説明

株式会社アドバンテストにより出願された特許

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【課題】正確なタイミングでサンプリングしたデータ値を期待値と比較する。
【解決手段】データ信号とデータ信号をサンプルするタイミングを示すクロック信号とを出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、データ信号をバッファリングするバッファ部と、当該試験装置の試験周期毎に、制御信号およびデータ信号の期待値を発生するパターン発生部と、試験周期毎に、制御信号がバッファ部からのデータの読出しを指示することを条件として、バッファ部からデータ信号を読み出す読出制御部と、読出制御部により読み出されたデータ信号とパターン発生部から発生された期待値とを比較する判定部とを備える試験装置を提供する。 (もっと読む)


【課題】低い半波長電圧で、かつ、高い周波数で入力光を変調する光変調器を提供する。
【解決手段】基板と、基板上に形成され、並走する第1光導波路および第2光導波路を有する誘電体膜と、誘電体膜上に形成された絶縁膜と、絶縁膜上に形成され、第1光導波路および第2光導波路の間に配置された信号線と、第1光導波路に対する第2光導波路とは反対側の第1領域に配置された第1グランド線と、第2光導波路に対する第1光導波路とは反対側の第2領域に配置された第2グランド線とを有するコプレーナ線路と、第1領域および第2領域において誘電体膜と接してまたは絶縁膜の内部に設けられ、第1光導波路および第2光導波路に対するバイアス電圧を印加する補助電極と、を備える光デバイスを提供する。 (もっと読む)


【課題】複数のチャンネルを有するスペクトラムアナライザにおける各チャンネルのローカル信号のレベルおよび位相の不一致に対処する。
【解決手段】信号測定装置1は、二つの入力の周波数の差に等しい周波数の信号を出力する複数のミキサ14、24と、複数のミキサ14、24に共通のローカル信号入力を与える単一のローカル信号源12と、複数のミキサ14、24に共通の補正信号入力を与えたときの、複数のミキサ14、24の出力間のレベル差および位相差を測定する差分測定部54と、複数のミキサ14、24に共通の被測定信号入力を与えたときに、複数のミキサ14、24の出力のレベルおよび位相を測定するレベル・位相測定部18、28と、差分測定部54の測定結果に基づき、複数のミキサ14、24に共通の被測定信号入力を与えたときの第二レベル・位相測定部28の測定結果を補正する差分補正部56とを備える。 (もっと読む)


【課題】パターンのエッジの幅及び傾斜角を高精度に測定できるパターン測定装置及びパターン測定方法を提供する。
【解決手段】電子ビームを試料表面の観察領域で走査させ、電子ビームの照射によって試料の表面から放出された二次電子を、電子ビームの光軸の周りに配置された複数の電子検出器で検出するパターン測定装置において、パターン61の延在方向に直交し、かつ光軸を挟んで対向する2方向からの画像を取得する。そして、それらの画像から、エッジと直交するライン上のプロファイルL6,L7を抽出し、それらの差分を取った差分プロファイルL8を求める。その差分プロファイルL8の立下り部分R2,R3に基づいてエッジ61a、61bの上端を検出し、ラインプロファイルL6、L7の立ち上がり部分R1又は立下り部分R4に基づいてエッジ61a、61bの下端の位置を検出する。 (もっと読む)


【課題】高速多値信号を試験可能な試験装置を提供する。
【解決手段】パターン発生器PGは、I/O端子PIOに入力される被試験信号S1と比較すべきしきい値電圧Vthを指定する制御データS11を発生するとともに、被試験信号S1としきい値電圧Vthの比較結果の期待値を示す期待値データEXP2を発生する。しきい値電圧発生器10は、制御データS11に応じた電圧レベルを有するしきい値電圧Vthを、第1タイミング信号St1が指定する設定タイミングtごとに生成する。レベルコンパレータCpは、被試験信号S1の電圧レベルをそれと対応するしきい値電圧Vthと比較する。タイミングコンパレータTCは、レベルコンパレータCpの出力S3を、第2タイミング信号St2が指定するストローブタイミングでラッチし、比較信号S4を生成する。タイミング調節部50は第1タイミング信号St1の位相を調節する。 (もっと読む)


【課題】測定対象の信号の特性値の表示を見やすくする。
【解決手段】信号表示装置1が、被測定信号の特性値(周波数、位相およびレベル)のいずれか一つ(周波数)を測定する第一特性値測定部12と、第一特性値測定部12により測定された特性値(周波数)を時間に対応付けて表示する表示部18と、被測定信号の特性値(レベル)のいずれか一つを測定する第二特性値測定部14と、第二特性値測定部14により測定された特性値(レベル)に応じて表示部18における表示態様を変化させる表示態様変化部16とを備える。例えば、表示態様変化部16は、被測定信号のうち、特性値(レベル)が所定値を超えるものを表示部18に表示させ、特性値(レベル)が所定値未満のものを表示部18に表示させない。 (もっと読む)


【課題】電子部品試験装置の小型化を図ることが可能な基板組立体を提供する。
【解決手段】試験モジュール20は、第1のピンエレクトロニクスカード21と、第2のピンエレクトロニクスカード22と、第1のピンエレクトロニクスカード21と第2のピンエレクトロニクスカード22の間に挟まれた一つの中央ウォータジャケット23と、を備えており、中央ウォータジャケット23は、第1のピンエレクトロニクスカード21において第2のピンエレクトロニクスカード22に対向する第1の内側主面212に密着していると共に、第2のピンエレクトロニクスカード22において第1のピンエレクトロニクスカード21に対向する第2の内側主面222に密着している。 (もっと読む)


【課題】各コラムセルの露光データを迅速に作成できる電子ビーム露光装置及び電子ビーム露光方法を提供する。
【解決手段】コラムセルの位置が設計値通りであるとして主偏向領域を配置し、隣接する主偏向領域同士を結合して結合主偏向領域61e、61fを生成する。次に、コラムセルの実際の位置に基づいて主偏向領域の位置を修正した修正主偏向領域51aを配置する。その後、結合主偏向領域61e、61fに含まれる副偏向領域42が修正主偏向領域51aと重なるか否かを、所定の順番で調べてゆく。そして、修正主偏向領域51aと重なる副偏向領域42を、検出した順に並べて副偏向領域データを得る。 (もっと読む)


【課題】送信コイルと受信コイルの結合度が変化しても、高効率な電力伝送を行う。
【解決手段】ワイヤレス給電装置4は、共振回路10およびマルチトーン電源20を備え、電界、磁界、電磁界のいずれかを含む電力信号S1を送信する。共振回路10は、直列に接続された送信コイルLTXおよび共振用キャパシタCTXを含む。マルチトーン電源20は、複数の周波数の正弦波信号を重ね合わせたマルチトーン信号S2を、共振回路10に出力する。 (もっと読む)


【課題】精度良く試験をする。
【解決手段】データ信号とデータ信号をサンプルするタイミングを示すクロック信号とを出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスが出力するデータ信号を、被試験デバイスが出力するクロック信号に応じたタイミングで取得するデータ取得部と、被試験デバイスがクロック信号を出力しない期間において、データ取得部によるデータ取得をマスクするマスク部と、データ取得部が取得したデータ信号を期待値と比較した結果に基づいて、被試験デバイスの良否を判定する判定部と、を備える試験装置を提供する。 (もっと読む)


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