【課題】本発明の目的は、溶出試験を安定して行うことのできる溶出試験器を提供することにある。
【解決手段】ベッセル１８の本体１８ａの外径よりも若干大きく且つそのフランジ１８ｂの外径よりも小さい内径を有する保持穴３４にベッセル１８を保持する水槽蓋２０と、下端が上端よりも小さいテーパ部２２ａを持つベッセル蓋２２と、ヘッド１４より垂下して該ベッセル蓋２２の中心に位置決め固定され、該ベッセル蓋２２と共に上下動する蓋移動軸２４と、を備え、該蓋移動軸２４で該ベッセル蓋２２を下降させ、該ベッセル蓋２２のテーパ部２２ａを該ベッセル１８の上端開口３２に当接させると、該蓋移動軸２４の中心軸と該ベッセル１８の中心軸とが一致するように該ベッセル蓋２２のテーパ部２２ａが該ベッセル１８を移動させることを特徴とする溶出試験器１０。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的は、溶出試験を安定して行うことのできる溶出試験器を提供することにある。
【解決手段】恒温水槽１２と、試験液２８を入れるベッセル１４と、試験液２８の吸引口２９を持つベッセル蓋１６と、ノズルホルダ１８と共に上下動自在に設けられた試験液２８の吸引ノズル２０と、試料２６を該ベッセル１４内に投薬するための投薬機構２２と、を備え、該投薬機構２２は、該ベッセル蓋１６に設けられた投薬口３０と、該ベッセル蓋１６に投薬口３０を開閉自在に設けられ、該投薬口３０を閉の状態で試料２６を該ベッセル蓋１６に保持する試料受け３２と、該ノズルホルダ１８と共に上下動自在に設けられ、投薬の際は該試料受け３２と当接し該投薬口３０を開の状態とし該試料受け３２の試料２６を該投薬口３０を介して該ベッセル１４内に落下させるための操作棒３４と、を備えたことを特徴とする溶出試験器１０。 （もっと読む）

【課題】 本発明の目的は光の回折限界以上の空間分解能を有する近接場旋光測定装置を提供することにある。
【解決手段】 測定に使用する光の波長よりも小さい開口を先端に有し、該開口から直線偏光の近接場光を射出し、該近接場光を試料に照射する近接場プローブ１４と、前記試料を透過した光を検出する検出手段２２と、検出手段の前段に設置される検光子１８と、検光子を光軸を中心として回転させ、その透過軸の角度を変更する検光子回転手段２０と、を備え、検光子回転手段により検光子を回転させることで試料の旋光度を測定することを特徴とする近接場偏光測定装置１０。 （もっと読む）

【課題】 本発明の目的は、温度調節下での試料についての測定を簡便に及び適正に行うことができる試料温度調節装置を提供することにある。
【解決手段】 試料１２についての光学測定を行う際に試料温度を所望温度に保つために用いられる試料温度調節装置１０において、前記試料１２の温度調節に用いられる熱媒体１８が入れられた容器１４と、熱伝導性を有し、かつ前記容器１４内の熱媒体１８に浸漬させられる浸漬部及び該熱媒体１８に浸漬させられない非浸漬部を有し、該非浸漬部の一部が前記試料１２が密着して置かれる試料設置部２２として用いられる試料ホルダ１６と、を備え、前記試料ホルダ１６の有する熱伝導性を利用して、該試料ホルダ１６の非浸漬部である試料設置部２２に置かれた試料１２の温度を、前記容器１４内の熱媒体１８の温度に基づいて定められた所望温度に保つことを特徴とする試料温度調節装置１０。 （もっと読む）

