外観検査装置
【課題】多品種の検査対象の中から現在の検査対象を容易かつ正確に選択できる外観検査装置を提供することにある。
【解決手段】外観検査装置１は、検査対象の品種毎の外観画像をサムネイルで表示する表示装置３，４を備えている。従来の品種選択は文字情報のみで判断しなくてはならなかったため、類似した文字情報の場合には誤動作が生じるおそれがあったが、本発明の品種選択はサムネイルイメージＳにより判断できるため、品種識別が容易になり、誤動作を減少させることができる。
【解決手段】外観検査装置１は、検査対象の品種毎の外観画像をサムネイルで表示する表示装置３，４を備えている。従来の品種選択は文字情報のみで判断しなくてはならなかったため、類似した文字情報の場合には誤動作が生じるおそれがあったが、本発明の品種選択はサムネイルイメージＳにより判断できるため、品種識別が容易になり、誤動作を減少させることができる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検査対象の外観を検査する際に必要な検査対象に関する情報を表示する機能を有する外観検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、特許文献１には、基板上への部品の組付け確認・交換・修正等の作業関連情報を表示するシステムが開示されている。このシステムには、基板における部品の組付け箇所を特定する情報等と基板のレイアウト位置を示す情報とを対比させた設計データが記憶されている。そして、作業者が任意の基板における部品の組付け箇所を特定する情報等を入力すると、対応する組付け箇所等が基板のレイアウト上で表示されるようになっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００６−２４８８３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
外観検査装置においては、検査前に多品種の検査対象の中から現在の検査対象を選択する必要がある。上述した特許文献１に記載のシステムを外観検査装置に適用した場合、作業者が検査前に多品種の検査対象の中から現在の検査対象を選択する際には、現在の検査対象に関する情報を入力する必要があり、手間がかかるのみならず誤入力するおそれがある。
【０００５】
本発明は、上記のような課題に鑑みなされたものであり、その目的は、多品種の検査対象の中から現在の検査対象を容易かつ正確に選択できる外観検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的達成のため、本発明の検査対象の外観を検査する外観検査装置では、前記検査対象の品種毎の外観画像をサムネイルで表示する表示装置を備えたことを特徴としている。また、前記表示装置は、前記検査対象の品種が割基板であるとき、該割基板の外観画像のサムネイルを分割基板毎に色分け表示することを特徴としている。
【発明の効果】
【０００７】
本発明の外観検査装置によれば、誤動作を減少させることができる。すなわち、従来の品種選択は文字情報のみで判断しなくてはならなかったため、類似した文字情報の場合には誤動作が生じるおそれがあったが、本発明の品種選択はサムネイル表示により判断できるため、品種識別が容易になり、誤動作を減少させることができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本発明の一実施の形態に係る外観検査装置の概略構成を示す図である。
【図２】図１の外観検査装置の表示装置による検査対象に関する情報の表示例を示す図である。
【図３】検査対象に関する情報の作成処理を説明するための第１のフローチャートである。
【図４】検査対象に関する情報の作成処理を説明するための第２のフローチャートである。
【図５】図１の外観検査装置の表示装置による検査対象に関する情報の読込動作を説明するためのフローチャートである。
【図６】別種の検査対象に関する情報の作成処理を説明するためのフローチャートである。
【図７】図１の外観検査装置の表示装置による別種の検査対象に関する情報の表示例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。尚、以下に説明する実施形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【００１０】
