説明

マグナチップセミコンダクター有限会社により出願された特許

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【課題】 イメージセンサの電荷伝送効率を向上させたイメージセンサ及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】 第1導電型(P型)の半導体層200に形成されたゲート電極Txと、ゲート電極Txの一方にアライメントされ、半導体層200の内部に拡散された、フォトダイオードPDを構成する、第2導電型(N型)の第1不純物領域404と、ゲート電極Txの一方にアライメントされ、半導体層200の表面から所定の深さに拡散されて形成された、フォトダイオードPDを構成する、第1導電型の第2不純物領域405、408、411と、スペーサ406とを備え、スペーサ406の下方の第1領域405の不純物濃度に比べて、ゲート電極Txから遠くに位置する第2領域408の不純物濃度が高く、ゲート電極Txから第2領域408よりもさらに離隔された第3領域411における不純物濃度が、第2領域408の不純物濃度よりも高い。 (もっと読む)


【課題】 電力消費量の節減が可能で、占有面積を減らすことができる2ビットのバイナリ比較器及び動作速度の向上が可能なバイナリ比較装置を提供すること。
【解決手段】 比較器は、第1及び第2ノードnode1、2と、イネーブル信号入力端子ENと、比較対象の第1及び第2の入力信号が入力される第1及び第2入力端子A、Bと、ソース側が各々第1及び第2入力端子、ゲート側が相互に相手側のソース側に、ドレイン側が第1ノードに接続された第1及び第2pMOSトランジスタMP1、MP2と、一方側が第1ノードに、他方側が接地側に接続され、直列に接続された第1及び第2nMOSトランジスタMN1、MN2と、ソース側が第1ノードに、ドレイン側が第2ノードに接続された第3nMOSトランジスタMN3と、ソース側が電源電圧VDD側に、ドレイン側が第2ノードに接続された第3pMOSトランジスタMP3とを備えている。 (もっと読む)


【課題】イメージセンサの電荷伝送効率を向上させたイメージセンサ及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】第1導電型(P型)の半導体層200に形成されたゲート電極Txと、半導体層200内に形成され、フォトダイオードPDを構成する、第2導電型(N型)の第1不純物領域105と、ゲート電極Txの一方にアラインメントされ、半導体層200の表面から第1深さに拡散された第1導電型の第2不純物領域108と、ゲート電極Txの側壁に形成された第1スペーサ109と、第1スペーサ109にアラインメントされ、半導体層200の表面から第1深さよりも深い第2深さに拡散された第1導電型の第3不純物領域113と、第1スペーサ109の側壁に形成された第2スペーサ114と、第2スペーサ114にアラインメントされ、半導体層200の表面から第2深さよりも深い第3深さに拡散された第1導電型の第4不純物領域117とを備える。 (もっと読む)


【課題】漏れ電流の発生を防止した、PMOLEDを駆動する出力ドライバを提供すること。
【解決手段】低電源電圧端に接続され、入力される電流の値に比例する電流を出力する低電圧アナログ部(310)と、高電源電圧端に接続され、前記比例する電流が出力されると通電する高電圧出力ドライバ部(340)と、低電圧アナログ部(310)及び高電圧出力ドライバ部(340)を断続するスイッチ部(320)と、高電圧出力ドライバ部(340)及びスイッチ部(320)の間に挿入される、少なくとも1つの補償ダイオード(330)とを備えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 入射光の集光効率に優れたイメージセンサを得ることができるマイクロレンズ形成方法を提供すること。
【解決手段】 第1マイクロレンズと第2マイクロレンズとを順に形成することにより、イメージセンサのマイクロレンズを形成する方法であって、基板50上に第1フォトレジスト膜を塗布するステップと、選択的にパターンニングすることにより、一部の単位画素領域Aに第1フォトレジストパターンを形成するステップと、第1フォトレジストパターンをフローさせることにより、第1マイクロレンズ55Cを形成するステップと、全面に第2フォトレジスト膜を塗布するステップと、第2フォトレジスト膜を選択的にパターンニングすることにより、第2フォトレジストパターン56Aを形成するステップと、第2フォトレジストパターン56Aをフローさせることにより、第2マイクロレンズを形成するステップとを含む。 (もっと読む)


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