【課題】 後続処理の処理精度を低下させること無く、処理の対象画素数を抑制し、高速化を実現することができるエッジ抽出方法、定義表作成方法を提供し、検出精度向上するとともに、処理の高速化および必要なメモリ容量の縮小を実現することができる画像処理方法、画像処理装置、画像処理プログラムおよび画像処理プログラムを記録する記録媒体を提供する。
【解決手段】 Sobelオペレータを用いてエッジ強度を求めた後、エッジ強度を閾値処理するための下限値を判別分析法によって算出する。エッジ強度を閾値処理するための上限値は、統計処理によって算出する。エッジ強度が、閾値の範囲内にあれば当該エッジ画素を登録候補画素とし、エッジ方向と画素の位置座標を記憶する。 （もっと読む）

【課題】受光画像の視認性を高め、プロファイルの確認を容易にする。
【解決手段】投光部からの照射光の反射光により、第１の方向の各点において増幅器で得られた増幅信号に基づき生成された受光画像を表示するための表示部と、受光画像に対し、画素毎の受光信号の階調を、複数の範囲に区分けし、範囲毎に異なる色を割り当て、受光画像の画素毎に、その階調に割り当てられた色を着色する着色処理を施した状態で表示部に表示可能な受光画像着色手段とを備えることができる。これにより、受光信号の階調幅毎に着色することで、受光画像が等高線図のように表示され、着色された階調幅の粗密によって受光分布勾配が急峻であるか、緩やかであるか等が認識し易くなり、プロファイルの傾斜の度合い等を視覚的に把握できる。 （もっと読む）

【課題】いわゆる片面撮像方法を採用しつつも、光学部材の二つの表面に関する各画像のずれを補正して欠陥そのものの像と該欠陥の映り込み像とを対応づけることができる、光学部材の良否判定に関する観察に好適な光学部材の表面観察方法を提供すること。
【解決手段】光学部材の表面観察方法は、撮像部によって、被検物である光学部材における第一および第二の表面像をそれぞれ含む第一および第二の画像を撮像する工程と、各画像の倍率を調整する倍率調整工程と、第一の画像と第二の画像の相対位置を粗調整する粗調整工程と、スキャン領域設定工程と、第一のスキャン領域と第二のスキャン領域のそれぞれにおいて検出領域をそれぞれ同一経路かつ同一速度で移動させる検出領域移動工程と、検出領域移動工程中に検出された各光像を関連づけて組とする関連づけ工程と、検出結果に基づき第一の画像と第二の画像の相対位置を微調整する微調整工程と、を有する。 （もっと読む）

【課題】シート状物に生じた波打ちの程度を精度良く検出する。
【解決手段】本発明に係る検査装置は、読取装置２０を備える。シート状物は、支持台２１の上に支持される。光源２２１からの光は、レンズ２２２により平行光としてシート状物に照射される。照射光は、シート状物のなす平面に対して角度θの方向から照射される。撮像部２３は、シート状物からの反射光に応じて画像信号を生成する。撮像部２３において、レンズ２３１はテレセントリックレンズであることが望ましい。検査装置は、読取装置２０においてこのようにして生成された画像信号に応じて、シート状物に生じている波打ちを表す情報を出力する。 （もっと読む）

【課題】干渉縞の濃淡に基づき対象物の形状を測定する光学干渉測定装置において、干渉縞の観測対象領域を自動的に設定する。
【解決手段】ベースプレートと、これの上に置いたブロックゲージの干渉縞画像を複数得る。複数の画像中、２個の画像において、同一位置の画素間の輝度値の差を得、他の２個の画像の組み合わせについても、同様に輝度値の差を得る。これらの差について画素ごとに総和を取り、その総和の値を輝度に対応させた画像を作る。ベースプレートとブロックゲージの境界部分８０は、干渉縞が生じないので総和が小さくなり、干渉縞が生じている部分８２は、画像間の輝度の差が大きいので総和は大きくなる。この画像に対し、適切な二値化処理を行い、ベースプレートとブロックゲージの境界部分８０を抽出する。 （もっと読む）

