【課題】高精度及びリニアリティを改善し、高速の自動テストを行える試験装置を提供する。
【解決手段】デジタルデータ信号の最上位ビットを含むデジタルデータ信号の複数のビットの連続したサブセットで構成される上位ビットアレイ１１００を、第１のデジタル／アナログ変換器２１００に適用する段階と、デジタルデータ信号の最下位ビットを含みデジタルデータ信号の複数のビットの連続したサブセットで構成される下位ビットアレイ１２００の少なくとも一部を操作するために、ルックアップテーブル４０００の修正データ４１００の少なくとも一部を使用する段階とを備え、修正データの少なくとも第１部分を乗じること、修正データの少なくとも第２部分を加算し、結果を第２デジタル／アナログ変換器に適用することを含む。 （もっと読む）

【課題】電子スイッチの開放されたスイッチを通したリーク電流は、信号クロストークを引き起こす。
【解決手段】スイッチング用の電子回路は少なくとも４個の電子スイッチ２００のセット１００を備える。第１サブセット１１０の少なくとも２個の電子スイッチ２１０，２３０は直列接続され、第２サブセット１２０の少なくとも２個の電子スイッチ２２０，２４０は直列接続される。前記第１サブセット１１０の第１電子スイッチ２１０に接続される第１バッファ３１０、及び前記第２サブセット１２０の第２電子スイッチ２２０に接続される第２バッファ３２０を備え、前記第１バッファ３１０は開状態における前記第１電子スイッチ２１０を通した電圧降下を最小化し、前記第２バッファ３２０は開状態における前記第２電子スイッチ２２０を通した電圧降下を最小化する。また２個のサブセット１１０，１２０の間に配され、グランドに接続されたスイッチ４１０を備える。 （もっと読む）

【課題】出力光強度が一定の光周波数変調光を出力する光源。
【解決手段】周波数制御信号に応じた光周波数の光信号を出力する光源装置であって、周波数制御信号に応じた光周波数のレーザ光を出力するレーザ光源と、レーザ光の強度変化を補償して、光周波数の変化に伴う強度変化を抑えたレーザ光を出力する光強度調整部と、を備える光源装置を提供する。光強度調整部は、レーザ光源部からのレーザ光の増幅率を周波数制御信号に基づき調整して、周波数制御信号に応じたレーザ光の強度の変化を抑えて出力する光増幅部を有する。 （もっと読む）

【課題】光信号に効率的で簡単な構成でジッタを印加する。
【解決手段】ジッタを有する光パルスパターン信号を出力する光信号出力装置であって、周波数制御信号に応じた光周波数の光信号を出力する光源部と、光源部が出力した光信号を、指定されたパルスパターンに応じて変調する光変調部と、光変調部を通過した光信号を光周波数に応じて遅延させて、光信号にジッタを印加する光ジッタ発生部と、を備える光信号出力装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】接点同士が凝着しないように剛性をもたせたアクチュエータ
【解決手段】第１接点が設けられた接点部と、第２接点を移動させて第１接点と接触または離間させるアクチュエータと、を備え、アクチュエータは、積層された第１圧電膜および第２圧電膜と、第１圧電膜における第２圧電膜とは反対の面側に設けられた第１絶縁層と、第２圧電膜における第１圧電膜とは反対の面側に設けられた第２絶縁層と、を有するスイッチ装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】測定時におけるスイッチング素子の破損の可能性を低くする。
【解決手段】ウエハに形成された複数のスイッチング素子のリーク電流を測定する測定装置であって、ウエハに形成された複数のスイッチング素子のそれぞれの端子と電気的に接続するプローブと、ウエハに形成された複数のスイッチング素子のそれぞれにプローブを介して互いに異なる位相で変化する変化電圧を印加する電圧印加部と、オフ状態における複数のスイッチング素子のそれぞれに流れるリーク電流を測定する電流測定部とを備える測定装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】両面に電極を有する半導体デバイスをウエハの状態で試験する。
【解決手段】ウエハに形成されウエハの上面側に上側電極下面側に下側電極を有する複数のデバイスを試験する試験装置であって、ウエハが載置されるステージ部と、ステージ部における複数のデバイスの下側電極に対向して設けられた複数の開口内に設けられ下側電極と接触する伸縮可能な複数の下側端子と、複数のデバイスが有する上側電極と接触する複数の上側端子と、上側端子および下側端子を介して複数のデバイスに電圧を印加して、複数のデバイスを試験する試験部とを備え、下側端子はウエハがステージ部に押し当てられるのに伴って収縮する試験装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】ウエハの表面および裏面の両方からコンタクトする。
【解決手段】ウエハに形成された電子デバイスを試験する試験装置であって、ウエハが載置される弾性層と、弾性層上に設けられウエハの裏面に形成された電極パットに電気的に接続される複数の凸部とを有するステージと、ウエハをステージ上に固定する固定部材と、を備え、弾性層は、ウエハが固定部材により固定された場合に、複数の凸部のそれぞれを沈み込ませて、複数の凸部の周囲の面がウエハの裏面に接触する試験装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】セット優先とリセット優先を切りかえ可能なＳＲフリップフロップを提供する。
【解決手段】入力優先順位決定回路２０は、（i）セット信号Ｓがアサートされ、リセット信号Ｒがネゲートされるとき、中間セット信号Ｓ’をアサートし、中間リセット信号Ｒ’をネゲートし、（ii）セット信号Ｓがネゲートされ、リセット信号Ｒがアサートされるとき、中間セット信号Ｓ’をネゲートし、中間リセット信号Ｒ’をアサートし、（iii）制御信号Ｐがセット優先モードを示すとき、セット信号Ｓ、リセット信号Ｒがともにアサートされるときに、中間セット信号Ｓ’をアサートし、中間リセット信号Ｒ’をネゲートし、（iv）制御信号Ｐがリセット優先モードを示すとき、セット信号Ｓ、リセット信号Ｒがともにアサートされるときに、中間セット信号Ｓ’をネゲートし、中間リセット信号Ｒ’をアサートする。 （もっと読む）

【課題】２台のレーザの繰り返し周波数の差を変動させる。
【解決手段】繰り返し周波数制御装置１は、繰り返し周波数が所定値に制御されたマスタレーザ光パルスを出力するマスタレーザ１１２と、スレーブレーザ光パルスを出力するスレーブレーザ２１２と、所定値の周波数の基準電気信号の電圧と、所定の電圧（接地電位）とを比較し、その結果を出力する基準比較器２２２と、スレーブレーザ光パルスの光強度に基づく電圧と、所定の電圧（接地電位）とを比較し、その結果を出力する測定比較器２１５と、基準比較器２２２の出力と、測定比較器２１５の出力との位相差を検出する位相差比較器２３２と、位相比較器の２３２の出力の高周波成分を除去するループフィルタ２３４と、ループフィルタ２３４の出力に、繰り返し周波数制御信号を加算する加算器２３５とを備える。 （もっと読む）