失効器
【課題】 検知タグの失効を確認して表示する機能を有する失効器を提供する。
【解決手段】 複数の磁石のＳ極４とＮ極６とを交互に配列して形成した失効面８を有する失効磁石２と、前記失効面８とコイル面とを平行に配設した一対の平面コイル１０、１２と、前記一対の平面コイル１０、１２を含みその差出力を取出す出力回路１４と、出力回路１４の取出した差出力から高調波を検出して表示するデータ処理・表示部１６とを有するＥＭタグ用失効器。
【解決手段】 複数の磁石のＳ極４とＮ極６とを交互に配列して形成した失効面８を有する失効磁石２と、前記失効面８とコイル面とを平行に配設した一対の平面コイル１０、１２と、前記一対の平面コイル１０、１２を含みその差出力を取出す出力回路１４と、出力回路１４の取出した差出力から高調波を検出して表示するデータ処理・表示部１６とを有するＥＭタグ用失効器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＥＭタグ（以降、検知タグという。）の失効器に関し、更に詳述すれば本発明は少なくとも硬磁性体層と軟磁性体層とを積層してなる検知タグの硬磁性体層を確実に着磁させることにより検知タグを磁気により失効させると共に、失効状態を確認することのできる検知タグの失効器に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、商品等に添付され、商品と共に移動し、所定のゲートを通過する際に検出されることにより商品の管理を行ったり、商品の盗難を防止したりする、磁気利用の検知タグが知られている（例えば特許文献１）。このような磁気利用の検知タグをＥＭ（Electric Magnetic)タグと呼んでいる。
【０００３】
図７に従来の検知タグの一例を示す。図７中、６０はコバルト元素等を含有する軟磁性体層である。前記軟磁性体層６０の一面にはポリエステル系の接着剤層６２を介して多数の貫通孔６３を形成した硬磁性体層６５が積層されている。硬磁性体層６５は、例えばニッケル等の硬磁性体元素が含有されてなる。硬磁性体層６５の上面には上質紙や、樹脂フィルムからなる保護層６７が貼着されている。
【０００４】
また、前記軟磁性体層６０の他面には粘着剤層６８を介して剥離材６９が貼着されている。この検知タグの使用に際しては、上記剥離材６９が剥され、管理されるべき商品等に貼着される。
【０００５】
図８は、検知タグを検出するゲート７０、７２を示すもので、両ゲート７０、７２間に交流磁界Ｓが形成されている。また、両ゲート７０、７２には磁界強度を検出する検出器（不図示）が取りつけられており、この検出器により前記両ゲート７０、７２間の磁界強度が検出されている。なお、７４は検知タグである。検知タグ７４が商品等（不図示）に取りつけられて矢印Ｒで示されるように両ゲート７０、７２間を通過すると、ゲート７０、７２間に形成されている磁界Ｓが歪められる。この磁界Ｓの歪みを検出することにより、検知タグ７４がゲート７０、７２間を通過したことが認識される。
【０００６】
図９は、磁界の歪みを検出する具体的方法の一例を示すものである。図９中、（ａ１）は、図８中のゲート７０、７２間に形成する一定周波数の交流磁界の波形を示す。簡単な数学的手法を用いて、時間軸を周波数軸に変換すると（ａ２）に示す波形に変換される。
【０００７】
図９中、（ｂ１）は、検知タグ７４がゲート７０、７２間を通過することにより歪んだ交流磁界の波形を示す。この歪んだ波形を上記と同様にして座標軸変換を行うと、（ｂ２）に示す波形が得られる。（ｂ２）の波形には、交流磁界の歪みに起因する高調波８０、８２が認められる。この高調波の有無を検出することにより、ゲート７０、７２間を検知タグ７４が通過したことの有無が検出される。
【０００８】
例えば、商品等が正規に購入され、外部に搬出されても良い状態になった場合は、この商品等に貼着された検知タグ７４に失効操作を施す。この失効操作を施すことにより、商品に付着された検知タグ７４がゲート７０、７２内を通過しても磁界が歪められることが無くなる。この結果、商品等は安全に外部に持出される。
【０００９】
一方、不正に外部に持出されようとする場合は、検知タグ７４は失効されていない状態にあるので、商品等がゲート７０、７２内を通過すると歪んだ磁界が発生され、この歪んだ磁界を検出することにより不正持出しが検出される。
【００１０】
失効は、図７に示す検知タグの硬磁性体層６５を失効器を用いて着磁することにより達成される。
【００１１】
図６は、従来用いられている失効器の一例を示す。この失効器５０は、基台５２に、直径１２ｍｍの円盤状永久磁石が互いに１０ｍｍ程度の間隔を保って並べられたもので、各磁石はＮ極５４と、Ｓ極５６とが交互に配列されている。
【００１２】
この失効器５０の上面に図７に示される検知タグが触れると、硬磁性体層６５が着磁され、これにより検知タグが失効される。
【００１３】
しかし、従来の失効器を用いる検知タグの失効方法においては、確実に全ての検知タグが失効するとは限らず、失効されない場合が発生している。この場合は、正当な手続で入手した商品であるにもかかわらず、ゲートで検知されて、不正に入手したものとみなされることになり、これは大きな問題である。
【特許文献１】特開平６−３４２０６５（請求項１）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
本発明者は、上記問題を解決するために種々検討するうちに、失効器に一対の平面コイルを備えた検知回路を設けることにより、失効処理を施した検知タグの失効状態を確認でき、上記問題を解決できることに想到した。本発明は上記知見に基づき完成するに至ったものである。従って、本発明の目的とするところは上記問題を解決する検知タグの失効器を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
上記目的を達成する本発明は、以下に記載するものである。
【００１６】
〔１〕 複数の磁石のＳ極とＮ極とを交互に配列して形成した失効面を有する失効磁石と、前記失効面とコイル面とを平行に配設した一対の平面コイルと、前記一対の平面コイルを含みその差出力を取出す出力回路と、出力回路の取出した差出力から高調波を検出して表示するデータ処理・表示部とを有するＥＭタグ用失効器。