【課題】 簡単な光学系及び装置により、測定精度が高く処理も容易なレーザスペックルによるナノメートル変位測定方法と装置を提供する。
【解決手段】 半導体レーザ１２と、半導体レーザ１２からの光を１点に収束させるレンズ１４と、半導体レーザ１２からのレーザ光を分岐するビームスプリッタ１６と、ビームスプリッタ１６から分岐した一方のレーザ光が照射される参照粗面１８と、半導体レーザ１２からのレーザ光の他方が照射される測定粗面２０を有する。参照粗面１８と測定粗面２０とから反射した各レーザ光がビームスプリッタ１６を介して重なり、スペックル干渉した光を受光する光センサ２２を備える。スペックル干渉光の入射による光センサ２２の出力の最大値と最小値の間で、ほぼ直線的に出力値が変化する電圧範囲を測定範囲として、光センサ２２の出力電圧の変化により測定粗面２０の変位を求めるコンピュータ２６を備える。 （もっと読む）

【課題】 リードの浮き沈みの良否判定が可能なリードの検査方法を提供する。
【解決手段】 リードを有する部品、及び、部品を一定の位置に固定し、２つの視野が同時に撮像されるリード検査装置を用意して、部品の内の良品の側部の樹脂エッジ及びリード先端の画像データを得て登録する工程、検査される部品の樹脂エッジ及びリード先端の画像データを得る工程、良品の画像データの登録樹脂エッジ像と、対応する検査される部品の画像データの樹脂エッジ像とを一致させて、検査される部品の画像データのリード先端となる境界点と、対応する良品の画像データの登録リード先端像との差異である画像ずれ量を算出する工程、画像ずれ量から、検査される部品のリード先端となる境界点が、対応する良品の登録リード先端に対して、浮き沈みする物理量である検査値を算出する工程、並びに、検査値を判定基準に比較して良否判定する工程を備える。 （もっと読む）

【課題】現実空間に既にある文字を利用し、広範囲においてカメラの位置姿勢の取得を可能な位置姿勢測定技術及び該位置姿勢測定技術を利用した複合現実感提示システムを提供する。
【解決手段】位置姿勢測定装置であって、現実空間に配置された文字領域について、文字領域を特定するための情報および位置情報とを保持する保持手段と、前記現実空間を撮像装置により撮像して得られた第1の撮像画像データから、前記保持手段に保持されている文字領域を特定するための情報を用いて、文字領域を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された文字領域の前記第１の撮影画像データにおける画像位置情報と、前記保持手段に保持されている、該検出された文字領域に対応する位置情報とに基づき、前記撮像画像データ撮像時の前記撮像装置の位置姿勢を推定する推定手段とを備えることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】
本発明は、中空糸膜モジュールの不通糸欠陥の有無およびその発生の程度を中空糸膜モジュールを劣化させることなく非接触の方法によって判断することが可能であり、良否の判定を従来の方法よりも正確に行うことができる方法およびその装置を提供することを課題とする。
【解決手段】
中空糸膜モジュールのポッティング端面に光源による光を照射し、前記端面からの反射光を撮像し、前記撮像によって得られた画像と予め定めるモデル画像との相関をとって中空部分が空洞になっている中空糸膜を検出し、前記中空部分が空洞になっている中空糸膜をマスクし、前記撮像画像について前記中空部分が閉塞している中空糸膜部分と樹脂部分との２値化処理を行い、前記２値化処理画像から中空部分が閉塞している中空糸膜を検出し、前記中空部分が閉塞している中空糸膜の本数が予め定める閾値を上回る場合は中空糸膜モジュールを不良品と判定する検査方法およびかかる手段を有する装置。 （もっと読む）

