックミラー136、反射ミラー137、撮影レンズ138、レンズ139及びLCD140が設けられている。
【0038】
ダイクロイックミラー134は、照明光学系100からの照明光の眼底反射光(約400nm〜800nmの範囲に含まれる波長を有する)を反射するとともに、OCTユニット150からの信号光LS(たとえば約800nm〜900nmの範囲に含まれる波長を有する;後述)を透過させるように構成されている。
【0039】
また、ダイクロイックミラー136は、照明光学系100からの可視領域の波長を有する照明光(観察光源101から出力される波長約400nm〜700nmの可視光)を透過させるとともに、近赤外領域の波長を有する照明光(撮影光源103から出力される波長約700nm〜800nmの近赤外光)を反射するように構成されている。
【0040】
LCD140は、被検眼Eを固視させるための固視標(内部固視標)を表示する。LCD140からの光は、レンズ139により集光された後に、ハーフミラー135により反射され、フィールドレンズ128を経由してダイクロイックミラー136に反射される。更に、この光は、撮影レンズ126、リレーレンズ125、変倍レンズ124、孔開きミラー112(の孔部112a)、対物レンズ113等を経由して、被検眼Eに入射する。それにより、被検眼Eの眼底Efに内部固視標が投影される。
【0041】
内部固視標を表示するLCD140、及び、表示された内部固視標を被検眼Eに投影する上記の光学系は、この発明の「投影手段」の一例である。なお、投影手段は、眼底カメラユニット1Aの外部に設けられて被検眼Eに固視標を投影する構成としてもよい。
【0042】
撮像素子10aは、テレビカメラ等の撮像装置10に内蔵されたCCD(Charge Coupled Devices)やCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)等の撮像素子であり、特に、近赤外領域の波長の光を検出する。つまり、撮像装置10は、近赤外光を検出する赤外線テレビカメラである。撮像装置10は、近赤外光を検出した結果として映像信号を出力する。
【0043】
タッチパネルモニタ11は、この映像信号に基づいて、眼底Efの表面の2次元画像(眼底画像Ef′)を表示する。また、この映像信号は演算制御装置200に送られ、ディスプレイ(後述)に眼底画像が表示される。
【0044】
なお、撮像装置10による眼底撮影時には、たとえば照明光学系100の撮影光源103から出力される近赤外領域の波長を有する照明光が用いられる。
【0045】
一方、撮像素子12aは、テレビカメラ等の撮像装置12に内蔵されたCCDやCMOS等の撮像素子であり、特に、可視領域の波長の光を検出する。つまり、撮像装置12は、可視光を検出するテレビカメラである。撮像装置12は、可視光を検出した結果として映像信号を出力する。
【0046】
タッチパネルモニタ11は、この映像信号に基づいて、眼底Efの表面の2次元画像(眼底画像Ef′)を表示する。また、この映像信号は演算制御装置200に送られ、ディスプレイ(後述)に眼底画像が表示される。
【0047】
なお、撮像装置12による眼底撮影時には、たとえば照明光学系100の観察光源101から出力される可視領域の波長を有する照明光が用いられる。
【0048】
眼底カメラユニット1Aには、走査ユニット141とレンズ142とが設けられている。走査ユニット141は、OCTユニット150から出力される光(信号光LS;後述)の眼底Efに対する照射位置を走査するための構成を具備する。走査ユニット141は、この発明の「走査手段」の一例である。
【0049】
レンズ142は、OCTユニット150から接続線152を通じて導光された信号光LSを平行な光束にして走査ユニット141に入射させる。また、レンズ142は、走査ユニット141を経由してきた信号光LSの眼底反射光を集束させる。
【0050】
図2に、走査ユニット141の構成の一例を示す。走査ユニット141は、ガルバノミラー141A、141Bと、反射ミラー141C、141Dとを含んで構成されている。
【0051】
ガルバノミラー141A、141Bは、それぞれ回動軸141a、141bを中心に回動可能に配設された反射ミラーである。各ガルバノミラー141A、141Bは、後述の駆動機構(図5に示すミラー駆動機構241、242)によって回動軸141a、141bを中心にそれぞれ回動される。それにより、各ガルバノミラー141A、141Bの反射面(信号光LSを反射する面)の向きが変更される。
【0052】
回動軸141a、141bは、互いに直交して配設されている。図2においては、ガルバノミラー141Aの回動軸141aは、紙面に対して平行方向に配設されている。また、ガルバノミラー141Bの回動軸141bは、紙面に対して直交する方向に配設されている。
【0053】
すなわち、ガルバノミラー141Bは、図2中の両側矢印に示す方向に回動可能に構成され、ガルバノミラー141Aは、当該両側矢印に対して直交する方向に回動可能に構成されている。それにより、ガルバノミラー141A、141Bは、信号光LSの反射方向を互いに直交する方向に変更するようにそれぞれ作用する。図1、図2から分かるように、ガルバノミラー141Aを回動させると信号光LSはx方向に走査され、ガルバノミラー141Bを回動させると信号光LSはy方向に走査される。
【0054】
ガルバノミラー141A、141Bにより反射された信号光LSは、反射ミラー141C、141Dにより反射され、ガルバノミラー141Aに入射したときと同じ向きに進行するようになっている。
【0055】
なお、接続線152の内部の光ファイバ152aの端面152bは、レンズ142に対峙して配設される。端面152bから出射された信号光LSは、レンズ142に向かってビーム径を拡大しつつ進行し、レンズ142によって平行な光束とされる。逆に、眼底Efを経由した信号光LSは、レンズ142により端面152bに向けて集束されて光ファイバ152aに入射する。
【0056】
〔OCTユニットの構成〕
次に、OCTユニット150の構成について図3を参照しつつ説明する。OCTユニット150は、光学的に取得されるデータ(後述のCCD184により検出されるデータ)に基づいて眼底の断層画像を形成するための装置である。
【0057】
OCTユニット150は、従来の光画像計測装置とほぼ同様の光学系を備えている。すなわち、OCTユニット150は、低コヒーレンス光を参照光と信号光に分割し、被検眼を経由した信号光と参照物体を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成してこれを検出する。この検出結果(検出信号)は演算制御装置200に入力される。演算制御装置200は、この検出信号を解析して被検眼の断層画像を形成する。
【0058】
低コヒーレンス光源160は、低コヒーレンス光L0を出力するスーパールミネセントダイオード(SLD:Super Luminescent Diode)や発光ダイオード(LED:Light Emitted Diode)等の広帯域光源により構成される。低コヒーレンス光L0は、たとえば、近赤外領域の波長の光を含み、かつ、数十マイクロメートル程度の時間的コヒーレンス長を有する光とされる。
【0059】
低コヒーレンス光L0は、眼底カメラユニット1Aの照明光(波長約400nm〜800nm)よりも長い波長、たとえば約800nm〜900nmの範囲に含まれる波長を有する。
【0060】
低コヒーレンス光源160から出力された低コヒーレンス光L0は、光ファイバ161を通じて光カプラ162に導かれる。光ファイバ161は、たとえばシングルモードファイバないしはPMファイバ(Polarization maintaining fiber;偏波面保持ファイバ)等によって構成されている。光カプラ162は、低コヒーレンス光L0を参照光LRと信号光LSとに分割する。
【0061】
なお、光カプラ162は、光を分割する手段(スプリッタ;splitter)、及び、光を重畳する手段(カプラ;coupler)の双方として作用するものであるが、ここでは慣用的に「光カプラ」と称することにする。
【0062】
光カプラ162により生成された参照光LRは、シングルモードファイバ等からなる光ファイバ163により導光されてファイバ端面から出射される。更に、参照光LRは、コリメータレンズ171により平行光束とされた後に、ガラスブロック172及び濃度フィルタ173を経由し、参照ミラー174により反射される。参照ミラー174は、この発明の「参照物体」の例である。
【0063】
参照ミラー174により反射された参照光LRは、再び濃度フィルタ173及びガラスブロック172を経由し、コリメータレンズ171によって光ファイバ163のファイバ端面に集光され、光ファイバ163を通じて光カプラ162に導かれる。
【0064】
ここで、ガラスブロック172と濃度フィルタ173は、参照光LRと信号光LSの光路長(光学距離)を合わせるための遅延手段として、また参照光LRと信号光LSの分散特性を合わせるための分散補償手段として作用している。
【0065】