【００１７】
〔２〕 一対の平面コイルを失効磁石の失効面と反対面に配設してなる〔１〕に記載の失効器。
【００１８】
〔３〕 一対の平面コイルのコイル間に失効磁石を介装してなる〔１〕に記載の失効器。
【００１９】
〔４〕 一対の平面コイルを失効面上に配設してなる〔１〕に記載の失効器。
【００２０】
〔５〕 失効面が帯状のＳ極とＮ極とを交互に配列した磁石で形成してなる〔１〕に記載の失効器
〔６〕 失効面のＳ極とＮ極との磁石幅が１２ｍｍ以下である〔１〕に記載の失効器。
【００２１】
〔７〕 失効面の寸法が平面コイルの寸法よりも大きい〔１〕に記載の失効器。
【００２２】
〔８〕 失効面から２ｍｍ離間して測定される磁束密度が０．０１テスラ以上である〔１〕に記載の失効器。
【発明の効果】
【００２３】
本発明の失効器は、一対の平面コイルを備えた検知タグの検出回路を有するので、この失効器を用いて検知タグを失効させる場合に、検知タグが失効されたことが直ちに確認できる。このため、未失効の検知タグが誤ってゲートで検出される事故を確実に防止できる。
【００２４】
更に、失効磁石として、失効面が帯状のＳ極とＮ極とを交互に配列した失効磁石を使用する場合は、従来の失効器と比較してより確実に検知タグを失効させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
以下、図面を参照して本発明の実施形態につき、詳細に説明する。
【００２６】
図１は、本発明の失効器の一例を示すものである。図１（Ａ）は、失効器の側面図で、２は失効磁石である。この失効磁石２は、複数（図１（Ａ）においては３個）の帯状（長方形）のＳ極４と、複数（図１（Ａ）においては３個）の帯状（長方形）のＮ極６とが、交互に密着して配列された失効面８を有する。なお、図１（Ｂ）は失効器の平面図を示す。
【００２７】
帯状のＳ極４の幅Ｐと帯状のＮ極６の幅Ｑとは、失効させる検知タグの短辺よりも小さい必要がある。幅Ｐと、幅Ｑとは必ずしも同一幅である必要はなく、また磁石幅が違っていても良い。
【００２８】
具体的には、標準的な寸法である１６ｍｍｘ２６ｍｍ程度の検知タグを失効させる場合、幅Ｐ、Ｑはそれぞれ１２ｍｍ以下が好ましく、１〜１０ｍｍがより好ましく、２〜８ｍｍが特に好ましい。
【００２９】
幅Ｐ、Ｑが失効させる検知タグの短辺よりも大きい場合は、確実に失効されない場合が起る。また、幅Ｐ、Ｑは１ｍｍ以下であっても良いが、１ｍｍ以下にしても、特に１ｍｍ以下にすることによる失効作用の増加は認められない。
【００３０】
失効磁石２の磁束密度は失効作用を確実にする観点からは大きい方が好ましい。具体的には、失効面８から２ｍｍ離間した磁束密度が０．０１テスラ以上であり、０．０２〜０．１テスラがより好ましい。
【００３１】
このような失効磁石は、可撓性の磁気異方性シートとして市販されているものが使用できる。この磁気異方性シートは、フェライト系、ネオジウムを含む希土類系等の硬磁性粉末とゴムやプラスチックとを混練し、押出し成形後、磁化する等の方法で製造される（特開２００１−２９７９１１、特開平１１−２７３９３８等）。
【００３２】
また、Ｓ極、Ｎ極を帯状に形成した永久磁石を交互に密着して配列したものであっても良い。
【００３３】
なお、上記説明においては、帯状のＳ極４とＮ極６とを互いに密着させて配列したが、これに限られず、図５のようにＳ極９４とＮ極９６とを互いに間隔を設けて配列しても良い。Ｓ極９４とＮ極９６との磁石間距離Ｖは１０ｍｍ以下が好ましく、１〜５ｍｍがより好ましい。
【００３４】
更に、図６に示す様な、従来存在する円盤状磁石を配列した失効磁石であっても良い。
【００３５】
前記失効磁石２の下面には、図１（Ａ）に示すように、１対の第１平面コイル１０と、第２平面コイル１２とが配設してある。第１平面コイル１０は、前記失効磁石２の下面に密着して配設され、第２平面コイル１２は、前記第１平面コイル１０と所定間隔Ｔだけ離れて第１平面コイル１０と平行に配設してある。１１はスペーサーである。所定間隔Ｔとしては、特に制限がないが、ノイズ防止の観点からは３０ｍｍ以下が好ましく、５〜２０ｍｍがより好ましい。
【００３６】
第１平面コイル１０、及び第２平面コイル１２は、図１（Ｃ）に示すように、電線を平面内に渦巻き状に巻回したループコイルで、図１（Ｃ）に示すような、長方形状に巻回したものや、円状に巻回したもの、菱形に巻回したもの等の任意の形状に巻回したものを使用できる。
【００３７】
前記第１平面コイル１０と第２平面コイル１２との巻回方向は特に制限がないが、後述する図２に示す検知タグの検出回路を構成するに当り、第１平面コイル１０の発生する磁場方向と、第２平面コイル１２が発生する磁場方向とが、互いにうち消し合って、両コイルの出力の差分を出力するように接続する必要がある。
このように接続することにより、外部ノイズの検出を有効に防止できる。
【００３８】
出力回路１４は、前記第１平面コイル１０と、第２平面コイル１２と、後述する抵抗Ｒ１、Ｒ２とで構成したブリッジ回路の差出力を増幅して、データ処理・表示部１６に供給する回路である。
【００３９】
図２は、図１に示す失効器の出力回路１４を示すものである。第１平面コイル１０と、第２平面コイル１２と、抵抗Ｒ１と、抵抗Ｒ２とで構成されるブリッジ回路に所定周波数の交流電力を電力源Ｅから供給し、検知タグを検出したときに生じるブリッジ回路の差出力を作動増幅回路ＤＡで増幅して、データ処理・表示部１６に供給する。
【００４０】
データ処理・表示部１６は、前記出力回路１４の出力から電力源Ｅの供給する交流電力の高調波成分を取出すデータ処理を行い、高調波成分の検知の有無を確認する。このデータ処理自体は公知のものである。表示部は、高調波成分が検出されない場合は、失効されている旨の表示をし、高調波成分が検出された場合は、検知タグが失効されていない旨の表示をする。
【００４１】
次に、図１に示す失効器を用いて、検知タグを失効させる場合につき説明する。例えば、店頭において商品等に貼着されている検知タグの最初の状態において、その硬磁性体層は着磁されていない。この状態で、商品が不法に外部に持出されると、ゲートで検出される。