【課題】積算型センサを搭載するととともに、積算型センサの累積誤差を容易に補正することを可能とする点検システム及び誤差補正プログラムを提供する。
【解決手段】閉空間内において走行面上を自走する点検ロボット１００を含む点検システムが、カメラユニット１３０を所定角度回転させる毎にカメラユニット１３０が撮像する閉空間の画像から水平線分を抽出する画像処理部２３０と、画像処理部２３０によって抽出された水平線分と、水平線分が抽出される閉空間の画像を撮像した際におけるカメラユニット１３０の回動角とに基づいて、ジャイロセンサ１５０の累積誤差を補正する制御部２４０とを備える。 （もっと読む）

【課題】被検査物に形成された隙間を画像処理によって検出するにあたり、照明の影響を軽減し、検出結果のばらつきを少なくする。
【解決手段】被検査物３をカメラ１で撮像した濃淡画像の中で被検査物３の領域内に形成された隙間の部位に、当該部位に交差する帯状の検査領域を複数設定する。境界線抽出部１７では、各検査領域内において隙間の輪郭線が延長されている方向に相当する方向コードを持つ画素を候補画素として抽出する。評価部１９では、隣接する検査領域において抽出した候補画素の方向コードが連続しており、かつ候補画素の位置が連続しているときに、当該候補画素を隙間の境界線の画素と判定する。検査領域内で方向コードが互いに反対向きである境界線の２個の画素を検出し、計測部２１において両画素の距離を用いて隙間の幅を計測する。 （もっと読む）

【課題】起伏を有する被検査物における、前記起伏の端部付近の傾斜角である端部傾斜角を求める方法および端部傾斜角に基づいて、各起伏間の起伏厚の差を精度よく検査する方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る端部傾斜角測定方法は、上記課題を解決するために、起伏を有する被検査物における、端部傾斜角測定方法であって、上記被検査物に光を照射するステップＡと、上記被検査物の反射光分布を検知するステップＢと、上記反射光分布の検知結果から上記反射光分布の特徴点を求めるステップＣと、上記特徴点に対応する被検査物上の位置に対する、ステップＡにおける光の照射角度および上記特徴点に対応する被検査物上の位置による、ステップＢにおける反射光の検知角度とに基づいて、上記起伏の端部付近の傾斜角である端部傾斜角を求めるステップＤと、を含む （もっと読む）

【課題】コストの増大を抑えて高速に欠陥検査を行うことができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。
【解決手段】画像取込部21は２次元の画像情報を生成する。DWT処理部22は、離散ウェーブレット変換により、画像サイズが縮小された縮小画像情報を生成する。欠陥検出部25は、縮小画像情報を用いて検査対象物上の欠陥を抽出する。元の画像情報に対応した画像よりも画像サイズを縮小する一方で、周波数成分を維持した縮小画像情報を用いて欠陥を抽出するので、コストの増大を抑えて高速に欠陥検査を行うことができる。 （もっと読む）

【課題】変位センサにおいて、撮像して得られたラインビームに沿う方向に対する高さの分布上の複数の局所領域または特徴点に基づく計測処理を実行する際の設定作業を簡易化する。
【解決手段】撮像画像を表示部に表示して、入力部を通じて確定指示の入力が行われたときに表示部に表示されている撮像画像を設定対象画像として画像ティーチングを実行し、計測処理として、基準位置の指定を含めた計測処理の候補である計測アイテムを表示して選択を受け付け設定するとともに、１の計測対象領域となる切り取り領域の指定を受け付けて、設定された計測処理および基準位置の情報に基づいて、計測対象領域中に、計測に用いる局所領域あるいは特徴点からなる測定点を自動設定する。 （もっと読む）

【課題】基板上に形成された膜の膜厚変化の勾配を容易に確認する。
【解決手段】ムラ検査装置では、光照射部から基板上の膜に光を照射し、膜にて反射された特定の波長の干渉光を撮像部にて受光することにより、膜の元画像が取得される。元画像から導かれる対象画像において、互いに範囲が隣接する１対の濃度範囲の境界をそれぞれが示す複数の等濃度線７２１が求められ、各評価位置７２２に設定される評価領域７２３中に存在する等濃度線７２１の本数を求めることにより、当該評価位置７２２に対して対象画像中の濃度変化の勾配を示す評価値が取得される。その結果、評価値を参照して、基板上の膜の膜厚変化の勾配を容易に確認することができる。 （もっと読む）