また、濃度フィルタ173は、参照光の光量を減少させる減光フィルタとしても作用し、たとえば回転型のND(Neutral Density)フィルタによって構成される。濃度フィルタ173は、モータ等の駆動装置を含んで構成される駆動機構(後述の濃度フィルタ駆動機構244;図5参照)によって回転駆動されることで、参照光LRの光量の減少量を変更させるように作用する。それにより、干渉光LCの生成に寄与する参照光LRの光量を変更させることができる。
【0066】
また、参照ミラー174は、参照光LRの進行方向(図3に示す両側矢印方向)に移動されるようになっている。それにより、被検眼Eの眼軸長やワーキングディスタンス(対物レンズ113と被検眼Eとの距離)などに応じた参照光LRの光路長を確保できる。また、参照ミラー174を移動させることにより、眼底Efの任意の深度位置の画像を取得することが可能である。なお、参照ミラー174は、モータ等の駆動装置を含んで構成される駆動機構(後述の参照ミラー駆動機構243;図5参照)によって移動される。
【0067】
一方、光カプラ162により生成された信号光LSは、シングルモードファイバ等からなる光ファイバ164により接続線152の端部まで導光される。接続線152の内部には光ファイバ152aが導通されている。なお、光ファイバ164と光ファイバ152aは、単一の光ファイバから形成されていてもよいし、各々の端面同士を接合するなどして一体的に形成されていてもよい。いずれにしても、光ファイバ164、152aは、眼底カメラユニット1AとOCTユニット150との間で、信号光LSを伝送可能に構成されていれば十分である。
【0068】
信号光LSは、接続線152内部を導光されて眼底カメラユニット1Aに案内される。更に、信号光LSは、レンズ142、走査ユニット141、ダイクロイックミラー134、撮影レンズ126、リレーレンズ125、変倍レンズ124、撮影絞り121、孔開きミラー112の孔部112a、対物レンズ113を経由して被検眼Eに照射される。なお、信号光LSを被検眼Eに照射させるときには、バリアフィルタ122、123は、それぞれ事前に光路から退避される。
【0069】
被検眼Eに入射した信号光LSは、眼底Ef上にて結像し反射される。このとき、信号光LSは、眼底Efの表面で反射されるだけでなく、眼底Efの深部領域にも到達して屈折率境界において散乱される。したがって、眼底Efを経由した信号光LSは、眼底Efの表面形態を反映する情報と、眼底Efの深層組織の屈折率境界における後方散乱の状態を反映する情報とを含んでいる。この光を単に「信号光LSの眼底反射光」と呼ぶことがある。
【0070】
信号光LSの眼底反射光は、眼底カメラユニット1A内の上記経路を逆向きに進行して光ファイバ152aの端面152bに集光され、光ファイバ152aを通じてOCTユニット150に入射し、光ファイバ164を通じて光カプラ162に戻ってくる。
【0071】
光カプラ162は、被検眼Eを経由して戻ってきた信号光LSと、参照ミラー174にて反射された参照光LRとを重畳して干渉光LCを生成する。生成された干渉光LCは、シングルモードファイバ等からなる光ファイバ165を通じてスペクトロメータ180に導かれる。
【0072】
なお、この実施形態ではマイケルソン型の干渉計を採用しているが、たとえばマッハツェンダー型など任意のタイプの干渉計を適宜に採用することが可能である。
【0073】
なお、この発明の「干渉光生成手段」は、たとえば、光カプラ162と、信号光LSの光路上の光学部材(つまり光カプラ162と被検眼Eとの間に配置された光学部材)と、参照光LRの光路上の光学部材(つまり光カプラ162と参照ミラー174との間に配置された光学部材)とを含んで構成され、特に、光カプラ162、光ファイバ163、164及び参照ミラー174を具備する干渉計を含んで構成される。
【0074】
スペクトロメータ(分光計)180は、コリメータレンズ181、回折格子182、結像レンズ183、CCD184を含んで構成される。回折格子182は、光を透過させる透過型の回折格子であってもよいし、光を反射する反射型の回折格子であってもよい。また、CCD184に代えて、CMOS等の他の光検出素子を用いることも可能である。
【0075】
スペクトロメータ180に入射した干渉光LCは、コリメータレンズ181により平行光束とされ、回折格子182によって分光(スペクトル分解)される。分光された干渉光LCは、結像レンズ183によってCCD184の撮像面上に結像される。CCD184は、分光された干渉光LCの各スペクトルを検出して電気的な信号に変換し、この検出信号を演算制御装置200に出力する。CCD184は、この発明の「検出手段」の一例である。
【0076】
〔演算制御装置の構成〕
次に、演算制御装置200の構成について説明する。演算制御装置200は、OCTユニット150のCCD184から入力される検出信号を解析して、眼底Efの断層画像を形成する。このときの解析手法は、従来のフーリエドメインOCTの手法と同様である。
【0077】
また、演算制御装置200は、眼底カメラユニット1Aの撮像装置10、12から出力される映像信号に基づいて眼底Efの表面の形態を示す2次元画像を形成する。
【0078】
更に、演算制御装置200は、眼底カメラユニット1A及びOCTユニット150の各部を制御する。
【0079】
眼底カメラユニット1Aの制御として、演算制御装置200は、観察光源101や撮影光源103による照明光の出力制御、エキサイタフィルタ105、106やバリアフィルタ122、123の光路上への挿入/退避動作の制御、LCD140等の表示装置の動作制御、照明絞り110の移動制御(絞り値の制御)、撮影絞り121の絞り値の制御、変倍レンズ124の移動制御(倍率の制御)などを行う。更に、演算制御装置200は、ガルバノミラー141A、141Bの動作制御を行う。
【0080】
また、OCTユニット150の制御として、演算制御装置200は、低コヒーレンス光源160による低コヒーレンス光L0の出力制御、参照ミラー174の移動制御、濃度フィルタ173の回転動作(参照光LRの光量の減少量の変更動作)の制御、CCD184の蓄積時間の制御などを行う。
【0081】
このような演算制御装置200のハードウェア構成について図4を参照しつつ説明する。
【0082】
演算制御装置200は、従来のコンピュータと同様のハードウェア構成を備えている。具体的には、演算制御装置200は、マイクロプロセッサ201、RAM202、ROM203、ハードディスクドライブ(HDD)204、キーボード205、マウス206、ディスプレイ207、画像形成ボード208及び通信インターフェイス(I/F)209を含んで構成される。これら各部は、バス200aにより接続されている。
【0083】
マイクロプロセッサ201は、CPU(Central Processing Unit)やMPU(Micro Processing Unit)等を含んで構成される。マイクロプロセッサ201は、ハードディスクドライブ204に格納された制御プログラム204aをRAM202上に展開することで、この実施形態に特徴的な動作を実行する。
【0084】
また、マイクロプロセッサ201は、前述した装置各部の制御や、各種の演算処理などを実行する。また、マイクロプロセッサ201は、キーボード205やマウス206からの操作信号を受け、その操作内容に応じて装置各部を制御する。更に、マイクロプロセッサ201は、ディスプレイ207による表示処理の制御や、通信インターフェイス209によるデータや信号の送受信処理の制御などを行う。
【0085】
キーボード205、マウス206及びディスプレイ207は、眼底観察装置1のユーザインターフェイスとして使用される。キーボード205は、たとえば文字や数字等をタイピング入力するためのデバイスとして用いられる。マウス206は、ディスプレイ207の表示画面に対する各種入力操作を行うためのデバイスとして用いられる。
【0086】
また、ディスプレイ207は、たとえばLCDやCRT(Cathode Ray Tube)ディスプレイ等の表示デバイスであり、眼底観察装置1により形成された眼底Efの画像などの各種の画像を表示したり、操作画面や設定画面などの各種の画面を表示したりする。
【0087】
なお、眼底観察装置1のユーザインターフェイスは、このような構成に限定されるものではなく、たとえばトラックボール、ジョイスティック、タッチパネル式のLCD、眼科検査用のコントロールパネルなどを含んでいてもよい。ユーザインターフェイスとしては、情報を表示出力する機能と、情報を入力したり装置の操作を行ったりする機能とを具備する任意の構成を採用できる。
【0088】
画像形成ボード208は、眼底Efの画像(画像データ)を形成する処理を行う専用の電子回路である。画像形成ボード208には、眼底画像形成ボード208aとOCT画像形成ボード208bとが設けられている。
【0089】
眼底画像形成ボード208aは、撮像装置10や撮像装置12からの映像信号に基づいて眼底画像の画像データを形成する専用の電子回路である。
【0090】
また、OCT画像形成ボード208bは、OCTユニット150のCCD184からの検出信号に基づいて眼底Efの断層画像の画像データを形成する専用の電子回路である。