【００４２】
一方、この商品の代金が正規に支払われた場合は、この状態で、商品に貼着された検知タグを失効器の失効面８に近づけ、好ましくは失効面８に検知タグの硬磁性体層を対向させて失効面８に検知タグを接触させる。これにより、検知タグの硬磁性体層は着磁し、その結果検知タグは失効する。
【００４３】
失効させるために失効面に検知タグを近づけている時間、又は接触時間は短時間で良い。具体的には０．１秒以上であれば何れの時間でも良い。
【００４４】
上記操作により、検知タグが失効した場合は、ブリッジ回路の差出力中には高調波成分は検出されないので、データ処理・表示部は失効されたと判断しその旨を表示部に表示する。
【００４５】
一方、何らかの理由で、失効に失敗した場合は、ブリッジ回路に供給している交流電力の高調波成分が出力回路からデータ処理・表示部に送られる。これをデータ処理・表示部が認識し、表示部に失効されていない旨を表示する。
【００４６】
上記失効器の失効磁石は帯状のＳ極とＮ極とを交互に配列した失効面を有する。この構造の失効磁石を用いる失効器は、従来の失効器と比較し高い検知タグの失効能力を有する。この失効磁石が検知タグを確実に失効させる理由は十分解明されていないが、本発明者らは上記帯状の磁極の配列からなる失効器の場合は磁束の方向が揃いやすい為と考えている。これに対し、従来の円盤状磁石を配列した失効器の場合は、磁束が全周方向に発散する様に形成されることにより、磁束密度が低減して失効作用が不確実になると考えている。
【００４７】
図３は、本発明失効器の他の構成例を示すものである。
【００４８】
この例にあっては、一対の第１平面コイル３４と、第２平面コイル３６との間に失効磁石３２を介装している。図３に示すように、第１平面コイル３４と第２平面コイル３６とは失効磁石３２に密着させても良いし、第１平面コイル３４と第２平面コイル３６とを所定間隔離間させ、その略中央に前記両コイル３４、３６と離間して失効磁石３２を配設しても良い。
【００４９】
第１平面コイル３４と第２平面コイル３６との間隔は、３０ｍｍ以下が好ましく、５〜２０ｍｍがより好ましい。
【００５０】
第１平面コイル３４と、第２平面コイル３６とは、磁力線の方向が反対方向になるようにブリッジ回路を構成しており、その他の構成は前記と同様の構成である。
【００５１】
図４は、本発明失効器の更に他の構成例を示すものである。
【００５２】
この例にあっては、失効磁石４２の上面に一対の第１平面コイル４４と第２平面コイル４６とをスペーサー４５で所定間隔Ｕ離間させて積層している。所定間隔Ｕは、３０ｍｍ以下が好ましく、５〜２０ｍｍがより好ましい。第１平面コイル４４と、第２平面コイル４６とは、磁力線の方向が反対方向になるようにブリッジ回路を構成しており、その他の構成は上記と同様である。
【００５３】
以下、実施例、比較例により本発明を更に具体的に説明する。
【実施例】
【００５４】
実施例１
市販のフェライト系ゴム磁石（マグテック（株）社製商品名異方性ゴム磁石）を裁断して縦１５０ｍｍ、横１５０ｍｍの図１（Ｂ）に示す帯状のＮ極、Ｓ極が交互に配列された構造の失効磁石を製造した。Ｓ極４の幅Ｐ、Ｎ極６の幅Ｑは２ｍｍ、長さＬは１５０ｍｍであった。このフェライト系ゴム磁石の失効面から２ｍｍ離間した磁束密度は約０．０３テスラであった。なお、磁束密度はガウスメータ５０８０（Ｆ．Ｗ．ＢＥＬＬ社製）で測定した。
【００５５】
電線を１２００回渦巻き状に巻回して直径１２０ｍｍの平面コイルを２つ作製し、これらを第１平面コイル、第２平面コイルとした。図１に示すように、失効磁石の下面に第１平面コイル、第２平面コイルを配置した。コイル間距離は８ｍｍであった。２個の４７０Ωの抵抗と前記２つの平面コイルとでブリッジ回路を構成し、２０ｖの交流電圧（３０６Ｈｚ）をブリッジ回路に供給した。このとき、コイル近傍の磁界強度は８００Ａ／ｍであった。なお、磁界強度はガウスメータＧＭ−００３（電子磁気工業製）で測定した。
【００５６】
幅１６ｍｍ、長さ２６ｍｍの、図７に示す構造の検知タグ（リンテック（株）社製商品名ＥＨ−０２６）を上記失効器の失効面に１秒間接触させた。結果は、１０個の検知タグの全てを確実に失効でき、表示部の表示は１０個の検知タグが失効されていることを表示していた。
【００５７】
次に、この失効させた１０個の検知タグを順次ゲート内を通過させた。ゲートは検知タグの１０個の何れも検知しなかった。
【００５８】
実施例２
Ｓ極、Ｎ極の幅Ｐ、Ｑが３ｍｍのネオジウム系ゴム磁石（（株）マグナ社製商品名ラバーマグネット）を用いる以外は実施例１と同様にして失効磁石を製造し、同様の試験を行った。失効面から２ｍｍ離間した磁束密度は約０．０４５テスラであった。結果は、１０個の検知タグの全てを確実に失効できた。表示部の表示は１０個の検知タグが失効されていることを表示していた。
【００５９】
次に、この失効させた１０個の検知タグを順次ゲート内を通過させた。ゲートは検知タグの１０個の何れも検知しなかった。
【００６０】
実施例３
Ｓ極、Ｎ極の幅Ｐ、Ｑが５ｍｍのネオジウム磁石（（株）マグナ社製商品名ネオジウム磁石）を用いる以外は実施例１と同様にして失効磁石を製造し、同様の試験を行った。失効面から２ｍｍ離間した磁束密度は約０．０８テスラであった。結果は、１０個の検知タグの全てを確実に失効できた。表示部の表示は１０個の検知タグが失効されていることを表示していた。
【００６１】
次に、この失効させた１０個の検知タグを順次ゲート内を通過させた。ゲートは検知タグの１０個の何れも検知しなかった。
【００６２】
実施例４
Ｓ極、Ｎ極の幅Ｐ、Ｑが１０ｍｍのネオジウム磁石（（株）マグナ社製商品名ネオジウム磁石）を用いる以外は実施例１と同様にして失効磁石を製造し、同様の試験を行った。失効面から２ｍｍ離間した磁束密度は約０．０９５テスラであった。結果は、１０個の検知タグの全てを確実に失効できた。表示部の表示は１０個の検知タグが失効されていることを表示していた。
【００６３】
次に、この失効させた１０個の検知タグを順次ゲート内を通過させた。ゲートは検知タグの１０個の何れも検知しなかった。
【００６４】
実施例５
