【課題】ＴＤＬＡＳ測定法を用いたガス濃度測定装置においてＬＤの温調を簡素化しつつ、ＬＤの温度変化の影響を軽減して測定精度を向上させる。
【解決手段】ＬＤ１の温度が変化するとＬＤ１の発光強度とともに発光波長が変化する。そこで、吸収ピークが現れる駆動電流のドリフト量と発光強度変化量との関係を予め求めて、光強度補正データ記憶部８３に格納しておく。ガス濃度測定時に、ガス濃度算出部８１は波長走査において現れる目的成分の吸収ピークの高さからガス濃度を算出する。一方、濃度補正演算部８２は吸収ピークのドリフト量を求め、光強度補正データ記憶部８３の補正情報に基づいて、ドリフト量に対応した光強度変化量に相当する分だけ濃度値を補正する。これにより、ＬＤ１の温度変化に伴う発光強度の変化の影響が除去され、高精度のガス濃度値が求まる。 （もっと読む）

【課題】 試験片の位置を正確に設定することができ、試験片の寸法を精度よく測定することが可能な測寸装置を提供する。
【解決手段】 試験片１の両端をその下方より支持して搬送する一対のコンベア１１と、このコンベア１１により搬送された試験片１を撮影することにより試験片１の幅を光学的に測定する幅測定機構３と、このコンベア１１により搬送された試験片１を上下方向から挟持することによりその上下方向の厚さを測定する厚さ測定機構４と、コンベア１１による試験片１の搬送経路上に配設され試験片１の両端部に当接可能な当たりブロック６とを備える。 （もっと読む）

【課題】回転体のアンバランス修正作業を効率良く行うことができるアンバランス修正方法の提供。
【解決手段】本発明によるアンバランス修正方法では、被膜材料を含む電極の一部を放電により溶融して回転体に堆積させ、回転体のアンバランスを修正するものであって、回転体の動的不釣り合いを測定するアンバランス測定工程（Ｓ１０）と、測定された動的不釣り合いに基づいて放電時間および回転体に対する電極の移動範囲を制御して、被膜材料から成るアンバランス修正用被膜を回転体に形成する被膜形成工程（Ｓ４０）と、を有する。 （もっと読む）

【課題】従来のイオントラップでは、十分な擬電位ポテンシャルを確保しつつＣＩＤに十分な運動エネルギーをプリカーサイオンに与えるような駆動条件を設定した場合、低m/zのプロダクトイオンが安定捕捉領域を外れて観測できなくなる。
【解決手段】プリカーサイオンの選別を行う際には、リング電極３１に高周波高電圧を印加し、エンドキャップ電極３２、３３に共鳴励振用の交流電圧を印加する。それに引き続くＣＩＤ時には、リング電極３１ではなくエンドキャップ電極３２、３２に高周波高電圧を印加することで、プリカーサイオンと開裂により生成されたプロダクトイオンとを捕捉する。その際には、イオン選別時の高周波高電圧よりも周波数を高くするとともに振幅も大きくし、ｑ値を小さくする一方、擬電位ポテンシャルを大きくする。これにより、低m/zのプロダクトイオンが良好に捕捉され、そうしたイオンも観測できるようになる。 （もっと読む）

【課題】放射線透視画像に写りこむモアレを効果的に除去しつつ、被検体の透視像の詳細な構造を損なうことがない放射線撮影装置を提供する。
【解決手段】本発明の構成によれば、元画像に対応して微分値がマッピングされた微分値マップを生成する微分値マップ生成部１２と、ピーク出現帯域に属する周波数成分に作用する急特性フィルタリング部１６と、周波数が最低周波数以上となっている周波数成分に作用する緩特性フィルタリング部１７とを備えている。本発明の構成によれば、元画像に写りこんだモアレを除去する際に、緩特性フィルタリング部１７と、急特性フィルタリング部１６とが切り替えられるので、より視認性に優れた放射線透視画像が取得できる放射線撮影装置が提供できる。 （もっと読む）