【0091】
このような画像形成ボード208を設けることにより、眼底画像や断層画像を形成する処理の処理速度を向上させることができる。
【0092】
通信インターフェイス209は、マイクロプロセッサ201からの制御信号を、眼底カメラユニット1AやOCTユニット150に送信する。また、通信インターフェイス209は、撮像装置10、12からの映像信号や、OCTユニット150のCCD184からの検出信号を受信して、画像形成ボード208に入力する。このとき、通信インターフェイス209は、撮像装置10、12からの映像信号を眼底画像形成ボード208aに入力し、CCD184からの検出信号をOCT画像形成ボード208bに入力するようになっている。
【0093】
また、演算制御装置200がLAN(Local Area Network)やインターネット等の通信回線に接続されている場合には、LANカード等のネットワークアダプタやモデム等の通信機器を通信インターフェイス209に具備させ、この通信回線を介してデータ通信を行えるように構成できる。この場合、制御プログラム204aを格納するサーバを通信回線上に設置するとともに、演算制御装置200を当該サーバのクライアント端末として構成することにより、眼底観察装置1を動作させることができる。
【0094】
〔制御系の構成〕
次に、眼底観察装置1の制御系の構成について図5及び図6を参照しつつ説明する。
【0095】
(制御部)
眼底観察装置1の制御系は、演算制御装置200の制御部210を中心に構成される。制御部210は、マイクロプロセッサ201、RAM202、ROM203、ハードディスクドライブ204(制御プログラム204a)、通信インターフェイス209等を含んで構成される。
【0096】
制御部210は、制御プログラム204aに基づいて動作するマイクロプロセッサ201により前述の制御を行う。制御部210には、主制御部211、記憶部212及び走査設定部213が設けられている。制御部210は、この発明の「制御手段」の一例である。
【0097】
主制御部211は、ミラー駆動機構241、242を制御してガルバノミラー141A、141Bの位置を制御し、それにより、眼底Efに対して信号光LSを走査させる。
【0098】
また、主制御部211は、LCD140を制御して、様々な固視位置に被検眼Eを固視させるための内部固視標を表示させる。固視位置の例としては、眼底Efの視神経乳頭の画像を取得するための固視位置や、黄斑部の画像を取得するための固視位置などがある。更に、任意の固視位置に被検眼Eを固視させることも可能である。そのために、たとえば操作部240Bを操作することで内部固視標の被検眼Eへの投影位置を変更できるように構成できる。また、記憶部212に記憶された過去の固視位置の情報などに基づいて内部固視標の被検眼Eへの投影位置を変更できるように構成できる。
【0099】
また、主制御部211は、低コヒーレンス光源160の点灯/消灯の制御、CCD184の制御、濃度フィルタ173を回転させるための濃度フィルタ駆動機構244の制御、参照光LRの進行方向に参照ミラー174を移動させるための参照ミラー駆動機構243の制御、観察光源101及び撮影光源103の点灯/消灯の制御など、装置各部の制御を実行する。
【0100】
また、主制御部211は、眼底観察装置1により撮影される2種類の画像、すなわち眼底画像Ef′と断層画像とを、ユーザインターフェイス(UI)240の表示部240Aに表示させる。これらの画像は、個別に表示させることもできるし、並べて表示させることもできる。
【0101】
記憶部212は、画像形成部220や画像処理部230により形成された画像データを記憶する。また、記憶部212は、走査設定部213により設定された情報など、各種のデータを記憶する。なお、記憶部212に対するデータの書き込み処理や、記憶部212からのデータの読み出し処理は、主制御部211が実行する。
【0102】
走査設定部213は、信号光LSの走査に関する情報を設定する。たとえば、走査設定部213は、信号光LSの走査点や走査線や走査領域を設定する。この処理の詳細については後述する。
【0103】
(画像形成部)
画像形成部220は、撮像装置10、12からの映像信号に基づいて眼底画像Ef′の画像データを形成する。また、画像形成部220は、OCTユニット150のCCD184からの検出信号に基づいて眼底Efの断層画像の画像データを形成する。
【0104】
画像形成部220は、画像形成ボード208や通信インターフェイス209等を含んで構成される。なお、この明細書では、「画像」と、それに対応する「画像データ」とを同一視することがある。
【0105】
(画像処理部)
画像処理部230は、画像形成部220により形成された画像の画像データに対して各種の画像処理や解析処理を施す。たとえば、画像処理部230は、画像の輝度補正や分散補正等の各種補正処理などを実行する。
【0106】
また、画像処理部230は、画像形成部220により形成された断層画像に対し、断層画像間の画素を補間する補間処理等を施すことにより、眼底Efの3次元画像の画像データを形成する。
【0107】
なお、3次元画像の画像データとは、3次元的に配列された複数のボクセルのそれぞれに画素値を付与して成る画像データである。この画像データは、ボリュームデータ或いはボクセルデータなどと呼ばれる。ボリュームデータに基づく画像を表示させる場合、画像処理部230は、このボリュームデータに対してレンダリング処理(ボリュームレンダリングやMIP(Maximum Intensity Projection:最大値投影)など)を施して、特定の視線方向から見たときの擬似的な3次元画像の画像データを形成する。ディスプレイ207等の表示デバイスには、この画像データに基づく擬似的な3次元画像が表示される。
【0108】
また、画像処理部230は、複数の断層画像のスタックデータを形成することも可能である。スタックデータは、複数の走査線に沿って得られた複数の断層画像を、走査線の位置関係に基づいて配列させることにより得られる画像データである。
【0109】
画像処理部230には、画像抽出部231が設けられている。画像抽出部231は、眼底Efの画像を解析して注目領域を抽出する。ここで、眼底Efの画像は、眼底Efの表面の2次元画像(眼底画像Ef′)でもよいし、眼底Efの断層画像でもよい。また、注目領域とは、眼底Efの注目部位を表す画像領域を意味する。眼底Efの注目部位としては、視神経乳頭、黄斑部、病変部などがある。また、眼底以外の部位の画像を取得する場合には、その部位に応じた注目領域がある。画像抽出部231は、この発明の「抽出手段」及び「指定手段」の一例である。
【0110】
注目領域を抽出する処理の具体例を説明する。まず、眼底画像Ef′から注目領域を抽出する場合の例を説明する。画像抽出部231は、眼底画像Ef′を形成する画素の画素値(輝度値、RGB値等)を解析することにより注目領域を抽出することができる。
【0111】
たとえば視神経乳頭に対応する注目領域を抽出する場合、当該注目領域が周囲よりも明るい(たとえば輝度値が大きい)という特徴や、形状がほぼ円形であるという特徴を考慮すると、公知の閾値処理や境界抽出処理等の画像処理を適用することで当該注目領域を抽出できる。また、視神経乳頭に対応する注目領域が抽出されたら、この注目領域の中心、重心、境界などの特徴的な部位を特定することも可能である。
【0112】
黄斑部に対応する注目領域を抽出する場合、当該注目領域が周囲よりも暗い(たとえば輝度値が小さい)という特徴や、形状がほぼ円形であるという特徴を考慮すると、上記と同様の画像処理を適用することで当該注目領域を抽出できる。また、黄斑部に対応する注目領域が抽出されたら、この注目領域の中心、重心、境界などの特徴的な部位を特定することも可能である。
【0113】
病変部に対応する注目領域を抽出する場合、その病変部がどのように眼底画像Ef′中に描写されるか、つまり周囲と比較してどのような特徴の画素値や形状を有するかを事前に把握しておくことにより、上記と同様の画像処理によって当該注目領域を抽出できる。なお、病変部の描写の把握は、たとえば過去に撮影された眼底画像や臨床データを解析することにより取得できる。
【0114】
次に、眼底Efの断層画像から注目領域を抽出する場合の例を説明する。注目領域が視神経乳頭や黄斑部に相当する場合、当該部位の形状に基づいて注目領域を抽出できる。たとえば視神経乳頭や黄斑部は、その周辺部位と比較して眼底Efの奥側(z方向)に窪んでいる。画像抽出部231は、断層画像の画素値を解析することにより、眼底Efの表面、つまり網膜と硝子体との境界に相当する画像領域を特定する。更に、画像抽出部231は、特定された画像領域の形状を解析してz方向に窪んだ領域を特定し、注目領域として抽出する。
【0115】
注目領域が病変部である場合について説明する。断層画像中の病変部には、網膜剥離等のように形状から特定可能なものや、腫瘍等のように形状からは特定困難なものなどがある。前者の場合、視神経乳頭等と同様にして抽出できる。一方、後者の場合、病変部は、その周辺部位と異なる画素値(輝度値等)で表現されることがある。その場合、画像抽出部231は、断層画像の画素値を参照して病変部に相当する画像領域を特定し、注目領域として抽出できる。