Ｓ極、Ｎ極の幅Ｐ、Ｑが１５ｍｍの異方性フェライト磁石（（株）マグナ社製商品名フェライト磁石）を用いる以外は実施例１と同様にして失効磁石を製造し、同様の試験を行った。失効面から２ｍｍ離間した磁束密度は約０．０５５テスラであった。１０個の検知タグのうち８個を失効できた。表示部の表示は８個の検知タグが失効されていること、及び２個の検知タグが失効されていないことを表示していた。
【００６５】
次に、この失効させた１０個の検知タグを順次ゲート内を通過させた。ゲートは失効されている８個の検知タグの何れも検知しなかった。しかし、ゲートは残りの失効されていない２個の検知タグを検出した。更に、失効されていない２個の検知タグを再度失効の操作を行ったところ、表示部の表示は２個共に失効されていることを表示した。
【００６６】
実施例６
図６に示す構造の市販の失効器を失効磁石として用いた。直径１２ｍｍの円盤状フェライト系永久磁石を図６に示すように配列したもので、各円盤状磁石同士の最短間隔は９ｍｍであった。失効面から２ｍｍ離間した磁束密度は約０．０９テスラであった。この失効磁石を用いて実施例１の構成の電子回路を有する失効器を製造し、実施例１と同様にして失効試験を行った。結果は、１０個の検知タグのうち３個が失効した。表示部の表示は３個の検知タグが失効されていること、及び７個の検知タグが失効されていないことを表示していた。
【００６７】
次に、この失効処理を施した１０個の検知タグを順次ゲート内を通過させた。ゲートは失効されている３個の検知タグの何れも検知しなかった。しかし、ゲートは残りの失効されていない７個の検知タグを検出した。
【００６８】
実施例７
図３に示す失効磁石の両面に平面コイルを取付けた構成の失効器を製造した。使用した失効磁石、電子回路等は実施例１で使用したものと同じものを使用し、厚さが５ｍｍの失効磁石に第１平面コイル及び第２平面コイルを密着させた。
【００６９】
幅１６ｍｍ、長さ２６ｍｍの、図７に示す構造の検知タグ（リンテック（株）社製商品名ＥＨ−０２６）を上記失効器の失効面に１秒間接触させた。結果は、１０個の検知タグの全てを確実に失効でき、表示部の表示は１０個の検知タグが失効されていることを表示していた。
【００７０】
次に、この失効させた１０個の検知タグを順次ゲート内を通過させた。ゲートは検知タグの１０個の何れも検知しなかった。
【００７１】
実施例８
図４に示す失効磁石の上面に２枚の平面コイルを互いに８ｍｍ離間させて積層した構成の失効器を製造した。使用した失効磁石、電子回路等は実施例１で使用したものと同じものを使用した。
【００７２】
幅１６ｍｍ、長さ２６ｍｍの、図７に示す構造の検知タグ（リンテック（株）社製商品名ＥＨ−０２６）を上記失効器の失効面に１秒間接触させた。結果は、１０個の検知タグの全てを確実に失効でき、表示部の表示は１０個の検知タグが失効されていることを表示していた。
【００７３】
次に、この失効させた１０個の検知タグを順次ゲート内を通過させた。ゲートは検知タグの１０個の何れも検知しなかった。
【００７４】
実施例９
図５に示すように、Ｓ極９４と、Ｎ極９６とを密着させずに、１ｍｍの磁石間距離Ｖを設けて交互に配列する以外は、実施例１と同様の失効磁石を製造し、実施例１と同様の試験を行った。結果は、１０個の検知タグのすべてを確実に失効できた。表示部の表示は、１０個の検知タグが失効されていることを表示していた。
【００７５】
次に、この失効させた１０個の検知タグを順次ゲート内を通過させた。ゲートは検知タグの１０個の何れも検知しなかった。
【図面の簡単な説明】
【００７６】
【図１】本発明の失効器の一例を示す説明図で、（Ａ）は側面説明図、（Ｂ）は平面説明図、（Ｃ）は平面コイルを示す説明図である。
【図２】本発明の失効器の電子回路の構成の一例を示す回路図である。
【図３】本発明の失効器の他の例を示す説明図である。
【図４】本発明の失効器の更に他の例を示す説明図である。
【図５】本発明の失効器のまた更に他の例を示す説明図である。
【図６】従来の失効器の一例を示す平面説明図である。
【図７】従来の検知タグの構成の一例を示す側面図である。
【図８】検知タグの検出方法を示す説明図である。
【図９】検知タグの検出原理を示す説明図で、（ａ）はゲート間に形成する交流磁界の波形を示し、（ｂ）は検知タグを検出したときの交流磁界の波形を示す。
【符号の説明】
【００７７】
２、３２、４２ 失効磁石
４、５６、９４ Ｓ極
６、５４、９６ Ｎ極
８ 失効面
１０、３４、４４ 第１平面コイル
１１、４５ スペーサー
１２、３６、４６ 第２平面コイル
１４ 出力回路
１６ データ処理・表示部
５０ 失効器
５２ 基台
６０ 軟磁性体層
６２ 接着剤層
６３ 貫通孔
６５ 硬磁性体層
６７ 保護層
６８ 粘着剤層
６９ 剥離材
７０、７２ ゲート
７４ 検知タグ
８０、８２ 高調波
Ｅ 電力源
ＤＡ 作動増幅回路
Ｌ 長さ
Ｐ、Ｑ 幅
Ｒ 矢印
Ｒ１、Ｒ２ 抵抗
Ｓ 磁界
Ｔ、Ｕ 所定間隔
Ｖ 磁石間距離
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＥＭタグ（以降、検知タグという。）の失効器に関し、更に詳述すれば本発明は少なくとも硬磁性体層と軟磁性体層とを積層してなる検知タグの硬磁性体層を確実に着磁させることにより検知タグを磁気により失効させると共に、失効状態を確認することのできる検知タグの失効器に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、商品等に添付され、商品と共に移動し、所定のゲートを通過する際に検出されることにより商品の管理を行ったり、商品の盗難を防止したりする、磁気利用の検知タグが知られている（例えば特許文献１）。このような磁気利用の検知タグをＥＭ（Electric Magnetic)タグと呼んでいる。
【０００３】
図７に従来の検知タグの一例を示す。図７中、６０はコバルト元素等を含有する軟磁性体層である。前記軟磁性体層６０の一面にはポリエステル系の接着剤層６２を介して多数の貫通孔６３を形成した硬磁性体層６５が積層されている。硬磁性体層６５は、例えばニッケル等の硬磁性体元素が含有されてなる。硬磁性体層６５の上面には上質紙や、樹脂フィルムからなる保護層６７が貼着されている。
【０００４】