図１は、本発明の一実施の形態に係る外観検査装置の概略構成を示す図である。この外観検査装置１は、検査装置本体２と、表示制御部３及び表示部４を有する表示装置５とを備えている。検査装置本体２は、検査対象となる例えば基板に光照射して基板を撮像し基板の外観を検査する機能を備えている。表示制御部３は、図略のＣＰＵとメモリを備えており、表示部４に検査対象となる基板に関する情報を表示制御する機能を備えている。表示部４は、液晶ディスプレイもしくはＣＲＴディスプレイであり、表示制御部３による制御により検査対象となる基板に関する情報を表示する機能を備えている。
【００１１】
表示制御部３のメモリには、検査対象となる全ての基板に関する情報、例えば分類データや品種名、概観画像、外形寸法、検査対象エリア数、作成日時、最終更新日時、コメント等の品種データが同時に登録保存されている。そして、表示制御部３のＣＰＵは、メモリから上記基板に関する情報を読み出して表示部４に表示制御する。例えば、図２に示すように、表示部４の画面の左欄４１にはメモリに現在登録保存している品種をユーザの設定した分類別に階層化した階層リストが表示され、右上覧４２には分類項目を示す分類リストが表示され、右中欄４３には分類項目内の品種項目を示す品種リストが基板のサムネイルイメージＳで表示され、下中央欄４４には選択された基板のサムネイルイメージＳの詳細イメージが表示され、右下欄４５には選択された基板の概観画像を除く上記品種データが表示される。
【００１２】
このような構成において、検査対象となる基板に関する情報（以下、品種という）の作成処理を図３及び図４のフローチャートを参照して説明する。図３に示すように、ティーチングを開始したら先ずメタルマスクデータの有無を確認する（ステップＳ１）。メタルマスクデータが有る場合にはメタルマスクデータを読み込み（ステップＳ２）、パラメータとなる品種データを設定する（ステップＳ３）。一方、メタルマスクデータが無い場合には、パラメータとなる品種データを設定し（ステップＳ４）、現在の検査対象である実基板を撮像し（ステップＳ５）、該撮像画像により検査エリアを設定する（ステップＳ６）。
【００１３】
そして、メタルマスクデータ又は実基板から入手したパットの位置情報を用いて基板マップを作成する（ステップＳ７）。メタルマスクデータから基板マップを作成する場合、メタルマスクデータから対象とされている部分を読み取り、対象エリア外と区別することでイメージ化し、このイメージを基板マップとする。一方、実基板から基板マップを作成する場合、実基板の撮像画像から対象エリアと対象エリア外の区別を行い、基板マップを作成する。そして、基板マップを基にして外観画像を作成する（ステップＳ８）。このとき作成される外観画像というのは検査エリアの配置等により対象品種の特徴が大まかにわかるものとする。なお、基板マップを元にして外観画像を作成する時に、任意で基板の背景色を指摘することができる。また、実基板からの作成、及び品種編集時に撮像イメージを保存することにより、外観画像を基板マップからのエリア画像と撮像画像を切替えて表示することができる。そして、検査パラメータを作成し（ステップＳ９）、ティーチングを終了して品種登録へ移行する。
【００１４】
図４に示すように、品種登録を開始したら先ず既存の品種を読み込む（ステップＳ１０）。この既存品種の読込処理は図５のフローチャートを参照して説明する。既存品種の読込を開始したら先ず分類データを読込処理し続いて品種データを読込処理する（ステップＳ１１，Ｓ１２）。そして、品種データの読込及び分類データの読込が完了したら（ステップＳ１３，Ｓ１４）、分類データを確認し（ステップＳ１５）、分類データを分類リストと階層リストに登録する（ステップＳ１６）。そして、分類された品種データを確認し（ステップＳ１７）、分類された品種データを階層リストに登録する（ステップＳ１８）。
【００１５】
そして、階層リストにおいて未登録の品種データの有無を確認し（ステップＳ１９）、階層リストにおいて未登録の品種データが有るときはステップＳ１７に戻って上記処理を行う。一方、階層リストにおいて未登録の品種データが無いときは、階層リストにおいて未登録の分類データの有無を確認し（ステップＳ２０）、階層リストにおいて未登録の分類データが有るときはステップＳ１５に戻って上記処理を行う。一方、階層リストにおいて未登録の分類データが無いときは、既存品種の読込を終了する。
【００１６】