【0116】
また、視神経乳頭や黄斑部から所定距離だけ離れた位置に注目領域(たとえば病変部等)が存在する場合、画像抽出部231は、まず、視神経乳頭等に対応する画像位置を上記のようにして抽出し、更に、この画像位置から所定距離だけ離れた画像領域を特定することにより注目領域を抽出する。画像上の距離は、画像の撮影倍率などを考慮して計測される。
【0117】
なお、所定距離とは、距離のみ(スカラー量)であってもよいし、距離及び方向(ベクトル量)であってもよい。この所定距離は、たとえば過去に取得された画像から求めて記憶したものを読み出して使用することができる。また、視神経乳頭等の画像位置は、視神経乳頭等の画像領域の中心や重心や境界など、当該画像領域の任意の位置であってよい。このような画像位置の種別は、オペレータが指定してもよいし、画像抽出部231が自動的に指定してもよい。
【0118】
以上のように動作する画像処理部230は、マイクロプロセッサ201、RAM202、ROM203、ハードディスクドライブ204(制御プログラム204a)等を含んで構成されている。
【0119】
画像形成部220や画像処理部230は、この発明の「画像形成手段」の一例である。
【0120】
(ユーザインターフェイス)
ユーザインターフェイス(User Interface;UI)240には、表示部240Aと操作部240Bが設けられている。表示部240Aは、ディスプレイ207等の表示デバイスにより構成される。また、操作部240Bは、キーボード205やマウス206などの入力デバイスや操作デバイスにより構成される。
【0121】
〔信号光の走査及び画像処理について〕
信号光LSの走査は、前述のように、走査ユニット141のガルバノミラー141A、141Bの反射面の向きを変更することで行う。制御部210は、ミラー駆動機構241、242をそれぞれ制御することで、ガルバノミラー141A、141Bの反射面の向きをそれぞれ変更し、それにより信号光LSを眼底Ef上において走査する。
【0122】
ガルバノミラー141Aの反射面の向きが変更されると、信号光LSは、眼底Ef上において水平方向(図1のx方向)に走査される。一方、ガルバノミラー141Aの反射面の向きが変更されると、信号光LSは、眼底Ef上において垂直方向(図1のy方向)に走査される。また、ガルバノミラー141A、141Bの双方の反射面の向きを同時に変更させることにより、x方向とy方向とを合成した方向に信号光LSを走査することができる。すなわち、これら2つのガルバノミラー141A、141Bを制御することにより、xy平面上の任意の方向に信号光LSを走査することができる。
【0123】
図7は、眼底Efの画像を形成するための信号光LSの走査態様の一例を表している。図7(A)は、信号光LSが被検眼Eに入射する方向から眼底Efを見た(つまり図1の−z方向から+z方向を見た)ときの、信号光LSの走査態様の一例を表す。また、図7(B)は、眼底Ef上の各走査線における走査点(画像計測を行う位置)の配列態様の一例を表す。
【0124】
図7(A)に示すように、信号光LSは、あらかじめ設定された矩形の走査領域R内を走査される。走査領域R内には、x方向に複数(m本)の走査線R1〜Rmが設定されている。各走査線Ri(i=1〜m)に沿って信号光LSが走査されるときに、干渉光LCの検出信号が生成されるようになっている。
【0125】
各走査線Riの方向を「主走査方向」と呼び、それに直交する方向を「副走査方向」と呼ぶ。したがって、信号光LSの主走査方向への走査は、ガルバノミラー141Aの反射面の向きを変更することにより実行される。また、副走査方向への走査は、ガルバノミラー141Bの反射面の向きを変更することによって実行される。
【0126】
各走査線Ri上には、図7(B)に示すように、複数(n個)の走査点Ri1〜Rinがあらかじめ設定されている。
【0127】
図7に示す走査を実行するために、制御部210は、まず、ガルバノミラー141A、141Bを制御し、眼底Efに対する信号光LSの入射目標を第1の走査線R1上の走査開始位置RS(走査点R11)に設定する。続いて、制御部210は、低コヒーレンス光源160を制御し、低コヒーレンス光L0をフラッシュ発光させて、走査開始位置RSに信号光LSを入射させる。CCD184は、この信号光LSの走査開始位置RSにおける眼底反射光に基づく干渉光LCを受光し、検出信号を制御部210に出力する。
【0128】
次に、制御部210は、ガルバノミラー141Aを制御して、信号光LSを主走査方向に走査して、その入射目標を走査点R12に設定し、低コヒーレンス光L0をフラッシュ発光させて走査点R12に信号光LSを入射させる。CCD184は、この信号光LSの走査点R12における眼底反射光に基づく干渉光LCを受光し、検出信号を制御部210に出力する。
【0129】
制御部210は、同様にして、信号光LSの入射目標を走査点R13、R14、・・・、R1(n−1)、R1nと順次移動させつつ、各走査点において低コヒーレンス光L0をフラッシュ発光させることにより、各走査点ごとの干渉光LCに対応してCCD184から出力される検出信号を取得する。
【0130】
第1の走査線R1の最後の走査点R1nにおける計測が終了したら、制御部210は、ガルバノミラー141A、141Bを同時に制御して、信号光LSの入射目標を、線換え走査rに沿って第2の走査線R2の最初の走査点R21まで移動させる。そして、この第2の走査線R2の各走査点R2j(j=1〜n)について前述の計測を行うことで、各走査点R2jに対応する検出信号をそれぞれ取得する。
【0131】
同様に、第3の走査線R3、・・・・、第m−1の走査線R(m−1)、第mの走査線Rmのそれぞれについて計測を行い、各走査点に対応する検出信号を取得する。なお、走査線Rm上の符号REは、走査点Rmnに対応する走査終了位置である。
【0132】
それにより、制御部210は、走査領域R内のm×n個の走査点Rij(i=1〜m、j=1〜n)に対応するm×n個の検出信号を取得する。以下、走査点Rijに対応する検出信号をDijと表すことがある。
【0133】
以上のような走査点の移動と低コヒーレンス光L0の出力との連動制御は、たとえば、ミラー駆動機構241、242に対する制御信号の送信タイミングと、低コヒーレンス光源160に対する制御信号の送信タイミングとを互いに同期させることによって実現できる。
【0134】
制御部210は、上述のように各ガルバノミラー141A、141Bを動作させるときに、その動作内容を示す情報として走査線Riの位置や走査点Rijの位置(xy座標系における座標)を記憶するようになっている。この記憶内容(走査位置情報)は、従来と同様に画像形成処理などにおいて用いられる。
【0135】
次に、図7に示す信号光LSの走査を実施した場合における画像処理の例を説明する。
【0136】
画像形成部220は、各走査線Ri(主走査方向)に沿った眼底Efの断層画像を形成する。また、画像処理部230は、画像形成部220により形成された断層画像に基づいて眼底Efの3次元画像を形成する。
【0137】
画像形成部220による断層画像の形成処理は、従来と同様に、2段階の演算処理を含んで構成される。第1段階の演算処理においては、各走査点Rijに対応する検出信号Dijに基づいて、その走査点Rijにおける眼底Efの深度方向(図1に示すz方向)の画像を形成する。
【0138】
図8は、画像形成部220により形成される断層画像の態様を表している。第2段階の演算処理においては、各走査線Riについて、その上のn個の走査点Ri1〜Rinにおける深度方向の画像に基づき、この走査線Riに沿った眼底Efの断層画像Giを形成する。このとき、画像形成部220は、各走査点Ri1〜Rinの位置情報(前述の走査位置情報)を参照して各走査点Ri1〜Rinの配列及び間隔を決定して、この走査線Riを形成するようになっている。以上の処理により、副走査方向(y方向)の異なる位置におけるm個の断層画像G1〜Gmが得られる。
【0139】
次に、画像処理部230による眼底Efの3次元画像の形成処理について説明する。眼底Efの3次元画像は、上記の演算処理により得られたm個の断層画像に基づいて形成される。画像処理部230は、隣接する断層画像Gi、G(i+1)の間の画像を補間する公知の補間処理を行うなどして、眼底Efの3次元画像を形成する。
【0140】
このとき、画像処理部230は、各走査線Riの位置情報を参照して各走査線Riの配列及び間隔を決定して、この3次元画像を形成するようになっている。この3次元画像には、各走査点Rijの位置情報(前述の走査位置情報)と、深度方向の画像におけるz座標とに基づいて、3次元座標系(x、y、z)が設定される。
【0141】
また、画像処理部230は、この3次元画像に基づいて、主走査方向(x方向)以外の任意方向の断面における眼底Efの断層画像を形成することができる。断面が指定されると、画像処理部230は、この指定断面上の各走査点(及び/又は補間された深度方向の画像)の位置を特定し、各特定位置における深度方向の画像(及び/又は補間された深度方向の画像)を3次元画像から抽出し、抽出された複数の深度方向の画像を配列させることにより当該指定断面における眼底Efの断層画像を形成する。