【課題】安価であり、かつ、画像データの各ポイントに対して補正データを得て高精度に画像測定装置を校正する画像測定装置の校正方法を提供する。
【解決手段】 真直なエッジを有する校正ワークを用意し、エッジがマシン座標系のｙ軸に平行になるようにステージに載置する。ステージとＣＣＤカメラとをｘ軸方向に相対移動させつつＣＣＤカメラの撮像領域内の異なる位置でエッジを撮像する（画像データ取得工程）。エッジを撮像した位置については駆動機構の駆動量から検出しておく（撮像ポイント検出工程）。撮像された画像データ中でエッジ検出を行い（エッジ検出工程）、エッジの座標を出力する。画像データ内において二次元的に広く分布したデータを得る。
画像データ上のエッジ検出にて求められたエッジ座標と駆動機構の駆動量から求められたエッジ位置とのずれ量をエッジ位置ずれ量として各撮像ポイントについて算出する（ずれ量算出工程）。 （もっと読む）

【課題】帯状被検査体に開口を設けたり、溶接線を利用したりして検査性能を診断する場合の不具合を避け、ラインを停止させることなく安定的に検査性能を診断できるようにする。
【解決手段】搬送される鋼板１０２の表面に光を照射する光源１０３と、鋼板１０２からの反射光を受光して撮像するカメラ１０４と、鋼板１０２の表面にレーザー光を照射するレーザーポインタ１０５とを備える。レーザーポインタ１０５の点灯時間及び点灯強度の制御パターンを変えることにより、点状、線状、点線状のように照射パターンの形状、輝度を変えることができるので、診断部１１１において、レーザー光の照射による画像が輝度の適正な点状、線状、点線状であると正しく判定できたとき、表面検査システムの検査性能が正常であると判定する。 （もっと読む）

【課題】 短い時間で正確な欠陥検査ができる外観検査装置及び方法を提供する。
【解決手段】 ステージ２に載置される検査対象部品３に対してＣＣＤカメラ１２により２次元画像を撮像し、この撮像画像に対し制御部１５により２次元画像処理して欠陥検査を行い、この欠陥と判定された部分に対して、さらに高さ情報を用いて欠陥の再判定を行う。 （もっと読む）

【課題】 表面欠陥の良否判別をより詳細に実施する表面検査装置を提供する
【解決手段】 本発明の表面検査装置は、偏光観察状態では、偏光方向の異なる２つの偏光素子を照明光路と受光光路にそれぞれ設け、照明光の振動面に対して被検基板のパターンを斜め向きに設定する。この状態で受光光路の光束を結像して光強度信号を生成する。この光強度信号の第１信号レベルを、予め記憶する良否の判定条件（第１条件）で良否判定する。一方、本発明の表面検査装置は、偏光素子の少なくとも一方を光路から外してオープン観察状態とする。この状態で得られる光強度信号の第２信号レベルを、予め記憶する良否の判定条件（第２条件）で良否判定する。この２種類の良否判定によって被検基板の良否判定を一段と詳細に行うことができる。 （もっと読む）

【課題】 対象物を光ストライプで照射し、対象物表面から反射した光を検出することで、対象物の表面上の複数の点からデータを捕捉するための走査プローブ（２）に関する。走査プローブは、（ａ）光ストライプ（５５）を生成および発するためのストライプ生成手段（１４）、（ｂ）対象物表面から反射した光ストライプを検出するための画素の配列を有する画像センサを備えるカメラ（１６）、（ｃ）カメラ（１６）によって検出された強度に応じて、フレームの取得中に光ストライプ（５５）の強度を調節するための手段を備える。ストライプ長を修正する手段、処理手段のための隔離された区分室、およびスキャナのための取り付け可能なダストカバーを有するスキャナにも関する。 （もっと読む）