図４に戻って、表示部４に品種を表示させ（ステップＳ２１）、分類項目の有無を確認し（ステップＳ２２）、分類項目が無いときは分類項目を作成する（ステップＳ２３）。一方、分類項目が有るときは分類を選択する（ステップＳ２４）。そして、品種を保存する画面にて品種名、コメントを入力し（ステップＳ２５）、外観画像、外形寸法等を保存し（ステップＳ２６）、品種の検査パラメータを保存し（ステップＳ２７）、品種登録を終了する。
【００１７】
そして、品種編集画面でのテスト実施後、及び検査画面での検査終了後に品種登録画面を呼び出すと図２に示すように表示される。よって、登録済みの品種一覧を階層リストで確認できる。また、品種を分類に分けて登録することができる。また、分類を階層リストと分類リストで確認できる。また、事前に登録されていた検査対象品種を階層リスト、及び外観画像を用いたサムネイルイメージＳから選択できる。
【００１８】
また、階層リストからファイル操作と同様の操作で検査対象品種を選択、読込、削除及び分類の変更ができる。また、一般的なファイル操作と同様のドラッグアンドドロップ操作で品種リストから検査対象品種を選択、読込、削除及び分類の変更ができる。また、サムネイルを個別指定できる。また、リスト形式をサムネイル表示、アイコン表示、ボタン表示等の好みに沿った使い易いインターフェイスを選択できる。また、基板サイズ別、作成日時別等をソートすることにより目的の品種を見つけ易くなる。
【００１９】
図６は、検査対象となる基板が割基板であるときの該基板に関する情報（以下、品種という）の作成処理を図３に対応させて示すフローチャートである。図６に示すように、ティーチングを開始したら先ずメタルマスクデータの有無を確認する（ステップＳ３１）。メタルマスクデータが有る場合にはメタルマスクデータを読み込み（ステップＳ３２）、パラメータとなる品種データを設定する（ステップＳ３３）。一方、メタルマスクデータが無い場合には、パラメータとなる品種データを設定し（ステップＳ３４）、現在の検査対象である実基板を撮像し（ステップＳ３５）、該撮像画像により検査エリアを設定する（ステップＳ３６）。
【００２０】
そして、検査対象の基板が割基板であるか否かを確認し（ステップＳ３７）、検査対象の基板が割基板であるときは、基準個片を展開して基板マップを作成する（ステップＳ３８，Ｓ３９）。そして、基準個片と展開された個片のイメージ色を分けして基板マップイメージを作成する（ステップＳ４０，Ｓ４２）。一方、検査対象の基板が割基板でないときは、メタルマスクデータ又は実基板から入手したパットの位置情報を用いて基板マップを作成して基板マップイメージを作成する（ステップＳ４１，Ｓ４２）。メタルマスクデータから基板マップを作成する場合、メタルマスクデータから対象とされている部分を読み取り、対象エリア外と区別することでイメージ化し、このイメージを基板マップとする。一方、実基板から基板マップを作成する場合、実基板の撮像画像から対象エリアと対象エリア外の区別を行い、基板マップを作成する。
【００２１】
そして、基板マップを基にして外観画像を作成する（ステップＳ４３）。このとき作成される外観画像というのは検査エリアの配置等により対象品種の特徴が大まかにわかるものとする。なお、基板マップを元にして外観画像を作成する時に、任意で基板の背景色を指摘することができる。また、実基板からの作成、及び品種編集時に撮像イメージを保存することにより、外観画像を基板マップからのエリア画像と撮像画像を切替えて表示することができる。そして、検査パラメータを作成し（ステップＳ４４）、ティーチングを終了して品種登録へ移行する。以降は、上記した図４及び図５のフローチャートに沿って処理する。図７に示すように、検査対象の基板が割基板の場合は、基準個片のサムネイルイメージＳ１と展開された個片のサムネイルイメージＳ２，Ｓ３が色分けされて表示されるので、不良が生じた場合には該当する個片のみを判別して捨て基板とすることができる。よって、基板の歩留まりを向上させることができる。
【００２２】
以上のように本実施形態の外観検査装置によれば、階層リストにより、品種の分類を容易に把握することができる。さらに、この階層リストと分類を表示する分類リスト、分類された品種を表示する品種リストは連動しているため、どのリストから分類または品種を選択しても全体が把握しやすくなっている。また、登録分類の変更等、編集作業をマウス操作により行うことが可能であるため、従来のファイル操作と同様の動作を可能にし、初心者でも比較的容易に扱うことができる。よって、操作性を向上させることができる。