【0142】
図8に示す画像Gmjは、走査線Rm上の走査点Rmjにおける深度方向(z方向)の画像を表している。同様に、前述の第1段階の演算処理において形成される、各走査線Ri上の各走査点Rijにおける深度方向の画像を、「画像Gij」と表す。なお、断層画像Giの精度(xy方向の分解能)は、画像Gijの間隔が小さいほど向上する。より具体的には、画像Gijのx方向の間隔、つまり同一走査線Ri上における画像Gijの間隔を小さくすると、断層画像Giのx方向の精度が向上する。また、画像Gijのy方向の間隔、つまり隣接する走査線Ri、R(i+1)の間隔を小さくすると、3次元画像等におけるy方向の精度が向上する
【0143】
眼底観察装置1による信号光LSの走査態様(走査パターン)は、上記のものに限定されるものではない。たとえば、信号光LSを水平方向(x方向)にのみ走査させたり(水平スキャン)、垂直方向(y方向)にのみ走査させたり(垂直スキャン)、縦横1本ずつ十字型に走査させたり(十字スキャン)、放射状に走査させたり(放射スキャン)、円形状に走査させたり(円スキャン)、同心円状に走査させたり(同心円スキャン)、螺旋状に走査させたりできる(螺旋スキャン)。なお、図7で説明した走査態様は、3次元画像を形成可能なものであるので3次元スキャンと呼ぶことにする。すなわち、前述のように、走査ユニット141は、信号光LSをx方向及びy方向にそれぞれ独立に走査できるように構成されているので、xy面上の任意の軌跡に沿って信号光LSを走査することが可能である。
【0144】
オペレータは、たとえば操作部240Bを操作することで、所望の信号光LSの走査態様を選択できる。また、たとえば経過観察のように同一部位の画像を複数回に亘って取得する場合、実際に適用された走査態様を記憶部212に記憶しておくことができる。主制御部211は、記憶された情報を読み出して、過去の走査態様を再現して信号光LSを走査させることができる。
【0145】
[使用形態]
眼底観察装置1の使用形態について説明する。
【0146】
〔第1の使用形態〕
図9のフローチャートを参照しつつ、眼底観察装置1の第1の使用形態を説明する。第1の使用形態は、眼底Efの画像から注目領域を自動的に抽出し、その抽出結果に基づいて走査間隔を変更しつつ信号光LSを走査させるものである。
【0147】
まず、被検眼Eを所定の計測位置(対物レンズ113に対峙する位置)に配置させ、被検眼Eと装置とのアライメントを行う(S1)。オペレータは、眼底Efに対する信号光LSの走査態様を指定し(S2)、操作部240Bを操作して検査の開始を要求する(S3)。なお、ステップ2で指定される走査態様とは、前述の十字スキャン、同心円スキャン、3次元スキャンなどである。
【0148】
主制御部211は、LCD140を制御し、被検眼Eに対して内部固視標を呈示させる(S4)。ここでは、視神経乳頭の画像を取得するための固視位置に被検眼Eを固視させる内部固視標が呈示されるとする。被検眼Eの固視位置は、たとえばオペレータによって事前に指定される。なお、黄斑部や眼底中心の画像を取得するための固視位置に固視させる場合であっても、以下の処理は同様に実施される。また、オペレータは、操作部240Bを操作することにより、LCD140による内部固視標の呈示位置、つまり被検眼Eの固視位置を適宜に調整することが可能である。
【0149】
主制御部211は、観察光源101及び撮像装置12(又は撮影光源103及び撮像装置10)を制御して眼底Efの眼底画像Ef′を撮影させ(S5)、この眼底画像Ef′を表示部240Aに表示させる(S6)。この表示画像は、動画像でも静止画像でもよい。
【0150】
また、画像抽出部231は、撮影された眼底画像Ef′を解析し、視神経乳頭に対応する画像位置(たとえば乳頭中心)を特定し(S7)、更に、この画像位置から所定距離だけ離れた画像領域(注目領域)を抽出する(S8)。この注目領域の位置は、前述のxy座標系の座標値として得られる。
【0151】
注目領域は、上記画像位置から所定距離だけ離れた位置(注目位置)に基づいて任意に決定される。たとえば、注目位置を中心とする所定形状(円形、楕円形、矩形等)の領域を注目領域とすることができる。また、注目位置が特定されたときに、この注目位置を表示し、オペレータが操作部240Bを用いて注目領域を設定するようにしてもよい。
【0152】
また、たとえば黄斑部や視神経乳頭のように注目領域が特徴的な形状を有する場合には、この特徴的な形状を上記所定形状として注目領域を抽出できる。また、たとえば病変部のように注目領域が固有の形状を有する場合には、過去に得られた画像における形状を記憶しておき、その形状の情報を読み出して上記所定形状として注目領域を抽出することが可能である。
【0153】
走査設定部213は、ステップ2で指定された走査態様と、ステップ8で抽出された注目領域の座標値とに基づいて、眼底Efに対する信号光LSの走査点(走査領域、走査線)を設定する(S9)。このとき、走査設定部213は、当該注目領域を含むように信号光LSの走査領域を設定するとともに、当該注目領域に対応する眼底Efの注目部位に対する走査間隔が、それ以外の領域に対する走査間隔よりも小さくなるように走査点を設定する。設定された走査点の位置は、前述の走査位置情報として記憶部212に記憶される。
【0154】
図10は、3次元スキャンを実施する場合における、眼底Efに対する信号光LSの走査領域の設定態様の例を表している。符号Pは、眼底Efの視神経乳頭を表す。また、符号Iは、注目領域に対応する眼底Efの注目部位を表す。信号光LSの走査領域Rは、この注目部位Iを含むように設定される。また、走査領域R内には、図7に示したように走査線R1〜Rmが設定される。
【0155】
注目部位I内の各位置の座標値は、上記注目領域の座標値に対応している。また、走査領域R及び走査線の本数(m本)が決定すると、各走査線Ri上の各位置の座標値も決定される。走査設定部213は、注目部位Iの座標値と、各走査線Riの座標値とに基づいて、注目部位I上については間隔d1で走査点を設定し、注目部位I以外の部位については間隔d2(>d1)で走査点を設定する。それにより、注目領域に対応する注目部位Iに対する走査間隔を、それ以外の領域に対する走査間隔よりも小さく設定することができる。
【0156】
なお、走査線の間隔についても注目部位に応じて変更することが可能である。たとえば、走査線Riを設定するときに、注目部位Iを通過する走査線を間隔D1で設定するとともに、それ以外の走査線を間隔D2(>D1)で設定することができる。また、このような走査線の間隔の設定と上記の走査点の間隔の設定とを組み合わせることも可能である。
【0157】
このように、「走査間隔」は、1つの走査線上における走査点の間隔と、走査線の間隔との少なくとも一方を意味するものである。なお、3次元スキャン以外の走査態様の場合であっても、同様にして走査間隔を設定することが可能である。
【0158】
主制御部211は、ステップ9で得られた走査位置情報に基づいてミラー駆動機構241、242を制御することにより、設定された走査点に対して順次に信号光LSを照射させる(S10)。各走査点に照射された信号光LSは、参照光LRと重畳されて干渉光LCを生成する。そして、各走査点に対応する干渉光LCは、スペクトロメータ180によって分光され検出される。
【0159】
画像形成部220は、スペクトロメータ180のCCD184から出力される検出信号に基づいて、眼底Efの断層画像を形成する(S11)。このとき、走査位置情報も参照される。また、画像処理部230は、必要に応じ、ステップ11で形成された断層画像及び走査位置情報に基づいて、眼底Efの3次元画像を形成する。
【0160】
第1の使用形態では、眼底Efの注目部位については比較的小さい走査間隔で信号光LSを走査しているので、ステップ11で形成される断層画像は、眼底Efの注目部位を高精度(高分解能)で描写するものである。更に、注目部位以外の部位については比較的大きい走査間隔で信号光LSを走査しているので、断層画像の計測時間は比較的短くなる。したがって、第1の使用形態によれば、眼底Efの注目部位の高精度の画像を迅速に取得することが可能である。
【0161】
なお、第1の使用形態は、たとえば網膜色素上皮層や視神経線維層等の厚さ測定や、網膜剥離や腫瘍等の病変部の観察に適している。
【0162】
網膜等の層の厚さ測定では、乳頭中心や中心窩等から所定距離だけ離れた部位(注目部位)における厚さを測定することが多々ある。したがって、第1の使用形態を適用することで、注目部位の高精度の画像を迅速にかつ容易に取得することができ、それにより、厚さの測定精度を向上させられるとともに、検査時間を短縮することができる。
【0163】
また、乳頭中心や中心窩からの距離(及び方向)によって病変部の位置を特定することが多々ある。したがって、第1の使用形態を適用することにより、病変部の高精度の画像を迅速にかつ容易に取得することができ、それにより、病変部の詳細を観察できるとともに、検査時間を短縮することができる。
【0164】