【課題】厚い断熱材を用いなくても高い断熱性を確保することができる試料加熱装置を提供する。
【解決手段】分析試料を加熱するためのオーブンとオーブンの周囲を覆う断熱材の間に、熱伝導率の低い空気の層を断熱層として形成する。これにより、従来よりも高い断熱性を確保することができる。空気から成る断熱層は薄くても十分な断熱効果が得られるため、従来の装置よりも断熱材を薄くすることができ、装置を小型化することができる。 （もっと読む）

【課題】通電停止時にピストンの自由落下を防止することができる材料試験機を提供する。
【解決手段】ピストンを上下に駆動することにより試料片に負荷荷重を与える材料試験機であって、動電形アクチュエータ５０は、永久磁石または励磁コイル６４を含む磁気回路により磁場空間を形成する固定子５２と、ピストン６３を軸にして可動コイル６１が取り付けられ、固定子５２によって形成された磁場空間で可動コイル６１が上下に移動可能な状態で支持される可動子５１と、可動コイル６１のコイル電流を制御して磁場空間において電磁力を発生することにより、可動子５１のピストンを浮上させるとともにピストン６３から試験片に与える負荷荷重を制御する駆動電流制御部７１，７２と、可動コイルのコイル電流を停止するときに、発生中の電磁力を緩やかに変化させてピストンの落下速度を遅らせる落下制御部７２，７３とを備え、停止時の落下速度を遅らせる。 （もっと読む）

【課題】位置ずれ補正に要する走査画像の取得回数を１回で済まし、また、ｙ軸方向の位置ずれ補正およびｘ軸方向の位置ずれ補正に要する演算を１回で済まして、位置ずれ補正に要する時間を短縮する。
【解決手段】荷電粒子ビームを試料上で二次元的に走査して走査画像を形成する走査ビーム照射装置において、試料を支持するステージ上に設けたマークと、このマークを含む走査画像を取得する走査画像取得手段と、走査画像取得手段で取得した走査画像に基づいて位置ずれを補正する位置ずれ補正手段とを備え、走査画像取得手段は、同一のマークを走査画像中に含む２つの異なる走査画像を取得し、この２つの走査画像の取得は同じ走査期間内で行う。２つの走査画像は同一のマークを走査画像中に含むため、２つの走査画像中のマークの位置を比較することによって、走査画像間に位置ずれを求めることができる。 （もっと読む）

【課題】 電圧を印加しても泳動させることができない粒子群の粒子径を算出することができる粒子径測定装置及び粒子径測定方法を提供する。
【解決手段】 媒体が第一設定方向に通過する測定セル１と、複数の導入口１６ａが、第二設定方向で設定間隔となるように形成されており、複数の導入口１６ａから、被測定粒子群を媒体中に含有する試料を測定セル１内に導入する導入口群１６と、測定セル１内の被測定粒子群に対して、第三設定方向に測定光を照射する光源４ａと、測定セル１内の被測定粒子群に測定光を照射することにより発生する回折光による回折光強度を検出する検出器５０とを備え、被測定粒子群を測定セル１内の第一設定方向に通過させながら、媒体中で被測定粒子群を第二設定方向に拡散させていく粒子径測定装置１０であって、第一設定方向での回折光強度の変化に基づいて、被測定粒子群の粒子径を算出する粒子径算出部３５を備える。 （もっと読む）

【課題】撮影部位の変更にともなうＸ線条件などの撮影条件の変更忘れを防止して常に適切な撮影条件で撮影ができるＸ線撮影装置を提供する。
【解決手段】制御部１１は、現在設定されているＸ線検出器５とＸ線管１の高さＨおよびＳＩＤを、高さセンサ３ｈ、２ｈおよび距離センサ２ｌで確認し、保存しているデータベースを検索して、前記高さＨおよびＳＩＤがオーダーされ今回撮影する撮影部位に適合しているかチェックする。適合していない場合でかつオーダーされた撮影部位の順番を変更しない場合は、今回撮影する撮影部位用に設定されていない撮影条件を表示部１３にリストアップし、警告表示する。 （もっと読む）