【００２３】
また、従来は品種選択時に品種の情報を確認できなかったため、読み込みを行ってから目的の品種かどうか確認しなくてはならず、また、目的の品種を見つける場合、読み込んで確認する動作を何度も繰り返す必要があるが、読み込み動作に数十秒から数分を要するため、登録品種が多い場合等には品種の読み込みから生産を始めるまでに数十分以上かかる場合があった。本実施形態の外観検査装置によれば、品種選択時に情報が確認できるため、これまでの読み込み後、目的の品種かどうかの確認といった作業を省くことができ、作業時間を短縮させることができる。
【００２４】
また、従来の表示項目では１つずつ分類を選択して登録されている品種を確認していかなくてはならず、１つの分類を表示している間は他の分類を確認することができなかったため、登録品種全体を把握しがたいものであった。本実施形態の外観検査装置によれば、外観図形、外形寸法、エリア数、更新日時、最終更新日時等の詳細情報を表示することにより、品種を読み込まなくとも設定を確認できるため、誤った品種の読み込み等の誤動作を減少させることができる。
【産業上の利用可能性】
【００２５】
本発明は、外観検査装置のみならず、外観画像等を用いることで対象データの管理が容易になる印刷半田検査装置等に適用可能である。
【符号の説明】
【００２６】
１ 外観検査装置、２ 検査装置本体、３ 表示制御部、４ 表示部、Ｓ，Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３ サムネイルイメージ
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検査対象の外観を検査する際に必要な検査対象に関する情報を表示する機能を有する外観検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、特許文献１には、基板上への部品の組付け確認・交換・修正等の作業関連情報を表示するシステムが開示されている。このシステムには、基板における部品の組付け箇所を特定する情報等と基板のレイアウト位置を示す情報とを対比させた設計データが記憶されている。そして、作業者が任意の基板における部品の組付け箇所を特定する情報等を入力すると、対応する組付け箇所等が基板のレイアウト上で表示されるようになっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００６−２４８８３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
外観検査装置においては、検査前に多品種の検査対象の中から現在の検査対象を選択する必要がある。上述した特許文献１に記載のシステムを外観検査装置に適用した場合、作業者が検査前に多品種の検査対象の中から現在の検査対象を選択する際には、現在の検査対象に関する情報を入力する必要があり、手間がかかるのみならず誤入力するおそれがある。
【０００５】
本発明は、上記のような課題に鑑みなされたものであり、その目的は、多品種の検査対象の中から現在の検査対象を容易かつ正確に選択できる外観検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的達成のため、本発明の検査対象の外観を検査する外観検査装置では、前記検査対象の品種毎の外観画像をサムネイルで表示する表示装置を備えたことを特徴としている。また、前記表示装置は、前記検査対象の品種が割基板であるとき、該割基板の外観画像のサムネイルを分割基板毎に色分け表示することを特徴としている。
【発明の効果】
【０００７】
本発明の外観検査装置によれば、誤動作を減少させることができる。すなわち、従来の品種選択は文字情報のみで判断しなくてはならなかったため、類似した文字情報の場合には誤動作が生じるおそれがあったが、本発明の品種選択はサムネイル表示により判断できるため、品種識別が容易になり、誤動作を減少させることができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本発明の一実施の形態に係る外観検査装置の概略構成を示す図である。
【図２】図１の外観検査装置の表示装置による検査対象に関する情報の表示例を示す図である。