〔第2の使用形態〕
図11のフローチャートを参照しつつ、眼底観察装置1の第2の使用形態を説明する。第2の使用形態は、オペレータが指定した眼底Efの画像中の位置に基づいて注目領域を抽出し、その抽出結果に基づいて走査間隔を変更しつつ信号光LSを走査させるものである。
【0165】
まず、第1の使用形態と同様にアライメントを行い(S21)、信号光LSの走査態様を指定し(S22)、検査の開始を要求すると(S23)、眼底観察装置1は、被検眼Eに対して内部固視標を呈示するとともに(S24)、眼底Efの眼底画像Ef′を撮影し(S25)、この眼底画像Ef′を表示する(S26)。
【0166】
オペレータは、操作部240Bを操作し、表示された眼底画像Ef′中の所望の位置を指定する(S27)。視神経乳頭のOCT画像を取得する場合には、たとえば乳頭中心等に対応する画像位置が指定される。また、黄斑部のOCT画像を取得する場合には、たとえば中心窩等に対応する画像位置が指定される。この画像位置の指定は、たとえばマウス206のクリック操作により行うことができる。
【0167】
画像抽出部231は、眼底画像Ef′中に指定された画像位置から所定距離だけ離れた画像領域(注目領域)を抽出する(S28)。この処理は、第1の使用形態と同様にして実行される。
【0168】
走査設定部213は、ステップ22で指定された走査態様と、ステップ28で抽出された注目領域の座標値とに基づいて、眼底Efに対する信号光LSの走査点(走査領域、走査線)を設定する(S29)。このとき、第1の使用形態と同様に、当該注目領域を含むように信号光LSの走査領域が設定され、更に、当該注目領域に対応する眼底Efの注目部位に対する走査間隔が、それ以外の領域に対する走査間隔よりも小さくなるように走査点が設定される。設定された走査点の位置は、走査位置情報として記憶される。
【0169】
主制御部211は、ステップ29で得られた走査位置情報に基づいて信号光LSを走査させる(S30)。それにより、各走査点に対応する干渉光LCのスペクトル分布が、スペクトロメータ180によって検出される。
【0170】
画像形成部220は、CCD184からの検出信号に基づいて、眼底Efの断層画像を形成する(S31)。また、画像処理部230は、必要に応じて眼底Efの3次元画像を形成する。
【0171】
第2の使用形態によれば、第1の使用形態と同様に、眼底Efの注目部位の高精度の画像を迅速に取得することが可能である。また、第2の使用形態によれば、オペレータは、所望の画像位置を指定でき、その画像位置に応じた注目領域が自動的に抽出されるので、オペレータの要望に応じた計測を容易に実行できる。
【0172】
なお、上述した第2の使用形態においては、眼底画像Ef′中の画像位置をオペレータが指定するようになっているが、眼底Efの断層画像中の画像位置を指定するようにしてもよい。そのためには、たとえば、ステップ25において断層画像を取得し、ステップ26においてこの断層画像を表示するように眼底観察装置1を動作させればよい。
【0173】
第2の使用形態は、第1の使用形態と同様に、網膜の層の厚さ測定や病変部の観察に適している。
【0174】
〔第3の使用形態〕
図12のフローチャートを参照しつつ、眼底観察装置1の第3の使用形態を説明する。第3の使用形態は、固視位置と走査態様に基づいて注目領域を特定して抽出し、その抽出結果に基づいて走査間隔を変更しつつ信号光LSを走査させるものである。
【0175】
まず、第1の使用形態と同様にアライメントを行い(S41)、信号光LSの走査態様を指定する(S42)。更に、オペレータは、操作部240Bを操作して、被検眼Efの固視位置を指定する(S43)。検査の開始を要求すると(S44)、眼底観察装置1は、被検眼Eに対して内部固視標を呈示し(S45)、眼底Efの眼底画像Ef′を撮影し(S46)、この眼底画像Ef′を表示する(S47)。
【0176】
画像抽出部231は、ステップ42で指定された走査態様と、ステップ43で指定された固視位置とに基づいて、眼底画像Ef′における注目領域を特定して抽出する(S48)。
【0177】
注目領域を特定する処理について説明する。固視位置と走査態様が決まると、検査対象の部位や検査の目的などが自動的に決定される場合がある。たとえば、視神経乳頭用の固視位置が設定され、かつ、円スキャンや同心円スキャンが設定される場合に取得されるOCT画像は、緑内障の診断のための視神経繊維層等の厚さ測定に供されることが多い。また、視神経乳頭用の固視位置が設定され、かつ、十字スキャンが設定される場合に取得されるOCT画像は、緑内障の診断のためのC/D比やR/D比の測定に供されることが多い。また、黄斑部用の固視位置が設定され、かつ、3次元スキャンや放射スキャンが設定される場合に取得されるOCT画像は、網膜色素上皮層の厚さ測定や、網膜剥離等の病変部の観察に供されることが多い。
【0178】
そこで、このような対応関係を記録した対応情報(テーブル情報など)を事前に作成し、記憶部212に記憶しておく。画像抽出部231は、この対応情報を参照し、指定された走査態様及び固視位置に対応する注目部位を特定し、この注目部位に対応する眼底画像Ef′中の注目領域を特定する。なお、病変部のように眼底Efの特徴部位(乳頭中心、中心窩等)から離れた位置に注目部位が存在する場合、たとえば第1の使用形態と同様の手法で注目領域を特定できる。
【0179】
また、固視位置と走査態様の或る組合せに対して2つ以上の注目領域が対応付けられる場合には、これら2つ以上の注目領域を選択可能に呈示することができる。たとえば、プルダウンメニューやダイアログボックス等を表示部240Aに表示させることにより、2つ以上の注目領域を選択可能に呈示することが可能である。
【0180】
走査設定部213は、ステップ42で指定された走査態様と、ステップ48で抽出された注目領域の座標値とに基づいて、眼底Efに対する信号光LSの走査点(走査領域、走査線)を設定する(S49)。このとき、第1の使用形態と同様に、当該注目領域を含むように信号光LSの走査領域が設定され、更に、当該注目領域に対応する眼底Efの注目部位に対する走査間隔が、それ以外の領域に対する走査間隔よりも小さくなるように走査点が設定される。設定された走査点の位置は、走査位置情報として記憶される。
【0181】
主制御部211は、ステップ49で得られた走査位置情報に基づいて信号光LSを走査させる(S50)。それにより、各走査点に対応する干渉光LCのスペクトル分布が、スペクトロメータ180によって検出される。
【0182】
画像形成部220は、CCD184からの検出信号に基づいて、眼底Efの断層画像を形成する(S51)。また、画像処理部230は、必要に応じて眼底Efの3次元画像を形成する。
【0183】
第3の使用形態によれば、第1の使用形態と同様に、眼底Efの注目部位の高精度の画像を迅速に取得することが可能である。また、第3の使用形態によれば、信号光LSの走査態様と被検眼Eの固視位置とを指定するだけで、これらの指定内容に応じた注目領域が自動的に抽出されるので、計測作業の容易化を図ることが可能である。
【0184】
〔第4の使用形態〕
図13のフローチャートを参照しつつ、眼底観察装置1の第4の使用形態を説明する。第4の使用形態は、オペレータが手入力で指定した注目領域を抽出し、その抽出結果に基づいて走査間隔を変更しつつ信号光LSを走査させるものである。
【0185】
まず、第1の使用形態と同様にアライメントを行い(S61)、信号光LSの走査態様を指定し(S62)、検査の開始を要求すると(S63)、眼底観察装置1は、被検眼Eに対して内部固視標を呈示するとともに(S64)、眼底Efの眼底画像Ef′を撮影し(S65)、この眼底画像Ef′を表示する(S66)。
【0186】
オペレータは、操作部240Bを操作し、表示された眼底画像Ef′中の所望の画像領域を注目領域として指定する(S67)。注目領域の指定は、たとえばマウス206のドラッグ操作により行うことができる。
【0187】
画像抽出部231は、眼底画像Ef′中に指定された注目領域を抽出する(S68)。
【0188】
走査設定部213は、ステップ62で指定された走査態様と、ステップ68で抽出された注目領域の座標値とに基づいて、眼底Efに対する信号光LSの走査点(走査領域、走査線)を設定する(S69)。このとき、第1の使用形態と同様に、当該注目領域を含むように信号光LSの走査領域が設定され、更に、当該注目領域に対応する眼底Efの注目部位に対する走査間隔が、それ以外の領域に対する走査間隔よりも小さくなるように走査点が設定される。設定された走査点の位置は、走査位置情報として記憶される。
【0189】
主制御部211は、ステップ69で得られた走査位置情報に基づいて信号光LSを走査させる(S70)。それにより、各走査点に対応する干渉光LCのスペクトル分布が、スペクトロメータ180によって検出される。
【0190】
画像形成部220は、CCD184からの検出信号に基づいて、眼底Efの断層画像を形成する(S71)。また、画像処理部230は、必要に応じて眼底Efの3次元画像を形成する。
【0191】
