説明

株式会社島津製作所により出願された特許

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【課題】エンドキャップ電極に矩形波電圧を印加することによりイオンを共鳴励起排出する場合に、共鳴励起条件を理想状態に近づけることで質量分解能を改善する。
【解決手段】励起共鳴電圧直流電位算出部71は共鳴励起排出に先立って、パルス電圧発生部51で生成される矩形波電圧の周期、パルス幅、電圧値などを用いて、時間平均電位がゼロとなるような直流電位シフト量を算出する。共鳴励起排出の実施時に、可変直流電圧発生部52は直流電位シフト量に応じた直流電圧を発生し、電圧重畳部53、54において矩形波電圧はその直流電圧分だけシフトされる。それにより、各エンドキャップ電極22、24に印加される矩形波電圧の時間平均電位はともにゼロとなり、イオントラップ2空間内で中心軸に沿った方向の直流的な電位勾配がなくなる。その結果、捕捉されているイオンの軌道中心がトラップ2の幾何学中心に一致し、共鳴励起条件が理想に近くなる。 (もっと読む)


【課題】 X線管とX線検出器とを180度以上移動させることにより容易に三次元画像等を得ることができ、また、X線撮影の自由度を向上させることが可能なX線撮影装置を提供すること。
【解決手段】 X線撮影装置は、X線管41およびフラットパネルディテクタ42を支持する略C字状の第1アーム43と、この第1アーム43をスライド可能に支持する支持部44と、支持部44を旋回させる旋回部45と、第2アーム47とを備える。第1アーム43には、円弧状の案内部48が形成されており、支持部44は、この案内部48と係合することにより、第1アーム43をスライド可能に支持している。第2アーム47には、円弧状の案内部49が形成されており、旋回部45に連結された支持部46は、この案内部49と係合することにより、旋回部45を第2アーム47に対してスライド可能に支持している。 (もっと読む)


【課題】 変換膜の特性による欠損や、変換膜の特性の経時的な変化に起因する欠損を正確に検出することができる二次元アレイX線検出器における欠損画素の検出方法を提供すること。
【解決手段】 第1暗電流値測定工程と、第1リーク電流値測定工程と、第1暗電流値と第1リーク電流値の差分値を第1差分値として演算する第1差分値演算工程と、第2暗電流値測定工程と、第2リーク電流値測定工程と、第2暗電流値と第2リーク電流値の差分値を第2差分値として演算する第2差分値演算工程と、第1差分値と第2差分値とに基づいて、変換膜の特性の経時的変化により生じた欠損画素を判定する経時欠損判定工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】モータを負荷機構の駆動源とする材料試験機において、制御ゲインの設定に際して熟練を要したり、試行錯誤を行ったり、あるいは長時間を要することなく、常に正確な材料試験を行うことができ、しかも、試験開始時における負荷機構の初期速度の設定をも不要とした材料試験機を提供する。
【解決手段】モータ21の変位量θ(t)に対する制御量の検出値F(t)の比率K(t)を逐次算出し、その算出された比率K(t)により偏差{FD (t)−F(t)}を除した値に比例した値を、モータ21に電流を供給するサーボアンプ36への回転角速度指令として供給することにより、オペレータによる制御ゲインの設定を不要としながら、試験の進行に伴って適正なゲインが自動的に算出・設定され、また、試験開始当初においては、比率Kの初期値として当該試験機で想定可能な最大の値を用いて回転角速度指令を求めることで、試験に先立って負荷機構の初期速度の設定を不要にする。 (もっと読む)


【課題】 セルに粒子群が付着しても、粒子径の分布を高精度で算出することができる粒子径測定装置を提供する。
【解決手段】 試料を収容するセル1と、電圧を印加する電源3と、電源3からの電圧印加によりセル1内に空間周期的に変化する電界を形成する電極2と、試料に測定光を照射する光源4と、試料に測定光を照射することにより発生する回折光による回折光強度を検出する検出器151と、電源3から電極2に印加する電圧を停止することにより、媒体中で被測定粒子群に拡散を生じさせる印加電圧制御部31と、回折光強度の時間変化に基づいて、被測定粒子群の粒子径の分布を算出する粒子径算出部35とを備える粒子径測定装置10であって、粒子径算出部35は、拡散開始時間から設定時間が経過したときの回折光強度を、媒体中に被測定粒子群が均一に分散しているときに得られる回折光強度のベースラインとする。 (もっと読む)


