説明

アドバンスド・マスク・インスペクション・テクノロジー株式会社により出願された特許

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【課題】検査対象試料のパターン画像内の検査不要領域の影響を排除し、検査実行領域周辺について高精度な画像補正をすること。
【解決手段】検査基準パターン画像と被検査パターン画像内のパターンとその周辺を含む補正領域を指定する補正領域指定部と、補正領域の検査基準パターン画像と補正領域の被検査パターン画像に対して、線形予測モデルにより連立方程式を生成する連立方程式生成部と、連立方程式を解いてモデルパラメータを求めるパラメータ生成部と、モデルパラメータを用いて線形予測モデルを検査基準パターン画像に適用して補正パターン画像を生成する補正パターン画像生成部と、を備えている、パターン検査装置。
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【課題】波長198.3〜198.8nmの波長域のレーザー光を発生することができるとともに、照明用の光源として各種装置に搭載可能であり、かつ、実用的で装置の全体構成を小型化したロバスト性の高い深紫外レーザー装置を提供する。
【解決手段】第1の光源よりパルス出力される波長1064〜1065nmのレーザー光を第1の基本波とし、第1の波長変換手段により上記第1の基本波を波長変換して得た第4高調波を第2の基本波とし、第2の光源よりパルス出力される波長1560〜1570nmのレーザー光を第3の基本波とし、第2の波長変換手段により上記第3の基本波を波長変換して得た第2高調波を第4の基本波とし、和周波発生手段により上記第2の基本波と上記第4の基本波との和周波光である波長198.3〜198.8nmのレーザー光を発生させる。 (もっと読む)


【目的】 より振動に強い信頼性の高いパタン検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【構成】 本発明のパタン検査装置200は、1064nmの波長を有する基本波(1)を発生する基本波光源(1)310と、1562nmの波長を有する基本波(2)を発生する基本波光源(2)320と、基本波(1)と基本波(2)とに基づいて、波長が198nmの深紫外光を発生させる波長変化部330と、基本波(1)用の光ファイバー342と、基本波(2)用の光ファイバー344と、波長変化部330を搭載し、波長変化部330により発生した深紫外光を照明光として被検査試料のパタンを検査するパタン検査部100と、を備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 検査対象試料のパターン画像の疎密に自動的に適応した効果的な画像補正を提供すること。
【解決手段】 パターン画像から2次元線形モデルを同定し、この同定パラメータの和の値を利用して、2次元線形予測モデルによる補正パターン画像と双3次補間による補間補正画像とを切り換える画像補正装置、パターン検査装置。 (もっと読む)


【課題】 検査対象試料のパターン画像の疎密に自動的に適応した効果的な画像補正を提供すること。
【解決手段】 パターン画像から2次元線形モデルを同定し、このモデルの重心位置の偏心量を利用して、2次元線形予測モデルによる補正パターン画像と双3次補間による補間補正画像とを切り換える画像補正装置、パターン検査装置。 (もっと読む)


【課題】検査対象試料のパターンの検査処理時間を軽減すると同時に高い検査感度を確保すること。
【解決手段】 検査対象試料2に形成された複数のダイ22のパターンを検査するパターン検査装置において、検査対象試料2のストリーム画像を記憶するストリーム画像用メモリ装置36と、ストリーム画像内の各ダイ22のパターンを相互にDD比較するDD比較部51と、を備える、パターン検査装置。 (もっと読む)


【課題】レチクル検査装置などのパターン検査装置において、パターン画像が非常に疎な場合であっても、密なパターン画像の場合と同様に効果的な画像補正とパターン検査を提供すること。
【解決手段】検査基準パターン画像と被検査パターン画像のパターンの存在する領域からパターンを貼付パターンとして切り出すパターン切出部と、検査基準パターン画像と被検査パターン画像のパターンの存在しない空白領域に貼付パターンを貼り付けて貼付検査基準パターン画像と貼付被検査パターン画像とを生成するパターン貼付部と、貼付検査基準パターン画像と貼付被検査パターン画像に対して線形予測モデルにより連立方程式を生成する連立方程式生成部と、連立方程式を解いてモデルパラメータを求めるパラメータ生成部と、モデルパラメータを用いて線形予測モデルをパターン画像に適用して補正パターン画像を生成する補正パターン画像生成部と、を備える、画像補正装置。
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【課題】深紫外域の波長の深紫外レーザー光を効率よく発生させ、高出力化する。
【解決手段】波長が1064.0〜1065.0nmの半導体レーザー光を光ファイバー増幅器によって増幅したレーザー光の第4高調波と、波長が1557.0〜1571.0nmの半導体レーザー光を光ファイバー増幅器によって増幅したレーザ光との和周波混合により波長約227nmのレーザー光を得て、さらにこのレーザー光と上記した波長1557.0〜1571.0nmのレーザー光との和周波混合により波長198.4〜198.7nmのレーザー光を得る。 (もっと読む)


【目的】 適正な精度で試料検査を行う装置、方法およびプログラムを提供することを目的とする。
【構成】 パターン形成された同一被検査試料の、複数の部分光学画像データ同士を比較する試料検査装置において、前記被検査試料の、光学画像データを取得する光学画像データ取得部150と、前記複数の部分光学画像データ同士の比較を行なう比較回路108とを備え、比較回路108において、所定の領域を示す領域パターンの情報に基づいて生成される領域画像データを入力し、前記複数の部分光学画像データ同士の比較を行なう場合に、前記領域画像データを参照して判定条件を変更し、試料上の欠陥の有無を判定することを特徴とする。 (もっと読む)


【目的】 設計データから高速に必要となる領域の参照画像を生成する装置や参照画像を生成させるための装置やそれらの方法を提供することを目的とする。
【構成】 本発明の一態様のインデックス情報作成装置200は、フォトマスク101を複数の領域に仮想分割する領域分割部222と、複数の図形データが含まれるフォトマスク101用のCADデータファイルを入力し、複数の領域のうち、複数の図形データの各図形が所属する領域を抽出する領域抽出部224と、抽出された領域を示す領域番号に抽出された領域に所属する図形データのCADデータファイル中におけるファイルオフセットを関連させて書き込んでインデックス情報20を作成する書き込み部228と、を備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


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