第4の使用形態によれば、第1の使用形態と同様に、眼底Efの注目部位の高精度の画像を迅速に取得することが可能である。また、第4の使用形態によれば、オペレータは、所望の注目領域を指定でき、その注目領域が自動的に抽出されるので、オペレータの要望に応じた計測を容易に実行できる。
【0192】
なお、眼底画像Ef′中に注目領域を指定する代わりに、眼底Efの断層画像中に注目領域を指定するようにしてもよい。そのためには、たとえば、ステップ65において断層画像を取得し、ステップ66においてこの断層画像を表示するように眼底観察装置1を動作させればよい。
【0193】
また、ステップ65において断層画像を取得し、この断層画像を解析して各種の層の厚さを計測することができる。更に、この層の厚さを所定の許容範囲と比較し、許容範囲外であれば異常(病変等)の可能性があると判断して、この層の厚さの計測領域を注目領域に設定することができる。これらの処理は、たとえば画像処理部230や制御部210が行う。このような処理を行うことにより、眼底Efの異常部位を注目領域に自動的に設定できる。
【0194】
なお、上記の許容範囲は、たとえば、正常眼の層の厚さを事前に計測し、この臨床データに基づいて決定することができる。この許容範囲は、たとえば記憶部212に予め記憶される。
【0195】
また、患者ID等の患者識別情報と、注目領域の位置情報とを関連付けて記憶部212等に記憶することができる。次回(又はそれ以降)の検査において、演算制御装置200に患者識別情報を入力すると、主制御部211は、この患者識別情報に関連付けられた注目領域の位置情報を記憶部212から取得し、この位置情報に基づいて注目領域を設定することができる。このような処理を行うことにより、過去の検査における注目領域を自動的に設定できるので、注目部位の経時的変化の観察を容易かつ迅速に行うことが可能である。
【0196】
なお、注目領域の位置情報は、たとえば、眼底Efの特徴点(乳頭中心、中心窩、血管の分岐点など)に対する注目領域の変位として生成できる。また、固視位置(内部固視標の投影位置(表示位置))と、この固視位置にて取得された画像中における注目領域の位置とを位置情報としてもよい。このように、位置情報は、注目領域の位置を特定可能な任意の情報を含んでいる。
【0197】
[作用・効果]
以上のような眼底観察装置1の作用及び効果について説明する。
【0198】
眼底観察装置1は、低コヒーレンス光L0を信号光LSと参照光LRに分割し、眼底Efを経由した信号光LSと参照ミラー174を経由した参照光LRとを重畳させて干渉光LCを生成して検出し、その検出結果に基づいて眼底EfのOCT画像(断層画像や3次元画像)を形成する光画像計測装置として機能する。
【0199】
更に、眼底観察装置1は、眼底Efに対して信号光LSを走査する走査ユニット141と、信号光LSの一連の走査を行うときに、走査ユニット141を制御して走査間隔を変更させつつ信号光LSを走査させる制御部210とを備えている。
【0200】
ここで、「信号光の一連の走査」とは、前述した走査態様の例(水平スキャン、垂直スキャン、十字スキャン、放射スキャン、円スキャン、同心円スキャン、螺旋スキャン3次元スキャン)のように、1つ以上の断層画像を取得するための一連の処理において実行される信号光の走査を意味している。
【0201】
このような眼底観察装置1によれば、信号光LSの一連の走査において、眼底Efの部位毎に走査間隔を切り換えつつ信号光LSを走査することが可能である。
【0202】
たとえば、上記の第1〜第4の使用形態のように、眼底Efの注目部位に対する走査間隔を小さくし、それ以外の部位に対する走査間隔を大きくすることができる。なお、ここで言う走査間隔の大小は、注目部位及びそれ以外の部位における相対的なものである。
【0203】
それにより、注目部位については高精度の画像を取得することができるとともに、他の部位の走査に掛かる時間を短縮することができる。したがって、眼底観察装置1によれば、眼底Efの注目部位の高精度の画像を迅速に取得することが可能である。
【0204】
また、眼底観察装置1によれば、一連の走査における信号光LSの走査間隔を表す情報を記憶部212に記憶させ、この情報に基づいて当該一連の走査を新たに実行することができる。したがって、過去に実施した一連の走査と同様の走査を容易に再現することが可能である。それにより、たとえば経過観察のように眼底Efの同じ注目部位の画像を複数回に亘って取得する場合における利便性の向上を図ることができる。
【0205】
また、眼底観察装置1によれば、一連の走査における信号光LSの走査間隔を表す情報を記憶し、この情報に基づいて眼底Efの3次元画像を形成することができる。したがって、注目部位が高精度で描写された3次元画像を迅速に取得できる。
【0206】
[変形例]
以上に説明した構成は、この発明に係る光画像計測装置を好適に実施するための一例に過ぎない。よって、この発明の要旨の範囲内における任意の変形を適宜に施すことが可能である。
【0207】
上記の実施形態においては、眼底Efの注目部位における走査間隔と、それ以外の部位における走査間隔とを切り換えて信号光LSを走査している。しかし、走査間隔の切り換え態様は、これに限定されるものではない。
【0208】
たとえば眼底Efの注目部位が複雑な形状を有する場合等において、信号光LSの走査点の切り換えが複雑になることがある。そのような場合、注目部位を含むような眼底Efの部分領域(注目部位よりも単純な形状であることが望ましい)を設定し、この部分領域における走査間隔と、それ以外の領域における走査間隔とを切り換えるように構成することが可能である。
【0209】
また、上記の実施形態では、注目部位が1つの場合について説明した。注目部位2つ以上存在する場合、上記の実施形態と同様にして、これら注目部位における走査間隔を小さくし、それ以外の部位における走査間隔を大きくするように切り換えることが可能である。なお、各注目部位に対する走査間隔は、全て同じであってもよいし、互いに異なっていてもよい。
【0210】
上記の実施形態においては、参照ミラー174の位置を変更して信号光LSの光路と参照光LRの光路との光路長差を変更しているが、光路長差を変更する手法はこれに限定されるものではない。たとえば、被検眼Eに対して眼底カメラユニット1A及びOCTユニット150を一体的に移動させて信号光LSの光路長を変更することにより光路長差を変更することができる。また、被検眼Eを深度方向(z方向)に移動させることにより光路長差を変更することもできる。
【0211】
上記の実施形態で説明した眼底観察装置は、フーリエドメイン型の光画像計測装置を含んで構成されているが、たとえばスウェプトソース(Swept Source)型など、光で被検眼を走査する方式の任意の光画像計測装置に対して、この発明の構成を適用することが可能である。
【0212】
また、上記の実施形態では、眼底のOCT画像を取得する装置について説明したが、たとえば角膜等の被検眼の他の部位のOCT画像を取得可能な装置に対しても上記実施形態の構成を適用することが可能である。また、この発明は、眼以外の各種の被測定物体のOCT画像を計測する光画像計測装置に適用することも可能である。たとえば、この発明に係る光画像計測装置は、工学分野や生物学分野等の任意の分野に適用できる。
【0213】
[プログラムについて]
この発明に係るプログラムについて説明する。上記の実施形態における制御プログラム204aは、この発明に係るプログラムの一例である。
【0214】
この発明に係るプログラムは、光で被測定物体を走査するタイプの光画像計測装置を制御するものである。この光画像計測装置は、前述した干渉光生成手段、検出手段及び走査手段とともに、コンピュータを備えている。上記の実施形態においては、演算制御装置200が当該コンピュータとして機能している。
【0215】
このプログラムは、信号光の一連の走査を行うときに、走査手段を制御し、走査間隔を変更させつつ信号光を走査させる制御手段としてコンピュータを機能させることを特徴とする。
【0216】
このようなプログラムによれば、信号光の一連の走査において、被測定物体の部位毎に走査間隔を切り換えつつ信号光を走査することが可能である。それにより、被測定物体の注目部位ついては小さな走査間隔で信号光を走査させて高精度の画像を取得でき、更に、他の部位については大きな走査間隔で信号光を走査させて走査時間を短縮できる。したがって、このプログラムによれば、被測定物体の注目部位の高精度の画像を迅速に取得することが可能である。
【0217】
この発明に係るプログラムは、コンピュータのドライブ装置によって読み取り可能な任意の記憶媒体に記憶させることができる。たとえば、光ディスク、光磁気ディスク(CD−ROM/DVD−RAM/DVD−ROM/MO等)、磁気記憶媒体(ハードディスク/フロッピー(登録商標)ディスク/ZIP等)などの記憶媒体を用いることが可能である。また、ハードディスクドライブやメモリ等の記憶装置に記憶させることも可能である。更に、インターネットやLAN等のネットワークを通じてこのプログラムを送信することも可能である。
【図面の簡単な説明】
【0218】
【図1】この発明に係る光画像計測装置として機能する眼底観察装置の実施形態の全体構成の一例を表す概略構成図である。