【図３】検査対象に関する情報の作成処理を説明するための第１のフローチャートである。
【図４】検査対象に関する情報の作成処理を説明するための第２のフローチャートである。
【図５】図１の外観検査装置の表示装置による検査対象に関する情報の読込動作を説明するためのフローチャートである。
【図６】別種の検査対象に関する情報の作成処理を説明するためのフローチャートである。
【図７】図１の外観検査装置の表示装置による別種の検査対象に関する情報の表示例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。尚、以下に説明する実施形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【００１０】
図１は、本発明の一実施の形態に係る外観検査装置の概略構成を示す図である。この外観検査装置１は、検査装置本体２と、表示制御部３及び表示部４を有する表示装置５とを備えている。検査装置本体２は、検査対象となる例えば基板に光照射して基板を撮像し基板の外観を検査する機能を備えている。表示制御部３は、図略のＣＰＵとメモリを備えており、表示部４に検査対象となる基板に関する情報を表示制御する機能を備えている。表示部４は、液晶ディスプレイもしくはＣＲＴディスプレイであり、表示制御部３による制御により検査対象となる基板に関する情報を表示する機能を備えている。
【００１１】
表示制御部３のメモリには、検査対象となる全ての基板に関する情報、例えば分類データや品種名、概観画像、外形寸法、検査対象エリア数、作成日時、最終更新日時、コメント等の品種データが同時に登録保存されている。そして、表示制御部３のＣＰＵは、メモリから上記基板に関する情報を読み出して表示部４に表示制御する。例えば、図２に示すように、表示部４の画面の左欄４１にはメモリに現在登録保存している品種をユーザの設定した分類別に階層化した階層リストが表示され、右上覧４２には分類項目を示す分類リストが表示され、右中欄４３には分類項目内の品種項目を示す品種リストが基板のサムネイルイメージＳで表示され、下中央欄４４には選択された基板のサムネイルイメージＳの詳細イメージが表示され、右下欄４５には選択された基板の概観画像を除く上記品種データが表示される。
【００１２】
このような構成において、検査対象となる基板に関する情報（以下、品種という）の作成処理を図３及び図４のフローチャートを参照して説明する。図３に示すように、ティーチングを開始したら先ずメタルマスクデータの有無を確認する（ステップＳ１）。メタルマスクデータが有る場合にはメタルマスクデータを読み込み（ステップＳ２）、パラメータとなる品種データを設定する（ステップＳ３）。一方、メタルマスクデータが無い場合には、パラメータとなる品種データを設定し（ステップＳ４）、現在の検査対象である実基板を撮像し（ステップＳ５）、該撮像画像により検査エリアを設定する（ステップＳ６）。
【００１３】
そして、メタルマスクデータ又は実基板から入手したパットの位置情報を用いて基板マップを作成する（ステップＳ７）。メタルマスクデータから基板マップを作成する場合、メタルマスクデータから対象とされている部分を読み取り、対象エリア外と区別することでイメージ化し、このイメージを基板マップとする。一方、実基板から基板マップを作成する場合、実基板の撮像画像から対象エリアと対象エリア外の区別を行い、基板マップを作成する。そして、基板マップを基にして外観画像を作成する（ステップＳ８）。このとき作成される外観画像というのは検査エリアの配置等により対象品種の特徴が大まかにわかるものとする。なお、基板マップを元にして外観画像を作成する時に、任意で基板の背景色を指摘することができる。また、実基板からの作成、及び品種編集時に撮像イメージを保存することにより、外観画像を基板マップからのエリア画像と撮像画像を切替えて表示することができる。そして、検査パラメータを作成し（ステップＳ９）、ティーチングを終了して品種登録へ移行する。
【００１４】
図４に示すように、品種登録を開始したら先ず既存の品種を読み込む（ステップＳ１０）。この既存品種の読込処理は図５のフローチャートを参照して説明する。既存品種の読込を開始したら先ず分類データを読込処理し続いて品種データを読込処理する（ステップＳ１１，Ｓ１２）。そして、品種データの読込及び分類データの読込が完了したら（ステップＳ１３，Ｓ１４）、分類データを確認し（ステップＳ１５）、分類データを分類リストと階層リストに登録する（ステップＳ１６）。そして、分類された品種データを確認し（ステップＳ１７）、分類された品種データを階層リストに登録する（ステップＳ１８）。
