【課題】 映像データおよび音声データのオーバーフローを低減する。
【解決手段】 映像・音声データ処理装置は、符号化された映像データを記憶する第１記憶部と、符号化された音声データを記憶する第２記憶部と、第１記憶部および第２記憶部のそれぞれの占有量を監視し、第１記憶部の占有量が所定の第１閾値以上である第１条件および第２記憶部の占有量が所定の第２閾値以上である第２条件の少なくとも一方を満たすとき、チャンクのフレーム数をＧＯＰ（Group Of Picture）のフレーム数より少なくするチャンク確定部とを有している。 （もっと読む）

【課題】拡散層等のバルクが固定であってメタル層、コンタクト層の少なくとも何れか１層を変更して複数の仕様に対応可能なメモリセルを提供すること。
【解決手段】メモリユニットが列方向に沿って鏡面対称に行方向に沿って並置されて、２行２列に配置されメモリセルを構成する。メモリユニットは、行方向に沿って並置され列方向に伸長される第１〜第４拡散層を備え一対の記憶ノードが構成される。第１および第２ワード線は第１〜第４拡散層の両端部外方に配置される。第１及び第２ワード線の間に行方向に沿って第１のメタル配線領域が確保され、第１メタル層が配線可能とされる。列方向に隣接配置されるメモリユニットの境界領域でありは第３、第４拡散層が配置される列方向の位置には列方向に沿って第２のメタル配線領域が確保され、第２メタル層が配線可能とされる。 （もっと読む）

【課題】不具合を有する最下層のサブルーチンを効率的に特定するデバッガプログラム及びデバッグ方法を提供する。
【解決手段】デバッグ対象プログラムのデバッグ処理をコンピューターに実行させる前記コンピューター読み取り可能なデバッガプログラムにおいて、前記デバッグ処理は、前記デバッグ対象プログラムの有するデバッグ対象サブルーチン内で当該デバッグ対象プログラムが一時停止した状態で、停止以降に実行される当該デバッグ対象サブルーチン内の下位サブルーチン呼び出し命令文の指定に応答して、前記一時停止時のメモリ情報及びプログラムカウンタ値を含むプログラム実行状態を退避し、前記下位サブルーチンを実行しその実行結果情報を表示画面に出力すると共に、前記退避したプログラム実行状態を復帰させるサブルーチン事前実行工程を、有する。 （もっと読む）

【課題】データ通信を迅速に再開させることのできる通信装置を提供する。
【解決手段】通信装置３１は、識別フェーズにおいて取得したノードＩＤ（通常ノードＩＤ）をレジスタ４１に格納する。この通信装置３１は設定レジスタ４２を有し、この設定レジスタ４２には、ノードＩＤ（通常ノードＩＤ）と異なるノードＩＤ（固定ノードＩＤ）が格納される。通信装置３１は、通常ノードＩＤを宛先とするパケットを受信し、受信したパケットを処理する。また、通信装置３１は、固定ノードＩＤを宛先とするパケットを受信し、受信したパケットの宛先を固定ノードＩＤから通常ノードＩＤに変換して処理する。 （もっと読む）

【課題】エッチング等における基板に付着するパーティクルを減らす。
【解決手段】基板を、前記基板を洗浄するための薬液に浸漬させ、前記薬液に前記基板を浸漬させた状態で、前記薬液内における前記基板の上方に網部を設置し、前記基板を取り出す方向に前記網部を移動させることにより、パーティクルを前記薬液内から除去し、前記薬液内より前記パーティクルが除去された後に、前記基板を前記薬液より取り出すことを特徴とする基板処理方法を提供することにより上記課題を解決する。 （もっと読む）

【課題】複数のレジスタへのアクセスを高速に行う。
【解決手段】制御装置は、複数のレジスタのアドレスをそれぞれ保持し、前記複数のレジスタのアドレスとは異なる第１のアドレスの指定に応答して前記複数のレジスタのアドレスを出力するアドレス設定部と、前記アドレス設定部から前記複数のレジスタのアドレスが入力され、当該複数のレジスタを選択する選択信号を同じタイミングで出力する第１のデコーダと、前記第１のアドレスに対する書込みデータを前記選択信号により選択される複数のレジスタに並行して書き込み、また、前記選択信号により選択される複数のレジスタから並行して読み出したデータを前記第１のアドレスからの読出しデータとして出力するデータ入出力部とを有する。複数のレジスタへ同時にアクセスでき、レジスタアクセスが高速化される。 （もっと読む）

【課題】短い検査時間で検査対象の欠陥を検出することを課題とする。
【解決手段】ウエハ表面の一部に、検査対象とする欠陥の座標を含む検査領域を設定する設定部３２と、前記ウエハ表面の前記検査領域内の欠陥を検出する検査部３４と、前記検出した欠陥の座標と、前記検査対象とする欠陥の座標と、を比較することにより、前記検出部３４が検出した欠陥が検査対象とする欠陥か否かを判定する判定部３６と、を具備する欠陥検査装置。 （もっと読む）

【課題】強いフェージング環境下でも動作するＯＦＤＭ受信機を提供する。
【解決手段】相関部３５は、シフトレジスタ３１に保持される１６ビットデータと既知データとの相関を計算する。加算部４３は、各フレームの同一位置のデータについての相関値を累積的に加算する。比較部４５は、累積相関値が閾値を超えると、フレーム同期が確立したことを意味する同期確立信号を出力する。 （もっと読む）

【課題】王水を用いることなくニッケルプラチナ膜の未反応部分を選択的に除去しうるとともに、プラチナの残滓が半導体基板上に付着するのを防止しうる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】シリコン基板１０上に、ゲート電極１６と、ゲート電極１６の両側のシリコン基板１０内に形成されたソース／ドレイン拡散層２４とを有するＭＯＳトランジスタ２６を形成し、シリコン基板１０上に、ゲート電極１６及びソース／ドレイン拡散層２４を覆うようにＮｉＰｔ膜２８を形成し、熱処理を行うことにより、ＮｉＰｔ膜２８とソース／ドレイン拡散層２４の上部とを反応させ、ソース／ドレイン拡散層２４上に、Ｎｉ（Ｐｔ）Ｓｉ膜３４ａ、３４ｂを形成し、過酸化水素を含む７１℃以上の薬液を用いて、ＮｉＰｔ膜２８のうちの未反応の部分を選択的に除去するとともに、Ｎｉ（Ｐｔ）Ｓｉ膜３４ａ、３４ｂの表面に酸化膜を形成する。 （もっと読む）

【課題】安定に動作する半導体装置を提供する。
【解決手段】本明細書に開示する半導体装置は、基板１１内に形成された第１導電型のウェル１３と、ウェル１３上にゲート絶縁膜１７を介して配置されるゲート電極１８と、ゲート電極１８を挟んで基板１１内に対向して配置される第２導電型のソース領域１５及びドレイン領域１６と、基板１１内にソース領域１５と隣接して配置され、ウェル１に電気的に接続される第１導電型のウェルタップ１９と、ウェル１３とウェルタップ１９とに接し、ウェル１３よりも不純物濃度が高く、第１導電型を有するポケット領域２０と、を備える。 （もっと読む）