また、前記軟磁性体層６０の他面には粘着剤層６８を介して剥離材６９が貼着されている。この検知タグの使用に際しては、上記剥離材６９が剥され、管理されるべき商品等に貼着される。
【０００５】
図８は、検知タグを検出するゲート７０、７２を示すもので、両ゲート７０、７２間に交流磁界Ｓが形成されている。また、両ゲート７０、７２には磁界強度を検出する検出器（不図示）が取りつけられており、この検出器により前記両ゲート７０、７２間の磁界強度が検出されている。なお、７４は検知タグである。検知タグ７４が商品等（不図示）に取りつけられて矢印Ｒで示されるように両ゲート７０、７２間を通過すると、ゲート７０、７２間に形成されている磁界Ｓが歪められる。この磁界Ｓの歪みを検出することにより、検知タグ７４がゲート７０、７２間を通過したことが認識される。
【０００６】
図９は、磁界の歪みを検出する具体的方法の一例を示すものである。図９中、（ａ１）は、図８中のゲート７０、７２間に形成する一定周波数の交流磁界の波形を示す。簡単な数学的手法を用いて、時間軸を周波数軸に変換すると（ａ２）に示す波形に変換される。
【０００７】
図９中、（ｂ１）は、検知タグ７４がゲート７０、７２間を通過することにより歪んだ交流磁界の波形を示す。この歪んだ波形を上記と同様にして座標軸変換を行うと、（ｂ２）に示す波形が得られる。（ｂ２）の波形には、交流磁界の歪みに起因する高調波８０、８２が認められる。この高調波の有無を検出することにより、ゲート７０、７２間を検知タグ７４が通過したことの有無が検出される。
【０００８】
例えば、商品等が正規に購入され、外部に搬出されても良い状態になった場合は、この商品等に貼着された検知タグ７４に失効操作を施す。この失効操作を施すことにより、商品に付着された検知タグ７４がゲート７０、７２内を通過しても磁界が歪められることが無くなる。この結果、商品等は安全に外部に持出される。
【０００９】
一方、不正に外部に持出されようとする場合は、検知タグ７４は失効されていない状態にあるので、商品等がゲート７０、７２内を通過すると歪んだ磁界が発生され、この歪んだ磁界を検出することにより不正持出しが検出される。
【００１０】
失効は、図７に示す検知タグの硬磁性体層６５を失効器を用いて着磁することにより達成される。
【００１１】
図６は、従来用いられている失効器の一例を示す。この失効器５０は、基台５２に、直径１２ｍｍの円盤状永久磁石が互いに１０ｍｍ程度の間隔を保って並べられたもので、各磁石はＮ極５４と、Ｓ極５６とが交互に配列されている。
【００１２】
この失効器５０の上面に図７に示される検知タグが触れると、硬磁性体層６５が着磁され、これにより検知タグが失効される。
【００１３】
しかし、従来の失効器を用いる検知タグの失効方法においては、確実に全ての検知タグが失効するとは限らず、失効されない場合が発生している。この場合は、正当な手続で入手した商品であるにもかかわらず、ゲートで検知されて、不正に入手したものとみなされることになり、これは大きな問題である。
【特許文献１】特開平６−３４２０６５（請求項１）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
本発明者は、上記問題を解決するために種々検討するうちに、失効器に一対の平面コイルを備えた検知回路を設けることにより、失効処理を施した検知タグの失効状態を確認でき、上記問題を解決できることに想到した。本発明は上記知見に基づき完成するに至ったものである。従って、本発明の目的とするところは上記問題を解決する検知タグの失効器を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
上記目的を達成する本発明は、以下に記載するものである。
【００１６】
〔１〕 複数の磁石のＳ極とＮ極とを交互に配列して形成した失効面を有する失効磁石と、前記失効面とコイル面とを平行に配設した一対の平面コイルと、前記一対の平面コイルを含みその差出力を取出す出力回路と、出力回路の取出した差出力から高調波を検出して表示するデータ処理・表示部とを有するＥＭタグ用失効器。
【００１７】
〔２〕 一対の平面コイルを失効磁石の失効面と反対面に配設してなる〔１〕に記載の失効器。
【００１８】
〔３〕 一対の平面コイルのコイル間に失効磁石を介装してなる〔１〕に記載の失効器。
【００１９】
〔４〕 一対の平面コイルを失効面上に配設してなる〔１〕に記載の失効器。
【００２０】
〔５〕 失効面が帯状のＳ極とＮ極とを交互に配列した磁石で形成してなる〔１〕に記載の失効器
〔６〕 失効面のＳ極とＮ極との磁石幅が１２ｍｍ以下である〔１〕に記載の失効器。
【００２１】
〔７〕 失効面の寸法が平面コイルの寸法よりも大きい〔１〕に記載の失効器。
【００２２】
〔８〕 失効面から２ｍｍ離間して測定される磁束密度が０．０１テスラ以上である〔１〕に記載の失効器。
【発明の効果】
【００２３】
本発明の失効器は、一対の平面コイルを備えた検知タグの検出回路を有するので、この失効器を用いて検知タグを失効させる場合に、検知タグが失効されたことが直ちに確認できる。このため、未失効の検知タグが誤ってゲートで検出される事故を確実に防止できる。
【００２４】
更に、失効磁石として、失効面が帯状のＳ極とＮ極とを交互に配列した失効磁石を使用する場合は、従来の失効器と比較してより確実に検知タグを失効させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
以下、図面を参照して本発明の実施形態につき、詳細に説明する。
【００２６】
図１は、本発明の失効器の一例を示すものである。図１（Ａ）は、失効器の側面図で、２は失効磁石である。この失効磁石２は、複数（図１（Ａ）においては３個）の帯状（長方形）のＳ極４と、複数（図１（Ａ）においては３個）の帯状（長方形）のＮ極６とが、交互に密着して配列された失効面８を有する。なお、図１（Ｂ）は失効器の平面図を示す。
【００２７】
帯状のＳ極４の幅Ｐと帯状のＮ極６の幅Ｑとは、失効させる検知タグの短辺よりも小さい必要がある。幅Ｐと、幅Ｑとは必ずしも同一幅である必要はなく、また磁石幅が違っていても良い。
【００２８】