【００１５】
そして、階層リストにおいて未登録の品種データの有無を確認し（ステップＳ１９）、階層リストにおいて未登録の品種データが有るときはステップＳ１７に戻って上記処理を行う。一方、階層リストにおいて未登録の品種データが無いときは、階層リストにおいて未登録の分類データの有無を確認し（ステップＳ２０）、階層リストにおいて未登録の分類データが有るときはステップＳ１５に戻って上記処理を行う。一方、階層リストにおいて未登録の分類データが無いときは、既存品種の読込を終了する。
【００１６】
図４に戻って、表示部４に品種を表示させ（ステップＳ２１）、分類項目の有無を確認し（ステップＳ２２）、分類項目が無いときは分類項目を作成する（ステップＳ２３）。一方、分類項目が有るときは分類を選択する（ステップＳ２４）。そして、品種を保存する画面にて品種名、コメントを入力し（ステップＳ２５）、外観画像、外形寸法等を保存し（ステップＳ２６）、品種の検査パラメータを保存し（ステップＳ２７）、品種登録を終了する。
【００１７】
そして、品種編集画面でのテスト実施後、及び検査画面での検査終了後に品種登録画面を呼び出すと図２に示すように表示される。よって、登録済みの品種一覧を階層リストで確認できる。また、品種を分類に分けて登録することができる。また、分類を階層リストと分類リストで確認できる。また、事前に登録されていた検査対象品種を階層リスト、及び外観画像を用いたサムネイルイメージＳから選択できる。
【００１８】
また、階層リストからファイル操作と同様の操作で検査対象品種を選択、読込、削除及び分類の変更ができる。また、一般的なファイル操作と同様のドラッグアンドドロップ操作で品種リストから検査対象品種を選択、読込、削除及び分類の変更ができる。また、サムネイルを個別指定できる。また、リスト形式をサムネイル表示、アイコン表示、ボタン表示等の好みに沿った使い易いインターフェイスを選択できる。また、基板サイズ別、作成日時別等をソートすることにより目的の品種を見つけ易くなる。
【００１９】
図６は、検査対象となる基板が割基板であるときの該基板に関する情報（以下、品種という）の作成処理を図３に対応させて示すフローチャートである。図６に示すように、ティーチングを開始したら先ずメタルマスクデータの有無を確認する（ステップＳ３１）。メタルマスクデータが有る場合にはメタルマスクデータを読み込み（ステップＳ３２）、パラメータとなる品種データを設定する（ステップＳ３３）。一方、メタルマスクデータが無い場合には、パラメータとなる品種データを設定し（ステップＳ３４）、現在の検査対象である実基板を撮像し（ステップＳ３５）、該撮像画像により検査エリアを設定する（ステップＳ３６）。
【００２０】
そして、検査対象の基板が割基板であるか否かを確認し（ステップＳ３７）、検査対象の基板が割基板であるときは、基準個片を展開して基板マップを作成する（ステップＳ３８，Ｓ３９）。そして、基準個片と展開された個片のイメージ色を分けして基板マップイメージを作成する（ステップＳ４０，Ｓ４２）。一方、検査対象の基板が割基板でないときは、メタルマスクデータ又は実基板から入手したパットの位置情報を用いて基板マップを作成して基板マップイメージを作成する（ステップＳ４１，Ｓ４２）。メタルマスクデータから基板マップを作成する場合、メタルマスクデータから対象とされている部分を読み取り、対象エリア外と区別することでイメージ化し、このイメージを基板マップとする。一方、実基板から基板マップを作成する場合、実基板の撮像画像から対象エリアと対象エリア外の区別を行い、基板マップを作成する。
【００２１】
そして、基板マップを基にして外観画像を作成する（ステップＳ４３）。このとき作成される外観画像というのは検査エリアの配置等により対象品種の特徴が大まかにわかるものとする。なお、基板マップを元にして外観画像を作成する時に、任意で基板の背景色を指摘することができる。また、実基板からの作成、及び品種編集時に撮像イメージを保存することにより、外観画像を基板マップからのエリア画像と撮像画像を切替えて表示することができる。そして、検査パラメータを作成し（ステップＳ４４）、ティーチングを終了して品種登録へ移行する。以降は、上記した図４及び図５のフローチャートに沿って処理する。図７に示すように、検査対象の基板が割基板の場合は、基準個片のサムネイルイメージＳ１と展開された個片のサムネイルイメージＳ２，Ｓ３が色分けされて表示されるので、不良が生じた場合には該当する個片のみを判別して捨て基板とすることができる。よって、基板の歩留まりを向上させることができる。