【課題】 本発明の目的は偏光子や移相子などの試料の軸方位を正確に決定する方法および装置を提供することにある。
【解決手段】 直線偏光素子を試料として、その透過軸方位を決定する軸方位測定装置１０において、光照射手段１２と、光照射手段１２からの光を直線偏光として試料に照射する基準偏光子１４と、試料を光軸を中心として回転する試料回転手段１８と、試料を透過した光を検知する光検出手段２０と、透過光強度が最小になる試料の方位角に基いて試料の透過軸方位を演算する軸方位演算手段２６と、を備え、軸方位演算手段２６は、試料の一方の面を基準偏光子１４の一方の面に対向させたときの透過光強度が最小になる試料の表側方位角θ_＋と、試料を裏返して試料の基準偏光子１４に対向する面を他方の面にしたときの透過光強度が最小になる裏側方位角θ₋とに基いて、試料の透過軸方位を演算することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 本発明の目的は単素子検出器やリニアアレイ検出器を用いても、高速、高精度な二次元マッピング測定を行うことが可能な全反射測定装置を提供することにある。
【解決手段】 臨界角以上の入射角で試料とＡＴＲプリズム１４の当接面に光を集光し、該当接面からの全反射光を測定する全反射測定装置１０であって、前記当接面へ集光される光を出射する光照射手段１２と、前記当接面からの全反射光を検出する光検出手段１８と、前記光検出手段が検出する光を当接面内の特定部位からの光のみに制限するアパーチャー２０と、ＡＴＲプリズム１４からアパーチャー２０へと至る光路上に設けられた検出側スキャンミラー２２と、を備える。検出側スキャンミラー２２は反射面の向きを変更可能に構成され、前記当接面からの全反射光に対して検出側スキャンミラー２２の反射面を変更することで、光検出手段１８で測定する当接面内での測定部位を変更しマッピング測定を行う。 （もっと読む）

【課題】 本発明の目的は光の波長以下の空間分解能で、十分な膜厚測定精度を有する近接場膜厚測定装置を提供することにある。
【解決手段】 散乱型の近接場プローブ１２と、近接場プローブ先端および/または膜試料面に、近接場光を発生させる励起光を照射する光照射手段１４と、近接場プローブ先端と膜試料面とが近接場領域内に近接することで発生する散乱光を測定光として集光し、検出する検出手段１８と、光照射手段と検出手段との間の光路上に設置され、所定波数領域での分光測定を行うための分光手段１６と、検出手段にて検出された測定光から得られるスペクトル情報に基いて、膜試料の膜厚を演算する膜厚演算手段２０と、を備えたことを特徴とする近接場膜厚測定装置１０。 （もっと読む）

【課題】 本発明の目的は、操作性を向上することのできる近接場分析装置を提供することにある。
【解決手段】 照射光学系１２はその光軸Ｘ_１の位置ないし傾きを変更自在な照射側可変光学系を含み、集光光学系１４はその光軸Ｘ_２の位置ないし傾きを変更自在な集光側可変光学系を含み、該照射側可変光学系を介して調整面に照射側ガイド光を照射し、該集光側可変光学系を介して該調整面に集光側ガイド光を照射し、該調整面で観察される照射側ガイド光のスポット及び集光側ガイド光のスポットが重なるように該照射側可変光学系の位置ないし傾きを調整する照射側調整手段６０と、該調整面で観察される照射側ガイド光のスポット及び集光側ガイド光のスポットが重なるように該集光側可変光学系の位置ないし傾きを調整する集光側調整手段６２と、を備えたことを特徴とする近接場分析装置１０。 （もっと読む）

【課題】 本発明の目的は、時間分解スペクトルを得ることのできる顕微鏡を提供することにある。
【解決手段】 試料２２の測定エリアよりの光２６を採取する顕微手段１２と、複数の素子を持ち該顕微手段１２により採取された光を検出する多素子検出器１４と、を備えた顕微鏡１０において、該多素子検出器１４は該各素子が該測定エリアの各微小測定部位に対し一対一で対応し、また分光手段としてのフーリエ変換分光光度計１６と、該フーリエ変換分光光度計１６よりのタイミングで該多素子検出器１４の各素子からの強度データを同時に及び各素子ごとに集録するサンプリング手段１８と、該各微小測定部位ごとに該サンプリング手段１８により得られた時間変化干渉光データに基づいて時間分解スペクトルデータを得るためのデータ処理手段２０と、を備えたことを特徴とする顕微鏡１０。 （もっと読む）

【課題】測定者がバックグラウンドスペクトルと試料スペクトルの測定を別々に行う必要のない分光測定装置を提供することにある。
【解決手段】試料設置箇所に光を導光する光出射手段と試料から出射された光を検出する光検出手段とを備え、試料に光を照射し試料からの出射光を検出することで試料スペクトルを測定する分光測定装置において、試料設置箇所近傍に配置され試料の設置の有無に関する情報を検知する検知手段と検知手段からの信号に基き、試料設置箇所に試料が設置されているか否かを判断する判断手段２４と、判断手段によって試料が測定位置に設置されていないと判断されたとき、あらかじめ設定された測定条件に従い光出射手段及び光検出手段を制御し試料未設置の状態で測定を行うことでバックグラウンドデータを自動的に取得する制御手段と取得したバックグラウンドデータを記憶する記憶手段とを備えたことを特徴とする分光測定装置。 （もっと読む）