【図2】この発明に係る光画像計測装置として機能する眼底観察装置の実施形態における眼底カメラユニットに内蔵される走査ユニットの構成の一例を表す概略構成図である。
【図3】この発明に係る光画像計測装置として機能する眼底観察装置の実施形態におけるOCTユニットの構成の一例を表す概略構成図である。
【図4】この発明に係る光画像計測装置として機能する眼底観察装置の実施形態における演算制御装置のハードウェア構成の一例を表す概略ブロック図である。
【図5】この発明に係る光画像計測装置として機能する眼底観察装置の実施形態の制御系の構成の一例を表す概略ブロック図である。
【図6】この発明に係る光画像計測装置として機能する眼底観察装置の実施形態の制御系の構成の一例を表す概略ブロック図である。
【図7】この発明に係る光画像計測装置として機能する眼底観察装置の実施形態による信号光の走査態様の一例を表す概略図である。図7(A)は、被検眼に対する信号光の入射側から眼底を見たときの信号光の走査態様の一例を表している。また、図7(B)は、各走査線上の走査点の配列態様の一例を表している。
【図8】この発明に係る光画像計測装置として機能する眼底観察装置の実施形態による信号光の走査態様、及び、各走査線に沿って形成される断層画像の態様の一例を表す概略図である。
【図9】この発明に係る光画像計測装置として機能する眼底観察装置の実施形態の使用形態の一例を表すフローチャートである。
【図10】この発明に係る光画像計測装置として機能する眼底観察装置の実施形態の使用形態における信号光の走査態様の一例を表す概略説明図である。
【図11】この発明に係る光画像計測装置として機能する眼底観察装置の実施形態の使用形態の一例を表すフローチャートである。
【図12】この発明に係る光画像計測装置として機能する眼底観察装置の実施形態の使用形態の一例を表すフローチャートである。
【図13】この発明に係る光画像計測装置として機能する眼底観察装置の実施形態の使用形態の一例を表すフローチャートである。
【符号の説明】
【0219】
1 眼底観察装置(光画像計測装置)
1A 眼底カメラユニット
140 LCD
141 走査ユニット
141A、141B ガルバノミラー
150 OCTユニット
160 低コヒーレンス光源
162 光カプラ
174 参照ミラー
180 スペクトロメータ
184 CCD
200 演算制御装置
204a 制御プログラム
210 制御部
211 主制御部
212 記憶部
213 走査設定部
220 画像形成部
230 画像処理部
231 画像抽出部
240 ユーザインターフェイス
240A 表示部
240B 操作部
241、242 ミラー駆動機構
R 走査領域
Ri(i=1〜m) 走査線
Rij(i=1〜m、j=1〜n) 走査点
E 被検眼
Ef 眼底

【特許請求の範囲】
【請求項1】
低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した前記信号光と参照物体を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、
前記生成された干渉光を検出する検出手段と、
前記検出手段による検出結果に基づいて前記被測定物体の画像を形成する画像形成手段と、
を有する光画像計測装置であって、
前記被測定物体に対して信号光を走査する走査手段と、
信号光の一連の走査を行うときに、前記走査手段を制御し、走査間隔を変更させつつ信号光を走査させる制御手段と、
を備えることを特徴とする光画像計測装置。
【請求項2】
前記被測定物体の画像中の注目領域を指定するための指定手段を更に備え、
前記制御手段は、前記指定された注目領域に対応する注目部位を含む前記被測定物体の部分領域に対する走査間隔が、前記部分領域以外の領域に対する走査間隔よりも小さくなるように、前記信号光を走査させる、
ことを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。
【請求項3】
前記指定手段は、前記被測定物体の画像を解析して前記注目領域を抽出する抽出手段を含む、
ことを特徴とする請求項2に記載の光画像計測装置。
【請求項4】
前記被測定物体は眼底であり、
前記抽出手段は、前記眼底の視神経乳頭に対応する画像位置から所定距離だけ離れた画像領域を前記注目領域として抽出する、
ことを特徴とする請求項3に記載の光画像計測装置。
【請求項5】
前記被測定物体は眼底であり、
前記抽出手段は、前記眼底の黄斑部に対応する画像位置から所定距離だけ離れた画像領域を前記注目領域として抽出する、
ことを特徴とする請求項3に記載の光画像計測装置。
【請求項6】
前記抽出手段は、前記眼底の画像を解析して前記画像位置を特定し、前記特定された画像位置から前記所定距離だけ離れた画像領域を前記注目領域として抽出する、
ことを特徴とする請求項4又は請求項5に記載の光画像計測装置。
【請求項7】
前記指定手段は、前記眼底の画像中の前記画像位置を指定するための操作手段を含み、
前記抽出手段は、該指定された前記画像位置から前記所定距離だけ離れた画像領域を前記注目領域として抽出する、
ことを特徴とする請求項4又は請求項5に記載の光画像計測装置。
【請求項8】
前記指定手段は、前記眼底の表面の2次元画像を前記眼底の画像として撮影する撮影手段を含む、
ことを特徴とする請求項6又は請求項7に記載の光画像計測装置。
【請求項9】
前記被測定物体は被検眼であり、
2以上の固視位置のうちのいずれかに固視させるための固視標を前記被検眼に投影する投影手段と、
前記被検眼に対する前記信号光の走査パターンを指定するための走査指定手段と、
を更に備え、
前記指定手段は、前記投影手段による固視位置と該指定された走査パターンとに基づいて前記注目領域を指定する、
ことを特徴とする請求項2に記載の光画像計測装置。
【請求項10】
前記指定手段は、前記注目領域を指定するための操作手段を含む、
ことを特徴とする請求項2に記載の光画像計測装置。
【請求項11】
前記指定手段は、前記被測定物体の表面の2次元画像を前記被測定物体の画像として撮影する撮影手段と、前記撮影された2次元画像を表示する表示手段とを含み、
前記操作手段は、前記表示された2次元画像中に前記注目領域を指定するために用いられる、
ことを特徴とする請求項10に記載の光画像計測装置。
【請求項12】
前記制御手段は、前記一連の走査における信号光の走査間隔を表す情報を記憶する記憶手段を含み、信号光の一連の走査を新たに行うときに、前記記憶された情報に基づいて信号光を走査させる、
ことを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。
【請求項13】
前記制御手段は、前記一連の走査における信号光の走査間隔を表す情報を記憶する記憶手段を含み、
前記画像形成手段は、前記記憶された情報に基づいて前記被測定物体の3次元画像を形成する、
ことを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。
【請求項14】
低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した前記信号光と参照物体を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、
前記生成された干渉光を検出する検出手段と、
前記被測定物体に対して信号光を走査する走査手段と、
コンピュータと、
を有し、前記検出手段による検出結果に基づいて前記被測定物体の画像を形成する光画像計測装置を制御するプログラムであって、
信号光の一連の走査を行うときに、前記走査手段を制御し、走査間隔を変更させつつ信号光を走査させる制御手段として前記コンピュータを機能させる、
ことを特徴とするプログラム。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【図8】
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【図9】
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【図10】
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【図11】
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【図12】
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【図13】
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【公開番号】特開2008−267892(P2008−267892A)
【公開日】平成20年11月6日(2008.11.6)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2007−109029(P2007−109029)
【出願日】平成19年4月18日(2007.4.18)
【出願人】(000220343)株式会社トプコン (904)
【Fターム(参考)】