【００２２】
以上のように本実施形態の外観検査装置によれば、階層リストにより、品種の分類を容易に把握することができる。さらに、この階層リストと分類を表示する分類リスト、分類された品種を表示する品種リストは連動しているため、どのリストから分類または品種を選択しても全体が把握しやすくなっている。また、登録分類の変更等、編集作業をマウス操作により行うことが可能であるため、従来のファイル操作と同様の動作を可能にし、初心者でも比較的容易に扱うことができる。よって、操作性を向上させることができる。
【００２３】
また、従来は品種選択時に品種の情報を確認できなかったため、読み込みを行ってから目的の品種かどうか確認しなくてはならず、また、目的の品種を見つける場合、読み込んで確認する動作を何度も繰り返す必要があるが、読み込み動作に数十秒から数分を要するため、登録品種が多い場合等には品種の読み込みから生産を始めるまでに数十分以上かかる場合があった。本実施形態の外観検査装置によれば、品種選択時に情報が確認できるため、これまでの読み込み後、目的の品種かどうかの確認といった作業を省くことができ、作業時間を短縮させることができる。
【００２４】
また、従来の表示項目では１つずつ分類を選択して登録されている品種を確認していかなくてはならず、１つの分類を表示している間は他の分類を確認することができなかったため、登録品種全体を把握しがたいものであった。本実施形態の外観検査装置によれば、外観図形、外形寸法、エリア数、更新日時、最終更新日時等の詳細情報を表示することにより、品種を読み込まなくとも設定を確認できるため、誤った品種の読み込み等の誤動作を減少させることができる。
【産業上の利用可能性】
【００２５】
本発明は、外観検査装置のみならず、外観画像等を用いることで対象データの管理が容易になる印刷半田検査装置等に適用可能である。
【符号の説明】
【００２６】
１ 外観検査装置、２ 検査装置本体、３ 表示制御部、４ 表示部、Ｓ，Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３ サムネイルイメージ
【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象の外観を検査する外観検査装置であって、
前記検査対象の品種毎の外観画像をサムネイルで表示する表示装置を備えたことを特徴とする外観検査装置。
【請求項２】
前記表示装置は、前記検査対象の品種が割基板であるとき、該割基板の外観画像のサムネイルを分割基板毎に色分け表示することを特徴とする請求項１に記載の外観検査装置。
【請求項１】
検査対象の外観を検査する外観検査装置であって、
前記検査対象の品種毎の外観画像をサムネイルで表示する表示装置を備えたことを特徴とする外観検査装置。
【請求項２】
前記表示装置は、前記検査対象の品種が割基板であるとき、該割基板の外観画像のサムネイルを分割基板毎に色分け表示することを特徴とする請求項１に記載の外観検査装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【公開番号】特開２０１１−１４６６０７（Ｐ２０１１−１４６６０７Ａ）
【公開日】平成２３年７月２８日（２０１１．７．２８）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−７５２３（Ｐ２０１０−７５２３）
【出願日】平成２２年１月１５日（２０１０．１．１５）
【出願人】（５０４１８４５０３）株式会社ＤＪＴＥＣＨ (9)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２３年７月２８日（２０１１．７．２８）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年１月１５日（２０１０．１．１５）
【出願人】（５０４１８４５０３）株式会社ＤＪＴＥＣＨ (9)
【Ｆターム（参考）】
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