具体的には、標準的な寸法である１６ｍｍｘ２６ｍｍ程度の検知タグを失効させる場合、幅Ｐ、Ｑはそれぞれ１２ｍｍ以下が好ましく、１〜１０ｍｍがより好ましく、２〜８ｍｍが特に好ましい。
【００２９】
幅Ｐ、Ｑが失効させる検知タグの短辺よりも大きい場合は、確実に失効されない場合が起る。また、幅Ｐ、Ｑは１ｍｍ以下であっても良いが、１ｍｍ以下にしても、特に１ｍｍ以下にすることによる失効作用の増加は認められない。
【００３０】
失効磁石２の磁束密度は失効作用を確実にする観点からは大きい方が好ましい。具体的には、失効面８から２ｍｍ離間した磁束密度が０．０１テスラ以上であり、０．０２〜０．１テスラがより好ましい。
【００３１】
このような失効磁石は、可撓性の磁気異方性シートとして市販されているものが使用できる。この磁気異方性シートは、フェライト系、ネオジウムを含む希土類系等の硬磁性粉末とゴムやプラスチックとを混練し、押出し成形後、磁化する等の方法で製造される（特開２００１−２９７９１１、特開平１１−２７３９３８等）。
【００３２】
また、Ｓ極、Ｎ極を帯状に形成した永久磁石を交互に密着して配列したものであっても良い。
【００３３】
なお、上記説明においては、帯状のＳ極４とＮ極６とを互いに密着させて配列したが、これに限られず、図５のようにＳ極９４とＮ極９６とを互いに間隔を設けて配列しても良い。Ｓ極９４とＮ極９６との磁石間距離Ｖは１０ｍｍ以下が好ましく、１〜５ｍｍがより好ましい。
【００３４】
更に、図６に示す様な、従来存在する円盤状磁石を配列した失効磁石であっても良い。
【００３５】
前記失効磁石２の下面には、図１（Ａ）に示すように、１対の第１平面コイル１０と、第２平面コイル１２とが配設してある。第１平面コイル１０は、前記失効磁石２の下面に密着して配設され、第２平面コイル１２は、前記第１平面コイル１０と所定間隔Ｔだけ離れて第１平面コイル１０と平行に配設してある。１１はスペーサーである。所定間隔Ｔとしては、特に制限がないが、ノイズ防止の観点からは３０ｍｍ以下が好ましく、５〜２０ｍｍがより好ましい。
【００３６】
第１平面コイル１０、及び第２平面コイル１２は、図１（Ｃ）に示すように、電線を平面内に渦巻き状に巻回したループコイルで、図１（Ｃ）に示すような、長方形状に巻回したものや、円状に巻回したもの、菱形に巻回したもの等の任意の形状に巻回したものを使用できる。
【００３７】
前記第１平面コイル１０と第２平面コイル１２との巻回方向は特に制限がないが、後述する図２に示す検知タグの検出回路を構成するに当り、第１平面コイル１０の発生する磁場方向と、第２平面コイル１２が発生する磁場方向とが、互いにうち消し合って、両コイルの出力の差分を出力するように接続する必要がある。
このように接続することにより、外部ノイズの検出を有効に防止できる。
【００３８】
出力回路１４は、前記第１平面コイル１０と、第２平面コイル１２と、後述する抵抗Ｒ１、Ｒ２とで構成したブリッジ回路の差出力を増幅して、データ処理・表示部１６に供給する回路である。
【００３９】
図２は、図１に示す失効器の出力回路１４を示すものである。第１平面コイル１０と、第２平面コイル１２と、抵抗Ｒ１と、抵抗Ｒ２とで構成されるブリッジ回路に所定周波数の交流電力を電力源Ｅから供給し、検知タグを検出したときに生じるブリッジ回路の差出力を作動増幅回路ＤＡで増幅して、データ処理・表示部１６に供給する。
【００４０】
データ処理・表示部１６は、前記出力回路１４の出力から電力源Ｅの供給する交流電力の高調波成分を取出すデータ処理を行い、高調波成分の検知の有無を確認する。このデータ処理自体は公知のものである。表示部は、高調波成分が検出されない場合は、失効されている旨の表示をし、高調波成分が検出された場合は、検知タグが失効されていない旨の表示をする。
【００４１】
次に、図１に示す失効器を用いて、検知タグを失効させる場合につき説明する。例えば、店頭において商品等に貼着されている検知タグの最初の状態において、その硬磁性体層は着磁されていない。この状態で、商品が不法に外部に持出されると、ゲートで検出される。
【００４２】
一方、この商品の代金が正規に支払われた場合は、この状態で、商品に貼着された検知タグを失効器の失効面８に近づけ、好ましくは失効面８に検知タグの硬磁性体層を対向させて失効面８に検知タグを接触させる。これにより、検知タグの硬磁性体層は着磁し、その結果検知タグは失効する。
【００４３】
失効させるために失効面に検知タグを近づけている時間、又は接触時間は短時間で良い。具体的には０．１秒以上であれば何れの時間でも良い。
【００４４】
上記操作により、検知タグが失効した場合は、ブリッジ回路の差出力中には高調波成分は検出されないので、データ処理・表示部は失効されたと判断しその旨を表示部に表示する。
【００４５】
一方、何らかの理由で、失効に失敗した場合は、ブリッジ回路に供給している交流電力の高調波成分が出力回路からデータ処理・表示部に送られる。これをデータ処理・表示部が認識し、表示部に失効されていない旨を表示する。
【００４６】
上記失効器の失効磁石は帯状のＳ極とＮ極とを交互に配列した失効面を有する。この構造の失効磁石を用いる失効器は、従来の失効器と比較し高い検知タグの失効能力を有する。この失効磁石が検知タグを確実に失効させる理由は十分解明されていないが、本発明者らは上記帯状の磁極の配列からなる失効器の場合は磁束の方向が揃いやすい為と考えている。これに対し、従来の円盤状磁石を配列した失効器の場合は、磁束が全周方向に発散する様に形成されることにより、磁束密度が低減して失効作用が不確実になると考えている。
【００４７】
図３は、本発明失効器の他の構成例を示すものである。
【００４８】
この例にあっては、一対の第１平面コイル３４と、第２平面コイル３６との間に失効磁石３２を介装している。図３に示すように、第１平面コイル３４と第２平面コイル３６とは失効磁石３２に密着させても良いし、第１平面コイル３４と第２平面コイル３６とを所定間隔離間させ、その略中央に前記両コイル３４、３６と離間して失効磁石３２を配設しても良い。
【００４９】
第１平面コイル３４と第２平面コイル３６との間隔は、３０ｍｍ以下が好ましく、５〜２０ｍｍがより好ましい。
【００５０】