【課題】脳・膀胱の影響を受けず、病変部を強調された診断に好適な放射線断層画像を取得できる放射線断層撮影装置を提供する。
【解決手段】本発明によれば、MIP画像M0,アキシャル画像A0の検出値をスケーリングするスケーリング部24と、これにリセット信号を送出するリセット部26が設けられている。スケーリング部24は、リセット信号が送出されると、その時点で認定していた最大値を破棄して、両値を新たに認定する。したがって、スケーリング部24は、脳・膀胱が写りこんでいない領域の中で最大値と最小値を求めてスケーリングを行うことができるので、脳・膀胱の検出値の影響が調整MIP画像M1全体に及ばず、病変部を強調された診断に好適な調整MIP画像M1を取得できる。 (もっと読む)


【課題】 流体シリンダを利用してつかみ歯を開閉する場合に、一対のつかみ歯を任意の位置で固定することが可能なつかみ具を提供する。
【解決手段】 一対のつかみ歯51を把持位置と解放位置との間で移動させるリンク機構と、シリンダ31とピストン32とを備えるエアシリンダ機構と、ピストン32の凸部33に形成された傾斜部34を押圧するネジ42とを備える。一対のつかみ歯51が解放位置にある状態において、ネジ42によりピストン32の凸部33に形成された傾斜部34を押圧すると、ピストン32が上昇することにより、一対のつかみ歯51が、バネ66による付勢力に抗して、互いに同期して近接する方向に移動する。 (もっと読む)


【課題】 X線撮影装置において、X線照射手段等を自動位置決めするときに、操作者の操作によらずにX線照射手段等が誤って移動することを防止すること。
【解決手段】 X線照射手段と、X線検出手段と、X線照射手段を移動させる移動手段と、を備え、移動手段によりX線照射手段を移動させる移動位置を予め記憶する記憶部と、移動手段による移動位置への移動指令を入力するためのコントローラと、コントローラへの入力が行われるときのコントローラの状態を検出する検出手段と、コントローラへの入力が操作者の操作によるものであるか否かを、検出手段により検出された検出結果に基づいて判定する判定部と、判定手段により入力手段への入力が操作者の操作によるものであると判定された場合に、移動手段を動作させる制御手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】簡単な構造でワーク領域を小さくでき、波長走査範囲の広い波長分散型の分光器を提供する。
【解決手段】試料43から放出される試料43の特性を示す電磁波を回折する分光素子52と、この分光素子52をこの分光素子52の表面を軸として回転させる分光素子回転機構(61-1,62-1)と、分光素子52で回折された電磁波をそれぞれ異なる波長領域で検出する複数の検出器53-1,53-2,……,53-nと、分光素子回転機構(61-1,62-1)と回転軸を共有し、複数の検出器を分光素子52の回りで移動させる検出器回転機構(61-2,62-2)とを備える。検出器回転機構(61-2,62-2)のオフセット角度を変えることで、複数の検出器を切り替え可能とする。 (もっと読む)


【課題】X線強度分布のデータ点の間隔が波長に対して一定となる平板分光結晶型のX線分光器の制御方法及び該制御方法を用いた平板分光結晶型X線分光器を提供する。
【解決手段】マルチキャピラリX線レンズ7、平板型分光結晶8、X線検出器6から成る従来の構成の平板分光結晶型X線分光器に対し、平板型分光結晶8及びX線検出器6の図示しない駆動部を制御する駆動制御部26を設ける。駆動制御部26は平板型分光結晶8及びX線検出器6の回転速度を時々刻々と変化させるため、一定の計数時間で計数部23から出力されるX線強度の波長間隔を一定にすることができる。 (もっと読む)


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