第１平面コイル３４と、第２平面コイル３６とは、磁力線の方向が反対方向になるようにブリッジ回路を構成しており、その他の構成は前記と同様の構成である。
【００５１】
図４は、本発明失効器の更に他の構成例を示すものである。
【００５２】
この例にあっては、失効磁石４２の上面に一対の第１平面コイル４４と第２平面コイル４６とをスペーサー４５で所定間隔Ｕ離間させて積層している。所定間隔Ｕは、３０ｍｍ以下が好ましく、５〜２０ｍｍがより好ましい。第１平面コイル４４と、第２平面コイル４６とは、磁力線の方向が反対方向になるようにブリッジ回路を構成しており、その他の構成は上記と同様である。
【００５３】
以下、実施例、比較例により本発明を更に具体的に説明する。
【実施例】
【００５４】
実施例１
市販のフェライト系ゴム磁石（マグテック（株）社製商品名異方性ゴム磁石）を裁断して縦１５０ｍｍ、横１５０ｍｍの図１（Ｂ）に示す帯状のＮ極、Ｓ極が交互に配列された構造の失効磁石を製造した。Ｓ極４の幅Ｐ、Ｎ極６の幅Ｑは２ｍｍ、長さＬは１５０ｍｍであった。このフェライト系ゴム磁石の失効面から２ｍｍ離間した磁束密度は約０．０３テスラであった。なお、磁束密度はガウスメータ５０８０（Ｆ．Ｗ．ＢＥＬＬ社製）で測定した。
【００５５】
電線を１２００回渦巻き状に巻回して直径１２０ｍｍの平面コイルを２つ作製し、これらを第１平面コイル、第２平面コイルとした。図１に示すように、失効磁石の下面に第１平面コイル、第２平面コイルを配置した。コイル間距離は８ｍｍであった。２個の４７０Ωの抵抗と前記２つの平面コイルとでブリッジ回路を構成し、２０ｖの交流電圧（３０６Ｈｚ）をブリッジ回路に供給した。このとき、コイル近傍の磁界強度は８００Ａ／ｍであった。なお、磁界強度はガウスメータＧＭ−００３（電子磁気工業製）で測定した。
【００５６】
幅１６ｍｍ、長さ２６ｍｍの、図７に示す構造の検知タグ（リンテック（株）社製商品名ＥＨ−０２６）を上記失効器の失効面に１秒間接触させた。結果は、１０個の検知タグの全てを確実に失効でき、表示部の表示は１０個の検知タグが失効されていることを表示していた。
【００５７】
次に、この失効させた１０個の検知タグを順次ゲート内を通過させた。ゲートは検知タグの１０個の何れも検知しなかった。
【００５８】
実施例２
Ｓ極、Ｎ極の幅Ｐ、Ｑが３ｍｍのネオジウム系ゴム磁石（（株）マグナ社製商品名ラバーマグネット）を用いる以外は実施例１と同様にして失効磁石を製造し、同様の試験を行った。失効面から２ｍｍ離間した磁束密度は約０．０４５テスラであった。結果は、１０個の検知タグの全てを確実に失効できた。表示部の表示は１０個の検知タグが失効されていることを表示していた。
【００５９】
次に、この失効させた１０個の検知タグを順次ゲート内を通過させた。ゲートは検知タグの１０個の何れも検知しなかった。
【００６０】
実施例３
Ｓ極、Ｎ極の幅Ｐ、Ｑが５ｍｍのネオジウム磁石（（株）マグナ社製商品名ネオジウム磁石）を用いる以外は実施例１と同様にして失効磁石を製造し、同様の試験を行った。失効面から２ｍｍ離間した磁束密度は約０．０８テスラであった。結果は、１０個の検知タグの全てを確実に失効できた。表示部の表示は１０個の検知タグが失効されていることを表示していた。
【００６１】
次に、この失効させた１０個の検知タグを順次ゲート内を通過させた。ゲートは検知タグの１０個の何れも検知しなかった。
【００６２】
実施例４
Ｓ極、Ｎ極の幅Ｐ、Ｑが１０ｍｍのネオジウム磁石（（株）マグナ社製商品名ネオジウム磁石）を用いる以外は実施例１と同様にして失効磁石を製造し、同様の試験を行った。失効面から２ｍｍ離間した磁束密度は約０．０９５テスラであった。結果は、１０個の検知タグの全てを確実に失効できた。表示部の表示は１０個の検知タグが失効されていることを表示していた。
【００６３】
次に、この失効させた１０個の検知タグを順次ゲート内を通過させた。ゲートは検知タグの１０個の何れも検知しなかった。
【００６４】
実施例５
Ｓ極、Ｎ極の幅Ｐ、Ｑが１５ｍｍの異方性フェライト磁石（（株）マグナ社製商品名フェライト磁石）を用いる以外は実施例１と同様にして失効磁石を製造し、同様の試験を行った。失効面から２ｍｍ離間した磁束密度は約０．０５５テスラであった。１０個の検知タグのうち８個を失効できた。表示部の表示は８個の検知タグが失効されていること、及び２個の検知タグが失効されていないことを表示していた。
【００６５】
次に、この失効させた１０個の検知タグを順次ゲート内を通過させた。ゲートは失効されている８個の検知タグの何れも検知しなかった。しかし、ゲートは残りの失効されていない２個の検知タグを検出した。更に、失効されていない２個の検知タグを再度失効の操作を行ったところ、表示部の表示は２個共に失効されていることを表示した。
【００６６】
実施例６
図６に示す構造の市販の失効器を失効磁石として用いた。直径１２ｍｍの円盤状フェライト系永久磁石を図６に示すように配列したもので、各円盤状磁石同士の最短間隔は９ｍｍであった。失効面から２ｍｍ離間した磁束密度は約０．０９テスラであった。この失効磁石を用いて実施例１の構成の電子回路を有する失効器を製造し、実施例１と同様にして失効試験を行った。結果は、１０個の検知タグのうち３個が失効した。表示部の表示は３個の検知タグが失効されていること、及び７個の検知タグが失効されていないことを表示していた。
【００６７】
次に、この失効処理を施した１０個の検知タグを順次ゲート内を通過させた。ゲートは失効されている３個の検知タグの何れも検知しなかった。しかし、ゲートは残りの失効されていない７個の検知タグを検出した。
【００６８】
実施例７
図３に示す失効磁石の両面に平面コイルを取付けた構成の失効器を製造した。使用した失効磁石、電子回路等は実施例１で使用したものと同じものを使用し、厚さが５ｍｍの失効磁石に第１平面コイル及び第２平面コイルを密着させた。
【００６９】
幅１６ｍｍ、長さ２６ｍｍの、図７に示す構造の検知タグ（リンテック（株）社製商品名ＥＨ−０２６）を上記失効器の失効面に１秒間接触させた。結果は、１０個の検知タグの全てを確実に失効でき、表示部の表示は１０個の検知タグが失効されていることを表示していた。
【００７０】
次に、この失効させた１０個の検知タグを順次ゲート内を通過させた。ゲートは検知タグの１０個の何れも検知しなかった。
【００７１】
実施例８
図４に示す失効磁石の上面に２枚の平面コイルを互いに８ｍｍ離間させて積層した構成の失効器を製造した。使用した失効磁石、電子回路等は実施例１で使用したものと同じものを使用した。
【００７２】
幅１６ｍｍ、長さ２６ｍｍの、図７に示す構造の検知タグ（リンテック（株）社製商品名ＥＨ−０２６）を上記失効器の失効面に１秒間接触させた。結果は、１０個の検知タグの全てを確実に失効でき、表示部の表示は１０個の検知タグが失効されていることを表示していた。
【００７３】
次に、この失効させた１０個の検知タグを順次ゲート内を通過させた。ゲートは検知タグの１０個の何れも検知しなかった。
【００７４】
実施例９
図５に示すように、Ｓ極９４と、Ｎ極９６とを密着させずに、１ｍｍの磁石間距離Ｖを設けて交互に配列する以外は、実施例１と同様の失効磁石を製造し、実施例１と同様の試験を行った。結果は、１０個の検知タグのすべてを確実に失効できた。表示部の表示は、１０個の検知タグが失効されていることを表示していた。
【００７５】
次に、この失効させた１０個の検知タグを順次ゲート内を通過させた。ゲートは検知タグの１０個の何れも検知しなかった。
【図面の簡単な説明】
【００７６】
【図１】本発明の失効器の一例を示す説明図で、（Ａ）は側面説明図、（Ｂ）は平面説明図、（Ｃ）は平面コイルを示す説明図である。
【図２】本発明の失効器の電子回路の構成の一例を示す回路図である。
【図３】本発明の失効器の他の例を示す説明図である。
【図４】本発明の失効器の更に他の例を示す説明図である。
【図５】本発明の失効器のまた更に他の例を示す説明図である。
【図６】従来の失効器の一例を示す平面説明図である。
【図７】従来の検知タグの構成の一例を示す側面図である。
【図８】検知タグの検出方法を示す説明図である。
【図９】検知タグの検出原理を示す説明図で、（ａ）はゲート間に形成する交流磁界の波形を示し、（ｂ）は検知タグを検出したときの交流磁界の波形を示す。
【符号の説明】
【００７７】
２、３２、４２ 失効磁石
４、５６、９４ Ｓ極
６、５４、９６ Ｎ極
８ 失効面
１０、３４、４４ 第１平面コイル
１１、４５ スペーサー
１２、３６、４６ 第２平面コイル
１４ 出力回路
１６ データ処理・表示部
５０ 失効器
５２ 基台
６０ 軟磁性体層
６２ 接着剤層
６３ 貫通孔
６５ 硬磁性体層
６７ 保護層
６８ 粘着剤層
６９ 剥離材
７０、７２ ゲート
７４ 検知タグ
８０、８２ 高調波
Ｅ 電力源
ＤＡ 作動増幅回路
Ｌ 長さ
Ｐ、Ｑ 幅
Ｒ 矢印
Ｒ１、Ｒ２ 抵抗
Ｓ 磁界
Ｔ、Ｕ 所定間隔
Ｖ 磁石間距離
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の磁石のＳ極とＮ極とを交互に配列して形成した失効面を有する失効磁石と、前記失効面とコイル面とを平行に配設した一対の平面コイルと、前記一対の平面コイルを含みその差出力を取出す出力回路と、出力回路の取出した差出力から高調波を検出して表示するデータ処理・表示部とを有するＥＭタグ用失効器。
【請求項２】
一対の平面コイルを失効磁石の失効面と反対面に配設してなる請求項１に記載の失効器。
【請求項３】
一対の平面コイルのコイル間に失効磁石を介装してなる請求項１に記載の失効器。
【請求項４】
一対の平面コイルを失効面上に配設してなる請求項１に記載の失効器。
【請求項５】
失効面が帯状のＳ極とＮ極とを交互に配列した磁石で形成してなる請求項１に記載の失効器。
【請求項６】
失効面のＳ極とＮ極との磁石幅が１２ｍｍ以下である請求項１に記載の失効器。
【請求項７】
失効面の寸法が平面コイルの寸法よりも大きい請求項１に記載の失効器。
【請求項８】
失効面から２ｍｍ離間して測定される磁束密度が０．０１テスラ以上である請求項１に記載の失効器。
【請求項１】
複数の磁石のＳ極とＮ極とを交互に配列して形成した失効面を有する失効磁石と、前記失効面とコイル面とを平行に配設した一対の平面コイルと、前記一対の平面コイルを含みその差出力を取出す出力回路と、出力回路の取出した差出力から高調波を検出して表示するデータ処理・表示部とを有するＥＭタグ用失効器。
【請求項２】
一対の平面コイルを失効磁石の失効面と反対面に配設してなる請求項１に記載の失効器。
【請求項３】
一対の平面コイルのコイル間に失効磁石を介装してなる請求項１に記載の失効器。
【請求項４】
一対の平面コイルを失効面上に配設してなる請求項１に記載の失効器。
【請求項５】
失効面が帯状のＳ極とＮ極とを交互に配列した磁石で形成してなる請求項１に記載の失効器。
【請求項６】
失効面のＳ極とＮ極との磁石幅が１２ｍｍ以下である請求項１に記載の失効器。
【請求項７】
失効面の寸法が平面コイルの寸法よりも大きい請求項１に記載の失効器。
【請求項８】
失効面から２ｍｍ離間して測定される磁束密度が０．０１テスラ以上である請求項１に記載の失効器。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【公開番号】特開２００６−１３３０８５（Ｐ２００６−１３３０８５Ａ）
【公開日】平成１８年５月２５日（２００６．５．２５）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００４−３２２７００（Ｐ２００４−３２２７００）
【出願日】平成１６年１１月５日（２００４．１１．５）
【出願人】（０００１０２９８０）リンテック株式会社 (1,750)
【出願人】（５９７０１９６０９）株式会社 シーディエヌ (22)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成１８年５月２５日（２００６．５．２５）
【国際特許分類】
【出願日】平成１６年１１月５日（２００４．１１．５）
【出願人】（０００１０２９８０）リンテック株式会社 (1,750)
【出願人】（５９７０１９６０９）株式会社 シーディエヌ (22)
【Ｆターム（参考）】
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